JP2932987B2 - 計算機システムの自動試験装置 - Google Patents

計算機システムの自動試験装置

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JP2932987B2
JP2932987B2 JP7306490A JP30649095A JP2932987B2 JP 2932987 B2 JP2932987 B2 JP 2932987B2 JP 7306490 A JP7306490 A JP 7306490A JP 30649095 A JP30649095 A JP 30649095A JP 2932987 B2 JP2932987 B2 JP 2932987B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は計算機システムの自
動試験装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、システムの動作を試験する場合、
始めに、試験者が被試験システムに入力した試験入力デ
ータより試験を行い、これにより出力された試験出力デ
ータを上述の試験入力データと共に記憶装置に格納して
おく。その後、再度試験を行う場合、記憶装置に格納さ
れた試験入力データを自動的に被試験システムに入力
し、結果得られた出力データを記憶装置に格納された出
力データと比較することにより、試験者に被試験システ
ムの機能が損なわれか否かを通知する。つまり、シス
テムに対する試験作業は、一連の入力データ及びその結
果の出力データを記憶装置に格納しておくことにより、
同一の試験を容易に繰返し実行することができる(参
照:特開平3−271945号公報)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来の計算機システムの自動試験装置においては、事前
に時系列的に登録された入力データに従い試験を自動実
行するので、同じ試験手順であるにもかかわらず複数の
入力データパターンを試験する場合、全ての入力データ
パターンに対応した同様な試験手順を行う。このため、
試験工数が非常に大きいという課題がある。従って、本
発明の目的は、試験工数を低減した計算機システムの自
動試験装置を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
めに本発明は、試験入力データパターンを順次記憶する
試験パターン記憶手段と、試験パターン記憶手段に記憶
された試験入力データパターンの特定フィールドの入力
データをコードパターンとして設定して記憶するコード
パターン記憶手段と、試験パターン記憶手段に記憶され
た1つの試験入力データパターンを読み出し、この1つ
の試験入力データパターンの特定フィールドの内容をコ
ードパターン記憶手段に記憶されたコードパターンの1
つに置換することにより試験入力データパターンを自動
的に生成する試験入力データパターン生成手段と、この
自動的に生成された試験入力データパターンを計算機シ
ステムに入力して試験を実行する試験実行手段と、試験
入力データパターン生成手段をコードパターン記憶手段
に記憶させているコードパターンのすべてに対して繰り
返し実行させる繰り返し実行手段とを設ける。これによ
り、複数の試験入力データパターンに対して同じ試験操
作は必要なくなる。
【0005】
【発明の実施の形態】図1は本発明の係る計算機システ
ムの自動試験装置の実施の形態を示すブロック図であ
る。図1において、1はオペレータが試験操作を行う会
話入出力装置、2は計算機システムであって、これらは
自動試験装置としての中央処理装置(CPU)3に接続
されている。また、4はCPU3に接続された記憶装置
であって、試験操作による入力データを試験パターンと
して時系列的に記憶する試験パターン情報ファイル4
1、試験機システムからの試験実行結果の出力データを
記憶する試験結果情報ファイル42、入出力データのレ
イアウト(フィールド)を定義する入出力データレイア
ウト定義情報ファイル43、及び特定フィールドの入力
データをコードパターンとして記憶するコードパターン
情報ファイル44を有している。
【0006】図1のCPU3の動作を図2、図3を参照
して説明する。
【0007】図2は、オペレータにより会話入出力装置
1から試験入力データが入力された毎に実行され試験
パターンの登録動作を示すフローチャートである。ステ
ップ201においては、オペレータにより入力された試
験入力データパターンを記憶装置4の試験パターン情報
ファイル41に時系列的に記憶する。次に、ステップ2
02では、入力された試験入力データパターンを計算機
システム2に投入して試験を実行する。
【0008】次に、ステップ203において、ステップ
202にて得られた試験実行結果出力データを記憶装置
4の試験結果情報ファイル42に記憶する。また、同時
に、試験実行結果出力データは会話入出力装置1に出力
される。そして、ステップ204にて図2のルーチンは
終了する。このように、図2に示す動作はオペレータに
よる試験入力データパターンの入力毎に実行される。
【0009】図3は図2の試験パターン登録後に試験手
順を自動的に実行するフローチャートである。ステップ
301では、記憶装置4の試験パターン情報ファイル4
1の試験入力データパターンに対して入出力データレイ
アウト定義情報ファイル43に定義されたフィールドに
おいて複数の入力データがあるときには該入力データを
コードパターンとして記憶装置4のコードパターン情報
ファイル44に設定する。
【0010】次に、ステップ302では、記憶装置4の
試験パターン情報ファイル41から読み出された試験入
力データパターンにおいて、入出力データレイアウト定
義情報ファイル43に定義された特定フィールドに対し
てコードパターン情報ファイル44からコードパターン
の1つを設定する。なお、この場合、該当特定フィール
ドの入力データの種類によりコードパターンは複数存在
することも存在しないこともある。コードパターンが存
在しない場合には、該当入力データをそのまま用いる。
【0011】次に、ステップ303では、同一入力デー
タに該当する入力データレイアウト情報を入出力データ
レイアウト定義情報ファイル43より取得し、レイアウ
ト情報に指定されている特定フィールドに対して、試験
結果情報ファイル42から前回出力データの該当フィー
ルドの内容を、入出力データレイアウト定義情報ファイ
ル43の該当出力データレイアウト情報により取得して
設定する。この時、特定フィールドがレイアウト情報に
定義されていなければ、そのまま入力データの内容を用
いる。これにより、一連の試験操作において出力データ
情報の一部を持ち回る必要が有り、入力データの内容に
よりその情報が変わる場合でも、一度記憶した試験手順
を使用することが可能となる。
【0012】次に、ステップ304では、自動生成され
た試験入力データパターンを計算機システム3に投入し
て試験を実行する。次に、ステップ305では、ステッ
プ304にて試験実行された結果を順次試験結果情報フ
ァイル42に記憶する。
【0013】上述のステップ302〜305は、ステッ
プ306によりコードパターン情報ファイル44に記憶
されたコードパターンのすべてについて繰返す。そし
て、ステップ307にて図3のルーチンは終了する。こ
のようにして、同じ試験操作手順により、異なるコード
パターンのデータを全て自動に操作することが可能とな
る。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、一
度登録した試験手順に対してコードパターン情報に登録
した全ての試験操作を自動実行することを可能としたの
で、複数のデータパターンに対して同じ試験操作を行う
必要がなく、この結果、試験項目の漏れを防ぐ効果があ
るとともに、大幅な試験工数の削減が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の係る計算機システムの自動試験装置の
実施の形態を示すブロック図である。
【図2】図1のCPUの動作を示すフローチャートであ
る。
【図3】図1のCPUの動作を示すフローチャートであ
る。
【符号の説明】
1…会話入出力装置 2…計算機システム 3…会話入出力装置 4…記憶装置

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試験入力データパターンを順次記憶する
    試験パターン記憶手段(41)と、 前記試験パターン記憶手段に記憶された試験入力データ
    パターンの特定フィールドの入力データをコードパター
    ンとして設定して記憶するコードパターン記憶手段(4
    4)と 前記試験パターン記憶手段に記憶された1つの試験入力
    データパターンを読み出し,該1つの試験入力データパ
    ターンの前記特定フィールドの内容を前記コードパター
    ン記憶手段に記憶されたコードパターンの1つに置換す
    ることにより試験入力データパターンを自動的に生成す
    る試験入力データパターン生成手段(302)と、 該自動的に生成された試験入力データパターンを計算機
    システムに入力して試験を実行する試験実行手段(30
    4)と 前記試験入力データパターン生成手段を前記コードパタ
    ーン記憶手段に記憶されているコードパターンのすべて
    に対して繰り返し実行させる繰り返し実行手段(30
    6)と、 を具備する計算機システムの自動試験装置。
JP7306490A 1995-10-31 1995-10-31 計算機システムの自動試験装置 Expired - Fee Related JP2932987B2 (ja)

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JPH03116275A (ja) * 1989-09-29 1991-05-17 Ricoh Co Ltd テストパターン作成方法およびその処理システム
JPH03271945A (ja) * 1990-03-20 1991-12-03 Nec Corp システム自動試験装置

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