JPH02124477A - 故障解析装置 - Google Patents
故障解析装置Info
- Publication number
- JPH02124477A JPH02124477A JP63277774A JP27777488A JPH02124477A JP H02124477 A JPH02124477 A JP H02124477A JP 63277774 A JP63277774 A JP 63277774A JP 27777488 A JP27777488 A JP 27777488A JP H02124477 A JPH02124477 A JP H02124477A
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- fault
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Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 abstract description 12
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 abstract description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
この発明は、部品の搭載された基板のファンクションテ
ストを行い、このファンクションテストの結果フェイル
した場合に、そのフェイル情報。
ストを行い、このファンクションテストの結果フェイル
した場合に、そのフェイル情報。
基板の回路接続情報及び部品情報により故障解析。
指摘を行う故障解析装置に関するものである。
[従来の技術]
従来、部品が搭載されている基板のファンクションテス
トでフェイルした時の故障解析は、基板のファンクショ
ンテストのためのテストパターンの作成時に作られる故
障辞書リストの基板の論理図面、フェイルした時の人カ
バターン、この入カバターンを印加した時の期待値等を
もとにして、基板上の何処に故障が存在するかを人手に
よって解析を行っていた。また、最近の回路規模の大き
な基板では、故障辞書を作成することができず、そのた
め故障辞書なしで解析を行っていた。
トでフェイルした時の故障解析は、基板のファンクショ
ンテストのためのテストパターンの作成時に作られる故
障辞書リストの基板の論理図面、フェイルした時の人カ
バターン、この入カバターンを印加した時の期待値等を
もとにして、基板上の何処に故障が存在するかを人手に
よって解析を行っていた。また、最近の回路規模の大き
な基板では、故障辞書を作成することができず、そのた
め故障辞書なしで解析を行っていた。
このことをざらに詳細に説明すると、部品の搭載されて
いる基板のファンクションテストは、基板の外部人力ビ
ンより人カバターン系列を印加し、その結果を基板の外
部出力ビンより観測して期待値と比較することによって
行う。この時、実際のテスト結果と期待値が一致しない
場合は基板上に故障が存在し、基板上の何処に故障が存
在するかどうかの解析、指摘を行い、これにより故障部
品の交換等の処置を行う必要が生じる。
いる基板のファンクションテストは、基板の外部人力ビ
ンより人カバターン系列を印加し、その結果を基板の外
部出力ビンより観測して期待値と比較することによって
行う。この時、実際のテスト結果と期待値が一致しない
場合は基板上に故障が存在し、基板上の何処に故障が存
在するかどうかの解析、指摘を行い、これにより故障部
品の交換等の処置を行う必要が生じる。
このような故障の解析、指摘のために、ファンクション
テストを行うための入カバターンの各パターンに対して
、そのパターンで検出することのできる故障箇所を示す
故障指摘リストを参照し、その池基板の論理図面等を参
照して故障解析、指摘を行っていた。基板のファンクシ
ョンテストのパターン系列は大きく、また最近の大規模
な基板では計算機時間、故障辞書データ量が膨大なため
、故障指摘リストを作成することが困難であり、そのた
め故障指摘リストなしで故障解析を行わなければならず
、容易には故障箇所の指摘を行うことができなかった。
テストを行うための入カバターンの各パターンに対して
、そのパターンで検出することのできる故障箇所を示す
故障指摘リストを参照し、その池基板の論理図面等を参
照して故障解析、指摘を行っていた。基板のファンクシ
ョンテストのパターン系列は大きく、また最近の大規模
な基板では計算機時間、故障辞書データ量が膨大なため
、故障指摘リストを作成することが困難であり、そのた
め故障指摘リストなしで故障解析を行わなければならず
、容易には故障箇所の指摘を行うことができなかった。
[発明が解決しようとする課題]
上記のような従来の故障解析装置において、基板のファ
ンクションテストでフェイルした時、の故障解析は以上
述べたような手法で行われているために、容易に故障箇
所の指摘を行うことができず、そのため故障解析、故P
Itm所の指摘を行うために多大の時閉、労力がかかる
などの問題点があった。
ンクションテストでフェイルした時、の故障解析は以上
述べたような手法で行われているために、容易に故障箇
所の指摘を行うことができず、そのため故障解析、故P
Itm所の指摘を行うために多大の時閉、労力がかかる
などの問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、基板のファンクシコンテストでフェイルした
時のフェイルが観測された基板の出力ピンの位置、基板
の回路接続情報、基板に搭載されている部品情報をもと
にして自動的に故障解析を行い、基板上の故障の可能性
のある箇所を指ti、 表示することができる故障解
析装置を得ることを目的とする。
たもので、基板のファンクシコンテストでフェイルした
時のフェイルが観測された基板の出力ピンの位置、基板
の回路接続情報、基板に搭載されている部品情報をもと
にして自動的に故障解析を行い、基板上の故障の可能性
のある箇所を指ti、 表示することができる故障解
析装置を得ることを目的とする。
[課題を解決するための手段]
この発明に係る故障解析装置は、故障解析を行うのに必
要な情報を保持する記憶装置と、この記憶装置に保持さ
れた情報に基づきフェイルがなされた時、故障解析を行
う故障解析プログラムを有する中央処理装置と、この中
央処理装置による故障解析結果を表示する表示装置とを
備えたものである。
要な情報を保持する記憶装置と、この記憶装置に保持さ
れた情報に基づきフェイルがなされた時、故障解析を行
う故障解析プログラムを有する中央処理装置と、この中
央処理装置による故障解析結果を表示する表示装置とを
備えたものである。
[作用]
この発明における故障解析装置は、ファンクションテス
トの結果フェイルした場合に、そのフェイル情報と記憶
装置に保持された基板の回路接続情報9部品情報に基づ
いて、中央処理装置上の故障解析プログラムを実行し、
これによって故障の可能性のある部品を表示装置上に表
示する。
トの結果フェイルした場合に、そのフェイル情報と記憶
装置に保持された基板の回路接続情報9部品情報に基づ
いて、中央処理装置上の故障解析プログラムを実行し、
これによって故障の可能性のある部品を表示装置上に表
示する。
[実施例]
第1図はこの発明の実施例である故障解析装置の構成を
示すブロック図である。図において、lは故障解析結果
を表示するためのCRT(F”極線管〉等の表示装置、
2は故障解析を指示するためのコンソール、3は中央処
理装置(CP U)、4は必要なリストを出力するため
のプリンタ、5は故障解析を行うために必要な情報が保
持される、例えは81気デイスク等の記憶装置、6はホ
スト計算機、基板テスタとを接続するインタフェース部
である。
示すブロック図である。図において、lは故障解析結果
を表示するためのCRT(F”極線管〉等の表示装置、
2は故障解析を指示するためのコンソール、3は中央処
理装置(CP U)、4は必要なリストを出力するため
のプリンタ、5は故障解析を行うために必要な情報が保
持される、例えは81気デイスク等の記憶装置、6はホ
スト計算機、基板テスタとを接続するインタフェース部
である。
第2図は故障解析のために使われる基板の回路接続情報
の一例を示すフォーマット図である。図において、7は
信号名、8は部品の基板上での部品識別名、9はその部
品の部品タイプ名、10は部品ピン番号である。
の一例を示すフォーマット図である。図において、7は
信号名、8は部品の基板上での部品識別名、9はその部
品の部品タイプ名、10は部品ピン番号である。
第3図は基板に搭載されている部品情報の一例を示すフ
ォーマット図であり、これは部品の人力ピンと出力ピン
との関係を記述するものである。
ォーマット図であり、これは部品の人力ピンと出力ピン
との関係を記述するものである。
図において、11は部品タイプ名、12は部品ピン番号
、13は入出力部品識別名である。
、13は入出力部品識別名である。
第4図は第1図の故障解析装置において、故障解析結果
の表示装置上での一表示例を示す図である0図において
、14は基板全体、15.16゜17は故障解析により
故障の可能性がある部品であり、他の部品とは異なる色
で表示される。18は部品15〜17に対応する部品識
別名と故障の影響がある部品ピン番号である。
の表示装置上での一表示例を示す図である0図において
、14は基板全体、15.16゜17は故障解析により
故障の可能性がある部品であり、他の部品とは異なる色
で表示される。18は部品15〜17に対応する部品識
別名と故障の影響がある部品ピン番号である。
次に、上記この発明の実施例である故障解析装置の動作
について説明する。この発明による故障解析装置におい
て、基板のファンクションテストを行った結果フェイル
した場合には、第1図に示す記憶装置5に記憶された、
例えばフェイルした時の情報であるフェイルが観測され
た基板の出力ピン名、及び第2図に示す基板の回路接続
情報、第3図に示す部品の人力ビンと出力ピンとの関係
情報をもとに、第1図に示す中央処理装置3は故障解析
プログラムを実行する。故障解析プログラムはフェイル
の観測された基板の出力ピン名より、第2図に示す基板
の回路接続情報と第3図に示す部品の人力ピンと出力ビ
ンとの関係情報をもとにして、基板の回路上を自動的に
バックトレースし、フェイルがu ?l!IIされた基
板の出力ピンに影響のある回路を検索し、故障の可能性
がある回路を指摘し、これを第1図に示す表示装置lに
表示する。
について説明する。この発明による故障解析装置におい
て、基板のファンクションテストを行った結果フェイル
した場合には、第1図に示す記憶装置5に記憶された、
例えばフェイルした時の情報であるフェイルが観測され
た基板の出力ピン名、及び第2図に示す基板の回路接続
情報、第3図に示す部品の人力ビンと出力ピンとの関係
情報をもとに、第1図に示す中央処理装置3は故障解析
プログラムを実行する。故障解析プログラムはフェイル
の観測された基板の出力ピン名より、第2図に示す基板
の回路接続情報と第3図に示す部品の人力ピンと出力ビ
ンとの関係情報をもとにして、基板の回路上を自動的に
バックトレースし、フェイルがu ?l!IIされた基
板の出力ピンに影響のある回路を検索し、故障の可能性
がある回路を指摘し、これを第1図に示す表示装置lに
表示する。
この表示長Jlの表示結果は、第4図に示すように基板
全体14に対する模式的な図で表示され、故障の可能性
がある部品15〜17が他の部品と異なる色で表示され
、さらにその部品識別名と故障の影響がある部品ビン番
号1日も同時に表示されろ。
全体14に対する模式的な図で表示され、故障の可能性
がある部品15〜17が他の部品と異なる色で表示され
、さらにその部品識別名と故障の影響がある部品ビン番
号1日も同時に表示されろ。
[発明の効果コ
以上のように、この発明の故障解析装置によれは、故障
解析を行うのに必要な情報を保持する記t!装置と、こ
の記t!装置に保持された情報に基づきフェイルがなさ
れた時、故障解析を行う故障解析プログラムを有する中
央処理装置と、この中央処理装置による故障解析結果を
表示する表示装置とを備えた構成としたので、故障解析
のための時間、労力を大幅に軽減することができ、実際
の故障箇所を容易に、かつ自動的に指摘することができ
るという優れた効果を奏する。
解析を行うのに必要な情報を保持する記t!装置と、こ
の記t!装置に保持された情報に基づきフェイルがなさ
れた時、故障解析を行う故障解析プログラムを有する中
央処理装置と、この中央処理装置による故障解析結果を
表示する表示装置とを備えた構成としたので、故障解析
のための時間、労力を大幅に軽減することができ、実際
の故障箇所を容易に、かつ自動的に指摘することができ
るという優れた効果を奏する。
第1図はこの発明の実施例である故障解析装置の構成を
示すブロック図、第2図は故障解析のために使われる基
板の回路接続情報の一例を示すフォーマット図、第3図
は基板に搭載されている部品情報の一例を示すフォーマ
ット図、第4図は第1図の故障解析装置において、故障
解析結果の表示装置上での一表示例を示す図である。 図において、1・・・表示装置(CRT)、2・・・コ
ンソール、3・・・中央処理装置(CPU)、4・・・
プリンタ、5・・・記憶装置(磁気ディスク)、6・・
・インタフェース部、7・・・信号名、8・・・部品識
別名、9・・・部品タイプ名、1o・・・部品ビン番号
、11・・・部品タイプ名、12・・・部品ビン番号、
13・・・人出力の部品識別名、14・・・基板全体、
15〜17・・・故障の可能性がある部品、18・・・
部品識別名と故障の影響がある部品ビン番号 である。 なお、図中、同一符号は同一 又は相当部分を示す。 代 理 人 大 岩 増 雄 携 図 表示長x(CRT) コンソー)し 中犬怨理艮、I(CPU) プリンタ 方己・慮’AM (手益、気−テ゛イスク)イン7フエ
ース郭
示すブロック図、第2図は故障解析のために使われる基
板の回路接続情報の一例を示すフォーマット図、第3図
は基板に搭載されている部品情報の一例を示すフォーマ
ット図、第4図は第1図の故障解析装置において、故障
解析結果の表示装置上での一表示例を示す図である。 図において、1・・・表示装置(CRT)、2・・・コ
ンソール、3・・・中央処理装置(CPU)、4・・・
プリンタ、5・・・記憶装置(磁気ディスク)、6・・
・インタフェース部、7・・・信号名、8・・・部品識
別名、9・・・部品タイプ名、1o・・・部品ビン番号
、11・・・部品タイプ名、12・・・部品ビン番号、
13・・・人出力の部品識別名、14・・・基板全体、
15〜17・・・故障の可能性がある部品、18・・・
部品識別名と故障の影響がある部品ビン番号 である。 なお、図中、同一符号は同一 又は相当部分を示す。 代 理 人 大 岩 増 雄 携 図 表示長x(CRT) コンソー)し 中犬怨理艮、I(CPU) プリンタ 方己・慮’AM (手益、気−テ゛イスク)イン7フエ
ース郭
Claims (1)
- 基板レベルのファンクションテストを行い、このファ
ンクションテストの結果フェイルした場合に、そのフェ
イル情報,基板の回路接続情報及び基板に搭載されてい
る部品情報をもとにして故障箇所の指摘を行う故障解析
装置において、故障解析を行うのに必要な情報を保持す
る記憶装置と、この記憶装置に保持された情報に基づき
上記フェイルがなされた時の故障解析,指摘を行うプロ
グラムを有する中央処理装置と、この中央処理装置によ
る故障解析,指摘結果を表示する表示装置を備えたこと
を特徴とする故障解析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63277774A JPH02124477A (ja) | 1988-11-02 | 1988-11-02 | 故障解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63277774A JPH02124477A (ja) | 1988-11-02 | 1988-11-02 | 故障解析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02124477A true JPH02124477A (ja) | 1990-05-11 |
Family
ID=17588135
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63277774A Pending JPH02124477A (ja) | 1988-11-02 | 1988-11-02 | 故障解析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02124477A (ja) |
-
1988
- 1988-11-02 JP JP63277774A patent/JPH02124477A/ja active Pending
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