JPH02227679A - 基板の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、例えば製造されたプリント基板ユニットの検
査を行なう基板の検査装置に関する。

（従来の技術） 製造されたプリント基板ユニットは、この基板ユニット
上に形成された回路が正確に作動するかの検査が行われ
る。かかる検査には例えばインサーキットテスタ（ＩＣ
Ｔ）やファンクションテスタ（ＦＴ）による方法があり
、インサーキットテスタの方法は測定位置を変えてプリ
ント基板ユニットに測定信号を供給してそのときの出力
信号を測定して故障があるかを判断するものであり、又
ファンクションテスタによる方法は測定信号の波形や電
圧値等を可変してそのときの出力信号を測定して故障が
あるかを判断するものとなっている。ところで、これら
方法はいずれも実際の検査ではブロクラム化されて自動
的に行われている。

しかるに、プリント基板ユニットの検査を行なうにはプ
リント基板ユニット製造の各設備ごとに検査プログラム
を作成する必要がある。ところが、この検査プログラム
の作成には時間がかかり、そのうえ専門のプログラマで
なければ容易に作成できないものとなっている。又、プ
リント基板ユニットの検査方法として検査作業を作業員
によって行ない、その検査結果をパーソナルコンピュー
タ等に入力して判定するものがある。しかし、この検査
方法でも判定のプログラムを作成する必要があり、専門
のプログラマが必要となる。

（発明が解決しようとする課８） 以上のようにプリント基板ユニットを検査するには、検
査プログラムや判定プログラムを一々作成しなければな
らず、検査までに時間がかかるうえに専門のプログラマ
が必要となる。このため、生産の立ち上げ時に検査プロ
グラムが間に合わない事態が生じる。

そこで本発明は、検査や判定のプログラムを簡略化して
非専門者でも容易にプログラムを作成できて生産の立ち
上げ時に間に合う基板の検査装置を提供することを目的
とする。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 本発明は、対象基板の実装構成を示すデータを有すると
ともに様式化された多数の検査プログラムを有し対象基
板の実装状態を表示装置に表示させたときに指示人力さ
れた対象基板上のチェックポイントの位置と選択され検
査データが入力された検査プログラムとを対応させて検
査判定プログラムを作成する検査判定プログラム作成手
段と、この検査判定プログラム作成手段で作成された検
査判定プログラムに従って対象基板上のチェックポイン
トに測定信号を供給して測定を行なう測定手段と、この
測定手段の測定結果を受けこの測定結果から検査判定プ
ログラムに従って対象基板の不良判定を行いかつ対象基
板が不良と判定された場合に測定結果から不良原因デー
タに基づいて不良原因を推論する診断手段とを備えて上
記目的を達成しようとする基板の検査装置である。

（作用） このような手段を備えたことにより、対象基板の実装状
態を表示装置に表示させたときに指示入力された対象基
板上のチェックポイントの位置と選択され検査データが
入力された検査プログラムとを検査判定プログラム作成
手段は対応させて検査判定プログラムを作成し、測定手
段はこの作成された検査判定プログラムに従って対象基
板に測定信号を供給して測定を行なう。そして、診断手
段はこの測定結果から検査判定プログラムに従って対象
基板の不良判定を行いかつ対象基板が不良と判定された
場合に測定結果から不良原因データに基づいて不良原因
を推論する。

（実施例） 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。

第１図はプリント基板ユニットの検査装置の構成図であ
る。同図において１は検査判定プログラム作成手段であ
って、これはＣＡＤ２で設計されたプリント基板ユニッ
トのデータを受けて保持するとともに様式化された多数
の検査プログラムを有し、プリント基板ユニットの実装
構成データをＣＲ７表示装置３に表示させたときに指示
入力されたプリント基板ユニット上のチェックポイント
の位置と選択された検査プログラムとを対応させて検査
判定プログラムを作成する機能を有するものである。具
体的にはＣＰＵ　（中央処理装置）４が備えられ、この
ＣＰＵ４にＣＲ７表示装置３が接・続されるとともに検
査プログラムが記憶された標準検査ライブラ°リベース
５が接続されている。

又、ＣＰＵ４には、ＣＡＤ２で設計されたプリント基板
ユニットの実装構成データが記憶されたフロッピーディ
スク６を受けてそのデータを読み出す機能が備えられる
とともに図示しないがキーボード、マウス等の入力手段
が接続されている。さらに、ＣＰＵ４は、フロッピーデ
ィスク６に記憶されたプリント基板ユニットの実装構成
データを読み出してＣＲ７表示装置３に表示させ、この
ときキーボード、マウス等から指示人力されたプリント
基板ユニット上のチェックポイントの位置と、これと共
に対話形式でキー人力された測定信号の波形や電圧値さ
らにこの測定信号を供給した°ときに判定基準となる出
力信号の波形、電圧範囲等から設定される検査プログラ
ムとを対応させて検査判定プログラムデータを作成する
機能を有している。

一方、前記ＣＰＵ４には、各検査工程ごとに設けられた
診断手段１０−１〜１０−ｎが接続され、さらにこれら
診断手段１０−１〜１０−ｎにそれぞれ計１１１１手段
としての自動計測機２０−１〜２０−ｎ、ｍ−１〜ｍ−
ｎが接続されている。ここで、各診断手段１０−１〜１
０−ｎ％　ｍ−１〜ｍ−ｎはそれぞれ同一機能を有して
いるので診断手段１０−１について説明する。診断手段
１０−１は、各自動計測機２０−１〜２０−ｎの測定結
果を受けこの測定結果からＣＰＵ４から受取った検査判
定プログラムに従ってプリント基板ユニットの不良判定
を行い、かつプリント基板ユニットが不良と判定された
場合に測定結果から不良原因データに基づいて不良原因
を推論する機能を有するものである。具体的には、ＣＰ
ＵＩＩが備えられ、このＣＰＵ１１　Ｅ　ＣＲＴ表示装
ｆ！１２が接続されるとともに推論機構１３．データベ
ース１４．不良原因知識ベース１５が接続されている。

ＣＰＵ１１は、検査判定プログラム作成手段１のＣＰＵ
４から受けた検査判定プログラムをＣＲＴ表示装置１２
に表示させ、かつ検査判定プログラムから測定信号の各
値等の検査プログラムを各自動計測機２０−１〜２０−
ｎに送出するとともにこれら自動針ｎ１機２０−１〜２
０−ｎの測定結果を受けてデータベース１４に記憶する
機能を有している。

なお、例えば自動計測機２０−１に診断手段１〇−１と
同様の構成の診断手段が備えられていれば、ＣＰＵＩ　
１は自動計測機２０−１に検査判定プログラムを渡すだ
けで測定結果を受けることはしない。推論機構１３は、
ＣＰＵＩＩの不良判定がなされたときにＣＰＵＩ　１か
らの指令を受けて不良゛と判定されたプリント基板ユニ
ットに対するｎ」定結果をデータベース１４から読み出
して不良原因知識ベース１５の知識から推論して不良の
原因を判断・する機能を有するものである。又、各自動
計測機２０−１〜２０−ｎはチェックポイント及び検査
プログラムを受け、これらチェックポイント及び検査プ
ログラムに従ってブリ、ント基板ユニットに設定された
測定信号を供給してそのときの出力信号を１１１３定す
る機能を有している。

次に上記の如く構成された装置の作用について第２図に
示す検査判定流れ図に従って説明する。

ＣＡＤ２でプリント基板ユニットが設計されてその実装
構成データがフロッピーディスク６に記憶されると、こ
のフロッピーディスク６はＣＡＤ２から取り出されてＣ
ＰＵ４にセットされる。この状態にＣＰＵ４にデータ表
示の指示が入力されると、ＣＰＵ４はフロッピーディス
ク６から実装構成データを読み取ってＣＲ７表示装置３
に表示させる。第３図はＣＲ７表示装置３に表示された
ブリトン基板ユニットのデータであって、ＰＩ〜Ｐ３は
それぞれ検査対象部分を示している。具体的には第４図
に示すような実装図であって、同図はその一部分である
。続いてオペレータＱ１により検査メニュー表示のキー
人力が行われると、ＣＰＵ４は例えば２点間測定、２点
間信号人力。

複数点測定、複数点信号入力等の検査メニューをＣＲ７
表示装置３に表示させる。そして、オペレータＱ１によ
り２点間測定が選択指示され、かつプリント基板ユニッ
ト上の検査対象部分Ｐ１が指示されるとともにこの検査
対象部分Ｐ１における測定信号の入力位置及び出力測定
位置が人力されると、ＣＰＵ４はステップｓ２において
これらｎ１定信号の入力位置及び出力測定位置をＣＲＴ
表示装Ｍ３の画面上にマーク表示するとともにこれら位
置を内蔵のメモリに記憶する。続いてＣＰＵは標準検査
ライブラリベース５から第５図に示すような検査プログ
ラムを読み出してＣＲ７表示装置３に表示する。すなわ
ち、ＣＲ７表示装置３には、■測定信号の波形は　■測
定信号の電圧値は・・・ｎ出力信号の波形は・・・が表
示される。ここで、オペレータＱ１は検査部分Ｐ１を検
査するうえに必要な項を選択してその間に答えて検査デ
ータを人力する。例えば、項■を選択した場合の波形は
矩形波を入力し、そのときの出力信号の波形は項ｎから
矩形波の積分波形を入力する。なお、検査部分Ｐ１〜Ｐ
３の検査に必要な検査プログラムが無く検査データが設
定できない場合は、ステップｓ３で標準検査方法ではな
いと判断し、ステップＳ５に移って別途検査プログラム
を作成して標準検査ライブラリベース５に記憶させる。

しかるに、以上のようにして各検査部分Ｐ１〜Ｐ３ごと
に検査プログラムが設定され、これが各種プリント基板
ユニットごとに設定される。そうして、プリント基板ユ
ニットのチェックポイントとその検査プログラムが設定
されると、ＣＰＵ４はプリント基板ユニットのチェック
ポイントとその検査プログラムとを対応させて検査判定
プログラムを作成し、この検査判定プログラムを診断手
段１０−１〜１０−ｎの各ＣＰＵＩＩに渡す。ここで、
診断手段１０−１について説明すると、この診断手段１
Ｏ−１のＣＰＵＩ　１は自動計測機２０−１に該当する
チェックポイント及び検査判定プログラムを送出すると
ともに他の自動計測機２０−２〜２０−ｎに該当するチ
ェックポイント及び検査プログラムを送出する。これに
より、各自動計測機２０−２〜２０−ｎはそれぞれ検査
プログラムに従って各プリント基板ユニットの測定を行
ない、その測定結果をＣＰＵＩＩに返送する。ＣＰＵＩ
Ｉはこれら返送されてきた各測定結果をデータベース１
４に記憶し、各検査部分Ｐ１〜Ｐ３ごとに設定した出力
信号の波形等と該当する各測定結果とを比較する。この
比較により、例えば出力信号の波形が検査データとして
入力した基準の波形よりも許容範囲以上具なっていれば
、ＣＰＵＩ　１は不良と判定する。このように不良と判
定するとＣＰＵＩＩは推論機構１０に指令を発して動作
を開始させる。

ゆえに、この推論機構１３はデータベース１４から不良
と判断されたプリント基板ユニットの測定結果を読み出
して不良原因知識ベース１５に記憶されている知識を検
索して原因を推論する。なお、この推論により出された
原因はＣＲ７表示装置１２に表示される。ところで、自
動針ｎ１機２０−１は検査判定プログラムが渡されて自
身で測定結果を判断する。

このように上記一実施例においては、プリント基板ユニ
ット上のチェックポイントの位置と選択された検査プロ
グラムとから検査判定プログラムを作成し、この検査判
定プログラムに従って測定を行ないかつこの測定結果か
ら検査判定プログラムに従ってプリント基板ユニットの
不良判定を行い、不良と判定された場合に測定結果から
不良原因データに基づいて不良原因を推論するようにし
たので、検査判定プログラムはＣＲＴ表示装置３に表示
された間に答えるだれけで専門以外の者でも容易に作成
することができ、このプログラム作成の後は自動的にプ
リント基板ユニットの検査ができる。従って、短時間に
検査判定プログラムが作成できて生産の立ち上がりに確
実に間に合せることができる。

なお、本発明は上記−実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。

［発明の効果］ 以上詳記したように本発明によれば、検査や判定のプロ
グラムを簡略化して非専門者でも容易にプログラムを作
成できて生産の立ち上げ時に間に合う基板の検査装置を
提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第５図は本発明に係わる基板の検査装置の一
実施例を説明するための図であって、第１図は構成図、
第２図は検査判定流れ図、第３図はプリント基板ユニッ
トの表示例を示す図、第４図はプリント基板ユニットの
実装図、第５図は検査プログラムの内容を示す模式図で
ある。 １・・・検査判定プログラム作成手段、２・・・ＣＡＤ
。 ３・・・ＣＲＴ表示装置、４・・・ＣＰＵ、５・・・標
準検査ライブラリベース、１０−１〜１０−ｎ・・・診
断手段、１１・・・ＣＰＵ、１２・・・ＣＲＴ表示装置
、１３・・・推論機構、１４・・・データベース、１５
・・・不良原因知識ベース、２０−１〜ｍ−ｎ・・・自
動計測機。 出願人代理人　　弁理士　鈴江武彦 第 図 第 図 第 図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　対象基板の実装構成を示すデータを有するとともに様
   式化された多数の検査プログラムを有し前記対象基板の
   実装状態を表示装置に表示させたときに指示入力された
   前記対象基板上のチェックポイントの位置と選択され検
   査データが入力された前記検査プログラムとを対応させ
   て検査判定プログラムを作成する検査判定プログラム作
   成手段と、この検査判定プログラム作成手段で作成され
   た前記検査判定プログラムに従って前記対象基板上のチ
   ェックポイントに測定信号を供給して測定を行なう測定
   手段と、この測定手段の測定結果を受けこの測定結果か
   ら前記検査判定プログラムに従って前記対象基板の不良
   判定を行いかつ前記対象基板が不良と判定された場合に
   前記測定結果から不良原因データに基づいて不良原因を
   推論する診断手段とを具備したことを特徴とする基板の
   検査装置。