JP2930026B2 - 自動回路設計方法及び自動回路設計装置 - Google Patents

自動回路設計方法及び自動回路設計装置

Info

Publication number
JP2930026B2
JP2930026B2 JP8243028A JP24302896A JP2930026B2 JP 2930026 B2 JP2930026 B2 JP 2930026B2 JP 8243028 A JP8243028 A JP 8243028A JP 24302896 A JP24302896 A JP 24302896A JP 2930026 B2 JP2930026 B2 JP 2930026B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
flip
timing
design
flop
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP8243028A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH1091661A (ja
Inventor
博史 佐々木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP8243028A priority Critical patent/JP2930026B2/ja
Publication of JPH1091661A publication Critical patent/JPH1091661A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2930026B2 publication Critical patent/JP2930026B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は自動回路設計方法及
び自動回路設計装置に関し、特にLSI内部のフリップ
フロップを含む論理回路等の自動回路設計方法及び自動
回路設計装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、フリップフロップではクロック
端子に供給されるクロック信号の立上り時刻とデータ端
子に供給されるデータ信号の変化する時刻との時間差す
なわちセットアップ時間およびホールド時間が満足して
いないと正しく動作することができない。
【0003】従来、この種のフリップフロップの回路動
作の検証を行う場合には、ファンクション動作やフリッ
プフロップに供給するデータ信号とクロック信号とのタ
イミング関係をチェックしていた。
【0004】一般的な従来のタイミングシミュレーショ
ン用いたフリップフロップの自動回路設計法をフローチ
ャートで示す図5(A)を参照すると、この従来の第1
の自動回路設計法は、回路データを入力する回路設計
(ステップS1)と、タイミングシミュレーションによ
りタイミング検証を行う回路検証(ステップS2)と、
タイミング検証結果を受けてレイアウト設計を行う配置
配線(ステップS5)と、配置配線後のタイミングシミ
ュレーション(ステップS6)と、チップ作成上の基準
に対するチエックを行うチップレイアウト検証(ステッ
プS6)とを含む。
【0005】上述の従来の第1の自動回路設計法の詳細
をフローチャートで示す図5(B)を参照すると、ステ
ップS2のタイミングシミュレーションは配線遅延予測
(ステップS21)と、配線ルールチエック(ステップ
S21)とから成り、配置配線ステップS5はチップ上
に各機能回路ブロックを自動配置するフロアプラン(ス
テップS51)と、配置された各回路ブロックを接続す
るための配線を配設する配置配線(ステップS52)と
から成り、さらにステップS6のタイミングシミュレー
ションは、配置配線後の配線遅延計算(ステップS6
1)と、シミュレーションの実行(ステップS62)と
から成る。
【0006】検証対象のフリップフロップ10とその入
力データ信号D,クロック信号CKを含むタイムチャー
ト及び真理値表の各々を(A),(B),(C)に示す
図6を参照すると、セットアップ時間tsはデータ信号
Dの遷移(この例では立上り)からクロック信号CKの
立上るまでの時間として、またホールド時間thはクロ
ック信号CKが立上ってから次のデータ信号Dの遷移
(立上り)までの時間としてそれぞれ定義されている。
検証対象のフリップフロップ毎にこれらセットアップ時
間tsおよびホールド時間thの許容できる最小値を規
格として設定しており、これらの規格を満足しない場合
には正常な動作を保証できない。
【0007】特に、図6(B)に示すように、クロック
信号CKの立上がり近辺でデータ信号Dが変化する場
合、セットアップ時間tsまたはホールド時間tsを満
足しているかどうかの検証は、タイミングシミュレーシ
ョンにより行われていた。もし満足していない場合は、
シミュレーション結果として、タイミングエラーが発生
したテストパタン番号と、被検証ゲート(フリップフロ
ップ)名と、クロック信号CKの立上がり時間とデータ
信号Dのレベル変化との時間差を表示していた。この場
合、データ信号Dやクロック信号CKの各波形の劣化す
なわち遷移(立上り/立下り)時間の増大に対する考慮
がなされていなかったため、シミュレーション結果とし
てはセットアップ時間ts及びホールド時間thを満足
しているのに、フリップフロップとして正常に動作しな
い場合があった。
【0008】フリップフロップ10に劣化した入力デー
タ信号D,クロック信号CKを供給した場合のセットア
ップ時間ts及びホールド時間thとの関係をタイムチ
ャートで示す図6(D)を参照して上記の不具合を具体
的に説明すると、フリップフロップ10にクロック信号
CKの波形の立上りでデータ信号Dを取り込む場合、デ
ータ信号Dの波形の劣化による立上り時間trdが、ク
ロック信号CKの波形の劣化による立上り時間trcに
比べて大きいときは、セットアップ時間tsを満足して
いるのにも拘らず、データ信号DのHレベルがフリップ
フロップ10の内部にセットされる前に、クロック信号
CKの立上りに応答したデータ取込み機能が開始され、
所望のHレベルのデータが取り込まれないという現象が
発生してしまう。
【0009】上記不具合の解決を図った特開平5−90
912号公報記載の従来の第2の自動回路設計方法は、
フリップフロップの入力段にデータ信号に対しクロック
信号の立上りを一定時間遅延させるクロック遅延機能
と、上記データ信号の立下りタイミングを相対的にクロ
ック信号の立上り後の所定時間経過後に設定するクロッ
ク信号立上り補正機能とを備えることにより、セットア
ップ時間及びホールド時間に対してマージンを付加し正
常動作を保証している。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の第1の
自動回路設計方法及び自動回路設計装置は、フリップフ
ロップに供給されるデータ,クロック各信号対応のセッ
トアップ時間及びホールド時間の検証をタイミングシミ
ュレーションにより行い、上記検証結果が問題となるフ
リップフロップが存在する場合、上記データ,クロック
各信号間のタイミング補正を上記フリップフロップの前
段の回路構成を見直して修正を行うが、データ,クロッ
ク各信号波形の劣化すなわち遷移(立上り/立下り)時
間の増大に対する考慮がなされていないため、セットア
ップ時間及びホールド時間の規格を満足しているのに、
データ,クロック各信号波形の遷移時間の差によって正
常に動作しない場合があるという欠点があった。
【0011】また、従来の第2の自動回路設計方法のよ
うに、フリップフロップのデータ,クロック各信号波形
の遷移時間の差を考慮するため、セットアップ時間やホ
ールド時間に対してマージンを付加するという手段を採
用すると、LSI本来の高速動作が損なわれてしまうと
いう欠点があった。
【0012】本発明の目的は、上記欠点を解消し、デー
タ,クロック各信号の遷移時間の差に影響されることな
く正常に動作するフリップフロップを設計可能な自動回
路設計方法及び自動回路を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明の自動回路設計方
法は、回路機能ブロックとしてフリップフロップを含む
設計対象回路の回路データを入力して回路設計を行い回
路設計データを出力する回路設計ステップと、前記回路
設計データをタイミングシミュレーションによりタイミ
ング検証を行い第1のタイミング検証結果を出力する回
路検証ステップと、前記第1のタイミング検証結果を受
けて前記回路機能ブロックの配置及びこの回路機能ブロ
ックの接続用配線を配設するレイアウト設計を行い配置
配線結果を出力する自動配置配線ステップと、前記配置
配線結果を受けてタイミングシミュレーションを行い第
2のタイミング検証結果を出力するタイミング動作検証
ステップと、前記タイミング検証結果を受けてチップレ
イアウト設計を行いその結果を所定のチップレイアウト
基準に基づいて検証するチップレイアウト検証ステップ
とを含み、コンピュータ支援設計技術を用いて前記設計
対象回路に設定されこの設計対象回路に含まれる前記フ
リップフロップの各々に供給されるデータ信号とクロッ
ク信号の各々のレベル遷移時刻の時間差でそれぞれ定義
されるセットアップ時間とホールド時間の許容可能な最
小値であるタイミング設計規格を満足するように設計す
る自動回路設計方法において、前記第1のタイミング検
証結果から前記データ信号及び前記クロック信号の各々
のレベル遷移時間を抽出するレベル遷移時間抽出ステッ
プと、前記データ信号及び前記クロック信号の各々のレ
ベル遷移時間相互間の差に合わせて前記フリップフロッ
プのクロック信号トリガ特性におけるスレッシュホール
ド電圧の異なるフリップフロップ回路機能ブロックに置
換えを行うことにより前記フリップフロップの前記タイ
ミング設計規格に対するタイミング特性を最適化する最
適化ステップとをさらに含むことを特徴とするものであ
る。
【0014】本発明の自動回路設計装置は、回路機能ブ
ロックとしてフリップフロップを含む設計対象回路の回
路データを入力して回路設計を行い回路設計データを出
力する回路設計手段と、前記回路設計データをタイミン
グシミュレーションによりタイミング検証を行い第1の
タイミング検証結果を出力する回路検証手段と、前記第
1のタイミング検証結果を受けて前記回路機能ブロック
の配置及びこの回路機能ブロックの接続用配線を配設す
るレイアウト設計を行い配置配線結果を出力する自動配
置配線手段と、前記配置配線結果を受けてタイミングシ
ミュレーションを行い第2のタイミング検証結果を出力
するタイミング動作検証手段と、前記タイミング検証結
果を受けてチップレイアウト設計を行いその結果を所定
のチップレイアウト基準に基づいて検証するチップレイ
アウト検証手段とを備え、前記設計対象回路に設定され
この設計対象回路に含まれる前記フリップフロップの各
々に供給されるデータ信号とクロック信号の各々のレベ
ル遷移時刻の時間差でそれぞれ定義されるセットアップ
時間とホールド時間の許容可能な最小値であるタイミン
グ設計規格を満足するように設計する自動回路設計装置
において、前記第1のタイミング検証結果から前記設計
対象回路に含まれる前記フリップフロップの各々に供給
されるデータ信号及びクロック信号の各々のレベル遷移
時間を抽出するレベル遷移時間抽出手段と、前記データ
信号及びクロック信号の各々のレベル遷移時間相互間の
差に合わせて前記フリップフロップのクロック信号トリ
ガ特性におけるスレッシュホールド電圧の異なるフリッ
プフロップ回路機能ブロックに置換えを行うことにより
前記フリップフロップの前記タイミング設計規格に対す
るタイミング特性を最適化する最適化手段とを備えて構
成されている。
【0015】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図5
(A)と共通の構成要素には共通の参照文字/数字を付
して同様にフローチャートで示す図1を参照すると、こ
の図に示す本実施の形態の自動回路設計方法は、従来と
共通の回路データを入力する回路設計(ステップS1)
と、タイミングシミュレーションによりタイミング検証
を行う回路検証(ステップS2)と、タイミング検証結
果を受けてレイアウト設計を行う配置配線(ステップS
5)と、配置配線後のタイミングシミュレーション(ス
テップS6)と、チップレイアウト検証(ステップS
6)とに加えて、フリップフロップに供給されるデータ
信号及びクロック信号の各々の波形の劣化すなわち遷移
時間の増加を抽出するステップ3と、データ信号及びク
ロック信号の各々の波形の遷移時間の差に合わせて最適
化するステップ4とを含む。
【0016】本実施の形態の自動回路設計を実行する自
動回路設計装置の構成をブロックで示す図2を参照する
と、この自動回路設計装置は、フロッピディスクドライ
ブやキーボードやマウス等の検証対象の回路図を入力す
る入力装置1と、入力装置1からの入力データが正しい
かの確認のための表示や計算装置3で計算処理した結果
の表示などを行うCRTディスプレイ等の表示装置2
と、データの計算処理などプログラムを実行する計算装
置3と、計算装置3で計算処理するためのデータを格納
することや計算処理のための中間データの格納等に使用
する記憶装置4と、計算装置の処理結果を確認するため
に紙などに出力する印刷装置5とを備える。
【0017】次に、図1,図2及び本実施の形態の処理
の詳細をフローチャートで示す図3及び図6を参照して
本実施の形態の動作について説明すると、ここでは説明
の便宜上、検証対象のフリップフロップ10は立上りク
ロックでデータ信号を取り入れるフリップフロップとす
る。まず、従来と同様に、入力装置1から回路図を入力
する回路設計ステップS1に続いて、次に、計算装置
3,記憶装置4等を用いて回路検証ステップS2を実施
する。このステップS2では、回路接続のチェックや回
路論理のチェックのためのシミュレーション(ステップ
S22)や、配線の長さに起因する配線遅延予測を含め
フリップフロップ10の入力データ信号D,クロック信
号CKの各タイミングのチェックのためのシミュレーシ
ョンを実施し(ステップS21)、回路動作の確認を行
う。
【0018】次に、計算装置3,記憶装置4等を用いて
入力データ信号D及びクロック信号CKの各波形の遷移
時間(ここでは立上り時間trd,trc)を抽出する
ステップS3を実施する。このステップS3では、デー
タ信号D,クロック信号CKの各々の立上り時間tr
d,trcは、このフリップフロップ10のデータ信号
D,クロック信号CKの各々の前段のブロックすなわち
駆動ブロックの出力端子に接続されている本フリップフ
ロップ10を含む駆動対象ブロック全部の入力容量や配
線の抵抗及び容量の負荷条件を抽出する(ステップS3
1)。この容量等の負荷条件と駆動ブロックの駆動能力
のデータから各信号D,CKの波形の立上り時間tr
d,trcを抽出していく(ステップS32)。具体的
には、図4に示すような負荷容量Cl対立上り時間tr
のデータをシミュレーションに関連する各回路ブロック
について予めライブラリ化しておき、検証対象のフリッ
プフロップ10のデータ信号の前段の駆動ブロックのラ
イブラリから各負荷容量時の遷移時間すなわち立上り時
間trを算出する。
【0019】次に、各フリップフロップ10毎にステッ
プS3で抽出したデータ信号D,クロック信号CKの各
々の立上り時間trd,trcの差を求めて、その値に
最適化したブロックへの置換えを行うステップS4を実
施する。このステップS4では、データ信号の立上り時
間trdの方がクロック信号の立上り時間trcより大
きい場合はフリップフロップ10のクロック信号トリガ
特性におけるスレッシュホールド電圧がこの設計で予め
設定した標準フリップフロップのそれより高いフリップ
フロップブロックに置換えを行い、逆にデータ信号の立
上り時間trdの方がクロック信号の立上り時間trc
より小さい場合は上記スレッシュホールド電圧が上記標
準フリップフロップより低いフリップフロップブロック
に置換えを行う。これにより、クロック信号CKの供給
に応答して機能するデータ信号Dの取込み動作を早める
ことができ、フリップフロップ内に所望のデータ信号を
取込むことができる。
【0020】次に、自動配置配線のステップS5を実施
する。このステップS5では、従来と同様に、自動的に
各回路ブロックの配置を決めて(ステップS51)、そ
れらの回路ブロックを接続する配線を配設(ステップS
52)していくことにより配置配線を進めていく。
【0021】次に、シミュレーションのステップS6を
実施する。このステップS6のタイミングシミュレーシ
ョンは、配置配線後の配線遅延計算(ステップS61)
し、この配線遅延計算結果に基づきシミュレーションを
実行(ステップS62)する。
【0022】次にチップレイアウト作成の検証ステップ
S7を実施する。このステップS7では、チップ作成上
の基準に対するチェックを行う。これらの結果は、表示
装置2に表示するとともに、印刷装置5に出力する。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の自動回路
設計方法及び自動回路は、設計データのタイミング検証
結果からフリップフロップの各々に供給されるデータ信
号及びクロック信号の各々のレベル遷移時間を抽出する
レベル遷移時間抽出ステップと、各レベル遷移時間相互
間の差に合わせて上記フリップフロップのタイミング設
計規格に対するタイミング特性を最適化する最適化ステ
ップとを設けたことにより、データ信号及びクロック信
号波形の劣化に起因する遷移時間差による誤動作を防止
できるという効果がある。
【0024】また、データ信号及びクロック信号波形の
劣化に起因する遷移時間差に対し最適化したフリップフ
ロップ回路ブロックに更新することによりセットアップ
時間及びやホールド時間に対するマージンを付加する必
要がなくなり、LSI本来の高速動作を実現できるとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の自動回路設計方法の一実施の形態を示
すフローチャートである。
【図2】本実施の形態の自動回路設計方法を実行する自
動回路設計装置の一例を示すブロック図である。
【図3】本実施の形態の処理の詳細を示すフローチャー
トである。
【図4】負荷容量に対する立上り時間の一例を示す特性
図である。
【図5】従来の第1の自動回路設計方法の一例を示すフ
ローチャートである。
【図6】フリップフロップとその入力データ信号及びク
ロック信号を含み劣化の無い場合と有る場合のタイムチ
ャート及び真理値表の一例をそれぞれ示す説明図であ
る。
【符号の説明】
1 入力装置 2 表示装置 3 計算装置 4 記憶装置 5 印刷装置 10 フリップフロップ

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回路機能ブロックとしてフリップフロッ
    プを含む設計対象回路の回路データを入力して回路設計
    を行い回路設計データを出力する回路設計ステップと、
    前記回路設計データをタイミングシミュレーションによ
    りタイミング検証を行い第1のタイミング検証結果を出
    力する回路検証ステップと、前記第1のタイミング検証
    結果を受けて前記回路機能ブロックの配置及びこの回路
    機能ブロックの接続用配線を配設するレイアウト設計を
    行い配置配線結果を出力する自動配置配線ステップと、
    前記配置配線結果を受けてタイミングシミュレーション
    を行い第2のタイミング検証結果を出力するタイミング
    動作検証ステップと、前記タイミング検証結果を受けて
    チップレイアウト設計を行いその結果を所定のチップレ
    イアウト基準に基づいて検証するチップレイアウト検証
    ステップとを含み、コンピュータ支援設計技術を用いて
    前記設計対象回路に設定されこの設計対象回路に含まれ
    る前記フリップフロップの各々に供給されるデータ信号
    とクロック信号の各々のレベル遷移時刻の時間差でそれ
    ぞれ定義されるセットアップ時間とホールド時間の許容
    可能な最小値であるタイミング設計規格を満足するよう
    に設計する自動回路設計方法において、 前記第1のタイミング検証結果から前記データ信号及び
    前記クロック信号の各々のレベル遷移時間を抽出するレ
    ベル遷移時間抽出ステップと、 前記データ信号及び前記クロック信号の各々のレベル遷
    移時間相互間の差に合わせてクロック信号トリガ特性に
    おけるスレッシュホールド電圧の異なるフリップフロッ
    プ回路機能ブロックに置換えを行うことにより前記フリ
    ップフロップの前記タイミング設計規格に対するタイミ
    ング特性を最適化する最適化ステップとをさらに含むこ
    とを特徴とする自動回路設計方法。
  2. 【請求項2】 前記最適化ステップが、前記データ信号
    のレベル遷移時間の方が前記クロック信号のレベル遷移
    時間より大きい場合は前記フリップフロップのクロック
    信号トリガ特性におけるスレッシュホールド電圧が予め
    設定した標準フリップフロップの前記スレッシュホール
    ド電圧より高いフリップフロップ回路機能ブロックに置
    換えを行い、前記データ信号のレベル遷移時間の方が前
    記クロック信号のレベル遷移時間より小さい場合は前記
    スレッシュホールド電圧が前記標準フリップフロップの
    前記スレッシュホールド電圧より低いフリップフロップ
    回路機能ブロックに置換えを行うことを特徴とする請求
    項1記載の自動回路設計方法。
  3. 【請求項3】 回路機能ブロックとしてフリップフロッ
    プを含む設計対象回路の回路データを入力して回路設計
    を行い回路設計データを出力する回路設計手段と、前記
    回路設計データをタイミングシミュレーションによりタ
    イミング検証を行い第1のタイミング検証結果を出力す
    る回路検証手段と、前記第1のタイミング検証結果を受
    けて前記回路機能ブロックの配置及びこの回路機能ブロ
    ックの接続用配線を配設するレイアウト設計を行い配置
    配線結果を出力する自動配置配線手段と、前記配置配線
    結果を受けてタイミングシミュレーションを行い第2の
    タイミング検証結果を出力するタイミング動作検証手段
    と、前記タイミング検証結果を受けてチップレイアウト
    設計を行いその結果を所定のチップレイアウト基準に基
    づいて検証するチップレイアウト検証手段とを備え、前
    記設計対象回路に設定されこの設計対象回路に含まれる
    前記フリップフロップの各々に供給されるデータ信号と
    クロック信号の各々のレベル遷移時刻の時間差でそれぞ
    れ定義されるセットアップ時間とホールド時間の許容可
    能な最小値であるタイミング設計規格を満足するように
    設計する自動回路設計装置において、 前記第1のタイミング検証結果から前記設計対象回路に
    含まれる前記フリップフロップの各々に供給されるデー
    タ信号及びクロック信号の各々のレベル遷移時間を抽出
    するレベル遷移時間抽出手段と、 前記データ信号及びクロック信号の各々のレベル遷移時
    間相互間の差に合わせてクロック信号トリガ特性におけ
    るスレッシュホールド電圧の異なるフリップフロップ回
    路機能ブロックに置換えを行うことにより前記フリップ
    フロップの前記タイミング設計規格に対するタイミング
    特性を最適化する最適化手段とを備えることを特徴とす
    る自動回路設計装置。
JP8243028A 1996-09-13 1996-09-13 自動回路設計方法及び自動回路設計装置 Expired - Lifetime JP2930026B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8243028A JP2930026B2 (ja) 1996-09-13 1996-09-13 自動回路設計方法及び自動回路設計装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8243028A JP2930026B2 (ja) 1996-09-13 1996-09-13 自動回路設計方法及び自動回路設計装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1091661A JPH1091661A (ja) 1998-04-10
JP2930026B2 true JP2930026B2 (ja) 1999-08-03

Family

ID=17097801

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8243028A Expired - Lifetime JP2930026B2 (ja) 1996-09-13 1996-09-13 自動回路設計方法及び自動回路設計装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2930026B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH1091661A (ja) 1998-04-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100517537B1 (ko) 반도체 집적회로의 설계방법
US7587693B2 (en) Apparatus and method of delay calculation for structured ASIC
CN112069763B (zh) 修正电路的方法
US8255859B2 (en) Method and system for verification of multi-voltage circuit design
US20080250379A1 (en) Logic circuit synthesis device
JP2004185374A (ja) クロストークチェック方法
JP2930026B2 (ja) 自動回路設計方法及び自動回路設計装置
US20070266361A1 (en) Logic verification method, logic verification apparatus and recording medium
JP2006155524A (ja) 半導体集積回路の検証方法、検証装置および検証プログラム
US8869082B2 (en) Method and device for checking a circuit for adherence to set-up and hold times
US7640151B2 (en) Asynchronous clock domain crossing jitter randomiser
JP2002073714A (ja) タイミング解析装置、ネットリスト変更方法および記録媒体
US7509603B2 (en) Semiconductor integrated circuit and design method thereof
JP4855283B2 (ja) 半導体集積回路の設計装置
US7913207B2 (en) Method and apparatus for verifying logic circuit
JP2003256488A (ja) Lsiレイアウト方法、プログラムおよび記録媒体
US11668749B2 (en) Method for eliminating fake faults in gate-level simulation
JP3561661B2 (ja) 半導体集積回路及び半導体集積回路の設計方法
JP3288336B2 (ja) 半導体集積回路の設計方法
JP2001308186A (ja) フリップフロップ追加修正が可能なレイアウト方法およびレイアウトプログラムを記録した記録媒体
JP3664988B2 (ja) 低電力lsi設計方法
JP3185892B2 (ja) タイミングシミュレーション方法
US9885754B2 (en) Integrated circuit with self-verification function, verification method and method for generating a BIST signature adjustment code
JP2000322462A (ja) 自動レイアウト装置および半導体集積回路設計方法
JP2001175699A (ja) 半導体集積回路のクロックツリー設計方法

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19990420