JPH03116383A - ロジック回路デザインシミュレーションシステム及びロジック回路スモールデザインインクレメントのシミュレーション方法 - Google Patents
ロジック回路デザインシミュレーションシステム及びロジック回路スモールデザインインクレメントのシミュレーション方法Info
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- JPH03116383A JPH03116383A JP2165489A JP16548990A JPH03116383A JP H03116383 A JPH03116383 A JP H03116383A JP 2165489 A JP2165489 A JP 2165489A JP 16548990 A JP16548990 A JP 16548990A JP H03116383 A JPH03116383 A JP H03116383A
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- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
- G01R31/318342—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences by preliminary fault modelling, e.g. analysis, simulation
- G01R31/318357—Simulation
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は選択されたロジック回路デザイン(設計)のシ
ミュレーションシステムに関するもので、応用特定集積
回路(ASIC)及びプリント回路板(pcb)及びま
た電子プリント回路板の高速試験に用いられるものであ
る。
ミュレーションシステムに関するもので、応用特定集積
回路(ASIC)及びプリント回路板(pcb)及びま
た電子プリント回路板の高速試験に用いられるものであ
る。
電気的設計のコンビニータシミュレーション或いは検証
の技術はよく達成されている。ロジック回路デザイン(
設計)のコンピュータモデルは集積回路とその内部連結
を基本にして造られる。このロジック回路デザインモデ
ルは次に実際のプリント回路板に適用される信号と同様
の(emulating)信号によってシミュレートさ
れ、前述の電子設計(デザイン)に応じて造られる。
の技術はよく達成されている。ロジック回路デザイン(
設計)のコンピュータモデルは集積回路とその内部連結
を基本にして造られる。このロジック回路デザインモデ
ルは次に実際のプリント回路板に適用される信号と同様
の(emulating)信号によってシミュレートさ
れ、前述の電子設計(デザイン)に応じて造られる。
高処理速度の要求の故に電子設計をシミュレートするコ
ンピュータ援助技術(CAE)のソフトウェアは通常サ
ン或いはアポ口のようなエンジニアリングワークステー
ション上で操作する。
ンピュータ援助技術(CAE)のソフトウェアは通常サ
ン或いはアポ口のようなエンジニアリングワークステー
ション上で操作する。
然しながらこれらの高出力で高価なワークステーション
では40.(14)0乃至50.(14)0ゲート或い
はセルより余剰の設計では効果的に処理することはでき
ない。今日のゲートアレイ技術では1(14).(14
)0セルより余剰のIC及び2(14).(14)0ゲ
ートよりも余剰のプリント回路板を製造することができ
るので、電気的設計シミュレーションの新しい効果的な
方法が必要である。
では40.(14)0乃至50.(14)0ゲート或い
はセルより余剰の設計では効果的に処理することはでき
ない。今日のゲートアレイ技術では1(14).(14
)0セルより余剰のIC及び2(14).(14)0ゲ
ートよりも余剰のプリント回路板を製造することができ
るので、電気的設計シミュレーションの新しい効果的な
方法が必要である。
本発明シミュレーターの主な問題はそのデザイン処理(
プロセス)の不適合性である。凡てのデザインは部分的
に或いは小さなデザインの増加分で発展してきた。若し
デザイン問題があるならデザイナ−はデザイン問題の領
域のみ対処し、復習すればよい。しかし不幸にも現在の
シミュレータはその全電気的ロジックデザインをシミュ
レートせねばならず、選択的デザイン部分のみを除いて
そのデザインのシミュレートを行うことはできない。例
えばデザイナ−が小さなデザイン部分のみに対して普通
に仕事してもデザイナ−は全デザインをシミュレートせ
ねばならず、これは多くのコンピュータ時間を浪費する
。
プロセス)の不適合性である。凡てのデザインは部分的
に或いは小さなデザインの増加分で発展してきた。若し
デザイン問題があるならデザイナ−はデザイン問題の領
域のみ対処し、復習すればよい。しかし不幸にも現在の
シミュレータはその全電気的ロジックデザインをシミュ
レートせねばならず、選択的デザイン部分のみを除いて
そのデザインのシミュレートを行うことはできない。例
えばデザイナ−が小さなデザイン部分のみに対して普通
に仕事してもデザイナ−は全デザインをシミュレートせ
ねばならず、これは多くのコンピュータ時間を浪費する
。
最近の数年間例えばゲートアレイのような電気的ロジッ
クデザインはそのデザイン機能上に制御をさせねばなら
ないので非常に複雑となり、各デザイン部分はその発展
につれてシミュレートせねばならない。全ての電気的シ
ミュレータはその全デザインをシミュレートせねばなら
ないので、その操作は遅くかつ使用に困難である。
クデザインはそのデザイン機能上に制御をさせねばなら
ないので非常に複雑となり、各デザイン部分はその発展
につれてシミュレートせねばならない。全ての電気的シ
ミュレータはその全デザインをシミュレートせねばなら
ないので、その操作は遅くかつ使用に困難である。
本発明はロジックデザイン部分を選択的にシミュレート
することによってこのシミュレーションの欠点を解決す
るものである。更にこれらのロジックデザインその編集
に多くの時間の損失なく直ちに選択的にシミュレートで
きるものである。
することによってこのシミュレーションの欠点を解決す
るものである。更にこれらのロジックデザインその編集
に多くの時間の損失なく直ちに選択的にシミュレートで
きるものである。
本発明はバッチモードでデザインを編集する。
これは凡ての平均時間デザイン変更をデザイナ−がデザ
イン変更をシミュレートできる前の10分で全デザイン
を一緒に編集せねばならないことを意味する。バッチ編
集では誰もデザイン変更を排除して編集することは可能
でない。
イン変更をシミュレートできる前の10分で全デザイン
を一緒に編集せねばならないことを意味する。バッチ編
集では誰もデザイン変更を排除して編集することは可能
でない。
電気的ロジックデザインをシミュレートする信号をテス
トベクトルと呼ばれる。デザインを通常に行うために、
デザイナ−は非常にしばしばテストベクトルを修正して
完全なデザインを行うに必要な入力及び出力条件の凡て
の組合せを発見せねばならない。不幸にもこのようなテ
ストベクトルの変化はそのテストベクトル変化がその全
デザインと共に長いバッチ編集を受けねばならないので
、シミュレーターにとってやっかいな時間を浪費するも
のである。
トベクトルと呼ばれる。デザインを通常に行うために、
デザイナ−は非常にしばしばテストベクトルを修正して
完全なデザインを行うに必要な入力及び出力条件の凡て
の組合せを発見せねばならない。不幸にもこのようなテ
ストベクトルの変化はそのテストベクトル変化がその全
デザインと共に長いバッチ編集を受けねばならないので
、シミュレーターにとってやっかいな時間を浪費するも
のである。
プリント回路板は非常に複雑になったので、それをテス
トするには多くの特別なテスト装置とその微妙なテスト
装置を扱う熟達した人を要する。
トするには多くの特別なテスト装置とその微妙なテスト
装置を扱う熟達した人を要する。
プリント回路板のテストにシミュレーション器具を用い
ることはシミュレーターがその金板のデザインをシミュ
レートせねばならず、またその操作は不当に遅いので成
功するものではない。
ることはシミュレーターがその金板のデザインをシミュ
レートせねばならず、またその操作は不当に遅いので成
功するものではない。
本発明の目的はデザインの一部分を選択的にシミュレー
トさせることによって電気的ロジックデザインを高速で
シミュレートできる新しいシステムと方法を提供するも
のである。
トさせることによって電気的ロジックデザインを高速で
シミュレートできる新しいシステムと方法を提供するも
のである。
本発明の他の目的は凡てのデザイン変化を直ちに登録し
、デザイン変更の長いバッチ編集の必要性を除去する増
加分(incremental)のコンパイラを基本と
する電気的なシミュレーションを提供するものである。
、デザイン変更の長いバッチ編集の必要性を除去する増
加分(incremental)のコンパイラを基本と
する電気的なシミュレーションを提供するものである。
また新しい増加分コンパイラを用いることによってテス
トベクトル修正の長い編集を除去することを目的とする
。
トベクトル修正の長い編集を除去することを目的とする
。
更に本発明の目的はプリント回路板部分を選択的にテス
トする安価で高速のシステムと方法を提供することであ
る。
トする安価で高速のシステムと方法を提供することであ
る。
本発明はシミュレーション時間を切ることによって電気
的デザインを発展させてコストを低下させることを目的
とする。本発明はまたデザイナ−に各デザイン部分によ
く適合させることによってデザインの信頼性を増加させ
るものである。この以下に述べる器具と技術はゲートア
レイとプリント回路板を含む電気的ロジックデザインの
高速シミュレーションに応用可能である。これらの器具
はプリント回路板のテストと故障発見修理の低価ロジッ
クアナライザーと関連して使用しろる。
的デザインを発展させてコストを低下させることを目的
とする。本発明はまたデザイナ−に各デザイン部分によ
く適合させることによってデザインの信頼性を増加させ
るものである。この以下に述べる器具と技術はゲートア
レイとプリント回路板を含む電気的ロジックデザインの
高速シミュレーションに応用可能である。これらの器具
はプリント回路板のテストと故障発見修理の低価ロジッ
クアナライザーと関連して使用しろる。
一方デイジイシステムスコ゛−ボレーションのCADA
T 、ゲンラドインクのHILOその他のロジックシミ
ュレーターは全デザインをシミュレートし、編集し、本
発明のシミュレーターはデザイナ−によって明白にシミ
ュレーションすべく選択されたデザイン部分のみをシミ
ュレートする。
T 、ゲンラドインクのHILOその他のロジックシミ
ュレーターは全デザインをシミュレートし、編集し、本
発明のシミュレーターはデザイナ−によって明白にシミ
ュレーションすべく選択されたデザイン部分のみをシミ
ュレートする。
本発明によるシステムと方法はICチップを用いる電子
的ロジックセル及びプリント回路板を用いたゲートアレ
イの両者に適用する。簡単のため以後ICチップと呼ぶ
。然しながら同じ処理、規則及び作用がゲートアレイセ
ルに等しく作用することは理解すべきである。
的ロジックセル及びプリント回路板を用いたゲートアレ
イの両者に適用する。簡単のため以後ICチップと呼ぶ
。然しながら同じ処理、規則及び作用がゲートアレイセ
ルに等しく作用することは理解すべきである。
本発明によるシミュレータは2つの動的に発明したテー
ブルを基礎とする。これはICチップを用いたテーブル
とその接続のテーブルである。これらのテーブルは増加
的なコンパイラ−によって自動的に発生し、デザインの
エントリー中シミュレータの一部をなす。ICチップテ
ーブル中の各ICは数個のフラッグを有する。1つのフ
ラッグはシミュレータの使用中ICが流れていることを
示す。使用者がシミュレーションよりICsを加えたり
削除したりするときこれらICsのフラッグは従属して
修正される。シミュレーション中これらのフラッグは“
don”t use”のフラッグを有する凡てのICチ
ップはシミュレータ処理からとばされるか或いは排除さ
れる。
ブルを基礎とする。これはICチップを用いたテーブル
とその接続のテーブルである。これらのテーブルは増加
的なコンパイラ−によって自動的に発生し、デザインの
エントリー中シミュレータの一部をなす。ICチップテ
ーブル中の各ICは数個のフラッグを有する。1つのフ
ラッグはシミュレータの使用中ICが流れていることを
示す。使用者がシミュレーションよりICsを加えたり
削除したりするときこれらICsのフラッグは従属して
修正される。シミュレーション中これらのフラッグは“
don”t use”のフラッグを有する凡てのICチ
ップはシミュレータ処理からとばされるか或いは排除さ
れる。
前述のシミュレータはプリント回路板の故障箇所の発見
修理に使用することができる。信号の組は例えばロジッ
クアナライザーの助けで板の悪い部分から捕捉すること
ができ、コンピュータをペースとするシミュレータによ
ってシミュレートされた対応するテスト点などICsに
供給される。
修理に使用することができる。信号の組は例えばロジッ
クアナライザーの助けで板の悪い部分から捕捉すること
ができ、コンピュータをペースとするシミュレータによ
ってシミュレートされた対応するテスト点などICsに
供給される。
“don” t use”のフラッグをマークされたI
Csはデザインシミュレーションには関与しないのでシ
ミュレーターはテスト結果をより早く得られる。
Csはデザインシミュレーションには関与しないのでシ
ミュレーターはテスト結果をより早く得られる。
本発明のシステムと方法は大きなオーダーの速さによる
板のテストであるから安価のパーソナルコンピュータ及
びロジックアナライザーを最も複雑なプリント回路板で
もテストに用いることができる。
板のテストであるから安価のパーソナルコンピュータ及
びロジックアナライザーを最も複雑なプリント回路板で
もテストに用いることができる。
上記及び他の特徴は添付の図面の簡単な説明より明らか
となる。
となる。
かかる目的を達成するため、本発明はデザインエレメン
トデータテーブル1Aとネットリスト接続データテーブ
ル1Bとを発生するデータテーブル発生器12と、前記
データテーブル発生器12内にロジック回路デザイン入
力11A 、 11Bを入れるロジッ久回路デザインエ
ントリー装置10A 、 10Bと、シミュレーテイン
グする選択されたロジック回路デザインを参照するため
集積された回路モデルを蓄積するモデルレファレンスラ
イブラリ4と、前記モデルレファレンスライブラリ4内
の集積された回路モデルへのメモリポインターを選択す
るたt前記データテーブル発生器12に接続されたモデ
ルレファレンスインデックス装置2と、前記データテー
ブル発生器12の出力13を受けるシミュレーション装
置14とよりなり、前記シミュレーション装置14は実
行可能なデザインシミュレーションテーブル3を発生す
るデザインシミニレ−ティングテーブル発生装置と、前
記実行可能なデザインシミ二し−ションテーブルを実行
する実行装置と、前記実行可能なサブルーチンを実行す
るため前記シミュレーション装置14にテスト信号を入
れるテスト信号入力装置20とよりなり、これによって
集積回路モデルとネットリストデータはシミュレーショ
ンデータを発生するように処理されるロジック回路デザ
インシミュレーションシステムとしたものである。
トデータテーブル1Aとネットリスト接続データテーブ
ル1Bとを発生するデータテーブル発生器12と、前記
データテーブル発生器12内にロジック回路デザイン入
力11A 、 11Bを入れるロジッ久回路デザインエ
ントリー装置10A 、 10Bと、シミュレーテイン
グする選択されたロジック回路デザインを参照するため
集積された回路モデルを蓄積するモデルレファレンスラ
イブラリ4と、前記モデルレファレンスライブラリ4内
の集積された回路モデルへのメモリポインターを選択す
るたt前記データテーブル発生器12に接続されたモデ
ルレファレンスインデックス装置2と、前記データテー
ブル発生器12の出力13を受けるシミュレーション装
置14とよりなり、前記シミュレーション装置14は実
行可能なデザインシミュレーションテーブル3を発生す
るデザインシミニレ−ティングテーブル発生装置と、前
記実行可能なデザインシミ二し−ションテーブルを実行
する実行装置と、前記実行可能なサブルーチンを実行す
るため前記シミュレーション装置14にテスト信号を入
れるテスト信号入力装置20とよりなり、これによって
集積回路モデルとネットリストデータはシミュレーショ
ンデータを発生するように処理されるロジック回路デザ
インシミュレーションシステムとしたものである。
また、本発明は電気的ロジック回路デザイン情報を入力
し、デザインエレメントデータテーブル1Aとネットリ
スト接続データテーブル1Bを前記電気的ロジック回路
デザインエントリーより発生し、集積回路モデルレファ
レンスインデックス装置2より集積回路モデルレファレ
ンスライブラリ4へのメモリポインターを選択し、前記
デザインエレメントデータテーブル1A、前記ネットリ
スト接続データテーブル1B及びシミュレーション装置
14への前記メモリポインターからのデータを適用し、
実行可能なデザインシミュレーションプログラムリステ
ィングテーブルを発生し、シミュレーション装置におけ
る前記デザインシミュレーションプログラムリスティン
グテーブルからプログラムサブルーチンを実行し、これ
によってシミュレーションデータは集積回路モデルとネ
ットリストデータを表すように発生されるロジック回路
スモールデザインインクレメントのシミュレーション方
法としたものである。
し、デザインエレメントデータテーブル1Aとネットリ
スト接続データテーブル1Bを前記電気的ロジック回路
デザインエントリーより発生し、集積回路モデルレファ
レンスインデックス装置2より集積回路モデルレファレ
ンスライブラリ4へのメモリポインターを選択し、前記
デザインエレメントデータテーブル1A、前記ネットリ
スト接続データテーブル1B及びシミュレーション装置
14への前記メモリポインターからのデータを適用し、
実行可能なデザインシミュレーションプログラムリステ
ィングテーブルを発生し、シミュレーション装置におけ
る前記デザインシミュレーションプログラムリスティン
グテーブルからプログラムサブルーチンを実行し、これ
によってシミュレーションデータは集積回路モデルとネ
ットリストデータを表すように発生されるロジック回路
スモールデザインインクレメントのシミュレーション方
法としたものである。
ここでネットリストとはデバイスのターム及びデバイス
間の接続において電子回路を記述する凡ての必要な情報
を含む蓄積されたコンピュータファイルである。またポ
インターとはファイル或いはデータが蓄積されたメモリ
ーアドレス或いは領域にコンピュータプログラムを指定
する情報を含むメモリアドレスのことである。本願では
インデックステーブル等のデータが蓄積されたラムの領
域を参照するためのポインターである。
間の接続において電子回路を記述する凡ての必要な情報
を含む蓄積されたコンピュータファイルである。またポ
インターとはファイル或いはデータが蓄積されたメモリ
ーアドレス或いは領域にコンピュータプログラムを指定
する情報を含むメモリアドレスのことである。本願では
インデックステーブル等のデータが蓄積されたラムの領
域を参照するためのポインターである。
データテーブル発生器12はスキマティックエントリー
プログラム10A或いはネットリストエントリーファイ
ル10Bからの情報11A 、 11Bを受けてシミュ
レータ14が使用するためのデータを発生する。デザイ
ナ−はスキマティックエントリープログラム10A或い
はネットリストエントリファイル10Bからデータテー
ブル発生器12への入力11A。
プログラム10A或いはネットリストエントリーファイ
ル10Bからの情報11A 、 11Bを受けてシミュ
レータ14が使用するためのデータを発生する。デザイ
ナ−はスキマティックエントリープログラム10A或い
はネットリストエントリファイル10Bからデータテー
ブル発生器12への入力11A。
11Bを提供する。データテーブル発生器12は受けた
情報より使用された集積回路のテーブルとその接続のテ
ーブルを発生する。シミュレータ14はデータテーブル
発生器12からの出力13を受けてデザインシミュレー
ションデータテーブル15を発生し、これは集積回路モ
デルレファレンスライブラリ4に蓄えられた集積回路モ
デルサブルーチンとネットリスト接続テーブルに蓄えら
れたネットリストサブルーチンを実行する。このシステ
ムはプリント回路板の潜在的に欠陥のあるロジック部分
からの信号を捕捉かつそれらをコンピュータシミュレー
ターによってシミュレートされた集積回路のテスト点に
供給することによってプリント回路板上のロジック回路
をテストするのに使用できる。
情報より使用された集積回路のテーブルとその接続のテ
ーブルを発生する。シミュレータ14はデータテーブル
発生器12からの出力13を受けてデザインシミュレー
ションデータテーブル15を発生し、これは集積回路モ
デルレファレンスライブラリ4に蓄えられた集積回路モ
デルサブルーチンとネットリスト接続テーブルに蓄えら
れたネットリストサブルーチンを実行する。このシステ
ムはプリント回路板の潜在的に欠陥のあるロジック部分
からの信号を捕捉かつそれらをコンピュータシミュレー
ターによってシミュレートされた集積回路のテスト点に
供給することによってプリント回路板上のロジック回路
をテストするのに使用できる。
ソフトウェアにおける電子ロジック回路のモデル化はシ
ミュレーションと呼ばれる。このシミュレーターは機能
と時間の行動のような実際の回路の凡ての特徴を示さね
ばならない。本発明はロジック回路設計とプリント回路
板のテストの加速されたシミュレーションを提供するも
のである。本発明の一般的なハードウェアの施行装置は
第5図に示す。計算装置50は例えば1BM AT或い
はサン(Sun)のワークステーションのような公知の
パーソナルコンピュータと同様のもので、ラムメモリー
を組合した中央処理装置51、ハードディスクメモリー
52、データディスプレイ53、キーボード54及びプ
リンター55を有する。このようなコンピューターは当
業者にはよく知られたもので、その構成と操作の詳細な
記述は必要ではない。
ミュレーションと呼ばれる。このシミュレーターは機能
と時間の行動のような実際の回路の凡ての特徴を示さね
ばならない。本発明はロジック回路設計とプリント回路
板のテストの加速されたシミュレーションを提供するも
のである。本発明の一般的なハードウェアの施行装置は
第5図に示す。計算装置50は例えば1BM AT或い
はサン(Sun)のワークステーションのような公知の
パーソナルコンピュータと同様のもので、ラムメモリー
を組合した中央処理装置51、ハードディスクメモリー
52、データディスプレイ53、キーボード54及びプ
リンター55を有する。このようなコンピューターは当
業者にはよく知られたもので、その構成と操作の詳細な
記述は必要ではない。
第1図は本発明によるシミュレーターのブロックダイヤ
グラムを示す。スキマティック、エントリ・プログラム
10Aはデザイナ−によってスキマティック形でロジッ
ク回路デザインエントリーに用いられる。このスキマテ
ィックの例は第2図に示される。ネットリストはシミュ
レーションに必要な装置の作動に関する凡ての情報を含
み、これはスキマティックエントリープログラム10A
の代わりにネットリストデータファイル10Bとしても
よいことを意味する。
グラムを示す。スキマティック、エントリ・プログラム
10Aはデザイナ−によってスキマティック形でロジッ
ク回路デザインエントリーに用いられる。このスキマテ
ィックの例は第2図に示される。ネットリストはシミュ
レーションに必要な装置の作動に関する凡ての情報を含
み、これはスキマティックエントリープログラム10A
の代わりにネットリストデータファイル10Bとしても
よいことを意味する。
データテーブル発生器12はプログラムされたルーチン
でスキマティックエントリープログラム10Aとネット
リストエントリーファイル10Bからの入力11A 、
11Bから送られたデザインデータを変換し、ICs
=ターミナル、スイッチ、信号処理等のデザイン要素
の設計エレメントデータテーブルを造る。第2図のロジ
ックデザイン(設計)回路のこのようなテーブルはテー
ブル1Aに示す。以後ICモデルなる語はモデルを有す
る凡てのデザイン要素を表すものとして使用する。デー
タテーブル発生器12は信号線11Aから送られたスキ
マティックデータ内或いは信号線11Bから供給された
ネットリストデータからの各項目をアベイラブル(av
ailable) ICモデルに対してチエツクし、モ
デルレファレンスインデックス2内に貯蓄し、このイン
デックス2はモデルレファレンスライブラリ4内のプロ
グラム録(directory)である。モデルインデ
ックステーブル2は信号線3を経てデータテーブル発生
器12に送られ、ICモデルレファレンスライブラリ4
内に貯えられたモデルソフトウェアサブルーチンのアド
レスを提供する。データテーブル発生器12は信号線1
1A或いは12Bのデータをモデルレファレンスインデ
ックス2のICモデルのリストと比較してその位置をテ
ーブル1A内のラムメモリ内に蓄積する。若し信号線1
1A或いは11Bのデザインエレメントがモデルレファ
レンスインデックス2内のモデルを有しなければ、その
モデルポインターコラムは“none”に設定され、こ
のエレメントは直接シミュレートされない。若しデザイ
ンエレメントがターミナル或いは信号線名であるなら、
その同等性がデザインエレメントデータテーブル1Aに
示すようにその適当なコラムにマークされる。このテー
ブルの“used”或いはアクティブデザインエレメン
トコラム(欄)はデザインエレメントがデザインシミュ
レーションに関与せねばならないことの参照のマークで
ある。
でスキマティックエントリープログラム10Aとネット
リストエントリーファイル10Bからの入力11A 、
11Bから送られたデザインデータを変換し、ICs
=ターミナル、スイッチ、信号処理等のデザイン要素
の設計エレメントデータテーブルを造る。第2図のロジ
ックデザイン(設計)回路のこのようなテーブルはテー
ブル1Aに示す。以後ICモデルなる語はモデルを有す
る凡てのデザイン要素を表すものとして使用する。デー
タテーブル発生器12は信号線11Aから送られたスキ
マティックデータ内或いは信号線11Bから供給された
ネットリストデータからの各項目をアベイラブル(av
ailable) ICモデルに対してチエツクし、モ
デルレファレンスインデックス2内に貯蓄し、このイン
デックス2はモデルレファレンスライブラリ4内のプロ
グラム録(directory)である。モデルインデ
ックステーブル2は信号線3を経てデータテーブル発生
器12に送られ、ICモデルレファレンスライブラリ4
内に貯えられたモデルソフトウェアサブルーチンのアド
レスを提供する。データテーブル発生器12は信号線1
1A或いは12Bのデータをモデルレファレンスインデ
ックス2のICモデルのリストと比較してその位置をテ
ーブル1A内のラムメモリ内に蓄積する。若し信号線1
1A或いは11Bのデザインエレメントがモデルレファ
レンスインデックス2内のモデルを有しなければ、その
モデルポインターコラムは“none”に設定され、こ
のエレメントは直接シミュレートされない。若しデザイ
ンエレメントがターミナル或いは信号線名であるなら、
その同等性がデザインエレメントデータテーブル1Aに
示すようにその適当なコラムにマークされる。このテー
ブルの“used”或いはアクティブデザインエレメン
トコラム(欄)はデザインエレメントがデザインシミュ
レーションに関与せねばならないことの参照のマークで
ある。
このコラムは後で述べるようにデザイナ−によってスキ
マティックエントリープログラム10A或いはネットリ
ストエントリーファイル10Bエントリーからのエント
リーを通して直ちにかつ直接修正(モディファイ)する
ことができる。
マティックエントリープログラム10A或いはネットリ
ストエントリーファイル10Bエントリーからのエント
リーを通して直ちにかつ直接修正(モディファイ)する
ことができる。
デザイン要素データテーブル 1A
項目 モデル ポインター ターミ
ナル (言号 [l5BDデ一タテーブル発生
器12はまたテーブル1A内における例えば^1及び8
1のようなマクロ(m a c r o )と呼ばれる
コマンド或いはインストラクションのセットの端を指示
する。シミュレートされたエレメントのリストを含むデ
ザインエレメントデータテーブル1Aに加えてデータテ
ーブル発生器12はまた信号線11A或いは11Bのデ
ータからシミュレートされたエレメント間を凡て接続す
るリストを造る。このようなブロックB1を接続するデ
ータはテーブル1Bに示され、ここでラムポインターA
3C0はラムメモリにおけるマクロ接続リストの位置を
示す。
ナル (言号 [l5BDデ一タテーブル発生
器12はまたテーブル1A内における例えば^1及び8
1のようなマクロ(m a c r o )と呼ばれる
コマンド或いはインストラクションのセットの端を指示
する。シミュレートされたエレメントのリストを含むデ
ザインエレメントデータテーブル1Aに加えてデータテ
ーブル発生器12はまた信号線11A或いは11Bのデ
ータからシミュレートされたエレメント間を凡て接続す
るリストを造る。このようなブロックB1を接続するデ
ータはテーブル1Bに示され、ここでラムポインターA
3C0はラムメモリにおけるマクロ接続リストの位置を
示す。
ネットリスト接続データテーブル 1Bマクロ ポイン
ター 接続 凡ての実行可能なICモデル或いはソフトウェアサブル
ーチンはtCモデルレファレンスライブラリ4内に蓄積
されている。テーブル1Aの作成中モデルレファレンス
ライブラリ4内のICモデルへのポインターのみが必要
である。これらのポインターはモデルインデックステー
ブル2によって提供され、モデルレファレンスインデッ
クス2内に貯蔵される。
ター 接続 凡ての実行可能なICモデル或いはソフトウェアサブル
ーチンはtCモデルレファレンスライブラリ4内に蓄積
されている。テーブル1Aの作成中モデルレファレンス
ライブラリ4内のICモデルへのポインターのみが必要
である。これらのポインターはモデルインデックステー
ブル2によって提供され、モデルレファレンスインデッ
クス2内に貯蔵される。
凡てのターミナル、信号線及び凡てのICビンは自動的
にブリアサインド責preassigned)ラム位置
を有する。
にブリアサインド責preassigned)ラム位置
を有する。
なおここでピンとは集積(IC)回路チップから外側に
延びるワイヤコネクター、端子のことである。
延びるワイヤコネクター、端子のことである。
このブリアサインはシミュレーター14によってそれが
デザインエレメントデータテーブル1Aからのデータを
読み、モデルインデックステーブル2内のラムポインタ
ーによって参照された各モデルのラム要求を復習すると
きになされる。このようなラム位置のアサイン(ass
igne)は第3図示のメモリダイヤグラム内に示され
、ここでラム位置アドレス3BOはロジックゲー)82
の入力ピン1上のロジック信号値を蓄積する。同様にラ
ム位置3B2.384はロジックゲートB2のビン2及
び3のロジック信号位置を夫々蓄積する。
デザインエレメントデータテーブル1Aからのデータを
読み、モデルインデックステーブル2内のラムポインタ
ーによって参照された各モデルのラム要求を復習すると
きになされる。このようなラム位置のアサイン(ass
igne)は第3図示のメモリダイヤグラム内に示され
、ここでラム位置アドレス3BOはロジックゲー)82
の入力ピン1上のロジック信号値を蓄積する。同様にラ
ム位置3B2.384はロジックゲートB2のビン2及
び3のロジック信号位置を夫々蓄積する。
常時ソフトウェアコールはモデルレファレンスライブラ
リ4内のICモデルサブルーチンになされ、サブルーチ
ンはICモデルの行動を計算し、新しい行動データをラ
ム位置或いはアドレスに戻す。モデルレファレンスイン
デックス2内のICモデル7408のサブルーチンがコ
ールされたとき、それはその入力をラム位置3BOと3
B2から取り出し、計算されたロジック値をラム位置3
B4に戻す。
リ4内のICモデルサブルーチンになされ、サブルーチ
ンはICモデルの行動を計算し、新しい行動データをラ
ム位置或いはアドレスに戻す。モデルレファレンスイン
デックス2内のICモデル7408のサブルーチンがコ
ールされたとき、それはその入力をラム位置3BOと3
B2から取り出し、計算されたロジック値をラム位置3
B4に戻す。
この処理は各ICになされ、これはスキマティック内で
用いられ、テーブル1A内にリストされる。
用いられ、テーブル1A内にリストされる。
凡てのICモデルに対して実行しかつ結果をレシービン
グICsに移送するために特別なテーブル3がシミュレ
ーター14の制御の下で造られる。このICモデルリン
グ技術はよくなされ、例えばカリフォルニア州・ニュー
ベリーバーク、オールドコネジョロード3525所在の
ALDECカンパニー等の多くの会社は大きなICモデ
ルライブラリーを提供している。故にこのICモデルの
構造の詳細な記述は必要でなく、その使用のみ説明する
。
グICsに移送するために特別なテーブル3がシミュレ
ーター14の制御の下で造られる。このICモデルリン
グ技術はよくなされ、例えばカリフォルニア州・ニュー
ベリーバーク、オールドコネジョロード3525所在の
ALDECカンパニー等の多くの会社は大きなICモデ
ルライブラリーを提供している。故にこのICモデルの
構造の詳細な記述は必要でなく、その使用のみ説明する
。
このシミュレーター14は信号線13でデータテーブル
発生器12からテープ1Aと1Bを受けとり、自動的に
デザインシミュレーションプログラムテーブル3を造り
、これは以下に更に詳細に述べるようにICモデルとネ
ットリストの実行可能なサブルーチンの組を含む。この
ICsの実行可能なサブルーチンはテーブル1Aによっ
てアドレスされ、信号線5を経てICモデルライブラリ
4によって提供される。
発生器12からテープ1Aと1Bを受けとり、自動的に
デザインシミュレーションプログラムテーブル3を造り
、これは以下に更に詳細に述べるようにICモデルとネ
ットリストの実行可能なサブルーチンの組を含む。この
ICsの実行可能なサブルーチンはテーブル1Aによっ
てアドレスされ、信号線5を経てICモデルライブラリ
4によって提供される。
デザインシミュレーションテーブル3はテーブル1Aと
1Bより直接造られ、ICモデルレファレンスライブラ
リ4に蓄えられたICモデルサブルーチンとネットリス
ト接続データテーブル1Bに蓄えられたネットリストサ
ブルーチンを実行する完全なデザインシミュレーション
プログラムである。
1Bより直接造られ、ICモデルレファレンスライブラ
リ4に蓄えられたICモデルサブルーチンとネットリス
ト接続データテーブル1Bに蓄えられたネットリストサ
ブルーチンを実行する完全なデザインシミュレーション
プログラムである。
このICモデルは第1に実行される。スキマティックブ
ロック25. (Bl)内の凡てのICモデルが実行さ
れたとき、このスキマティックブロック25内のデータ
を移送するサブルーチンは呼出され、実行される。この
ようにしてデザインシミュレーションプログラムテーブ
ル3内のプログラムを実行することによってシミュレー
ター14は1つのシミュレーションサイクルを行う。
ロック25. (Bl)内の凡てのICモデルが実行さ
れたとき、このスキマティックブロック25内のデータ
を移送するサブルーチンは呼出され、実行される。この
ようにしてデザインシミュレーションプログラムテーブ
ル3内のプログラムを実行することによってシミュレー
ター14は1つのシミュレーションサイクルを行う。
デザインシミュレーションプログラムテーブル3実行可
能なサブルーチンのリスト B1ネットリストを実行する上記操作でA1ネットリス
トの組をポインターに移し、A1ネットリストの実行は
A1ネットリストをコールし、第2図示のスキマティッ
クのシミュレーションサイクルが完了する。
能なサブルーチンのリスト B1ネットリストを実行する上記操作でA1ネットリス
トの組をポインターに移し、A1ネットリストの実行は
A1ネットリストをコールし、第2図示のスキマティッ
クのシミュレーションサイクルが完了する。
スキマティックエントリープログラム10Aとネットリ
ストエントリーファイル10Bはシミュレートさるべき
、マーキングICsプロビジョンスを含む。シミュレー
ション用のセレクテイングデザインエレメントは例えば
前述のALDECカンパニーからのLINKと51AV
のような公知のソフトウェア処理技術で確立された範囲
内でよく知られ、故に詳細な説明は必要でない。データ
テーブル発生器12がデザインエレメントテーブル1A
を造ったとき、それは“used”のコラムに与えられ
たデザインエレメントがシミュレートされたか或いは否
かを記載する。同様にシミュレーター14が実行可能な
デザインシミュレーションプログラムテーブル3を造っ
たとき、それはUSEDの場所にデザインエレメントデ
ータテーブル1Aをチエツクする。若しこの場所がIC
のようなエレメントが使用されてないことを示すなら、
シミュレーション14はそれをデザインシミュレーショ
ンプログラムテーブルに含まず、また従ってICがシミ
ュレートされてない。
ストエントリーファイル10Bはシミュレートさるべき
、マーキングICsプロビジョンスを含む。シミュレー
ション用のセレクテイングデザインエレメントは例えば
前述のALDECカンパニーからのLINKと51AV
のような公知のソフトウェア処理技術で確立された範囲
内でよく知られ、故に詳細な説明は必要でない。データ
テーブル発生器12がデザインエレメントテーブル1A
を造ったとき、それは“used”のコラムに与えられ
たデザインエレメントがシミュレートされたか或いは否
かを記載する。同様にシミュレーター14が実行可能な
デザインシミュレーションプログラムテーブル3を造っ
たとき、それはUSEDの場所にデザインエレメントデ
ータテーブル1Aをチエツクする。若しこの場所がIC
のようなエレメントが使用されてないことを示すなら、
シミュレーション14はそれをデザインシミュレーショ
ンプログラムテーブルに含まず、また従ってICがシミ
ュレートされてない。
このエレメントデザインデータテーブルとデザインシミ
ュレーションテーブルを発生するプログラムルーチンは
第6図と第7図に示される。このデータテーブル発生器
12は信号線11A或いは11B上のデータを走査して
テーブル1Aと好ましくは類似のテーブルを発生する。
ュレーションテーブルを発生するプログラムルーチンは
第6図と第7図に示される。このデータテーブル発生器
12は信号線11A或いは11B上のデータを走査して
テーブル1Aと好ましくは類似のテーブルを発生する。
このデータテーブル発生器12の詳細なフローチャート
ダイヤグラムは第6図に示す。サブルーチン60は若し
線60aにおけるデザイナ−の入力がデザインエレメン
トであるならチエツクし、この場合サブルーチン60は
デザインエレメント名をテーブル1A内に入れる。
ダイヤグラムは第6図に示す。サブルーチン60は若し
線60aにおけるデザイナ−の入力がデザインエレメン
トであるならチエツクし、この場合サブルーチン60は
デザインエレメント名をテーブル1A内に入れる。
例えばそれはテーブル1Aのコラム1に入れることがで
きる。サブルーチン62は線61の入力によってトリガ
ーされ、(第1図)のモデルレファレンスインデックス
2によって入った入力60aがモデルレファレンスライ
ブラリ4内のモデルを有するかをチエツクする。若しモ
デルがよいならば(aVailable)ラムメモリ内
のそのモデルの位置がテーブル1Aの′モデルラムポイ
ンター′コラム内に入る。線60aの入力はまたプログ
ラムフィードバック或いは戻し線86からも来て信号線
11A或いは11Bの新しい入力をチエツクする。
きる。サブルーチン62は線61の入力によってトリガ
ーされ、(第1図)のモデルレファレンスインデックス
2によって入った入力60aがモデルレファレンスライ
ブラリ4内のモデルを有するかをチエツクする。若しモ
デルがよいならば(aVailable)ラムメモリ内
のそのモデルの位置がテーブル1Aの′モデルラムポイ
ンター′コラム内に入る。線60aの入力はまたプログ
ラムフィードバック或いは戻し線86からも来て信号線
11A或いは11Bの新しい入力をチエツクする。
線66上の信号によってトリガーされるソフトウェアサ
ブルーチン67はその入力がターミナルにあるかをチエ
ツクする。この情報はネットリスト或いはスキマティッ
クシンボルから直接誘導され、これは入力に供給される
。若し入力がターミナルであるならそれはサブルーチン
69によってテーブル1A内に入る。さもなくばサブル
ーチン72はそれが信号名であるかどうかをチエツクす
る。若し入力が信号名であるなら、それはテーブル1A
のシグナルコラム内に入り、また第6図示のフローチャ
ートに示すように信号線75 、86によって制御はプ
ログラムの始に戻される。
ブルーチン67はその入力がターミナルにあるかをチエ
ツクする。この情報はネットリスト或いはスキマティッ
クシンボルから直接誘導され、これは入力に供給される
。若し入力がターミナルであるならそれはサブルーチン
69によってテーブル1A内に入る。さもなくばサブル
ーチン72はそれが信号名であるかどうかをチエツクす
る。若し入力が信号名であるなら、それはテーブル1A
のシグナルコラム内に入り、また第6図示のフローチャ
ートに示すように信号線75 、86によって制御はプ
ログラムの始に戻される。
若し入力信号60aが存在するデザインエレメントをシ
ミュレーションに加える要求であるならテーブル1Aの
結合されたUSEDのコラムはサブルーチン82によっ
て’ YES’とマークされる。
ミュレーションに加える要求であるならテーブル1Aの
結合されたUSEDのコラムはサブルーチン82によっ
て’ YES’とマークされる。
サブルーチン79はデザインエレメントがシミュレーシ
ョンから除くかどうかをチエツクする。若し線60aの
入力がシミュレーション削除コマンド(命令)であるな
らばプログラムサブルーチン79はサブルーチン111
を経て選択されたデザインエレメントのUSEDのコラ
ムの’YES’を削除する。若しサブルーチン84がデ
ザイナ−入力線6゜aが操作のシミュレーションモード
を切換える要求であることを検出したならプログラムク
リ−エイティングテーブル3は信号線88を経て活性化
される。さもなければプログラムは第6図示のフローチ
ャートの始に戻り、入力を待つ。
ョンから除くかどうかをチエツクする。若し線60aの
入力がシミュレーション削除コマンド(命令)であるな
らばプログラムサブルーチン79はサブルーチン111
を経て選択されたデザインエレメントのUSEDのコラ
ムの’YES’を削除する。若しサブルーチン84がデ
ザイナ−入力線6゜aが操作のシミュレーションモード
を切換える要求であることを検出したならプログラムク
リ−エイティングテーブル3は信号線88を経て活性化
される。さもなければプログラムは第6図示のフローチ
ャートの始に戻り、入力を待つ。
コンピュータ援助デザインの使用による熟練者には如何
にしてテーブル1Bに類似のネットリストを発生するか
は明らかである。このようなネットリストは例えばAL
DECカンパニーのパーソナルCADシステム等の多く
の異なった会社によって発生している。
にしてテーブル1Bに類似のネットリストを発生するか
は明らかである。このようなネットリストは例えばAL
DECカンパニーのパーソナルCADシステム等の多く
の異なった会社によって発生している。
シミュレーター14は2つのプログラムを含む。
1つはデザインシミュレーションプログラムテーブルを
造ることであり、他はテーブル3にサブルーチンを実行
することである。このシミュレーター14の実行プログ
ラム部分例えばカルフォルニヤ州の二ニーベリーパーク
のALDECからの有利な5USIEのような公知のシ
ミュレータープログラムによって提供することができる
。このテーブル3を造るプログラムは以下第7図につい
て説明する。
造ることであり、他はテーブル3にサブルーチンを実行
することである。このシミュレーター14の実行プログ
ラム部分例えばカルフォルニヤ州の二ニーベリーパーク
のALDECからの有利な5USIEのような公知のシ
ミュレータープログラムによって提供することができる
。このテーブル3を造るプログラムは以下第7図につい
て説明する。
テーブル3を発生する処理は第7図のプログラムフロー
チャートに関して記述されている。サブルーチン89は
データテーブル発生プログラムからの信号線88上の入
力がモデルレファレンスライブラリー内のモデルを有す
るエレメントかネットリストかのどちらかをチエツクす
る。若し信号線88上の入力がモデルを有するエレメン
トでもネットリストでもなければ何のアクションもとら
れず、テーブル1Aの次の項目88が処理される。サブ
ルーチン92は項目88がICモデルを有するかどうか
をチエツクする。若しそれがICモデルを有するならサ
ブルーチン1(14)は自動的にモデルライブラリーへ
のコールを造る。若し項目88がモデルを有しないなら
ばそれはネットリストに違いなく、サブルーチン95は
テーブル2に示すネットリストサブルーチンへのコール
を書く。サブルーチン97はテーブル1Aの端部がある
かをチエツクする。若し端が発見されたらサブルーチン
101は制御をシミュレーター14に戻し、これは新し
く造られたテーブル3を実行する。さもなければ制御は
第7図示のフローチャートの始に戻される。
チャートに関して記述されている。サブルーチン89は
データテーブル発生プログラムからの信号線88上の入
力がモデルレファレンスライブラリー内のモデルを有す
るエレメントかネットリストかのどちらかをチエツクす
る。若し信号線88上の入力がモデルを有するエレメン
トでもネットリストでもなければ何のアクションもとら
れず、テーブル1Aの次の項目88が処理される。サブ
ルーチン92は項目88がICモデルを有するかどうか
をチエツクする。若しそれがICモデルを有するならサ
ブルーチン1(14)は自動的にモデルライブラリーへ
のコールを造る。若し項目88がモデルを有しないなら
ばそれはネットリストに違いなく、サブルーチン95は
テーブル2に示すネットリストサブルーチンへのコール
を書く。サブルーチン97はテーブル1Aの端部がある
かをチエツクする。若し端が発見されたらサブルーチン
101は制御をシミュレーター14に戻し、これは新し
く造られたテーブル3を実行する。さもなければ制御は
第7図示のフローチャートの始に戻される。
この第6図と第7図示のフローチャートに示すプログラ
ムルーチンは一例として与えたに過ぎず、如何にテーブ
ル3が自動的にソフトウェアルーチンを発生するかを明
らかに理解させるものである。
ムルーチンは一例として与えたに過ぎず、如何にテーブ
ル3が自動的にソフトウェアルーチンを発生するかを明
らかに理解させるものである。
シミュレーションのため或いはシミュレーションから削
除するために新しいエレメントがデザイナ−によって選
択されたとき、新しいデザインシミュレーションプログ
ラムテーブル3がシミュレーター14によって発生する
。実行可能なデザインシミュレーションプログラムテー
ブル3はデザインエレメントテーブル1Aの簡単な翻訳
とネットリスト接続データ1B及びモデルインデックス
テーブル2を通して発生されるのでデザインシミュレー
ションプログラムテーブル3はミリセカンドの範囲内で
発生し、直ちに使用者に役立つ。この処理の結果として
使用者は直ちに任意のICsのセットとシミュレーショ
ンのための使用を選択することができる。デザインシミ
ュレーションプログラムテーブル3は自動的にシミュレ
ーションに関与するICsのみを含むので大部分のシミ
ュレーション時間を節減する。シミュレーター14は5
USIEとして知られるALDECによって製造された
シミュレーターと同様のもの或いはパーソナルCADシ
ステムに有用のデジタルデザインラプスシミュレーター
と同様のものにすることができる。
除するために新しいエレメントがデザイナ−によって選
択されたとき、新しいデザインシミュレーションプログ
ラムテーブル3がシミュレーター14によって発生する
。実行可能なデザインシミュレーションプログラムテー
ブル3はデザインエレメントテーブル1Aの簡単な翻訳
とネットリスト接続データ1B及びモデルインデックス
テーブル2を通して発生されるのでデザインシミュレー
ションプログラムテーブル3はミリセカンドの範囲内で
発生し、直ちに使用者に役立つ。この処理の結果として
使用者は直ちに任意のICsのセットとシミュレーショ
ンのための使用を選択することができる。デザインシミ
ュレーションプログラムテーブル3は自動的にシミュレ
ーションに関与するICsのみを含むので大部分のシミ
ュレーション時間を節減する。シミュレーター14は5
USIEとして知られるALDECによって製造された
シミュレーターと同様のもの或いはパーソナルCADシ
ステムに有用のデジタルデザインラプスシミュレーター
と同様のものにすることができる。
成るデザインをシミュレートするために使用者はシミュ
レーター14において実行プログラムによって実行する
ためにデザインステイミュリ(刺戟)を送らねばならな
い。相互作用(1nteract 1ve)システムに
おいてこのステイミュリはタイミングディスプレイスク
リーンから直接供給することができる。テストベクトル
エントリープログラム20は第4A、4B、4C図に示
すような情報を信号線21に供給する。第4A図は第2
図のロジックスキマティックのシミュレーションに使用
される信号をグラフ的に示す。テストベクトルエントリ
ープログラム20は例えばALDEC及びその他のソー
ス(源)から容易に役立つテストベクトルエディターで
ある。
レーター14において実行プログラムによって実行する
ためにデザインステイミュリ(刺戟)を送らねばならな
い。相互作用(1nteract 1ve)システムに
おいてこのステイミュリはタイミングディスプレイスク
リーンから直接供給することができる。テストベクトル
エントリープログラム20は第4A、4B、4C図に示
すような情報を信号線21に供給する。第4A図は第2
図のロジックスキマティックのシミュレーションに使用
される信号をグラフ的に示す。テストベクトルエントリ
ープログラム20は例えばALDEC及びその他のソー
ス(源)から容易に役立つテストベクトルエディターで
ある。
なおここでテストベクトルとは第4A図示のような特定
の時間と大きさを持つデザインステイミュリとして用い
られる信号のことである。ベクトルとは記述された時間
と大きさのデザインステイミュリを行うための蓄積され
或いは造られる信号である。
の時間と大きさを持つデザインステイミュリとして用い
られる信号のことである。ベクトルとは記述された時間
と大きさのデザインステイミュリを行うための蓄積され
或いは造られる信号である。
このテストベクトルエントリープログラム20とシミュ
レーター14で造られた信号はシミュレーションデータ
ディスプレイ16(すなわち窓)で選択的に表示される
。デザインステミュリとして用いられる第4A図示の凡
ての信号は第2のコラムにアステリックマーク*でマー
クされ、かつデザインエレメントデータテーブル1A内
に自動的に含まれる。これらの信号のロジカルステート
はラムメモリーに貯えられる。これらの位置のポインタ
ーは’J4B図に示される。これらのテストベクトルの
実際のラム位置は第4C図にリストされている。
レーター14で造られた信号はシミュレーションデータ
ディスプレイ16(すなわち窓)で選択的に表示される
。デザインステミュリとして用いられる第4A図示の凡
ての信号は第2のコラムにアステリックマーク*でマー
クされ、かつデザインエレメントデータテーブル1A内
に自動的に含まれる。これらの信号のロジカルステート
はラムメモリーに貯えられる。これらの位置のポインタ
ーは’J4B図に示される。これらのテストベクトルの
実際のラム位置は第4C図にリストされている。
第4A図においてデザイナ−によって*をマークされた
凡てのテストベクトルはライトプロチクテッドである。
凡てのテストベクトルはライトプロチクテッドである。
このような信号はシミュレーター14で発生したシミュ
レーションデータで踏みにじられることはできない。例
えば若し第4A図示のライト (書く)信号の次に“*
”がおかれると82−3出力で生産されたデータはライ
ト信号位置に貯えられない。
レーションデータで踏みにじられることはできない。例
えば若し第4A図示のライト (書く)信号の次に“*
”がおかれると82−3出力で生産されたデータはライ
ト信号位置に貯えられない。
その代わりに古いライト信号データは保持される。同様
に若しゲー)B2のピン3が第4A図に表示され、*マ
ークがあると第40図示のラムメモリの対応位置はその
ライトが保護され、シミュレーションの結果は3C(1
4)ラム位置で保護されない。このラム保護の処理はデ
ザイナ−が彼の固有のテストベクトルのICモデルピン
内にシミュレーションの結果を送ることによってオーバ
ーライド(Nみにしる)したいと欲するとき有用である
。
に若しゲー)B2のピン3が第4A図に表示され、*マ
ークがあると第40図示のラムメモリの対応位置はその
ライトが保護され、シミュレーションの結果は3C(1
4)ラム位置で保護されない。このラム保護の処理はデ
ザイナ−が彼の固有のテストベクトルのICモデルピン
内にシミュレーションの結果を送ることによってオーバ
ーライド(Nみにしる)したいと欲するとき有用である
。
第4A図内に出入し、かつ*マークのある任意のテスト
ベクトルはシミュレーションの結果によって変わらない
。代わりに第4C図に貯えられたテストベクトルはシミ
ュレーター14への入力として使用される。
ベクトルはシミュレーションの結果によって変わらない
。代わりに第4C図に貯えられたテストベクトルはシミ
ュレーター14への入力として使用される。
第5図は例えばテクトロニックス1241のようなテス
ト用プリント回路板41からの信号を受けるロジックア
ナライザー43を示す。信号42は例えばよく知られて
いるIEEE−488スタンダードのような適当な信号
フォーマットに変換され、第1図示のテストベクトルエ
ントリー2(12)の代わりにシミュレーターシステム
内に供給される。
ト用プリント回路板41からの信号を受けるロジックア
ナライザー43を示す。信号42は例えばよく知られて
いるIEEE−488スタンダードのような適当な信号
フォーマットに変換され、第1図示のテストベクトルエ
ントリー2(12)の代わりにシミュレーターシステム
内に供給される。
ロジックアナライザー43への信号線43はプリント回
路板41の任意の部分に取着けることができる。
路板41の任意の部分に取着けることができる。
若し信号線42が第2図のスキマティックに示すような
ターミナル29 、30 、31及び32に対応するプ
リント回路板に取着けられて第2図示のスキマティック
ブロックB10対応するテストポイントに供給されると
、スキマティックブロック日1はロジックアナライザー
43によって提供された信号44の制御の下でシミュレ
ートされることができる。テストコンパレーター46は
信号線47のシミュレーターシステムからのゲー)C3
出力ビン3を受け、それをロジックアナライザー43に
よって信号線45より提供されPC(プリント回路)板
41の対応する信号と比較する。若し信号45と47の
間に矛盾があるとテストコンパレーター46は、それを
PC(プリント回路)板41の失敗として示す。シミュ
レーターシステム1の出力はハードディスク52に貯え
られ、(第1図)のCRT(陰極線管)ディスプレイ1
6或いはプリンター55上に設けられたハードコピー上
に表示される。
ターミナル29 、30 、31及び32に対応するプ
リント回路板に取着けられて第2図示のスキマティック
ブロックB10対応するテストポイントに供給されると
、スキマティックブロック日1はロジックアナライザー
43によって提供された信号44の制御の下でシミュレ
ートされることができる。テストコンパレーター46は
信号線47のシミュレーターシステムからのゲー)C3
出力ビン3を受け、それをロジックアナライザー43に
よって信号線45より提供されPC(プリント回路)板
41の対応する信号と比較する。若し信号45と47の
間に矛盾があるとテストコンパレーター46は、それを
PC(プリント回路)板41の失敗として示す。シミュ
レーターシステム1の出力はハードディスク52に貯え
られ、(第1図)のCRT(陰極線管)ディスプレイ1
6或いはプリンター55上に設けられたハードコピー上
に表示される。
若しデザイナ−がスキマティックエントリープログラム
10Aを経てスキマティックブロックB1のみシミュレ
ートさるべきことを選択したなら、シミュレーター14
より発生した新しいデザインシミュレーションプログラ
ムテーブル3はブロックB1のみを含み、他のモデルエ
レメントはテーブル3から除去される。スキマティック
ブロックB1のシミュレーションは第2図の全スキマテ
ィックロジックダイヤグラムのシミュレーションより速
いので、結果はシミュレーター14より非常に早く得ら
れる。
10Aを経てスキマティックブロックB1のみシミュレ
ートさるべきことを選択したなら、シミュレーター14
より発生した新しいデザインシミュレーションプログラ
ムテーブル3はブロックB1のみを含み、他のモデルエ
レメントはテーブル3から除去される。スキマティック
ブロックB1のシミュレーションは第2図の全スキマテ
ィックロジックダイヤグラムのシミュレーションより速
いので、結果はシミュレーター14より非常に早く得ら
れる。
デザイナ−にデザインとシミュレーションデーター間の
変移を容易にするため第2図のスキマティックと第40
図示のシミュレーションデータ間のCRTスクリーン上
の表示を選択的に切換えるようにするとよい。これを達
成するため、スキマティックエントリー及びディスプレ
イプログラム10AI−!第5図示のCRTディスプレ
イ53のような同じハードウェアディスプレイ上にスキ
マティックエントリーとシミュレーションデータディス
プレイ16を選択的にみることができるようにする。
変移を容易にするため第2図のスキマティックと第40
図示のシミュレーションデータ間のCRTスクリーン上
の表示を選択的に切換えるようにするとよい。これを達
成するため、スキマティックエントリー及びディスプレ
イプログラム10AI−!第5図示のCRTディスプレ
イ53のような同じハードウェアディスプレイ上にスキ
マティックエントリーとシミュレーションデータディス
プレイ16を選択的にみることができるようにする。
シングルスクリーン上のディスプレイ間の切換のコンビ
ネーションは“ウィンドイングと呼ばれ、コンピュータ
プログラムデザインの熟練者には公知の技術であるから
、詳細な説明はここでは必要ではない。
ネーションは“ウィンドイングと呼ばれ、コンピュータ
プログラムデザインの熟練者には公知の技術であるから
、詳細な説明はここでは必要ではない。
本発明は図示及び明細書の記述の実施例に限定されるも
のではなく、図面と説明は例示であって限定ではなく、
添付の特許請求の範囲内のものに過ぎない。
のではなく、図面と説明は例示であって限定ではなく、
添付の特許請求の範囲内のものに過ぎない。
以上のように本発明によれば、デザインの一部分を選択
的にシミュレートさせることによって電気的ロジックデ
ザインを高速でシミュレートできる新しいシステムと方
法を提供することができる。
的にシミュレートさせることによって電気的ロジックデ
ザインを高速でシミュレートできる新しいシステムと方
法を提供することができる。
更に、凡てのデザイン変化を直ちに登録し、デザイン変
更の長いバッチ編集の必要性を除去する増加分(inc
remental)のコンパイラを基本とする電気的な
シミュレーションを提供することができ、また新しい増
加分コンパイラを用いることによってテストベクトル修
正の長い編集を除去することができる。
更の長いバッチ編集の必要性を除去する増加分(inc
remental)のコンパイラを基本とする電気的な
シミュレーションを提供することができ、また新しい増
加分コンパイラを用いることによってテストベクトル修
正の長い編集を除去することができる。
更に、本発明によれば、プリント回路板部分を選択的に
テストする安価で高速のシステムと方法を提供すること
ができるものである。
テストする安価で高速のシステムと方法を提供すること
ができるものである。
第1図は本発明によるシミュレーターのブロックダイヤ
グラム、第2図はラムメモリーにおける典型的なロジッ
ク回路の概略図、第3図はラム位置アサインを示すメモ
リダイヤグラム、第4A図は選択に可能な波形のテスト
ベクトルディスプレイの一例である。第4B図はテスト
ベクトルのポインター(つなぎ)テーブルのダイヤグラ
ム、第4C図はテストベクトルテーブルの部分図、第5
図は本発明によるプリント回路板のテスト装置のブロッ
クダイアダラム、第6図はデータテーブルを発生するデ
ータテーブル発生器のソフトウェアプログラムを図示す
るフローチャート、第7図は実行可能なデザインシミュ
レーションプログラムテーブルを発生するソフトウェア
プログラムのフローチャートである。 2・・・・・・モデルレファレンスインデックス装置、
3・・・・・・デザインシミュレーションテーブノへ4
・・・・・・モデルレファレンスライブラリ、12・・
・・・・データテーブル発生器、13・・・・・・出力
、14・・・・・・シミュレーション装置、20・・・
・・・テスト信号入力装置、1A・・・・・・デザイン
エレメントデータテーブル、1B・・・・・・ネットリ
スト接続データテーブル、10A、10B・・・・・・
ロジック回路デザインエントリー装置、11A 、 1
1B・・・・・・ロジック回路デザイン入力。 喜9A口 箋1男目 喜’2C−
グラム、第2図はラムメモリーにおける典型的なロジッ
ク回路の概略図、第3図はラム位置アサインを示すメモ
リダイヤグラム、第4A図は選択に可能な波形のテスト
ベクトルディスプレイの一例である。第4B図はテスト
ベクトルのポインター(つなぎ)テーブルのダイヤグラ
ム、第4C図はテストベクトルテーブルの部分図、第5
図は本発明によるプリント回路板のテスト装置のブロッ
クダイアダラム、第6図はデータテーブルを発生するデ
ータテーブル発生器のソフトウェアプログラムを図示す
るフローチャート、第7図は実行可能なデザインシミュ
レーションプログラムテーブルを発生するソフトウェア
プログラムのフローチャートである。 2・・・・・・モデルレファレンスインデックス装置、
3・・・・・・デザインシミュレーションテーブノへ4
・・・・・・モデルレファレンスライブラリ、12・・
・・・・データテーブル発生器、13・・・・・・出力
、14・・・・・・シミュレーション装置、20・・・
・・・テスト信号入力装置、1A・・・・・・デザイン
エレメントデータテーブル、1B・・・・・・ネットリ
スト接続データテーブル、10A、10B・・・・・・
ロジック回路デザインエントリー装置、11A 、 1
1B・・・・・・ロジック回路デザイン入力。 喜9A口 箋1男目 喜’2C−
Claims (17)
- (1)デザインエレメントデータテーブル(1A)とネ
ットリスト接続データテーブル(1B)とを発生するデ
ータテーブル発生器(12)と、前記データテーブル発
生器(12)内にロジック回路デザイン入力(11A、
11B)を入れるロジック回路デザインエントリー装置
(10A、10B)と、シミュレーテイングする選択さ
れたロジック回路デザインを参照するため集積された回
路モデルを蓄積するモデルレファレンスライブラリ(4
)と、前記モデルレファレンスライブラリ(4)内の集
積された回路モデルへのメモリポインターを選択するた
め前記データテーブル発生器(12)に接続されたモデ
ルレファレンスインデックス装置(2)と、前記データ
テーブル発生器(12)の出力(13)を受けるシミュ
レーション装置(14)とよりなり、前記シミュレーシ
ョン装置(14)は実行可能なデザインシミュレーショ
ンテーブル(3)を発生するデザインシミュレーテイン
グテーブル発生装置と、前記実行可能なデザインシミュ
レーションテーブル(3)のサブルーチンを実行する実
行装置と、前記実行可能なサブルーチンを実行するため
前記シミュレーション装置(14)にテスト信号を入れ
るテスト信号入力装置(20)とよりなり、これによっ
て集積回路モデルとネットリストデータはシミュレーシ
ョンデータを発生するように処理されるロジック回路デ
ザインシミュレーションシステム。 - (2)前記データテーブル発生器(12)は前記集積さ
れた回路モデルテーブル内のUSEDの場(field
)を発生し、これによってUSEDの場合は実行可能な
デザインシミュレーションテーブル(3)の修正に用い
られる第1項記載のロジック回路デザインシミュレーシ
ョンシステム。 - (3)ディスプレイ装置と、電気的ロジック回路デザイ
ンエントリーとシミュレーション出力を選択的に切換え
る選択スイッチ装置を有する第2項記載のロジック回路
デザインシミュレーションシステム。 - (4)前記電気的ロジック回路デザインエントリー装置
はスキマテイックエントリー装置(10A)とネットリ
ストエントリー装置(10B)とを含む第3項記載のロ
ジック回路デザインシミュレーションシステム。 - (5)前記テスト信号を入れる装置はテストベクトルエ
ントリープログラム装置(20)を含む第3項記載のロ
ジック回路デザインシミュレーションシステム。 - (6)前記テスト信号を入れる装置はロジックアナライ
ザーを含む第3項記載のロジック回路デザインシミュレ
ーションシステム。 - (7)前記テスト信号を入れる装置はロジックアナライ
ザーを含み、前記ロジックアナライザーはプリント回路
板上のロジック回路のロジック部に接続されている第3
項記載のロジック回路デザインシミュレーションシステ
ム。 - (8)集積された回路モデルレファレンスライブラリー
装置(4)は前記シミュレーション装置(14)に接続
されている第3項記載のロジック回路デザインシミュレ
ーションシステム。 - (9)テストベクトルを前記シミュレーション装置(1
4)に入れるテストベクトルエントリー装置(20)を
有する第3項記載のロジック回路デザインシミュレーシ
ョンシステム。 - (10)前記テストベクトルエントリー装置(20)は
入ったテストベクトルを修正する装置を含む第9項記載
のロジック回路デザインシミュレーションシステム。 - (11)テストベクトルを前記シミュレーション装置(
14)に入れるテストベクトルエントリー装置(20)
を有する第9項記載のロジック回路デザインシミュレー
ションシステム。 - (12)電気的ロジック回路デザイン情報を入力し、デ
ザインエレメントデータテーブル(1A)とネットリス
ト接続データテーブル(1B)を前記電気的ロジック回
路デザインエントリーより発生し、集積回路モデルレフ
ァレンスインデックス装置(2)より集積回路モデルレ
ファレンスライブラリ(4)へのメモリポインターを選
択し、前記デザインエレメントデータテーブル(1A)
、前記ネットリスト接続データテーブル(1B)及びシ
ミュレーション装置(14)への前記メモリポインター
からのデータを適用し、実行可能なデザインシミュレー
ションプログラムリステイングテーブルを発生し、シミ
ュレーション装置における前記デザインシミュレーショ
ンプログラムリステイングテーブルからプログラムサブ
ルーチンを実行し、これによってシミュレーションデー
タは集積回路モデルとネットリストデータを表すように
発生されるロジック回路スモールデザインインクレメン
トのシミュレーション方法。 - (13)電気データを表示し、かつ電気的ロジックデザ
インインフォメーションとシミュレーション出力の表示
間を選択的に切換える第12項記載のロジック回路スモ
ールデザインインクレメントのシミュレーション方法。 - (14)電気的ロジック回路デザインインフォメーショ
ンの入力は電気的ロジック回路モデルスキマテイックイ
ンフォメーション或いはネットリストエントリーインフ
ォメーションの入力を選択的に含む第12項記載のロジ
ック回路スモールデザインインクレメントのシミュレー
ション方法。 - (15)前記シミュレーション装置(14)へテストデ
ータを入力する装置を含む第12項記載のロジック回路
スモールデザインインクレメントのシミュレーション方
法。 - (16)入力する前記テストデータはプリント回路板上
のロジック回路に接続されたロジックアナライザーから
前記シミュレーション装置(14)への入力信号を含む
第15項記載の方法。 - (17)入力する前記テストデータは前記シミュレーシ
ョン装置(14)への入力テストベクトルを含む第15
項記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US370,896 | 1989-06-23 | ||
US07/370,896 US5051938A (en) | 1989-06-23 | 1989-06-23 | Simulation of selected logic circuit designs |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03116383A true JPH03116383A (ja) | 1991-05-17 |
Family
ID=23461630
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2165489A Pending JPH03116383A (ja) | 1989-06-23 | 1990-06-21 | ロジック回路デザインシミュレーションシステム及びロジック回路スモールデザインインクレメントのシミュレーション方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5051938A (ja) |
EP (1) | EP0404482B1 (ja) |
JP (1) | JPH03116383A (ja) |
AT (1) | ATE186999T1 (ja) |
DE (1) | DE69033360T2 (ja) |
Families Citing this family (115)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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