JPH03116275A - テストパターン作成方法およびその処理システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、論理回路のシミュレーションを行う際に必要
なテストパターンの作成および編集方法およびその処理
システムに関するものである。

〔従来の技術〕

従来よレバ論理装置の論理設計を行う場合、般に論理チ
エツクのための論理シミュレーションが行われる。すな
わち、あるブラックボックスの回路（一般には、ＬＳＩ
）に対して、設計者が期待した通りの結果が得られるか
否かをチエツクするために、入力端子からテストパター
ンを入力することにより、出力端子に波形データを得る
。

論理回路をコンピュータによりシミュレーションするた
めに、その論理回路に入力されるテストパターンとして
は、時間と値を変化させたパターンが使用される。その
フォーマットは、使用するシミュレータにより種々のも
のが用いられる。例えば、ユーザ毎に異なるカスタムＬ
ＳＩや、ＰＣＢ（プリントサーキットボード）の検証の
ために、これらテストパターンが用いられ。

これらのテストパターンは、各信号のステップ毎の値（
０，１，ｚ等）で構成される。例えば、第５図に示すよ
うに、ＡＢＣ，ＩＮＩ、Ｄ７等の信号名に対して、ステ
ップ１では０，１．ｚ、ステップ２では１，１．ｚ、ス
テップ３では１．Ｏｌｌ、ステップ４ではＩ、０．１の
ようなパターンが連続する。ここで、０，１．ｚはその
回路に入力する論理を示しており、０はローレベル、ｌ
はハイレベル（通常、５Ｖ）、Ｚはハイインピーダンス
を表わしている。

従来より、１つのテストパターンを作成する方法として
は、（イ）プログラムにより作成するノｊ法と、（ロ）
手入力で作成する方法とがある。

また、１つのテストパターンを作成して、１つの論理回
路をシミュレーションした後、そのテストパターンを他
の論理回路にも利用できれば、新しくテストパターンを
作成する場合に比べて、時間、労力、経費等の面で極め
て効率的である。

既に作成されたテストパターンをつなぎ合わせて新しい
テストパターンを作成する場合、通常は、人手によりつ
なぎ合わせ作業を行っていた。

２つのテストパターンのつなぎ合わせは、あるテストパ
ターンの一部分と別のテストパターンの一部分とを組合
わせることにより、新しいテストパターンの作成を容易
にする。例えば、第６図に示すように、パターンＡの上
から３ステツプとパターンＢの上から３ステツプをつな
ぎ合わせることにより、Ａ＋Ｂの新しいテストパターン
を作成する。Ａ＋Ｂの上から３ステツプまではパターン
Ａのものであり、４ステツプから６ステツプまではパタ
ーンＢのものである。これにより、新しくテストパター
ンを入力する手間がなくなり、作成するための時間や労
力が少なくてすむ。なお、第６図の〔・〕の部分は継続
記号であって、各信号とも前ステップと同じ値であるこ
とを示している。

なお、論理シミュレーションについて記載された文献と
しては、例えば「情報処理ハンドブック」昭和５１年１
２月２０日（株）オーム社発行、ｐｐ、　１５−６４〜
＋５−７１がある。

〔発明が解決しようとする課題〕

このように、論理シミュレーションに必要なテストパタ
ーンを作成する場合、既に作成されたテストパターンを
利用する方法が行われている。

いくつかのテストパターンを組み合わせて新しいパター
ンを作成する場合、プログラムによりこれらのパターン
を結合させる方法においては、異なるテストパターンの
つなぎ部分が継続信号であったときには、それらが何を
表わしているのか不明となり、最初から入力をやり直す
必要が生じる。

すなわち、プログラムを手入力で修正することにより、
再入力される。

また、上述のやり直し作業を避けるために、最初から人
手によりテストパターンのつなぎ合わせ作業を行う方法
もあるが、これでは手数と時間がかかってしまう。

本発明の目的は、これら従来の課題を解決し、既に作成
されたテストパターンを簡単に組合わせて新しいパター
ンを作成２編集することができ、かつ作成後の修正を不
要にして作業を効率化できるテストパターン作成方法お
よびその処理システムを提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するため、本発明のテストパターン作成
方法は、変化点だけに値が記述され、その他は前の値の
継続を意味する特定の記号で表現された複数のテストパ
ターンを用い、テストパターンの一部をつなぎ合わせて
新しいテストパターンを作成するテストパターン作成方
法において、つなぎ合わせるテストパターンとそのステ
ップ数を外部からパノノすることにより、つなぎ部分を
外部に表示させ、つなぎ部分に特定の記号が存在すると
きには、特定記号の値を新しいテストパターンの変化点
の値か、つなぎ合わせる基になるテストパターンの変化
点の値のいずれか一方に置き換え、置き換えた値でつな
ぎ合わせを実行することに特徴がある。また、本発明の
処理システムは、論理回路をシミュレーションするプロ
グラムとシミュレーション用のテストパターンを作成す
るプログラムとを実行する処理装置、処理装置にオペレ
ータからの操作情報を入力するキーボード、作成された
テストパターンのデータを記憶する記憶装置、および処
理装置からオペレータへのメツセージ、コマンド、入力
されたテストパターンを表示する表示装置を有し、処理
装置は、テストパターンの作成処理、該テストパターン
の修正処理。

テストパターンのつなぎ合わせ処理、およびつなぎ合わ
せ処理時、つなぎ部が継続記号のときに、継続記号を基
になるテストパターンの値か新しいテストパターンの値
のいずれか一方に置き換える処理を実行して、新しいテ
ストパターンを作成した後、そのテストパターンを用い
て論理回路のシミュレーションを実行することに特徴が
ある。

〔作　　用〕

本発明においては、複数の異なるテストパターンをつな
ぎ合わせて新しいテストパターンを作成する場合、つな
ぎ合わせのちとになるテストパターンが変化点だけに値
が記述され、前の値の継続は特定の記号で表現されてい
るときには、つなぎ合わせの部分の特定記号に対して、
新しいテストパターンの変化点の値と旧テストパターン
の変化点の値のいずれか一方を選択できるようにしてい
る。これにより、つなぎ合わせの部分が正しく結合され
るので、組合せパターンの作成および編集が簡単になる
。

また、論理シミュレーションを行う処理装置を備えた処
理システムにおいて、複数のテストパターンをつなぎ合
わせる機能を備えた装置を備えることにより、テストパ
ターンを容易に作成および編集することにより、作成さ
れたテストパターンを用いて論理シミュレーションを直
ちに実施できるようにしている。

〔実施例］ 以下、本発明の実施例を、図面により詳細に説明する。

第２図は、本発明を適用したテストパターン作成編集処
理システムのブロック図である。

第２図において、処理装置２１は本発明の処理を実施す
るものであって、この処理装置２１に対してオペレータ
が操作した情報を入力するためのキーボード２４、入力
されたテストパターンのデータを記録する記憶装置２２
が接続されている。

また、表示装置２３は、処理装置２１からオベレタに対
する各種のメツセージ、コマンドおよび入力されたテス
トパターンを表示するものである。

キーボード２４からオペレータがテストパターンとステ
ップ数をキー人力すると、処理装置２１は入力されたデ
ータを用いてそれぞれテストパターンを作成する。作成
した各テストパターンは必要により表示袋Ｗｔ２３に表
示されるとともに、記憶装置２２に格納される。新しい
テストパターンを作成するために、オペレータは記憶装
置２２に格納されているテストパターンを順次指定し、
それらのパターンのどの部分を組合わせるかを決定する
。オペレータはキーボード２４からつなぎ部分を指定し
、つなぎ合わせを実行させる。キーボード２４から入力
された指令により、処理装置２１は本発明のつなぎ合わ
せ処理プログラムを実行して、複数のパターンを組合わ
せ処理を行う。

第１図は、本発明の一実施例を示すテストパターン作成
方法の処理フローチャートである。

先ず、オペレータはキーボード２４からキー人力するこ
とにより、これからつなぎ合わせるテストパターンを指
定するとともに、指定されたテストパターンでつなぎ合
わせるために使用するステツブ数を入力する（ステップ
１１）。これにより、つなぎ合わせる部分が、表示装置
２３の画面に表示される。オペレータは、この画面を参
照して、つなぎ合わせ部分がスペースの時、つまり継続
を示す特定記号であるときには、新旧どちらの値にする
かを決定して、キー人力する（ステップ１２）。

ここで、新とは、つなぎ合わせて作成された新しいテス
トパターンにおける値であり、旧とはつなぎ合わせる前
のテストパターンにおける値である。

さらに、つなぎ合わせる別の部分を指定するために、オ
ペレータがキーボード２４から入力することにより（ス
テップ１３）、つなぎ合わせが必要な場合には、ステッ
プ１１．１２の処理を繰り返す。つなぎ合わせる部分を
全部指定し終ったならば、キーボード２４から実行命令
を入力することにより、処理装置２１はステップ１１．
１２で入力されたデータを参考にして、複数のパターン
のつなぎ合わせを実行し、新しいテストパターンを作成
する（ステップ１４）。

第３図は、本発明の一実施例を示すつなぎ合わせにより
作成されたテストパターンの図である。

第３図において、３１はつなぎ合わされるテストパター
ンＡ、３２は同じくつなぎ合わされるテストパターンＢ
、３３はＡ、Ｂをつなぎ合わせて作成された新しいテス
トパターンＣ１３４はテストパターンＣにおけるつなぎ
合わせ部分である。

いま、オペレータの指定により、テストパターンＡとＢ
の破線で囲まれた部分をつなぎ合わせて、１つの新しい
テストパターンＣを作成する。ここで、〔・〕は継続を
示す特定の記号である。

ここで、パターンＡの破線の最後につなぎ合わせるパタ
ーンＢの破線の部分は、継続記号から始まっている。そ
こで、オペレータは旧の値、つまりテストパターンＢの
変化点の値を参考にして、つなぎ合わせ部分３４の継続
記号を１と０に置き換える。すなわち、つなぎ合わせた
ままの継続記号では、パターンＡのｎｊｊステップの０
および１を示すが、実際にはパターンＢの前ステップの
１および０であるため、つなぎ合わせ部分を１および０
に指定する。第３図では、オペレータの入力により】と
Ｏに置き換えられた結果が示されている。

第７図は、本発明の他の実施例を示すつなぎ合わせ処理
の説明図である。

第７図では、テストパターンＡとＢをつなぎ合わせて、
新しいテストパターンＣを作成する場合を示している。

信号名Ｄ〜Ｄ４に対してパターンＡのステップ１〜４と
、パターンＢの４〜５ステツプとをつなぎ合わせて、パ
ターンＣを作成する。

ここで、Ｕはスペースであって、前のステップの値の継
続を示している。

ここで、パターンＢからパターンＣに移された５ステツ
プ目のり、の信号は、Ｂのテストパターンでは工の継続
を示しているが、そのままつなぎ合わせると０の継続と
なってしまう。そこで、オペレータからのキー人力によ
り、つなぎ部分の処理で新または旧の指定を行う際に、
旧の継続とすることで、５ステツプ目のり、をＵから１
に変更するのである。

旧のテストパターンの値を継続したいときに、上記の処
理ができない場合には、つなぎ合わせた後に人手作業で
修正しなければならない。本実施例では、オペレータが
新旧のいずれにするかを決定して、第１図に示すプログ
ラム処理を実行することにより、指定された値に置き換
えられるため、修正は不要になる。

第４図は、本発明の他の実施例を示すつなぎ合わせ処理
機能を備えた論理シミュレーション処理システムの機能
ブロック図である。

本実施例においては、第２図の処理装置２１を論理シミ
ュレーション機能および複数のテストパターンをつなぎ
合わせる機能の両方を兼用する処理装置として使用する
。この処理装置２１を備えた処理システムにおいて、少
ない作業量で論理回路に入力するためのテストパターン
を作成するとともに、それらの論理回路をシミュレーシ
ョンする。そして、異なる複数のテストパターンの一部
分どうしをつなぎ合わせて、新しいテストパターンを作
成する場合、第１図のプログラムを実行し、簡単にパタ
ーンを組合わせて編集し、作成後の修正を不要にする。

本実施例の処理装置は、論理シミュレーションプログラ
ムとテストパターン作成プログラムを備えており、これ
らを用いてテストパターンを作成し１作成したテストパ
ターンを論理回路に入力して論理シミュレーションチエ
ツクを実行する。

第４図は、上記テストパターン作成プログラムを機能的
に分割したブロック図である。テストパターン作成処理
４１は、テストパターンを作成する部分で、テストパタ
ーンの入力を容易に行うものである。また、テストパタ
ーン修正処理４２は、処理４１で作成したテストパター
ンの修正に用いる部分である。また、テストパターンつ
なぎ合わせ処理４３は、作成した複数のテストパターン
から任意の部分を抜き出し、これらをつなぎ合わせる機
能を持っている。また、つなぎ合わせ時処理４４は、処
理４３でつなぎ合わせた部分が継続記号であった時に、
オペレータの入力を参照して、旧のテストパターンの値
か、または新のテストパターンの値のいずれかに置き換
える機能を持っている。

［発明の効果］ 以上説明したように、本発明によれば、既に作成された
複数のテストパターンを組合わせることにより、新しい
テストパターンを簡単に作成し、編集することができる
ので、作成後の修正作業は不要となり、作業が効率化で
きる。また、論理シミュレーション機能とテストパター
ン作成機能とを同一処理システムで実行することにより
、作成したテストパターンを用いて直ちに論理シミュレ
ーションを実行でき、作業の効率化が図れる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すテストパターン作成方
法の処理フローチャート、第２図は本発明を適用するた
めの処理システムのブロック図、第３図は本発明のつな
ぎ合わせ処理の説明図、第４図は本発明のテストパター
ン作成プログラムの機能ブロック図、第５図は論理シミ
ュレーションのテストパターンのフォーマット図、第６
図および第７図はいずれも２つのパターンの一部をつな
ぎ合わせて新しいテストパターンを作成する際の新旧決
定の説明図である。 ２１：処理装置、２２：記憶装置、２３：表示装置、２
４：キーボード、３１，３２：テストパターンＡ、Ｂ、
３３・テストパターンＣ１４Ｉ：テストパターン作成処
理、４２：テストパターン修正処理、４３：テストパタ
ーンつなぎ合わせ処理、４４：つなぎ合わせ時処理。 第 図 Ａ 八 第 図 第 図 ム Ａ＋Ｂ ＤＩＤ２Ｄ８Ｄ。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）変化点だけに値が記述され、その他は前の値の継
   続を意味する特定の記号で表現された複数のテストパタ
   ーンを用い、該テストパターンの一部をつなぎ合わせて
   新しいテストパターンを作成するテストパターン作成方
   法において、つなぎ合わせるテストパターンとそのステ
   ップ数を外部から入力することにより、つなぎ部分を外
   部に表示させ、該つなぎ部分に上記特定の記号が存在す
   るときには、該特定記号の値を新しいテストパターンの
   変化点の値か、つなぎ合わせる基になるテストパターン
   の変化点の値のいずれか一方に置き換え、置き換えた値
   でつなぎ合わせを実行することを特徴とするテストパタ
   ーン作成方法。
2. （２）論理回路をシミュレーションするプログラムと該
   シミュレーション用のテストパターンを作成するプログ
   ラムとを実行する処理装置、該処理装置にオペレータか
   らの操作情報を入力するキーボード、作成されたテスト
   パターンのデータを記憶する記憶装置、および上記処理
   装置からオペレータへのメッセージ、コマンド、入力さ
   れたテストパターンを表示する表示装置を有し、上記処
   理装置は、テストパターンの作成処理、該テストパター
   ンの修正処理、該テストパターンのつなぎ合わせ処理、
   および該つなぎ合わせ処理時、つなぎ部が継続記号のと
   きに、該継続記号を基になるテストパターンの値か新し
   いテストパターンの値のいずれか一方に置き換える処理
   を実行して、新しいテストパターンを作成した後、該テ
   ストパターンを用いて論理回路のシミュレーションを実
   行することを特徴とする処理システム。