JPH06230074A - 回路の故障箇所検出装置 - Google Patents
回路の故障箇所検出装置Info
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- JPH06230074A JPH06230074A JP1557793A JP1557793A JPH06230074A JP H06230074 A JPH06230074 A JP H06230074A JP 1557793 A JP1557793 A JP 1557793A JP 1557793 A JP1557793 A JP 1557793A JP H06230074 A JPH06230074 A JP H06230074A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 35
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims abstract description 27
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims description 32
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims description 30
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 239000013598 vector Substances 0.000 abstract description 30
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 17
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
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- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＬＳＩデバイス上での故障箇所を特定し、回
路図上に表示することでＬＳＩデバイス上での故障箇所
を容易、且つ迅速に、しかも正確に特定可能とする。 【構成】 故障シミュレーション手段２で得た可観測リ
ストＤ4 とテスト手段で得たエラーリストＤ6 とに基づ
きエラー圧縮手段５にてエラーの圧縮処理を行い、圧縮
結果Ｄ7 をエラー表示手段６にて表示装置７に表示した
回路上にハイライト表示する。
路図上に表示することでＬＳＩデバイス上での故障箇所
を容易、且つ迅速に、しかも正確に特定可能とする。 【構成】 故障シミュレーション手段２で得た可観測リ
ストＤ4 とテスト手段で得たエラーリストＤ6 とに基づ
きエラー圧縮手段５にてエラーの圧縮処理を行い、圧縮
結果Ｄ7 をエラー表示手段６にて表示装置７に表示した
回路上にハイライト表示する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＬＳＩ回路等をシミュレ
ーションによってテストし、エラー箇所を検出し、表示
する装置に関する。
ーションによってテストし、エラー箇所を検出し、表示
する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図６は従来のＬＳＩデバイス等における
回路中の故障箇所を検出する装置を示すブロック図であ
り、図中１は論理シミュレーション手段、２は故障シミ
ュレーション手段、３はテストプログラム生成手段、４
はテスト手段を示している。テストプログラムを生成す
るデータを出力する入力テストベクタＤ1 と回路接続情
報Ｄ2 とに基づき論理シミュレーションを実行し、出力
ベクタＤ3 を出力する。
回路中の故障箇所を検出する装置を示すブロック図であ
り、図中１は論理シミュレーション手段、２は故障シミ
ュレーション手段、３はテストプログラム生成手段、４
はテスト手段を示している。テストプログラムを生成す
るデータを出力する入力テストベクタＤ1 と回路接続情
報Ｄ2 とに基づき論理シミュレーションを実行し、出力
ベクタＤ3 を出力する。
【０００３】また故障シミュレーション手段２は同じく
前記入力テストベクタＤ1 、回路接続情報Ｄ2 に基づい
て故障検出率を検証する故障シミュレーションを実行
し、検証結果である故障シミュレーション結果Ｄ8 を出
力する。テストプログラム生成手段３は前記入力テスト
ベクタＤ1 、出力ベクタＤ3 に基づいてテストプログラ
ムＤ5 を生成しする。テスト手段４は、前記テストプラ
グラムＤ5 に基づきＬＳＩデバイスに入力テストベクタ
Ｄ1 を入力したときの結果と、正常動作時の期待値であ
る出力ベクタＤ3 との比較結果をエラーリストＤ6 とし
て出力する。エラーが存在する場合は設計者が実際の回
路について顕微鏡下で不具合箇所（故障箇所）を探して
特定し、エラーリストＤ6 を解析することで故障箇所を
特定し、その原因を究明して回路構成，レイアウトパタ
ーンを変更する。
前記入力テストベクタＤ1 、回路接続情報Ｄ2 に基づい
て故障検出率を検証する故障シミュレーションを実行
し、検証結果である故障シミュレーション結果Ｄ8 を出
力する。テストプログラム生成手段３は前記入力テスト
ベクタＤ1 、出力ベクタＤ3 に基づいてテストプログラ
ムＤ5 を生成しする。テスト手段４は、前記テストプラ
グラムＤ5 に基づきＬＳＩデバイスに入力テストベクタ
Ｄ1 を入力したときの結果と、正常動作時の期待値であ
る出力ベクタＤ3 との比較結果をエラーリストＤ6 とし
て出力する。エラーが存在する場合は設計者が実際の回
路について顕微鏡下で不具合箇所（故障箇所）を探して
特定し、エラーリストＤ6 を解析することで故障箇所を
特定し、その原因を究明して回路構成，レイアウトパタ
ーンを変更する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで上述した如き
従来装置にあってはエラーリストＤ6 に基づきこれと対
応する位置を人手によってＬＳＩデバイス全体から探し
出すため、膨大な時間を必要とし、ＬＳＩデバイスが大
規模化すると故障箇所の特定が事実上出来なくなるとい
う問題があった。本発明はかかる事情に鑑みなされたも
のであって、その目的とするところはエラーリストから
冗長エラーを除去して故障箇所を絞り込んだ後、故障箇
所を表示装置の回路図上に表示可能とした回路の故障箇
所検出装置を提供するにある。
従来装置にあってはエラーリストＤ6 に基づきこれと対
応する位置を人手によってＬＳＩデバイス全体から探し
出すため、膨大な時間を必要とし、ＬＳＩデバイスが大
規模化すると故障箇所の特定が事実上出来なくなるとい
う問題があった。本発明はかかる事情に鑑みなされたも
のであって、その目的とするところはエラーリストから
冗長エラーを除去して故障箇所を絞り込んだ後、故障箇
所を表示装置の回路図上に表示可能とした回路の故障箇
所検出装置を提供するにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明に係る回路の故障
箇所検出装置は、診断対象回路における故障診断対象ポ
イント夫々に対する故障の観測が可能な条件を示す可観
測リストを出力する故障シミュレーション手段と、テス
トプログラムを用いて診断対象回路を診断し、エラーリ
ストを出力するテスト手段と、前記可観測リストとエラ
ーリストとに基づきエラーリストから冗長エラーを除去
し、故障箇所を絞り込んだエラー圧縮結果を出力するエ
ラー圧縮手段と、該圧縮結果を表示装置の診断対象回路
上にハイライト表示する手段とを具備することを特徴と
する。
箇所検出装置は、診断対象回路における故障診断対象ポ
イント夫々に対する故障の観測が可能な条件を示す可観
測リストを出力する故障シミュレーション手段と、テス
トプログラムを用いて診断対象回路を診断し、エラーリ
ストを出力するテスト手段と、前記可観測リストとエラ
ーリストとに基づきエラーリストから冗長エラーを除去
し、故障箇所を絞り込んだエラー圧縮結果を出力するエ
ラー圧縮手段と、該圧縮結果を表示装置の診断対象回路
上にハイライト表示する手段とを具備することを特徴と
する。
【０００６】
【作用】本発明にあっては、故障シミュレーション手段
にて各故障診断対象ポイントの観測可能な条件を求めて
故障の可観測リストを出力させ、またテスト手段にて各
故障診断対象ポイントのエラーリストを出力させ、エラ
ー圧縮手段にて前記可観測リスト，エラーリストに基づ
きエラー圧縮処理を行って冗長エラーを除去した圧縮結
果を得ることで、故障診断対象ポイント中からの真のエ
ラー箇所を容易，迅速にしかも正確に検出出来、更に表
示装置の回路図上にエラー箇所を表示させることで回路
図上での故障箇所の特定が自動的に行い得ることとな
る。
にて各故障診断対象ポイントの観測可能な条件を求めて
故障の可観測リストを出力させ、またテスト手段にて各
故障診断対象ポイントのエラーリストを出力させ、エラ
ー圧縮手段にて前記可観測リスト，エラーリストに基づ
きエラー圧縮処理を行って冗長エラーを除去した圧縮結
果を得ることで、故障診断対象ポイント中からの真のエ
ラー箇所を容易，迅速にしかも正確に検出出来、更に表
示装置の回路図上にエラー箇所を表示させることで回路
図上での故障箇所の特定が自動的に行い得ることとな
る。
【０００７】
【実施例】以下本発明をその実施例を示す図面に基づき
具体的に説明する。図１は本発明に係るＬＳＩデバイス
の故障箇所検出装置を示すブロック図であり、図中１は
論理シミュレーション手段、２は故障シミュレーション
手段、３はテストプログラム生成手段、４はテスト手段
を示している。
具体的に説明する。図１は本発明に係るＬＳＩデバイス
の故障箇所検出装置を示すブロック図であり、図中１は
論理シミュレーション手段、２は故障シミュレーション
手段、３はテストプログラム生成手段、４はテスト手段
を示している。
【０００８】論理シミュレーション手段１は入力テスト
ベクタＤ1 、回路接続情報Ｄ2 に基づき論理シミュレー
ションを実行し、出力ベクタＤ3 を出力する。また故障
シミュレーション手段２は入力テストベクタＤ1 、回路
接続情報２に基づき故障シミュレーションを実行し、可
観測リストＤ4 を出力する。
ベクタＤ1 、回路接続情報Ｄ2 に基づき論理シミュレー
ションを実行し、出力ベクタＤ3 を出力する。また故障
シミュレーション手段２は入力テストベクタＤ1 、回路
接続情報２に基づき故障シミュレーションを実行し、可
観測リストＤ4 を出力する。
【０００９】テストプログラム生成手段３は前記入力テ
ストベクタＤ1 ，出力ベクタＤ3 に基づいてテストプロ
グラムＤ5 を生成し、これをテスト手段４へ出力する。
テスト手段４はテストプログラムＤ5 にてＬＳＩデバイ
スのテストを実行し、エラーリストＤ6 をエラー圧縮手
段５へ出力する。
ストベクタＤ1 ，出力ベクタＤ3 に基づいてテストプロ
グラムＤ5 を生成し、これをテスト手段４へ出力する。
テスト手段４はテストプログラムＤ5 にてＬＳＩデバイ
スのテストを実行し、エラーリストＤ6 をエラー圧縮手
段５へ出力する。
【００１０】エラー圧縮手段５はエラーリストＤ6 ，可
観測リストＤ4 に基づきエラーデータを圧縮し、圧縮結
果をエラー表示手段６へ出力する。エラー表示手段６は
回路接続情報Ｄ2 ，圧縮結果Ｄ7 に基づき表示装置７の
回路図上にエラー箇所をハイライト表示する。
観測リストＤ4 に基づきエラーデータを圧縮し、圧縮結
果をエラー表示手段６へ出力する。エラー表示手段６は
回路接続情報Ｄ2 ，圧縮結果Ｄ7 に基づき表示装置７の
回路図上にエラー箇所をハイライト表示する。
【００１１】次に図２に示す如きＬＳＩデバイスを故障
診断対象とする場合について具体的に説明する。図２は
故障検出対象とするＬＳＩデバイスを示す模式図であ
り、ＩＮ1 〜ＩＮ5 は入力ピン、ＯＵＴ1 〜ＯＵＴ5 は
出力ピン、Ａ〜Ｊは故障検出対象ポイントを示してい
る。図２に示す如きＬＳＩデバイスを診断対象とする場
合、予め用意した入力テストベクタＤ1 と回路接続情報
Ｄ2 とに基づき論理シミュレーション手段１にて各入力
ピンＩＮ1 〜ＩＮ5 に入力テストベクタＤ1 を入力し、
そのときの論理動作の検証を行い、そのときの出力ピン
ＯＵＴ1 〜ＯＵＴ5 の出力結果である出力ベクタＤ3 を
得る。
診断対象とする場合について具体的に説明する。図２は
故障検出対象とするＬＳＩデバイスを示す模式図であ
り、ＩＮ1 〜ＩＮ5 は入力ピン、ＯＵＴ1 〜ＯＵＴ5 は
出力ピン、Ａ〜Ｊは故障検出対象ポイントを示してい
る。図２に示す如きＬＳＩデバイスを診断対象とする場
合、予め用意した入力テストベクタＤ1 と回路接続情報
Ｄ2 とに基づき論理シミュレーション手段１にて各入力
ピンＩＮ1 〜ＩＮ5 に入力テストベクタＤ1 を入力し、
そのときの論理動作の検証を行い、そのときの出力ピン
ＯＵＴ1 〜ＯＵＴ5 の出力結果である出力ベクタＤ3 を
得る。
【００１２】次に故障シミュレーション手段２は図２に
示すＬＳＩデバイスの各入力ピンＩＮ1 〜ＩＮ5 に入力
テストベクタＤ1 を与え、故障シミュレーションを実行
し、入力テストベクタＤ1 と回路接続情報Ｄ2 との故障
検出率を検証すると共に、図３に示す如き故障の可観測
リストＤ4 を出力する。
示すＬＳＩデバイスの各入力ピンＩＮ1 〜ＩＮ5 に入力
テストベクタＤ1 を与え、故障シミュレーションを実行
し、入力テストベクタＤ1 と回路接続情報Ｄ2 との故障
検出率を検証すると共に、図３に示す如き故障の可観測
リストＤ4 を出力する。
【００１３】図３は可観測リストＤ4 の説明図であり、
縦方向に出力ピンＯＵＴ1 〜ＯＵＴ5 を、また横方向に
出力ベクタＤ3 の周期（１，２，３…）をとって示して
ある。そして縦方向にとった出力ピンＯＵＴ1 〜ＯＵＴ
5 と出力ベクタＤ3 の周期（１，２，３…）との対応す
る箇所には、その条件で観測可能な故障診断ポイントＡ
〜Ｊを示してある。例えば出力ピンＯＵＴ1 であって出
力ベクタＤ3 の１周期目では故障診断対象ポイントＡ
の、また出力ピンＯＵＴ1 であって２周期目では故障診
断対象ポイントＡ，Ｂの、更に出力ピンＯＵＴ4 であっ
て、１，２周期目には故障診断ポイントＧの診断が可能
であることを示している。
縦方向に出力ピンＯＵＴ1 〜ＯＵＴ5 を、また横方向に
出力ベクタＤ3 の周期（１，２，３…）をとって示して
ある。そして縦方向にとった出力ピンＯＵＴ1 〜ＯＵＴ
5 と出力ベクタＤ3 の周期（１，２，３…）との対応す
る箇所には、その条件で観測可能な故障診断ポイントＡ
〜Ｊを示してある。例えば出力ピンＯＵＴ1 であって出
力ベクタＤ3 の１周期目では故障診断対象ポイントＡ
の、また出力ピンＯＵＴ1 であって２周期目では故障診
断対象ポイントＡ，Ｂの、更に出力ピンＯＵＴ4 であっ
て、１，２周期目には故障診断ポイントＧの診断が可能
であることを示している。
【００１４】次にテストプログラム生成手段３で入力テ
ストベクタＤ1 ，出力ベクタＤ3 に基づきテスト手段４
に入力するテストプログラムＤ5 を生成する。テストプ
ログラムＤ5 にはテスト手段４で使用する入力データと
期待値データとが含まれる。次にＬＳＩテスト手段４に
よりテストプログラムＤ5 を用いて図２に示すＬＳＩデ
バイスのテストを行う。テスト手段４では実際のＬＳＩ
デバイスの動作が正常か否かを出力ベクタＤ3 の期待値
と、ＬＳＩデバイスの出力ピンＯＵＴ1 〜ＯＵＴ5 の出
力とを比較することで検証し、エラーリストＤ6 を出力
する。
ストベクタＤ1 ，出力ベクタＤ3 に基づきテスト手段４
に入力するテストプログラムＤ5 を生成する。テストプ
ログラムＤ5 にはテスト手段４で使用する入力データと
期待値データとが含まれる。次にＬＳＩテスト手段４に
よりテストプログラムＤ5 を用いて図２に示すＬＳＩデ
バイスのテストを行う。テスト手段４では実際のＬＳＩ
デバイスの動作が正常か否かを出力ベクタＤ3 の期待値
と、ＬＳＩデバイスの出力ピンＯＵＴ1 〜ＯＵＴ5 の出
力とを比較することで検証し、エラーリストＤ6 を出力
する。
【００１５】エラーリストＤ6 の一例を図４に示す。図
４はエラーリストＤ6 の説明図であり、縦方向に出力ピ
ン名を、また横方向に出力ベクタＤ3 の周期（１，２
…）をとって示してある。各出力ピン名と出力ベクタＤ
3 の周期（１，２…）との対応する位置にはテスト手段
４からの出力と期待値との比較結果、即ち両者が一致す
る場合には「０」、不一致の場合には「１」を表示して
ある。例えば、出力ピンＯＵＴ1 では１周期目と２周期
目で期待値と不一致のため「１」、４周期目では期待値
と一致しているため「０」としている。なお、出力ピン
ＯＵＴ1 で出力ベクタＤ3 の３周期目、出力ピンＯＵＴ
3 で１周期目、出力ピンＯＵＴ3 で２周期目、出力ピン
ＯＵＴ5 で２周期目にはいずれも故障検出できる故障検
出対象ポイントＡ〜Ｊが存在しないため「０」とする。
４はエラーリストＤ6 の説明図であり、縦方向に出力ピ
ン名を、また横方向に出力ベクタＤ3 の周期（１，２
…）をとって示してある。各出力ピン名と出力ベクタＤ
3 の周期（１，２…）との対応する位置にはテスト手段
４からの出力と期待値との比較結果、即ち両者が一致す
る場合には「０」、不一致の場合には「１」を表示して
ある。例えば、出力ピンＯＵＴ1 では１周期目と２周期
目で期待値と不一致のため「１」、４周期目では期待値
と一致しているため「０」としている。なお、出力ピン
ＯＵＴ1 で出力ベクタＤ3 の３周期目、出力ピンＯＵＴ
3 で１周期目、出力ピンＯＵＴ3 で２周期目、出力ピン
ＯＵＴ5 で２周期目にはいずれも故障検出できる故障検
出対象ポイントＡ〜Ｊが存在しないため「０」とする。
【００１６】次にエラー圧縮手段６はエラーリストＤ6
と可観測リストＤ4 とに基づいてエラーの圧縮処理を行
い、エラーリストＤ6 の中の冗長エラーを除くと共に、
可観測リストＤ4 と照合し、図５に示す如き故障箇所を
特定した圧縮リストを作成する。図５はエラー圧縮手段
から出力されるエラー圧縮結果を示す説明図であり、各
故障診断ポイントＡ〜Ｊについてそのエラー圧縮処理の
内容と、判断結果である「正常」，「故障」の如何を表
示してある。
と可観測リストＤ4 とに基づいてエラーの圧縮処理を行
い、エラーリストＤ6 の中の冗長エラーを除くと共に、
可観測リストＤ4 と照合し、図５に示す如き故障箇所を
特定した圧縮リストを作成する。図５はエラー圧縮手段
から出力されるエラー圧縮結果を示す説明図であり、各
故障診断ポイントＡ〜Ｊについてそのエラー圧縮処理の
内容と、判断結果である「正常」，「故障」の如何を表
示してある。
【００１７】各故障診断ポイントＡ〜Ｊに対してのエラ
ー圧縮処理は具体的には次のごとくに行う。可観測リス
トＤ4 中の該当する出力ピン、該当する周期を抽出し、
図４に示すエラーリストＤ6 に「０」，「１」で表示し
てある比較結果の論理積をとる。例えば、故障診断ポイ
ントＡに関しては、図３に示す可観測リストＤ4 中の出
力ピンＯＵＴ1 ，１周期目出力ピンＯＵＴ1 ，２周期目
に表示されているが図４に示すエラーリストＤ6 の該当
箇所にはいずれも「１」となっているから、その論理積
をとると、図５に示す圧縮結果Ｄ7 に示す圧縮処理
「１」ａｎｄ「１」＝１から演算結果「１」を得、判定
結果は故障となる。
ー圧縮処理は具体的には次のごとくに行う。可観測リス
トＤ4 中の該当する出力ピン、該当する周期を抽出し、
図４に示すエラーリストＤ6 に「０」，「１」で表示し
てある比較結果の論理積をとる。例えば、故障診断ポイ
ントＡに関しては、図３に示す可観測リストＤ4 中の出
力ピンＯＵＴ1 ，１周期目出力ピンＯＵＴ1 ，２周期目
に表示されているが図４に示すエラーリストＤ6 の該当
箇所にはいずれも「１」となっているから、その論理積
をとると、図５に示す圧縮結果Ｄ7 に示す圧縮処理
「１」ａｎｄ「１」＝１から演算結果「１」を得、判定
結果は故障となる。
【００１８】また故障診断ポイントＢに関しては可観測
リストＤ4 における出力ピンＯＵＴ1 で２，４周期目に
表れているがエラーリストＤ6 における該当箇所には
「１」，「０」となっているからその論理積をとりる
と、図５の圧縮結果Ｄ7 に示す圧縮処理「１」ａｎｄ
「０」＝０から演算結果「０」を得、判定は正常とな
る。以上の如き圧縮処理により図４に示すエラーリスト
Ｄ6 において出力ピンＯＵＴ1 の２周期目で故障診断対
象ポイントＢが故障であるとした冗長エラーが取り除か
れる。以下同様にして、全ての故障診断ポイントＡ〜Ｊ
に対し同様の処理を行い圧縮結果Ｄ7 を得る。
リストＤ4 における出力ピンＯＵＴ1 で２，４周期目に
表れているがエラーリストＤ6 における該当箇所には
「１」，「０」となっているからその論理積をとりる
と、図５の圧縮結果Ｄ7 に示す圧縮処理「１」ａｎｄ
「０」＝０から演算結果「０」を得、判定は正常とな
る。以上の如き圧縮処理により図４に示すエラーリスト
Ｄ6 において出力ピンＯＵＴ1 の２周期目で故障診断対
象ポイントＢが故障であるとした冗長エラーが取り除か
れる。以下同様にして、全ての故障診断ポイントＡ〜Ｊ
に対し同様の処理を行い圧縮結果Ｄ7 を得る。
【００１９】次にエラー表示手段７で表示プログラムを
用いて圧縮結果Ｄ7 により故障と判定された故障診断対
象ポイントを抽出し、表示装置に表示されている回路図
上に故障と診断された故障診断対象ポイントをハイライ
ト表示する。
用いて圧縮結果Ｄ7 により故障と判定された故障診断対
象ポイントを抽出し、表示装置に表示されている回路図
上に故障と診断された故障診断対象ポイントをハイライ
ト表示する。
【００２０】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、故障シミ
ュレーション手段が出力される可観測リストとテスト手
段から出力されるエラーリストとに基づきエラー圧縮手
段にてエラーの圧縮処理をすることとしたから、冗長エ
ラーが除去され、しかもこれを表示装置に表示された診
断対象回路図上に故障箇所をハイライト表示することで
故障箇所を迅速に、しかも正確に特定し、一見して回路
図上での故障箇所を確認できる等本発明は優れた効果を
奏するものである。
ュレーション手段が出力される可観測リストとテスト手
段から出力されるエラーリストとに基づきエラー圧縮手
段にてエラーの圧縮処理をすることとしたから、冗長エ
ラーが除去され、しかもこれを表示装置に表示された診
断対象回路図上に故障箇所をハイライト表示することで
故障箇所を迅速に、しかも正確に特定し、一見して回路
図上での故障箇所を確認できる等本発明は優れた効果を
奏するものである。
【図１】本発明に係る故障箇所検出装置を示すブロック
図である。
図である。
【図２】本発明における故障診断対象であるＬＳＩデバ
イスの一例を示す模式図である。
イスの一例を示す模式図である。
【図３】本発明装置における故障シミュレーション手段
から出力される可観測リストの説明図である。
から出力される可観測リストの説明図である。
【図４】本発明におけるテスト手段から出力されるエラ
ーリストの説明図である。
ーリストの説明図である。
【図５】本発明におけるエラー圧縮手段から出力される
圧縮結果を示す説明図である。
圧縮結果を示す説明図である。
【図６】従来の故障箇所検出装置を示すブロック図であ
る。
る。
１ 論理シミュレーション手段 ２ 故障シミュレーション手段 ３ テストプログラム生成手段 ４ テスト手段 ５ エラー圧縮手段 ６ エラー表示手段 ７ 表示装置
Claims (1)
- 【請求項１】 診断対象回路における故障診断対象ポイ
ント夫々に対する故障の観測が可能な条件を示す可観測
リストを出力する故障シミュレーション手段と、テスト
プログラムを用いて診断対象回路を診断し、エラーリス
トを出力するテスト手段と、前記可観測リストとエラー
リストとに基づきエラーリストから冗長エラーを除去
し、故障箇所を絞り込んだエラー圧縮結果を出力するエ
ラー圧縮手段と、該圧縮結果を表示装置の診断対象回路
上にハイライト表示する手段とを具備することを特徴と
する回路の故障箇所検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1557793A JPH06230074A (ja) | 1993-02-02 | 1993-02-02 | 回路の故障箇所検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1557793A JPH06230074A (ja) | 1993-02-02 | 1993-02-02 | 回路の故障箇所検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06230074A true JPH06230074A (ja) | 1994-08-19 |
Family
ID=11892590
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1557793A Pending JPH06230074A (ja) | 1993-02-02 | 1993-02-02 | 回路の故障箇所検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06230074A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4022293A1 (de) * | 1989-07-14 | 1991-01-24 | Ricoh Kk | Thermodrucker |
-
1993
- 1993-02-02 JP JP1557793A patent/JPH06230074A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4022293A1 (de) * | 1989-07-14 | 1991-01-24 | Ricoh Kk | Thermodrucker |
| DE4022293C2 (de) * | 1989-07-14 | 1998-06-18 | Ricoh Kk | Thermodrucker |
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