JPS6393053A - プログラムテスト装置 - Google Patents

プログラムテスト装置

Info

Publication number
JPS6393053A
JPS6393053A JP61237923A JP23792386A JPS6393053A JP S6393053 A JPS6393053 A JP S6393053A JP 61237923 A JP61237923 A JP 61237923A JP 23792386 A JP23792386 A JP 23792386A JP S6393053 A JPS6393053 A JP S6393053A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
program
test
change
test coverage
affected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61237923A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeki Kajiwara
梶原 茂喜
Haruo Sakurai
桜井 春雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP61237923A priority Critical patent/JPS6393053A/ja
Publication of JPS6393053A publication Critical patent/JPS6393053A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、プログラムのテストカバレジを測定するプロ
グラムテスト装置に係り、特にプログラムの不良発生後
に再度テストカバレジを測定する必要がある場合に好適
なプログラムテスト装置に関する。
〔従来の技術〕
プログラムに対するテストカバレジの411定を行う場
合、テストカバレジの測定途中に修正を行うと、それ以
前に測定したデータが無効となり再度測定し直さなけれ
ばならない。このため、現状では全てのテストを行い、
全ての不良を修正完了後、テストカバレジの測定を行う
いう方法で対処しているのが一般的である。
なお、プログラムのテストカバレジを泪す定するプログ
ラムテスト装置は、例えば特開昭58−33615号公
報に開示されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来技術は、プログラムのテストに対するテストカバレ
ジの測定のみであり、プログラムに不良が発生した場合
のテストカバレジの再テストを行う際に生じるテスト作
業や測定作業に対して配慮がされておらず、コス1−の
面でも作業効率の面でも問題があった。
本発明の目的は、プログラムの不良の早期摘出及び信頼
性向上、生産性向上を図るプログラムテスト装置を提供
することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は、プログラムの言語仕様に基づいたプログラ
ムテスト装置において、プログラムの変更による変更差
分の抽出、プログラムの構造解析変更によるプログラム
の影響解析と影響部分のテストカバレジデータのみを無
効にし、それ以外のテストカバレジデータを継承する機
能を組込み、さらに変更による影響があるテストケース
と影響がないテストケースを抽出することにより、達成
される。
〔作 用〕
プログラムの変更差分情報の抽出は、プログラム変更時
の変更前後を比l較し、その不一致部分を変更差分情報
として外部記憶装置に出力する。プログラムの構造解析
は、プログラムの開始・終点となる文を抽出し、その間
の文に対する構造を外部記憶装置に出力する。プログラ
ムの変更影響は変更差分情報と変更前後のプログラムの
構造とを対応づけし、その変更がプログラムに与える影
響を抽出し、外部記憶装置に出力する。これらによって
、プログラムの変更以前に測定してテストカバレジデー
タの変更による影響部分のみ無効とし、それ以外のテス
トカバレジデータを継承することができるため、変更影
響以外は、テストカバレジの再測定を行う必要がなくな
る。
〔実施例〕
以下1本発明の一実施例を図面に従って詳細に説明する
第1図は本発明の一実施例を示す概略構成図である。第
1図において、13は電子計算機であり、信号線21〜
26を通して外部記憶装置1〜6、信号線27を通して
端末19、及び信号線28を通してプリンタ2oがそれ
ぞれ接続されている。
こ\で、外部記憶装置1はテスト対象プログラム7を、
外部記憶装置2は変更差分情報8を、外部記憶装置3は
変更前のプログラム9を、外部記憶装置4はテストカバ
レジデータ10を、外部記憶装置5はプログラム解析情
報11を、そして外部記憶装置6は変更影響情報12を
それぞれ格納するものとする。
電子計算機13は、プログラムの言語仕様に基づいたプ
ログラムのテストカバレジの測定を行うテスト支援ツー
ル16、該プログラムの変更を行い、変更差分情報を抽
出するエディタ14、該プログラムに関する情報を解析
するコンパイラ15、該プログラムの構造に関する情報
を抽出し、該プログラムと該変更差分情報をもとに、該
プログラムの変更による変更影響部分のテストカバレジ
データを無効化して修正以前に測定したテストカバレジ
データの継承を行う継承化制御装置17、及び該継承結
果を端末19に表示するモニタ18を備えている。
次に、第2図のフローチャートに基づいて本実施例の処
理手順を説明する。
まず、利用者が端末19を使って計算機13の中のテス
ト支援ルーツ16によって、外部記憶装置1の中のテス
ト対象プログラム7のテストをテストケースに従って行
い、テストカバレジデータ10の収集を行う(ステップ
1o1)。このテストカバレジデータ1oは、外部記憶
装置4に記憶する。テストの結果(ステップ102)、
被テストプログラムに不良がない場合はテストカバレジ
が十分となるまで(ステップ107)、テストケースを
追加しテストを繰り返し行う。
もし、被テストプログラムに不良が発生した場合は、計
算機13の中のエディタ14を用いてプログラムの変更
を行う(ステップ04)。この時、エディタ14は変更
前のプログラムと利用者が変更した後の内容を比較し、
その不一致部分及び変更操作(追加、置換前、i4換後
、削除等)を外部記憶装置2に変更差分情報8として記
憶する。
次に利用者は、計算機13の中のコンパイラ15によっ
て、プログラムのコンパイルを行い(ステップ104)
、プログラムの開始・終点となる文を抽出し、その間の
文に対するプログラムの構造(分岐、判定、呼出しやデ
ータの設定、参照等)は、外部記憶装置5にプロゲラ1
1解析情報11として記憶される。
次に利用者は、計算機13の中の継承化制御装置17に
よって、変更されたプログラム及びエディタ14で抽出
された変更情報からプログラムの変更影響を解析し、変
更以前に測定したテストカバレジデータのうち、変更影
響がある部分のみを無効とすることにより、変更影響が
ないテストカバレジデータを継承することができる(ス
テップ105)。継承化されたテストカバレジデータは
、外部記憶装置4に記憶されているテストカバレジデー
タ10と置換する。
次に、計算機13の中のモニタ18は、上記継承した結
果を端末19あるいプリンタ20に出力する(ステップ
106)。
次に、第3図のフローチャートに基づいて、テストカバ
レジ継承化制御装置i′tの一実施例の具体的な処理手
順を説明する。
まず、外部記憶装置1のテスト対象プログラム7とエデ
ィタ14によって抽出された外部記憶装置2の変更差分
情報8をもとに、変更前プログラム9を回復しくステッ
プ201)、外部記憶装置3に記憶する。
次に、変更差分情報8を外部記憶装置2から取出し、変
更時の操作内容に従って(ステップ202)、変更差分
情報と変更前プログラム(削除・置換前の操作)及び変
更後プログラム(追加・置換後の操作)の対応づけを行
う(ステップ203゜204)。
次に、変更前プログラムと変更後プログラムの構造のつ
き合わせ(操作された部分のみ)を行い(ステップ10
5)、不一致となる部分の構造を抽出し、その部分を変
更後プロゲラ11の変更情報とする。
次に、前記の変更後プログラムの変更された部分の構造
(制御フロー、データフロー等)から、当該変更によっ
て影響を受ける部分(代入文に変更があった場合は、そ
の文を含む一連の文の集まりあるいは判定文に変更があ
った場合は、その判定文によって必ず実行される一連の
文の集まり)を抽出しくステップ206)、変更影響情
報12として外部記憶装置6に記憶する。
次に、この変更影響情報12とプログラムの変更以前に
測定したテストカバレジデータ10との構造のつき合わ
せを行うことによって、変更影響部分のテストカバレジ
データのみを無効(再テストを必要とする)とし、変更
影響がないテストカバレジデータ10は、そのま\変更
後のテストカバレジデータとして引き継ぐ(ステップ2
07)。
利用者は、テストカバレジデータの継承途中に計算機1
3の中のモニタ18で監視することによって、継承した
テストカバレジのうち変更影響がないテストケースを端
末19あるいはプリンタ20に出力することができる。
この場合の表示例を第4図に示す。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、プロ
グラムの変更によって発生するテストカバレジの再測定
が早くできるようになり、かつ変更による影響があるテ
ストケースを知ることができるので、テスト及びデパッ
ク作業を効率良く行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す概略構成図、第2図は
第1図の一実施例の処理手順を示すフローチャート、第
3図は第1図のナス1−カバレジ継承化制御装置の具体
的な処理手順を示すフローチャー1−1第4図は本発明
による継承結果の表示例を示す図である。 1.2,3,4,5.6・・外部記憶装置。 7・・・対象プログラム、  8・・・変更差分情報。 9・・・変更前プログラム、 10・・・ナス1−力バ
レジデータ、  11・・・プロゲラ11解析情報、1
2・・・プログラム変更形ηメ枦情報、  13・・電
子計算機、  14・・・エディタ、  15・・コン
パイラ、  16・・・ナス1〜支援ツール、  17
・・・継承化制御装置、 18・・・モニタ、 19・
・・端末、20・・プリンタ。 第  1  図 第 2 図 第3図 め

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)プログラムの言語仕様に基づいたプログラムのテ
    ストカバレジを測定するプログラムテスト装置において
    、該プログラムの変更を行い、変更差分情報を抽出する
    エディタと、該プログラムに関する情報を解析して出力
    するコンパイラと、該プログラムの構造に関する情報を
    抽出し、該プログラムと該変更差分情報をもとに、該プ
    ログラムの変更による変更影響部分のテストカバレジデ
    ータを無効化して修正以前に測定したテストカバレジデ
    ータの継承を行う継承化制御部と、該継承結果を表示す
    るモニタとを備えていることを特徴とするプログラムテ
    スト装置。
  2. (2)前記モニタでは、継承したテストカバレジのうち
    、プログラムの変更によって影響があるテストケースと
    影響がないテストケースを個々に表示することを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載のプログラムテスト装置
JP61237923A 1986-10-08 1986-10-08 プログラムテスト装置 Pending JPS6393053A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61237923A JPS6393053A (ja) 1986-10-08 1986-10-08 プログラムテスト装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61237923A JPS6393053A (ja) 1986-10-08 1986-10-08 プログラムテスト装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6393053A true JPS6393053A (ja) 1988-04-23

Family

ID=17022454

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61237923A Pending JPS6393053A (ja) 1986-10-08 1986-10-08 プログラムテスト装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6393053A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9329981B2 (en) 2013-07-25 2016-05-03 Fujitsu Limited Testing program, testing method, and testing device
JP2018097785A (ja) * 2016-12-16 2018-06-21 株式会社東芝 テスト支援装置、テスト支援プログラム

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9329981B2 (en) 2013-07-25 2016-05-03 Fujitsu Limited Testing program, testing method, and testing device
JP2018097785A (ja) * 2016-12-16 2018-06-21 株式会社東芝 テスト支援装置、テスト支援プログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20030074605A1 (en) Computer system and method for program execution monitoring in computer system
JPH0314033A (ja) マイクロプロセッサ比較チェック機能の検査方式
JPS6393053A (ja) プログラムテスト装置
JP2003330747A (ja) 半導体素子のテストプログラムエミュレータ及びエミュレーション法並びに運用法
JPS59111549A (ja) プログラムのテスト方法
JPH03118644A (ja) プログラム実行モニタ
JPS6393050A (ja) デ−タフロ−・トレ−ス装置
JPS62139050A (ja) 保守診断処理装置管理による命令試験方式
JPH03182941A (ja) プログラムテスト方式
JPS61150029A (ja) Crt画面プログラムの検査装置
JPS60262249A (ja) マイクロプロセツサ応用装置
JPH02227679A (ja) 基板の検査装置
JPH03294934A (ja) 高級プログラム言語用デバッガ
JP2795332B2 (ja) ループ処理誤り検出装置
JPS62260234A (ja) 故障診断装置
JPH05313941A (ja) コンピュータプログラムのデバッグ方法
CN111897779A (zh) 数据对比方法及装置
JPH04162149A (ja) 電子計算機
JPS59852B2 (ja) マイクロプロセツサ試験装置
JPH0573347A (ja) エミユレーシヨン装置
JPH05324756A (ja) 論理シミュレーション結果表示システム
JPH0415707A (ja) ロジックアナライズ機能を有するプログラマブルコントローラ
JPH05100898A (ja) プログラムデバツグ方式
JPH0520115A (ja) 情報処理装置の擬似障害試験方式
JPH07151817A (ja) 集積回路の電源電流自動検査装置