JPH02124477A - 故障解析装置 - Google Patents

故障解析装置

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JPH02124477A
JPH02124477A JP63277774A JP27777488A JPH02124477A JP H02124477 A JPH02124477 A JP H02124477A JP 63277774 A JP63277774 A JP 63277774A JP 27777488 A JP27777488 A JP 27777488A JP H02124477 A JPH02124477 A JP H02124477A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
board
information
fault
failure analysis
failure
Prior art date
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Pending
Application number
JP63277774A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuhiro Kitsuta
橘田 光弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP63277774A priority Critical patent/JPH02124477A/ja
Publication of JPH02124477A publication Critical patent/JPH02124477A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ この発明は、部品の搭載された基板のファンクションテ
ストを行い、このファンクションテストの結果フェイル
した場合に、そのフェイル情報。
基板の回路接続情報及び部品情報により故障解析。
指摘を行う故障解析装置に関するものである。
[従来の技術] 従来、部品が搭載されている基板のファンクションテス
トでフェイルした時の故障解析は、基板のファンクショ
ンテストのためのテストパターンの作成時に作られる故
障辞書リストの基板の論理図面、フェイルした時の人カ
バターン、この入カバターンを印加した時の期待値等を
もとにして、基板上の何処に故障が存在するかを人手に
よって解析を行っていた。また、最近の回路規模の大き
な基板では、故障辞書を作成することができず、そのた
め故障辞書なしで解析を行っていた。
このことをざらに詳細に説明すると、部品の搭載されて
いる基板のファンクションテストは、基板の外部人力ビ
ンより人カバターン系列を印加し、その結果を基板の外
部出力ビンより観測して期待値と比較することによって
行う。この時、実際のテスト結果と期待値が一致しない
場合は基板上に故障が存在し、基板上の何処に故障が存
在するかどうかの解析、指摘を行い、これにより故障部
品の交換等の処置を行う必要が生じる。
このような故障の解析、指摘のために、ファンクション
テストを行うための入カバターンの各パターンに対して
、そのパターンで検出することのできる故障箇所を示す
故障指摘リストを参照し、その池基板の論理図面等を参
照して故障解析、指摘を行っていた。基板のファンクシ
ョンテストのパターン系列は大きく、また最近の大規模
な基板では計算機時間、故障辞書データ量が膨大なため
、故障指摘リストを作成することが困難であり、そのた
め故障指摘リストなしで故障解析を行わなければならず
、容易には故障箇所の指摘を行うことができなかった。
[発明が解決しようとする課題] 上記のような従来の故障解析装置において、基板のファ
ンクションテストでフェイルした時、の故障解析は以上
述べたような手法で行われているために、容易に故障箇
所の指摘を行うことができず、そのため故障解析、故P
Itm所の指摘を行うために多大の時閉、労力がかかる
などの問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、基板のファンクシコンテストでフェイルした
時のフェイルが観測された基板の出力ピンの位置、基板
の回路接続情報、基板に搭載されている部品情報をもと
にして自動的に故障解析を行い、基板上の故障の可能性
のある箇所を指ti、  表示することができる故障解
析装置を得ることを目的とする。
[課題を解決するための手段] この発明に係る故障解析装置は、故障解析を行うのに必
要な情報を保持する記憶装置と、この記憶装置に保持さ
れた情報に基づきフェイルがなされた時、故障解析を行
う故障解析プログラムを有する中央処理装置と、この中
央処理装置による故障解析結果を表示する表示装置とを
備えたものである。
[作用] この発明における故障解析装置は、ファンクションテス
トの結果フェイルした場合に、そのフェイル情報と記憶
装置に保持された基板の回路接続情報9部品情報に基づ
いて、中央処理装置上の故障解析プログラムを実行し、
これによって故障の可能性のある部品を表示装置上に表
示する。
[実施例] 第1図はこの発明の実施例である故障解析装置の構成を
示すブロック図である。図において、lは故障解析結果
を表示するためのCRT(F”極線管〉等の表示装置、
2は故障解析を指示するためのコンソール、3は中央処
理装置(CP U)、4は必要なリストを出力するため
のプリンタ、5は故障解析を行うために必要な情報が保
持される、例えは81気デイスク等の記憶装置、6はホ
スト計算機、基板テスタとを接続するインタフェース部
である。
第2図は故障解析のために使われる基板の回路接続情報
の一例を示すフォーマット図である。図において、7は
信号名、8は部品の基板上での部品識別名、9はその部
品の部品タイプ名、10は部品ピン番号である。
第3図は基板に搭載されている部品情報の一例を示すフ
ォーマット図であり、これは部品の人力ピンと出力ピン
との関係を記述するものである。
図において、11は部品タイプ名、12は部品ピン番号
、13は入出力部品識別名である。
第4図は第1図の故障解析装置において、故障解析結果
の表示装置上での一表示例を示す図である0図において
、14は基板全体、15.16゜17は故障解析により
故障の可能性がある部品であり、他の部品とは異なる色
で表示される。18は部品15〜17に対応する部品識
別名と故障の影響がある部品ピン番号である。
次に、上記この発明の実施例である故障解析装置の動作
について説明する。この発明による故障解析装置におい
て、基板のファンクションテストを行った結果フェイル
した場合には、第1図に示す記憶装置5に記憶された、
例えばフェイルした時の情報であるフェイルが観測され
た基板の出力ピン名、及び第2図に示す基板の回路接続
情報、第3図に示す部品の人力ビンと出力ピンとの関係
情報をもとに、第1図に示す中央処理装置3は故障解析
プログラムを実行する。故障解析プログラムはフェイル
の観測された基板の出力ピン名より、第2図に示す基板
の回路接続情報と第3図に示す部品の人力ピンと出力ビ
ンとの関係情報をもとにして、基板の回路上を自動的に
バックトレースし、フェイルがu ?l!IIされた基
板の出力ピンに影響のある回路を検索し、故障の可能性
がある回路を指摘し、これを第1図に示す表示装置lに
表示する。
この表示長Jlの表示結果は、第4図に示すように基板
全体14に対する模式的な図で表示され、故障の可能性
がある部品15〜17が他の部品と異なる色で表示され
、さらにその部品識別名と故障の影響がある部品ビン番
号1日も同時に表示されろ。
[発明の効果コ 以上のように、この発明の故障解析装置によれは、故障
解析を行うのに必要な情報を保持する記t!装置と、こ
の記t!装置に保持された情報に基づきフェイルがなさ
れた時、故障解析を行う故障解析プログラムを有する中
央処理装置と、この中央処理装置による故障解析結果を
表示する表示装置とを備えた構成としたので、故障解析
のための時間、労力を大幅に軽減することができ、実際
の故障箇所を容易に、かつ自動的に指摘することができ
るという優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例である故障解析装置の構成を
示すブロック図、第2図は故障解析のために使われる基
板の回路接続情報の一例を示すフォーマット図、第3図
は基板に搭載されている部品情報の一例を示すフォーマ
ット図、第4図は第1図の故障解析装置において、故障
解析結果の表示装置上での一表示例を示す図である。 図において、1・・・表示装置(CRT)、2・・・コ
ンソール、3・・・中央処理装置(CPU)、4・・・
プリンタ、5・・・記憶装置(磁気ディスク)、6・・
・インタフェース部、7・・・信号名、8・・・部品識
別名、9・・・部品タイプ名、1o・・・部品ビン番号
、11・・・部品タイプ名、12・・・部品ビン番号、
13・・・人出力の部品識別名、14・・・基板全体、
15〜17・・・故障の可能性がある部品、18・・・
部品識別名と故障の影響がある部品ビン番号 である。 なお、図中、同一符号は同一 又は相当部分を示す。 代 理 人 大 岩 増 雄 携 図 表示長x(CRT) コンソー)し 中犬怨理艮、I(CPU) プリンタ 方己・慮’AM (手益、気−テ゛イスク)イン7フエ
ース郭

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  基板レベルのファンクションテストを行い、このファ
    ンクションテストの結果フェイルした場合に、そのフェ
    イル情報,基板の回路接続情報及び基板に搭載されてい
    る部品情報をもとにして故障箇所の指摘を行う故障解析
    装置において、故障解析を行うのに必要な情報を保持す
    る記憶装置と、この記憶装置に保持された情報に基づき
    上記フェイルがなされた時の故障解析,指摘を行うプロ
    グラムを有する中央処理装置と、この中央処理装置によ
    る故障解析,指摘結果を表示する表示装置を備えたこと
    を特徴とする故障解析装置。
JP63277774A 1988-11-02 1988-11-02 故障解析装置 Pending JPH02124477A (ja)

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JP63277774A JPH02124477A (ja) 1988-11-02 1988-11-02 故障解析装置

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