JPH04237143A - 論理回路のレイアウトパターン検証方法 - Google Patents

論理回路のレイアウトパターン検証方法

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JPH04237143A
JPH04237143A JP3022937A JP2293791A JPH04237143A JP H04237143 A JPH04237143 A JP H04237143A JP 3022937 A JP3022937 A JP 3022937A JP 2293791 A JP2293791 A JP 2293791A JP H04237143 A JPH04237143 A JP H04237143A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
delay time
load capacity
gate
parasitic capacitance
simulator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3022937A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Fujiki
藤木 宏一
Masato Morikawa
森川 誠人
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Priority to US07/823,966 priority patent/US5359534A/en
Publication of JPH04237143A publication Critical patent/JPH04237143A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30Circuit design
    • G06F30/32Circuit design at the digital level
    • G06F30/33Design verification, e.g. functional simulation or model checking

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は論理集積回路装置等の
レイアウトパターンの検証方法に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、論理集積回路装置のレイアウト
設計において、寄生容量が発生する。この寄生容量の影
響でゲートの遅延容量が増大し、完成製品が誤動作を起
こすことがある。この誤動作の発生を防止するために、
従来は、回路上で特に遅延時間の影響が大きな配線につ
いては、予めリストアップしておき、マニュアル設計に
おいては配線を極力短くするように考慮したり、自動レ
イアウト設計においても、各種のパラメータを用いて配
線長に制限を加えるようにしている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来の技術に
おいて、全ての配線に出力ゲートの種類の違いによる負
荷容量の値の大小に応じ配線長の制限を個々に行うこと
はほとんど不可能なことであり、また相対的な遅延時間
のコントロールは大変困難な作業であった。一方、レイ
アウト設計後の寄生容量の抽出ソフトウェアは、すでに
市販されており、容量値の算出は可能であるが、これを
活用する手段がなく、目視でチェックしなければならず
、やはり多くの労力を必要とするという問題があった。
【0004】この発明は、上記問題点に着目してなされ
たものであって、レイアウト設計時の各種制限のみなら
ず、レイアウト完成後の遅延時間による製品の誤動作を
予測し得る論理集積回路のレイアウトパターン検証方法
を提供することを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段及び作用】この発明の論理
回路のレイアウトパターン検証方法は、基準ゲートに、
回路シュミレータにより、負荷容量の複数の代表値を与
え、対応する遅延時間を算出し、与えた負荷容量の代表
値と求めた遅延時間とから負荷容量対遅延時間の関数を
作成する一方、設計された被検証レイアウトパターンの
寄生容量を抽出し、各配線の駆動ゲートと抽出された寄
生容量を前記負荷容量対遅延時間の関数に適用し、基準
ゲートにおける遅延時間を算出し、駆動ゲートのW/L
より遅延時間の補正を行い、この補正された遅延時間を
論理シュミレータへの入力フォーマットにデータ変換し
、論理シュミレータを動かすことにより、初期設計時の
出力期待値との比較を行うようにしている。
【0006】
【実施例】以下、実施例により、この発明をさらに詳細
に説明する。図1は、この発明のレイアウトパターン検
証方法を示す過程図である。先ずステップST1におい
て、基準ゲート設計を行う。ここで基準ゲートとは、イ
ンバータ、アンド回路、オア回路、フリップフロップ等
の基本素子であり、製品設計で使用される基本素子につ
いて、そのメーカで実際に使用されるものが全て予め登
録されている。これら各基準ゲートを回路シュミレータ
に入れシュミレーションを行う(ステップST2)。例
えば基準ゲートとして図2に示すインバータを例にとる
と、このインバータを回路シュミレータに入れ、このイ
ンバータのWb /Lb =10/1とし(Wb :幅
、Lb :長さ)、図3の負荷容量Cとして、例えは0
.1PF、1PF、3PF、10PFを代表値とし、入
力する。そして各代表値に対する遅延時間を算出する。 これら負荷容量の代表値と遅延時間から図4に示す如き
、負荷容量対遅延時間の特性、つまりN次多項式の関数
fを作成する(ステップST3)。この関数は、他の素
子の基準ゲートについても同様に作成しておく。
【0007】一方、製品設計は、先ず論理オーダの回路
設計を行い(ステップST4)、回路シュミレータで論
理シュミレーションを行い、その回路が基本的に動作す
るか否かをチェックする(ステップST5)。次に、レ
イアウトパターン設計を行い(ステップST6)、各配
線回路要素毎に寄生容量抽出を行う(ステップST7)
。この寄生容量の抽出は、すでに市販のソフトウェアで
可能である。今、製品設計中のあるインバータの抽出し
た寄生容量が図5に示すようにCS =2PFであった
とする。そして、このインバータのW/L=5/1であ
るとする。寄生容量抽出の後、この寄生容量を、ステッ
プST3で作成した関数fに適用して、基準ゲートにお
ける遅延時間td を算出する(ステップST8)。図
5のインバータではCS =2PFであるから、これを
図4の関数fにあてはめると、図6に示すように、例え
ば遅延時間td=10nsが算出される。続いて、基準
ゲートの大きさと駆動ゲートの大きさが相違することが
あるので、大きさの相違、つまり駆動ゲートのW/Lに
よる遅延時間の補正を行う(ステップST9)。例えば
、図5の駆動ゲートではW/L=5/1であるから補正
遅延時間t’ d はt’ d =10ns×Wb /
Lb ×L/W=20nsとなる。
【0008】この遅延時間t’ d を、論理シュミレ
ータの入力フォーマットにデータ変換して(ステップS
T10)、回路シュミレータに加え、上記遅延時間t’
 d を考慮した論理シュミレーションを実行する(ス
テップST11)。そして、この論理シュミレーション
で得られる出力期待値IIと、初期設計時の出力期待値
Iのパターン比較を行い、設計レイアウトパターンの評
価を行う(ステップST12)。
【0009】例えば、出力期待値Iと出力期待値IIと
が図7に示す波形であったとすると、両出力期待値の比
較により、波形aの部分では問題ないが、波形bの部分
で遅延時間が大きく問題となる。したがってこの部分に
ついてレイアウトの設計をやり直す必要があることを確
認できる。
【0010】
【発明の効果】この発明によれば、基準ゲートに、回路
シュミレータにより、負荷容量の複数の代表値を与え、
対応する遅延時間を算出し、与えた負荷容量の代表値と
求めた遅延時間とから負荷容量対遅延時間の関数を作成
する一方、設計された被検証レイアウトパターンの寄生
容量を抽出し、各配線の駆動ゲートと抽出された寄生容
量を前記負荷容量対遅延時間の関数に適用し、基準ゲー
トにおける遅延時間を算出し、駆動ゲートのW/Lより
遅延時間の補正を行い、この補正された遅延時間を論理
シュミレータへの入力フォーマットにデータ変換し、論
理シュミレータを動かすことにより、初期設計時の出力
期待値との比較を行うようにしているので、レイアウト
完成後の詳細な遅延時間を補正する事により、製品の回
路設計とレイアウト設計を含めた設計マージンを正確に
予測する事ができる。また、レイアウトパターンの設計
評価を正確になせるので、問題があれば、実際に製品を
製造せずとも、即フィードバックできるので、従来より
も初期設計から製品出荷までの期間が大幅に短縮できる
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例を示すレイアウトパターン
の検証方法の過程を示すフロー図である。
【図2】同実施例で使用する基準ゲートの一例を示すイ
ンバータの論理図である。
【図3】同インバータの回路図である。
【図4】同インバータの負荷容量として複数点の代表値
を与えた場合の遅延時間より得られる、負荷容量対遅延
特性を示す図である。
【図5】駆動ゲートの寄生容量抽出を説明するための回
路図である。
【図6】図4の関数に図5の寄生容量を適用して遅延時
間を算出する場合の説明図である。
【図7】出力期待値Iと出力期待値の波形例を示す図で
ある。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基準ゲートに、回路シュミレータにより、
    負荷容量の複数の代表値を与え、対応する遅延時間を算
    出する過程と、与えた負荷容量の代表値と求めた遅延時
    間とから負荷容量対遅延時間の関数を作成する過程と、
    設計された被検証レイアウトパターンの寄生容量を抽出
    する過程と、各配線の駆動ゲートと抽出された寄生容量
    を前記負荷容量対遅延時間の関数に適用し、基準ゲート
    における遅延時間を算出する過程と、駆動ゲートのW/
    Lより遅延時間の補正を行う過程と、この補正された遅
    延時間を論理シュミレータへの入力フォーマットにデー
    タ変換する過程と、論理シュミレータを動かすことによ
    り、初期設計時の出力期待値との比較を行う過程とから
    なる論理回路のレイアウトパターン検証方法。
JP3022937A 1991-01-22 1991-01-22 論理回路のレイアウトパターン検証方法 Pending JPH04237143A (ja)

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US07/823,966 US5359534A (en) 1991-01-22 1992-01-22 Verification method of logical circuit layout patterns

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US5359534A (en) 1994-10-25

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