JPH07239800A - Ｉｃ試験装置の測定プログラム確認機能 - Google Patents
Ｉｃ試験装置の測定プログラム確認機能Info
- Publication number
- JPH07239800A JPH07239800A JP6054576A JP5457694A JPH07239800A JP H07239800 A JPH07239800 A JP H07239800A JP 6054576 A JP6054576 A JP 6054576A JP 5457694 A JP5457694 A JP 5457694A JP H07239800 A JPH07239800 A JP H07239800A
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- JP
- Japan
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- program
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- product
- measurement program
- measurement
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Stored Programmes (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 製品ごとの測定プログラムがＩＣ試験装置に
正常に読み出されたかどうかを自動的に確認する測定プ
ログラム確認機能を提供する。 【構成】 測定プログラム記憶部４とコマンド発生部３
とプログラム名格納部５を備えるＩＣ試験装置１０と、
ＩＣ試験装置を接続するホスト装置１と、製品情報２Ａ
を格納する外部記憶装置２を備え、コマンド発生部３は
試験開始準備のコマンドと被試験ＩＣの製品名を入力
し、測定プログラム記憶部４はコマンド発生部３に対す
る入力内容により、製品名に対応する測定プログラムを
サーチし、サーチした測定プログラム名をプログラム名
格納部５に格納するとともに、ホスト装置１内のデータ
処理部１Ａはコマンド発生部３の指示により、製品情報
２ＡのデータをＩＣ試験装置１０のコマンド発生部に転
送し、コマンド発生部３はプログラム名格納部５のデー
タと製品情報２Ａのデータを比較して、測定プログラム
の有無を確認する。
正常に読み出されたかどうかを自動的に確認する測定プ
ログラム確認機能を提供する。 【構成】 測定プログラム記憶部４とコマンド発生部３
とプログラム名格納部５を備えるＩＣ試験装置１０と、
ＩＣ試験装置を接続するホスト装置１と、製品情報２Ａ
を格納する外部記憶装置２を備え、コマンド発生部３は
試験開始準備のコマンドと被試験ＩＣの製品名を入力
し、測定プログラム記憶部４はコマンド発生部３に対す
る入力内容により、製品名に対応する測定プログラムを
サーチし、サーチした測定プログラム名をプログラム名
格納部５に格納するとともに、ホスト装置１内のデータ
処理部１Ａはコマンド発生部３の指示により、製品情報
２ＡのデータをＩＣ試験装置１０のコマンド発生部に転
送し、コマンド発生部３はプログラム名格納部５のデー
タと製品情報２Ａのデータを比較して、測定プログラム
の有無を確認する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、測定する製品の測定
プログラムが、ＩＣ試験装置内に存在するかの確認をす
る測定プログラム確認機能についてのものである。
プログラムが、ＩＣ試験装置内に存在するかの確認をす
る測定プログラム確認機能についてのものである。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術によるＩＣ試験装置の構
成を図３に示す。図３の３はコマンド発生部、４は測定
プログラム記憶部である。ＩＣ試験装置２０はコマンド
発生部３と測定プログラム記憶部４を備えている。図３
で、ＩＣ試験装置２０は汎用性を持たせるために、多種
類の製品を測定できるようになっており、測定プログラ
ム記憶部４には、製品ごとにそれぞれ測定に必要な複数
の測定プログラムを格納しており、コマンド発生部３に
製品名を入力すると、測定プログラム記憶部４に格納さ
れた測定プログラムを読み出し、試験を実行する。この
ような構成のＩＣ試験装置については、特開平４−３４
３４４５号公報にも記載されている。
成を図３に示す。図３の３はコマンド発生部、４は測定
プログラム記憶部である。ＩＣ試験装置２０はコマンド
発生部３と測定プログラム記憶部４を備えている。図３
で、ＩＣ試験装置２０は汎用性を持たせるために、多種
類の製品を測定できるようになっており、測定プログラ
ム記憶部４には、製品ごとにそれぞれ測定に必要な複数
の測定プログラムを格納しており、コマンド発生部３に
製品名を入力すると、測定プログラム記憶部４に格納さ
れた測定プログラムを読み出し、試験を実行する。この
ような構成のＩＣ試験装置については、特開平４−３４
３４４５号公報にも記載されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、例えば、測定
プログラム記憶部に格納されている測定プログラム自体
に欠陥が生じていたり、測定プログラム自体が消えてい
たりした場合、ＩＣ試験装置による被測定ＩＣの測定で
正確な測定結果を得ることはできない。
プログラム記憶部に格納されている測定プログラム自体
に欠陥が生じていたり、測定プログラム自体が消えてい
たりした場合、ＩＣ試験装置による被測定ＩＣの測定で
正確な測定結果を得ることはできない。
【０００４】従来の構成では、コマンド発生部３の指示
により読み出された測定プログラムが被測定ＩＣの測定
プログラムとして正常に読み出されたものかどうかは、
測定作業者がＩＣ試験装置２０のコマンド発生部３で格
納されている測定プログラムの情報を出力して目視で確
認するか、実際に測定プログラムを実行させ、エラーに
なることで確認していた。したがって、確認作業にミス
があったり、確認するまでに時間がかかるという問題が
ある。この発明は、製品ごとの測定プログラムがＩＣ試
験装置に正常に読み出されたかどうかを自動的に確認す
る測定プログラム確認機能の提供を目的とする。
により読み出された測定プログラムが被測定ＩＣの測定
プログラムとして正常に読み出されたものかどうかは、
測定作業者がＩＣ試験装置２０のコマンド発生部３で格
納されている測定プログラムの情報を出力して目視で確
認するか、実際に測定プログラムを実行させ、エラーに
なることで確認していた。したがって、確認作業にミス
があったり、確認するまでに時間がかかるという問題が
ある。この発明は、製品ごとの測定プログラムがＩＣ試
験装置に正常に読み出されたかどうかを自動的に確認す
る測定プログラム確認機能の提供を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明は、複数の測定プログラムを製品ごとに格
納する測定プログラム記憶部４と、コマンド発生部３
と、プログラム名格納部５を備えるＩＣ試験装置１０
と、データ処理部１Ａを備え、少なくとも１台のＩＣ試
験装置１０を接続するホスト装置１と、複数の製品名お
よび各製品名に対応する測定プログラムをもつ製品情報
２Ａを格納する外部記憶装置２を備え、コマンド発生部
３は試験開始準備のコマンドと被試験ＩＣの製品名を入
力し、測定プログラム記憶部４はコマンド発生部３に対
する入力内容により、前記製品名に対応する測定プログ
ラムをサーチし、サーチした測定プログラム名をプログ
ラム名格納部５に格納するとともに、ホスト装置１のデ
ータ処理部１Ａは、コマンド発生部３の指示により、外
部記憶装置２にあらかじめ記憶している製品情報２Ａの
データをＩＣ試験装置１０のコマンド発生部に転送し、
コマンド発生部３はプログラム名格納部５のデータと製
品情報２Ａのデータを比較して、測定プログラムの有無
を確認する。
め、この発明は、複数の測定プログラムを製品ごとに格
納する測定プログラム記憶部４と、コマンド発生部３
と、プログラム名格納部５を備えるＩＣ試験装置１０
と、データ処理部１Ａを備え、少なくとも１台のＩＣ試
験装置１０を接続するホスト装置１と、複数の製品名お
よび各製品名に対応する測定プログラムをもつ製品情報
２Ａを格納する外部記憶装置２を備え、コマンド発生部
３は試験開始準備のコマンドと被試験ＩＣの製品名を入
力し、測定プログラム記憶部４はコマンド発生部３に対
する入力内容により、前記製品名に対応する測定プログ
ラムをサーチし、サーチした測定プログラム名をプログ
ラム名格納部５に格納するとともに、ホスト装置１のデ
ータ処理部１Ａは、コマンド発生部３の指示により、外
部記憶装置２にあらかじめ記憶している製品情報２Ａの
データをＩＣ試験装置１０のコマンド発生部に転送し、
コマンド発生部３はプログラム名格納部５のデータと製
品情報２Ａのデータを比較して、測定プログラムの有無
を確認する。
【０００６】
【作用】コマンド発生部の指示により、測定プログラム
記憶部に格納されている被測定ＩＣの測定プログラムと
測定パターンファイルのパターン名をプログラム名格納
部５に格納するとともに、外部記憶装置にあらかじめ記
憶している被測定ＩＣの製品情報のデータを読み出して
比較することにより、被測定ＩＣに必要な測定プログラ
ムがＩＣ試験装置に準備されているかどうかを確認す
る。
記憶部に格納されている被測定ＩＣの測定プログラムと
測定パターンファイルのパターン名をプログラム名格納
部５に格納するとともに、外部記憶装置にあらかじめ記
憶している被測定ＩＣの製品情報のデータを読み出して
比較することにより、被測定ＩＣに必要な測定プログラ
ムがＩＣ試験装置に準備されているかどうかを確認す
る。
【０００７】
【実施例】次に、この発明による実施例の構成を図１に
示す。図１の１はホスト装置、２は記憶装置、３はコマ
ンド発生部、４は測定プログラム記憶部、５はプログラ
ム名格納部である。ＩＣ試験装置１０はコマンド発生部
３と測定プログラム記憶部４とプログラム名格納部５を
備える。ＩＣ試験装置１０は、ホスト装置１に対して複
数台が接続され、ホスト装置１により集中的に管理され
る。
示す。図１の１はホスト装置、２は記憶装置、３はコマ
ンド発生部、４は測定プログラム記憶部、５はプログラ
ム名格納部である。ＩＣ試験装置１０はコマンド発生部
３と測定プログラム記憶部４とプログラム名格納部５を
備える。ＩＣ試験装置１０は、ホスト装置１に対して複
数台が接続され、ホスト装置１により集中的に管理され
る。
【０００８】次に、この発明の動作を図１を参照して説
明する。図１で、作業者は図示を省略した入力手段によ
り測定準備を行うコマンドと測定するＩＣの製品名をコ
マンド発生部３に入力する。測定プログラム記憶部４
は、コマンド発生部３の内容により、格納されている測
定プログラム及び測定パターン名のサーチ処理を行い、
サーチしたプログラム名をプログラム名格納部５に転送
する。
明する。図１で、作業者は図示を省略した入力手段によ
り測定準備を行うコマンドと測定するＩＣの製品名をコ
マンド発生部３に入力する。測定プログラム記憶部４
は、コマンド発生部３の内容により、格納されている測
定プログラム及び測定パターン名のサーチ処理を行い、
サーチしたプログラム名をプログラム名格納部５に転送
する。
【０００９】ここで、コマンド発生部３はホスト装置１
のデータ処理部１Ａに要求を行い、外部記憶装置２にあ
らかじめ記憶している製品情報２Ａのデータ、すなわち
図２に示すように、測定する製品ごとに書き込まれた複
数の測定プログラム名６、あるいは容量７等の情報を、
データ処理部１ＡがＩＣ試験装置１０に転送する。デー
タを受け取ったコマンド発生部３は、プログラム名格納
部５のデータと比較し、比較結果が一致した場合は、測
定準備完了の状態とする。不一致の場合は、不一致内容
を出力する。
のデータ処理部１Ａに要求を行い、外部記憶装置２にあ
らかじめ記憶している製品情報２Ａのデータ、すなわち
図２に示すように、測定する製品ごとに書き込まれた複
数の測定プログラム名６、あるいは容量７等の情報を、
データ処理部１ＡがＩＣ試験装置１０に転送する。デー
タを受け取ったコマンド発生部３は、プログラム名格納
部５のデータと比較し、比較結果が一致した場合は、測
定準備完了の状態とする。不一致の場合は、不一致内容
を出力する。
【００１０】
【発明の効果】この発明によれば、製品名を入力するだ
けで、測定プログラム記憶部から読み出された測定プロ
グラム名を、外部記憶装置にあらかじめ書き込まれた製
品情報の内容と比較し、測定に必要な測定プログラムが
ＩＣ試験装置の測定プログラム記憶部に格納されている
かの確認を自動的に行なうので、目視による確認ミスが
低減されるとともに今まで測定準備に費やしていた作業
時間を削減できる。
けで、測定プログラム記憶部から読み出された測定プロ
グラム名を、外部記憶装置にあらかじめ書き込まれた製
品情報の内容と比較し、測定に必要な測定プログラムが
ＩＣ試験装置の測定プログラム記憶部に格納されている
かの確認を自動的に行なうので、目視による確認ミスが
低減されるとともに今まで測定準備に費やしていた作業
時間を削減できる。
【図１】この発明による構成図である。
【図２】製品情報の内容である。
【図３】従来の構成図である。
１ データ処理部 ２ 記憶装置 ３ コマンド発生部 ４ 測定プログラム記憶部 ５ プログラム名格納部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０６Ｆ 9/06 ４１０ Ａ 7230−5Ｂ Ｈ０１Ｌ 21/66 Ｚ 7630−4Ｍ
Claims (1)
- 【請求項１】 複数の測定プログラムを製品ごとに格納
する測定プログラム記憶部(4) と、コマンド発生部(3)
と、プログラム名格納部(5) を備えるＩＣ試験装置(10)
と、 データ処理部(1A)を備え、少なくとも１台のＩＣ試験装
置(10)を接続するホスト装置(1) と、 複数の製品名および各製品名に対応する測定プログラム
をもつ製品情報(2A)を格納する外部記憶装置(2) を備
え、 コマンド発生部(3) は試験開始準備のコマンドと被試験
ＩＣの製品名を入力し、測定プログラム記憶部(4) はコ
マンド発生部(3) に対する入力内容により、前記製品名
に対応する測定プログラムをサーチし、サーチした測定
プログラム名をプログラム名格納部(5) に格納するとと
もに、ホスト装置(1) のデータ処理部(1A)は、コマンド
発生部(3) の指示により、外部記憶装置(2)にあらかじ
め記憶している製品情報(2A)のデータをＩＣ試験装置(1
0)のコマンド発生部に転送し、コマンド発生部(3) はプ
ログラム名格納部(5) のデータと製品情報(2A)のデータ
を比較して、測定プログラムの有無を確認することを特
徴とするＩＣ試験装置の測定プログラム確認機能。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6054576A JPH07239800A (ja) | 1994-02-28 | 1994-02-28 | Ｉｃ試験装置の測定プログラム確認機能 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6054576A JPH07239800A (ja) | 1994-02-28 | 1994-02-28 | Ｉｃ試験装置の測定プログラム確認機能 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07239800A true JPH07239800A (ja) | 1995-09-12 |
Family
ID=12974531
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6054576A Pending JPH07239800A (ja) | 1994-02-28 | 1994-02-28 | Ｉｃ試験装置の測定プログラム確認機能 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07239800A (ja) |
-
1994
- 1994-02-28 JP JP6054576A patent/JPH07239800A/ja active Pending
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