JPH03293570A - 論理回路基板のテスト可否判定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、論理基板に組まれた論理回路の回路情報か
ら各論理回路がテスト可能か否かを判定し、結果を表示
装置に表示する論理回路基板のテスト可否判定装置に関
するものである。

〔従来の技術〕

従来の論理基板のテスト可能可否判定は、論理基板の論
理図面とテスト可否判定条件情報を基に人手で判定を行
っていた。その可否判定方法としては、テスト不可能な
論理回路状態を図面化またはリスト化してテスト不可能
条件を作成する。次いで論理基板の論理回路図面上でテ
スト不可能条件に該当する回路が存在するかどうかを作
成したテスト不可能条件を参照して捜す。テスト不可能
条件に該当する回路がある場合は該当回路を論理回路図
面上に目印を付ける。以上を人手で行っている。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来の論理回路基板のテスト可能可否判定は以上のよう
に行なっているので、判定動作開始に至るまでにテスト
不可能条件リスト等の作成といった多大な時間を要する
作業を必要とするとともに、複雑な論理回路図を上記作
成されたリストを参照して人手で不可能一致条件を満た
す論理回路を見い出すため、回路規模によっては更に多
大な労力と時間が必要であり、また誤判定を招き易いと
いった問題点があった。

この考案は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、論理基板のテスト可否判定を短時間で行ない
、高精度の結果を得ることができるとともに、人手作業
を削減することができる論理回路基板のテスト可否判定
装置を得ることを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

この考案に係る論理基板のテスト可否判定装置は、論理
回路基板に構築した論理回路の回路情報より、各回路の
テスト可能か否かを判定し、判定結果を表示するものに
おいて、各ｍ理回路のテスト可否判定条件情報を記憶し
た記憶装置と、該記憶装置に記憶されたテスト可否判定
条件情報と論理回路基板設計時に作成した論理回路情報
とを照合し、当該論理回路のテスト可能可否を判定する
テスト可否判定手段と、判定結果を画面表示された論理
回路上に指示する表示装置とを備えたものである。

（作用） この発明による論理回路基板のテスト可否判定装置は、
予め作成した論理回路のテスト可否判定条件情報と、論
理回路設計時に用意した論理回路図情報を、テスト可否
判定手段にかけることで、テスト可能、或は不可能な論
理回路が表示装置に表示された論理回路中に指示される
ため人手を要さず短時間で判定動作を終えることができ
る。

〔実施例〕

第１図はこの発明の一実施例を示す論理回路基板のテス
ト可否判定装置の構成図であり、（１）は論理基板の論
理回路図情報から各論理回路がテスト可能か否かを判定
するテスト可否判定プログラムを有する中央処理装置、
（２）は中央処理装置（１）の動作を制御するコンソー
ル、（３）は各論理回路がテスト可能か否かを判定する
ために必要なテスト不可能条件情報と論理基板の論理回
路図情報を保持する記憶装置で例えば磁気ディスク、（
４）はテスト不可能回路をリスト形式で表示するための
表示装置で例えばラインプリンタ、（５）はテスト不可
能回路を論理基板の論理図面上に表示するための表示装
置で例えばグラフィックデイスプレー装置である。

第２図は第１図の中央処理装置（１）に内蔵するテスト
可否判定プログラムの動作を示すフローチャートである
。

第３図（ａ）　、　（ｂ）は第１図の記憶装置（３）に
保持する各論理回路がテスト可能か否かを判定するため
の情報の一部で、同図（ａ）は、論理回路の各テスト不
可能条件を条件式で表わし、通し番号である条件番号を
付して記憶装置（３）に格納した状態を示す。同図（ｂ
）はテスト不可能判定結果を表して記憶装置（３）に格
納した状態を示すものであり、この表に沿って判定結果
がラインプリンタ（４）よりプリントアウトされる。こ
の表によれば、例えば通し番号である適合番号（１）に
は論理図面のベージ００８のページ内位置ＡＩにある論
理素子ｒ　７４００Ｊは条件式（１）のもとにテスト不
可能であることが表示されている。

上記のように構成された論理回路基板のテスト可否判定
装置においては、論理基板の設計時に作成した論理基板
の論理回路図情報を記憶装置（３）例えば磁気ディスク
に人力し保持させておく。次いて中央処理装置（１）は
内蔵する論理基板のテスト可否判定プログラムによって
記憶装置（３）に保持しであるテスト不可能条件情報（
６）と論理基板の論理回路図情報を基に各論理回路ごと
にテスト不可能条件に該当するかどうかを判定し、該当
する場合はテスト不可能回路情報（７）を作成し、記憶
装置（３）に保持する。そして中央処理装置（１）は上
記で得られたテスト不可能回路情報（７）を表示装置（
４）例えばラインプリンタにリスト形式で表示する。さ
らに中央処理装置（１）は記憶装置（３）に保持してい
る論理回路図面情報を表示装置（５）例えば−グラフィ
ックディスプレーに図面のページ単位に表示するととも
に、第４図に示すように上記で得られたテスト不可能回
路情報（７）で指摘されるテスト不可能回路を点滅させ
ることによって論理図面上でテスト不可能回路を指摘す
る。

上記中央処理装置（１）によるテスト不可能判定動作と
しては、第２図のフローチャートに示す如く、記憶装置
（３）よりコンソール（２）の操作にてテスト不可能条
件情報の１つ、論理回路基板の論理回路図情報の１つを
入力する（２０）、　（２１）。各情報を照合し取り出
した論理回路がテスト不可能条件に該当するか判定し、
テスト不可能であると判定されたならば、第３図（ｂ）
に示す如くテスト不可能回路情報を作成する（２２）、
　（２３）、　　（２４）、またステップ（２３）でテ
スト可能であると判定されたならば、全論理回路に関し
て判定が終了していなければステップ（２１）に戻り、
次の論理回路図情報を取り出し、ステップ（２２）〜（
２５）を繰り返す。以上各ステップを全論理回路図情報
に関して行なう。

次に、全論理回路図情報に関して判定が終了したならば
、判定条件を変更し、再びステップ（２０）〜（２６）
を行う。

なお、上記実施例ではテスト可否判定結果をグラフィッ
クデイスプレー上に表示する場合、テスト不可能回路を
点滅させる方法を示したが、テスト可能な回路と色を変
えて表示してもよい。

〔発明の効果〕

以上のようにこの発明によれば、論理回路基板内の各論
理回路のテスト可否判定を中央処理装置で行うように構
成したので、人手労力を削減でき、しかも精度の高いテ
スト可否判定結果が短時間が得られる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示す論理基板のテスト可
否判定装置の構成図、′ｓ２図は中央処理装置（１）に
内蔵するテスト可否判定プログラムの動作フロー図、第
３図（ａ）は記憶装置に格納されたテスト可否判定に必
要な情報の例を示す図、同図（ｂ）はテスト不可能判定
結果を表にして示した図、第４図は第３図（ｂ）の表に
従いテスト不可能回路を画面表示した図である。 図において、（１）は中央ＩＡ理装置、（３）は記憶装
置、（４）　、　（５）は表示装置である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 論理回路基板に構築した論理回路の回路情報より、各回
   路のテスト可能か否かを判定し、判定結果を表示する論
   理回路基板のテスト可否判定装置において、各論理回路
   のテスト可否判定条件情報を記憶した記憶装置と、該記
   憶装置に記憶されたテスト可否判定条件情報と論理回路
   基板設計時に作成した論理回路情報とを照合し、当該論
   理回路のテスト可能可否を判定するテスト可否判定手段
   と、判定結果を画面表示された論理回路上に指示する表
   示装置とを備えたことを特徴とする論理回路基板のテス
   ト可否判定装置。