JP2820184B2 - ロードモジュール単体テスト支援装置 - Google Patents
ロードモジュール単体テスト支援装置Info
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- Japan
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- test data
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 89
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 14
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 13
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 230000008520 organization Effects 0.000 description 4
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 3
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
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- Debugging And Monitoring (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はコンピュータプログラム
のテストに関し、特に複数にLMを分割させるような大
規模なプログラムの単体テスト支援に関するものであ
る。
のテストに関し、特に複数にLMを分割させるような大
規模なプログラムの単体テスト支援に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】複数にLMを分割させる大規模なプログ
ラムでは、データの受け渡しは一時記憶装置によって行
われる。従来、このLM一つ一つのテストを行う際に
は、LMが単体で動くように、一時記憶装置の定義記述
を持ち、受け渡されるデータを一時記憶装置へ書き込む
処理を行うドライバープログラムを新規にコーディング
しなければならなかった。
ラムでは、データの受け渡しは一時記憶装置によって行
われる。従来、このLM一つ一つのテストを行う際に
は、LMが単体で動くように、一時記憶装置の定義記述
を持ち、受け渡されるデータを一時記憶装置へ書き込む
処理を行うドライバープログラムを新規にコーディング
しなければならなかった。
【0003】また、一時記憶装置のデータはドライバー
プログラム中で初期値として与えられている場合が多
く、色々なパターンのデータテストを行う場合、LM単
体で行うことは手間がかかるので、全LMの完成後に行
っていた。
プログラム中で初期値として与えられている場合が多
く、色々なパターンのデータテストを行う場合、LM単
体で行うことは手間がかかるので、全LMの完成後に行
っていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の技術
で、各LM単体の開発者は新規にドライバープログラム
を作成するので時間がかかるという問題点があった。ま
た、それぞれのLM単体で色々なパターンのデータでテ
ストを充分行わないと各LMの品質が十分でないため、
全LMを結びつけた後のテストの段階でバグの発生率が
高い。さらにどのLMからそのバグが発生したのか発見
しにくいため、テスト及びプログラムの修正に膨大な手
間がかかるという問題点があった。
で、各LM単体の開発者は新規にドライバープログラム
を作成するので時間がかかるという問題点があった。ま
た、それぞれのLM単体で色々なパターンのデータでテ
ストを充分行わないと各LMの品質が十分でないため、
全LMを結びつけた後のテストの段階でバグの発生率が
高い。さらにどのLMからそのバグが発生したのか発見
しにくいため、テスト及びプログラムの修正に膨大な手
間がかかるという問題点があった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明のロードモジュー
ル単体テスト支援装置は、LM各単体間のデータの受け
渡しに使用する一時記憶装置の識別子と、作成するプロ
グラムの識別子とを少なくとも入力する入力装置と、ソ
ースプログラムのデータ記述部分の解析を行って前記一
時記憶装置の詳細情報と、データの情報とを抽出するデ
ータ情報解析装置と、前記データ情報解析装置の解析し
た情報を記憶しておくデータ情報記憶装置と、指定され
たCU(コンパイラ・ユニット)識別子を有するメイン
CUをコールする処理及び、指定された識別子を有する
テストデータ領域からテストデータを前記一時記憶装置
へ複写する処理及び、前記指定された識別子を有するテ
ストデータ領域にテストデータを入力する処理のコーデ
ィングを含む前記ドライバープログラムの作成を行うプ
ログラム作成装置と、前記テストデータの繰り返し入力
と入力終了の判断を行うテストデータ入力装置と、作成
された前記ドライバープログラムを記憶しておくドライ
バープログラム記憶装置と、入力された前記テストデー
タを記憶しておくテストデータ記憶装置と、を備えてい
ることを特徴としている。
ル単体テスト支援装置は、LM各単体間のデータの受け
渡しに使用する一時記憶装置の識別子と、作成するプロ
グラムの識別子とを少なくとも入力する入力装置と、ソ
ースプログラムのデータ記述部分の解析を行って前記一
時記憶装置の詳細情報と、データの情報とを抽出するデ
ータ情報解析装置と、前記データ情報解析装置の解析し
た情報を記憶しておくデータ情報記憶装置と、指定され
たCU(コンパイラ・ユニット)識別子を有するメイン
CUをコールする処理及び、指定された識別子を有する
テストデータ領域からテストデータを前記一時記憶装置
へ複写する処理及び、前記指定された識別子を有するテ
ストデータ領域にテストデータを入力する処理のコーデ
ィングを含む前記ドライバープログラムの作成を行うプ
ログラム作成装置と、前記テストデータの繰り返し入力
と入力終了の判断を行うテストデータ入力装置と、作成
された前記ドライバープログラムを記憶しておくドライ
バープログラム記憶装置と、入力された前記テストデー
タを記憶しておくテストデータ記憶装置と、を備えてい
ることを特徴としている。
【0006】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【0007】図1は本発明の一実施例の機能構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【0008】なお、これ以後ではCOBOL85言語で
記述されたソースプログラムを例に説明する。
記述されたソースプログラムを例に説明する。
【0009】入力装置1−1は、解析対象のソースプロ
グラム記憶装置1−2の識別子や、作成するドライバー
プログラムの識別子や、データ情報記憶装置1−4から
参照する一時記憶装置の識別子や、テストで使用するデ
ータ値の入力を行う。
グラム記憶装置1−2の識別子や、作成するドライバー
プログラムの識別子や、データ情報記憶装置1−4から
参照する一時記憶装置の識別子や、テストで使用するデ
ータ値の入力を行う。
【0010】ソースプログラム記憶装置1−2は、一つ
のLMに対する各ソースプログラムの中で一時記憶装置
に対する定義が記述されているソースが記憶されている
装置である。
のLMに対する各ソースプログラムの中で一時記憶装置
に対する定義が記述されているソースが記憶されている
装置である。
【0011】データ情報解析装置1−3は、入力装置1
−1によって指定されたソースプログラム記憶装置1−
2の識別子が示す内容を読み取って一時記憶装置の詳細
情報(例えばファイル編成,ブロック化係数,レコード
長)や、各データの情報(例えばデータ名,データ長)
を調べ、解析結果をデータ情報記憶装置1−4へ記憶さ
せる装置である。
−1によって指定されたソースプログラム記憶装置1−
2の識別子が示す内容を読み取って一時記憶装置の詳細
情報(例えばファイル編成,ブロック化係数,レコード
長)や、各データの情報(例えばデータ名,データ長)
を調べ、解析結果をデータ情報記憶装置1−4へ記憶さ
せる装置である。
【0012】データ情報記憶装置1−4は、データ情報
解析装置1−3によって解析された一時記憶装置の詳細
情報や、各データの情報を記憶しておく装置である。
解析装置1−3によって解析された一時記憶装置の詳細
情報や、各データの情報を記憶しておく装置である。
【0013】プログラム作成装置1−5は、入力装置1
−1からの指示及び、データ情報記憶装置1−4に記憶
されている一時記憶装置の詳細や各データの情報を参照
してドライバープログラムを自動的に作成し、作成され
たドライバープログラムをドライバープログラム記憶装
置1−7へ記憶させる装置である。
−1からの指示及び、データ情報記憶装置1−4に記憶
されている一時記憶装置の詳細や各データの情報を参照
してドライバープログラムを自動的に作成し、作成され
たドライバープログラムをドライバープログラム記憶装
置1−7へ記憶させる装置である。
【0014】テストデータ入力装置1−6は、データ情
報記憶装置1−4に記憶されている一時記憶装置の詳細
情報を参照して、テストデータ記憶装置1−8上に一時
記憶装置と同様の領域を確保し、入力装置1−1により
テストデータ値の入力を行い、テストデータ記憶装置1
−8へ記憶させる処理を繰り返し行い、LM中の一時記
憶装置についてすべて、テストデータの定義が行われた
かを入力終了時に確認する装置である。
報記憶装置1−4に記憶されている一時記憶装置の詳細
情報を参照して、テストデータ記憶装置1−8上に一時
記憶装置と同様の領域を確保し、入力装置1−1により
テストデータ値の入力を行い、テストデータ記憶装置1
−8へ記憶させる処理を繰り返し行い、LM中の一時記
憶装置についてすべて、テストデータの定義が行われた
かを入力終了時に確認する装置である。
【0015】ドライバープログラム記憶装置1−7は、
プログラム作成装置1−5によって作成されたドライバ
ープログラムを記憶しておくための記憶装置である。
プログラム作成装置1−5によって作成されたドライバ
ープログラムを記憶しておくための記憶装置である。
【0016】テストデータ記憶装置1−8は、テストデ
ータ入力装置1−6で入力されたテストデータの値を記
憶しておくための記憶装置である。
ータ入力装置1−6で入力されたテストデータの値を記
憶しておくための記憶装置である。
【0017】以下に、ドライバー部分のプログラムが自
動生成され、それにともなってテストデータを作成して
いくまでの一連の動作を図2〜図4にそって説明してい
く。
動生成され、それにともなってテストデータを作成して
いくまでの一連の動作を図2〜図4にそって説明してい
く。
【0018】まず、図2の手順に従い、必要とされる一
時記憶装置(例えば磁気ディスク上のテンポラリーファ
イル)の情報(例えばファイル編成,ブロック化係数,
レコード長,データ名,データ長)をとりこむ。入力装
置1−1(例えばCRTやキーボード)でLM間でデー
タの受け渡しに使用しているすべての一時記憶装置の識
別子及び、これらの定義を行っているソースプログラム
記憶装置1−2を指定する(2−1の処理)。
時記憶装置(例えば磁気ディスク上のテンポラリーファ
イル)の情報(例えばファイル編成,ブロック化係数,
レコード長,データ名,データ長)をとりこむ。入力装
置1−1(例えばCRTやキーボード)でLM間でデー
タの受け渡しに使用しているすべての一時記憶装置の識
別子及び、これらの定義を行っているソースプログラム
記憶装置1−2を指定する(2−1の処理)。
【0019】データ情報解析装置1−3で一時記憶装置
についての記述部分(例えばINPUT−OUTPUT
SECTIONや、FILE SECTION)をソ
ースプログラム記憶装置1−2から探して(2−2の処
理)、一時ファイルの詳細情報(例えばファイル編成,
ブロック化係数,レコード長)や、そこで使用するデー
タの情報(例えばデータ名,データ長)を解析する(2
−3の処理)。そしてこれらの解析結果の情報をデータ
情報記憶装置1−4(例えばメモリ)へ記憶させる(2
−4の処理)。
についての記述部分(例えばINPUT−OUTPUT
SECTIONや、FILE SECTION)をソ
ースプログラム記憶装置1−2から探して(2−2の処
理)、一時ファイルの詳細情報(例えばファイル編成,
ブロック化係数,レコード長)や、そこで使用するデー
タの情報(例えばデータ名,データ長)を解析する(2
−3の処理)。そしてこれらの解析結果の情報をデータ
情報記憶装置1−4(例えばメモリ)へ記憶させる(2
−4の処理)。
【0020】次に、図3の手順に従い、ドライバー部の
プログラムを自動生成する。
プログラムを自動生成する。
【0021】入力装置1−1でLM中のメインCU識別
子と、作成するドライバープログラムの識別子を指定す
る(3−1の処理)。
子と、作成するドライバープログラムの識別子を指定す
る(3−1の処理)。
【0022】プログラム作成装置1−5で、一時記憶装
置の詳細情報とデータの情報をデータ情報記憶装置1−
4から読み込み(3−2の処理)、一時記憶装置、それ
と同様の領域をとるテストデータ記憶装置1−8(例え
ば磁気ディスク)上のテストデータ領域(例えばパーマ
ネントファイル)を定義する部分のコーディングを自動
生成する(3−3の処理)。そして、指定されたCU識
別子の情報からメインCUをコールする処理及び、指定
されたテストデータ領域識別子(例えばファイル名のこ
と、以後、単にテストデータ識別子と呼ぶ)から一時記
憶装置へ複写する処理及び、入力装置1−1で指定する
テストデータ識別子の入力処理のコーディングを生成し
てドライバープログラムを完成させ(3−4の処理)、
指定されたプログラム識別子でドライバープログラム記
憶装置1−7(例えば磁気ディスク)へ記憶させる(3
−5の処理)。
置の詳細情報とデータの情報をデータ情報記憶装置1−
4から読み込み(3−2の処理)、一時記憶装置、それ
と同様の領域をとるテストデータ記憶装置1−8(例え
ば磁気ディスク)上のテストデータ領域(例えばパーマ
ネントファイル)を定義する部分のコーディングを自動
生成する(3−3の処理)。そして、指定されたCU識
別子の情報からメインCUをコールする処理及び、指定
されたテストデータ領域識別子(例えばファイル名のこ
と、以後、単にテストデータ識別子と呼ぶ)から一時記
憶装置へ複写する処理及び、入力装置1−1で指定する
テストデータ識別子の入力処理のコーディングを生成し
てドライバープログラムを完成させ(3−4の処理)、
指定されたプログラム識別子でドライバープログラム記
憶装置1−7(例えば磁気ディスク)へ記憶させる(3
−5の処理)。
【0023】次に、図4の手順に従い、テストデータの
入力を行う。
入力を行う。
【0024】入力装置1−1でデータを定義したい一時
記憶装置識別子,作成するテストデータ識別子を入力す
る(4−1の処理)。
記憶装置識別子,作成するテストデータ識別子を入力す
る(4−1の処理)。
【0025】テストデータ入力装置1−6で、データ情
報記憶装置1−4から一時記憶装置の詳細情報を参照
し、同様の領域をテストデータ記憶装置1−8上に指定
されたテストデータ識別子をつけて確保する(4−2の
処理、例えば磁気ディスク上にパーマネントファイルを
アロケートするような動作のことをいう)。
報記憶装置1−4から一時記憶装置の詳細情報を参照
し、同様の領域をテストデータ記憶装置1−8上に指定
されたテストデータ識別子をつけて確保する(4−2の
処理、例えば磁気ディスク上にパーマネントファイルを
アロケートするような動作のことをいう)。
【0026】次に、データ情報記憶装置1−4から、各
データの情報を順に参照し(4−3の処理)、入力装置
1−1(例えばCRT)上に表示し、それに対応して各
データの値を入力していく(4−4の処理)。入力され
たデータ値はテストデータ記憶装置1−8へ入力装置1
−1で入力されたテストデータ識別子をつけて記憶され
る(4−5の処理、例えばファイルへデータを書き込む
動作)。これらの動作をすべてのデータに対して値が入
力されるまで行う(4−6の処理)。
データの情報を順に参照し(4−3の処理)、入力装置
1−1(例えばCRT)上に表示し、それに対応して各
データの値を入力していく(4−4の処理)。入力され
たデータ値はテストデータ記憶装置1−8へ入力装置1
−1で入力されたテストデータ識別子をつけて記憶され
る(4−5の処理、例えばファイルへデータを書き込む
動作)。これらの動作をすべてのデータに対して値が入
力されるまで行う(4−6の処理)。
【0027】一つの一時記憶装置に対するテストデータ
の入力が終了すると、テストデータ入力装置1−1によ
って、また次の一時記憶装置識別子とテストデータ識別
子の入力要求となるので、LMで使用する各一時記憶装
置ごとにテストしたいテストデータの数だけ入力処理を
繰り返し行う(4−7の処理)。
の入力が終了すると、テストデータ入力装置1−1によ
って、また次の一時記憶装置識別子とテストデータ識別
子の入力要求となるので、LMで使用する各一時記憶装
置ごとにテストしたいテストデータの数だけ入力処理を
繰り返し行う(4−7の処理)。
【0028】そしてすべてのテストデータの作成後、テ
ストデータ入力装置1−6によって、テストデータ記憶
装置1−8の各テストデータとデータ情報記憶装置1−
4の各一時ファイルの定義情報を比較して、LMで使用
するすべての一時記憶装置についてテストデータが定義
されているか確認して終了する(4−8の処理)。もし
このときテストデータを定義されていない一時記憶装置
があるなら、テストデータ入力処理をふたたび行う。
ストデータ入力装置1−6によって、テストデータ記憶
装置1−8の各テストデータとデータ情報記憶装置1−
4の各一時ファイルの定義情報を比較して、LMで使用
するすべての一時記憶装置についてテストデータが定義
されているか確認して終了する(4−8の処理)。もし
このときテストデータを定義されていない一時記憶装置
があるなら、テストデータ入力処理をふたたび行う。
【0029】ドライバー部分のプログラムを作成し、使
用する各テストデータを作成した後で、ドライバープロ
グラムをコンパイルしCUとした後、テストしたいLM
をCUとしてリンクする。できあがったドライバープロ
グラムを組み込んだLMを実行するとテストに使用する
テストデータ識別子を指定できるので、本装置で作成し
たテストデータの識別子を指定する。このようにして、
色々なテストデータを用いてLM単体でテストを行うこ
とができる。
用する各テストデータを作成した後で、ドライバープロ
グラムをコンパイルしCUとした後、テストしたいLM
をCUとしてリンクする。できあがったドライバープロ
グラムを組み込んだLMを実行するとテストに使用する
テストデータ識別子を指定できるので、本装置で作成し
たテストデータの識別子を指定する。このようにして、
色々なテストデータを用いてLM単体でテストを行うこ
とができる。
【0030】図5はソースプログラム記憶装置1−2の
構成図の一例である。
構成図の一例である。
【0031】図6はデータ情報記憶装置の構成図1−4
の一例である。ファイル情報記憶部には、ファイル名,
ファイル編成,キー名などの情報が、データ情報記憶部
には、各データのレベル,名前,属性タイプ,桁数,繰
り返し指定などの情報がそれぞれ記憶されている。
の一例である。ファイル情報記憶部には、ファイル名,
ファイル編成,キー名などの情報が、データ情報記憶部
には、各データのレベル,名前,属性タイプ,桁数,繰
り返し指定などの情報がそれぞれ記憶されている。
【0032】図7はドライバープログラム記憶装置1−
7の構成図の一例である。
7の構成図の一例である。
【0033】作成されたドライバープログラムは、テス
トを行うテストデータ識別子の入力装置1−1による選
択処理,一時記憶装置と同様の領域をもつテストデータ
記憶装置1−8上の各テストデータの値を読みとって一
時記憶装置へ複写を行う処理(例えばパーマネントファ
イルの内容をすべて一時ファイルへ複写するような処
理),LMのメインCUを呼び出す処理を含んでいる。
トを行うテストデータ識別子の入力装置1−1による選
択処理,一時記憶装置と同様の領域をもつテストデータ
記憶装置1−8上の各テストデータの値を読みとって一
時記憶装置へ複写を行う処理(例えばパーマネントファ
イルの内容をすべて一時ファイルへ複写するような処
理),LMのメインCUを呼び出す処理を含んでいる。
【0034】図8はテストデータ記憶装置1−8の一例
である。8−1の領域には識別子“TEST−1”のテ
ストデータが、8−2の領域には識別子“TEST−
2”のテストデータがそれぞれ記憶されている。これら
は、LM中で使用する一時記憶装置(例えばテンポラリ
ーファイル)と同様の領域の大きさをもっている。
である。8−1の領域には識別子“TEST−1”のテ
ストデータが、8−2の領域には識別子“TEST−
2”のテストデータがそれぞれ記憶されている。これら
は、LM中で使用する一時記憶装置(例えばテンポラリ
ーファイル)と同様の領域の大きさをもっている。
【0035】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、LMを複
数もつ大規模なプログラム開発における各LM単体での
テストにおいて、LMをそれぞれ単体で動かすためのド
ライバー部分のプログラムを自動生成することでドライ
バープログラムの作成時間を短縮させる。
数もつ大規模なプログラム開発における各LM単体での
テストにおいて、LMをそれぞれ単体で動かすためのド
ライバー部分のプログラムを自動生成することでドライ
バープログラムの作成時間を短縮させる。
【0036】また、色々なパターンを定義したテストデ
ータを一度に作成することができ、しかも、テストデー
タ入力装置からのテストデータの入力が、テストデータ
の識別子を指定するだけで行えるようにできるので、色
々なテストデータを用いたLM単体でのテストを、非常
に効率よく行うことができるので、テスト時にデータの
受け渡しを行う一時記憶装置のデータの内容を簡単に変
化させることができ、より効率的なテストを行うことが
できる。
ータを一度に作成することができ、しかも、テストデー
タ入力装置からのテストデータの入力が、テストデータ
の識別子を指定するだけで行えるようにできるので、色
々なテストデータを用いたLM単体でのテストを、非常
に効率よく行うことができるので、テスト時にデータの
受け渡しを行う一時記憶装置のデータの内容を簡単に変
化させることができ、より効率的なテストを行うことが
できる。
【0037】そして、単体テストの段階で品質の高いL
Mにすることができるので、その後の各LMを結びつけ
たプログラム全体のテストにおいてバグの発生と修正を
減少させることができる。
Mにすることができるので、その後の各LMを結びつけ
たプログラム全体のテストにおいてバグの発生と修正を
減少させることができる。
【図1】本発明の全体の構成を示すブロック図である。
【図2】各一時記憶装置のデータ情報の解析の流れを示
す作業手順の図である。
す作業手順の図である。
【図3】ドライバープログラムの自動生成の流れを示す
作業手順の図である。
作業手順の図である。
【図4】テストデータの作成の流れを示す作業手順の図
である。
である。
【図5】ソースプログラム記憶装置1−2の構成図の一
例である。
例である。
【図6】データ情報記憶装置1−4の構成図の一例であ
る。
る。
【図7】ドライバープログラム記憶装置1−7の構成図
の一例である。
の一例である。
【図8】テストデータ記憶装置1−8の構成図の一例で
ある。
ある。
1−1 入力装置 1−2 ソースプログラム記憶装置 1−3 データ情報解析装置 1−4 データ情報記憶装置 1−5 プログラム作成装置 1−6 テストデータ入力装置 1−7 ドライバープログラム記憶装置 1−8 テストデータ記憶装置 8−1 識別子“TEST−1”のテストデータが記
憶されている領域 8−2 識別子“TEST−2”のテストデータが記
憶されている領域
憶されている領域 8−2 識別子“TEST−2”のテストデータが記
憶されている領域
Claims (1)
- 【請求項1】 複数にロードモジュール(以下、LMと
称す)を分割させるような大規模なプログラムの各LM
単体のテストを行うために、前記LMが単体で動けるよ
うにするために必要なプログラム(ドライバープログラ
ム)の作成において、前記 LM各単体間のデータの受け渡しに使用する一時記
憶装置の識別子と、作成するプログラムの識別子とを少
なくとも入力する入力装置と、 ソースプログラムのデータ記述部分の解析を行って前記
一時記憶装置の詳細情報と、データの情報とを抽出する
データ情報解析装置と、前記 データ情報解析装置の解析した情報を記憶しておく
データ情報記憶装置と、指定されたCU(コンパイラ・ユニット)識別子を有す
るメインCUをコールする処理及び、指定された識別子
を有するテストデータ領域からテストデータを前記一時
記憶装置へ複写する処理及び、前記指定された識別子を
有するテストデータ領域にテストデータを入力する処理
のコーディングを含む前記 ドライバープログラムの作成
を行うプログラム作成装置と、前記 テストデータの繰り返し入力と入力終了の判断を行
うテストデータ入力装置と、 作成された前記ドライバープログラムを記憶しておくド
ライバープログラム記憶装置と、 入力された前記テストデータを記憶しておくテストデー
タ記憶装置と、を備えていることを特徴とするロードモ
ジュール単体テスト支援装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4231612A JP2820184B2 (ja) | 1992-08-07 | 1992-08-07 | ロードモジュール単体テスト支援装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4231612A JP2820184B2 (ja) | 1992-08-07 | 1992-08-07 | ロードモジュール単体テスト支援装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0659937A JPH0659937A (ja) | 1994-03-04 |
| JP2820184B2 true JP2820184B2 (ja) | 1998-11-05 |
Family
ID=16926243
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4231612A Expired - Lifetime JP2820184B2 (ja) | 1992-08-07 | 1992-08-07 | ロードモジュール単体テスト支援装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2820184B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007092587A2 (en) | 2006-02-08 | 2007-08-16 | Becton, Dickinson And Company | Improved label processor and method relating thereto |
| US8973293B2 (en) | 2010-11-19 | 2015-03-10 | Becton, Dickinson And Company | Specimen container label for automated clinical laboratory processing systems |
-
1992
- 1992-08-07 JP JP4231612A patent/JP2820184B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0659937A (ja) | 1994-03-04 |
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