JPH0835935A - ビジュアル型ｘ−ｙ方式インサーキットテスタ - Google Patents
ビジュアル型ｘ−ｙ方式インサーキットテスタInfo
- Publication number
- JPH0835935A JPH0835935A JP6191078A JP19107894A JPH0835935A JP H0835935 A JPH0835935 A JP H0835935A JP 6191078 A JP6191078 A JP 6191078A JP 19107894 A JP19107894 A JP 19107894A JP H0835935 A JPH0835935 A JP H0835935A
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- JP
- Japan
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- image
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- judged
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 モデルの対象物を画像的なモデルとしての登
録性の難易に従い、検索すべき電子部品等にするかその
他のものにするか選択することによって、検査の信頼性
を高め、検査をスピード化する。 【構成】 画像カメラ１６と、モデル対象物の画像を作
成する手段３４と、モデルの種別を選択する手段３６
と、検索時の画像中にモデルと同じものがあったら良の
判定をすべきモデルとあったら不良の判定をすべきモデ
ルとに区別して登録する手段３８と、検索対象物の画像
を作成する手段４０と、画像中にモデルと同じものがあ
るか判定する手段４２と、判定結果を出力する手段４４
とを備える。
録性の難易に従い、検索すべき電子部品等にするかその
他のものにするか選択することによって、検査の信頼性
を高め、検査をスピード化する。 【構成】 画像カメラ１６と、モデル対象物の画像を作
成する手段３４と、モデルの種別を選択する手段３６
と、検索時の画像中にモデルと同じものがあったら良の
判定をすべきモデルとあったら不良の判定をすべきモデ
ルとに区別して登録する手段３８と、検索対象物の画像
を作成する手段４０と、画像中にモデルと同じものがあ
るか判定する手段４２と、判定結果を出力する手段４４
とを備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は画像カメラを備えて実装
基板の検査に使用するビジュアル型のＸ−Ｙ方式インサ
ーキットテスタに関する。
基板の検査に使用するビジュアル型のＸ−Ｙ方式インサ
ーキットテスタに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、インサーキットテスタを用いて実
装基板即ち多数の電子部品等を装着し、半田付けしたプ
リント基板の良否の判定を行っている。このようなイン
サーキットテスタには基板に実装された部品の電気的特
性を測定して検査を行なう一般型と、画像カメラを備え
て実装基板の外観から検査を行なうビジュアル型とがあ
る。ビジュアル型ではＸ−Ｙ方式を採用し、被検査基板
を載せて固定する測定台上にＸ軸方向に可動するアーム
の上にＹ軸方向に可動するＺ軸ユニットを備え、そのＺ
軸ユニットで画像カメラをＺ軸方向に可動可能に支持す
るＸ−Ｙユニットを設置している。それ故、Ｘ−Ｙユニ
ットを制御することにより、その画像カメラを基板の上
方から対象物に向け、Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向にそれぞれ
適宜移動して近付けることができる。
装基板即ち多数の電子部品等を装着し、半田付けしたプ
リント基板の良否の判定を行っている。このようなイン
サーキットテスタには基板に実装された部品の電気的特
性を測定して検査を行なう一般型と、画像カメラを備え
て実装基板の外観から検査を行なうビジュアル型とがあ
る。ビジュアル型ではＸ−Ｙ方式を採用し、被検査基板
を載せて固定する測定台上にＸ軸方向に可動するアーム
の上にＹ軸方向に可動するＺ軸ユニットを備え、そのＺ
軸ユニットで画像カメラをＺ軸方向に可動可能に支持す
るＸ−Ｙユニットを設置している。それ故、Ｘ−Ｙユニ
ットを制御することにより、その画像カメラを基板の上
方から対象物に向け、Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向にそれぞれ
適宜移動して近付けることができる。
【０００３】そして、基板を検査する際には、最初に被
検査基板上に装着すべき各種の電子部品等を全て備えた
モデル登録用の基板を用意し、画像カメラで先ずその基
板上にある各種の電子部品等を順次写して画像を取り込
み、それ等の各画像に含まれる電子部品等の対象物を前
以てモデルとして登録する。次に、画像カメラで被検査
基板上にある検索すべき各種の電子部品の対象物を順次
写して画像を取り込み、それ等の各画像中にモデルと同
じものがあるか判定し、ある場合には良であることを示
すＯＫ処理として電子部品等の座標出力、画面出力、Ｏ
Ｋの文字表示出力等を行ない、ない場合には不良である
ことを示すＮＧ処理としてＮＧの文字表示出力等を行な
っている。
検査基板上に装着すべき各種の電子部品等を全て備えた
モデル登録用の基板を用意し、画像カメラで先ずその基
板上にある各種の電子部品等を順次写して画像を取り込
み、それ等の各画像に含まれる電子部品等の対象物を前
以てモデルとして登録する。次に、画像カメラで被検査
基板上にある検索すべき各種の電子部品の対象物を順次
写して画像を取り込み、それ等の各画像中にモデルと同
じものがあるか判定し、ある場合には良であることを示
すＯＫ処理として電子部品等の座標出力、画面出力、Ｏ
Ｋの文字表示出力等を行ない、ない場合には不良である
ことを示すＮＧ処理としてＮＧの文字表示出力等を行な
っている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うにして、被検査基板上に装着すべき各種の電子部品等
をモデルとして登録した後、被検査基板上にある各種の
対象物を写した画像中にモデルと同じものがあるか検索
するという方法を採用すると、検索対象物たる電子部品
等が画像的にモデルとして登録し難いものの場合、検索
が困難となる。又、同一画像中に含まれる電子部品等が
複数種類あるとき、その数だけモデルを登録しなければ
ならないので、負担が大きく検査をスピード化できな
い。
うにして、被検査基板上に装着すべき各種の電子部品等
をモデルとして登録した後、被検査基板上にある各種の
対象物を写した画像中にモデルと同じものがあるか検索
するという方法を採用すると、検索対象物たる電子部品
等が画像的にモデルとして登録し難いものの場合、検索
が困難となる。又、同一画像中に含まれる電子部品等が
複数種類あるとき、その数だけモデルを登録しなければ
ならないので、負担が大きく検査をスピード化できな
い。
【０００５】本発明はこのような従来の問題点に着目し
てなされたものであり、被検査基板上に装着すべき各種
の電子部品等の検索対象物を画像的なモデルとしての登
録性の難易に従い、モデルの対象物を検索すべき電子部
品等にするかその他のものにするか、判別可能性の高い
ものを選択することによって、検査の信頼性を高め、検
査をスピード化できるビジュアル型Ｘ−Ｙ方式インサー
キットテスタを提供することを目的とする。
てなされたものであり、被検査基板上に装着すべき各種
の電子部品等の検索対象物を画像的なモデルとしての登
録性の難易に従い、モデルの対象物を検索すべき電子部
品等にするかその他のものにするか、判別可能性の高い
ものを選択することによって、検査の信頼性を高め、検
査をスピード化できるビジュアル型Ｘ−Ｙ方式インサー
キットテスタを提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の手段を、以下本発明を明示する第１図を用いて説明す
る。このビジュアル型Ｘ−Ｙ方式インサーキットテスタ
はＸ−Ｙ方式により可動するＺ軸ユニットに備えた画像
カメラ１６を有し、モデル登録用にその画像カメラ１６
で順次写したモデル登録用の基板３０の上にある各種の
モデル対象物の画像を作成するモデル登録用画像取込手
段３４と、それ等の各画像に含まれるモデルが検索時の
画像中にモデルと同じものがあったら良の判定をすべき
モデルか否か決定してモデルの種別を選択するモデル種
別選択手段３６と、それ等の各モデルの種別を判定し、
各モデルを検索時の画像中にモデルと同じものがあった
ら良の判定をすべきモデルとあったら不良の判定をすべ
きモデルとに区別して登録するモデル登録手段３８とを
備えている。
の手段を、以下本発明を明示する第１図を用いて説明す
る。このビジュアル型Ｘ−Ｙ方式インサーキットテスタ
はＸ−Ｙ方式により可動するＺ軸ユニットに備えた画像
カメラ１６を有し、モデル登録用にその画像カメラ１６
で順次写したモデル登録用の基板３０の上にある各種の
モデル対象物の画像を作成するモデル登録用画像取込手
段３４と、それ等の各画像に含まれるモデルが検索時の
画像中にモデルと同じものがあったら良の判定をすべき
モデルか否か決定してモデルの種別を選択するモデル種
別選択手段３６と、それ等の各モデルの種別を判定し、
各モデルを検索時の画像中にモデルと同じものがあった
ら良の判定をすべきモデルとあったら不良の判定をすべ
きモデルとに区別して登録するモデル登録手段３８とを
備えている。
【０００７】そして、更に検索用にその画像カメラ１６
で順次写した被検査基板３２上にある各検索対象物の画
像を作成する検索用画像取込手段４０と、それ等の各画
像中にモデルと同じものがあるか判定する画像判定手段
４２と、それ等の各判定結果に基づいてあったら良の判
定をすべきモデルの場合にはＯＫ処理をし、あったら不
良の判定をすべきモデルの場合にはＮＧ処理をする出力
手段４４とを備えている。
で順次写した被検査基板３２上にある各検索対象物の画
像を作成する検索用画像取込手段４０と、それ等の各画
像中にモデルと同じものがあるか判定する画像判定手段
４２と、それ等の各判定結果に基づいてあったら良の判
定をすべきモデルの場合にはＯＫ処理をし、あったら不
良の判定をすべきモデルの場合にはＮＧ処理をする出力
手段４４とを備えている。
【０００８】
【作用】上記のように構成し、各モデルを検索時の画像
中にモデルと同じものがあったら良の判定をすべきモデ
ルとあったら不良の判定をすべきモデルとに区別して登
録すると、被検査基板３２の上に装着すべき検索対象物
たる電子部品等が画像的にモデルとして登録し難いと
き、その電子部品によって通常隠れる位置にある対象物
をモデルとして登録することにより、判別可能性の高い
モデルを登録できる。それ故、同一画像中に含まれる電
子部品等が複数種類ある場合で、部品の有無を判別でき
ればよいという条件のときには１回のみの検索で判定を
下せる。
中にモデルと同じものがあったら良の判定をすべきモデ
ルとあったら不良の判定をすべきモデルとに区別して登
録すると、被検査基板３２の上に装着すべき検索対象物
たる電子部品等が画像的にモデルとして登録し難いと
き、その電子部品によって通常隠れる位置にある対象物
をモデルとして登録することにより、判別可能性の高い
モデルを登録できる。それ故、同一画像中に含まれる電
子部品等が複数種類ある場合で、部品の有無を判別でき
ればよいという条件のときには１回のみの検索で判定を
下せる。
【０００９】
【実施例】以下、添付図面に基づいて、本発明の実施例
を説明する。図２は本発明を適用したビジュアル型Ｘ−
Ｙ方式インサーキットテスタの構成を示すブロック図で
ある。図中、１０はビジュアル型Ｘ−Ｙ方式インサーキ
ットテスタ、１２はその操作部、１４はＸ−Ｙ−Ｚ制御
部、１６はＣＣＤカメラ等の画像カメラ、１８はコント
ローラである。この操作部１２にはキーボード、表示装
置、プリンタ、フロッピーディスクドライバ等の入出力
機器を備える。そして、Ｘ−Ｙ−Ｚ制御部１４により少
なくとも１組のＸ−Ｙユニット（図示なし）に備えたサ
ーボモータ等を駆動し、そのＸ−Ｙユニットを制御し
て、Ｘ−Ｙユニットに備えた画像カメラ１６を測定台上
でＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向にそれぞれ適宜移動する。
を説明する。図２は本発明を適用したビジュアル型Ｘ−
Ｙ方式インサーキットテスタの構成を示すブロック図で
ある。図中、１０はビジュアル型Ｘ−Ｙ方式インサーキ
ットテスタ、１２はその操作部、１４はＸ−Ｙ−Ｚ制御
部、１６はＣＣＤカメラ等の画像カメラ、１８はコント
ローラである。この操作部１２にはキーボード、表示装
置、プリンタ、フロッピーディスクドライバ等の入出力
機器を備える。そして、Ｘ−Ｙ−Ｚ制御部１４により少
なくとも１組のＸ−Ｙユニット（図示なし）に備えたサ
ーボモータ等を駆動し、そのＸ−Ｙユニットを制御し
て、Ｘ−Ｙユニットに備えた画像カメラ１６を測定台上
でＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向にそれぞれ適宜移動する。
【００１０】これ等の操作部１２、Ｘ−Ｙ−Ｚ制御部１
４、画像カメラ１６はＣＰＵを備えたコントローラ１８
によってそれぞれ制御する。コントローラ１８は例えば
マイクロコンピュータであり、ＣＰＵ（中央処理装置）
２０、ＲＯＭ（読み出し専用メモリ）２２、ＲＡＭ（読
み出し書き込み可能メモリ）２４、入出力ポート２６、
バスライン２８等から構成されている。ＣＰＵ２０はマ
イクロコンピュータの中心となる頭脳部に相当し、プロ
グラムの命令に従って、全体に対する制御を実行すると
共に算術、論理演算を行い、その結果も一時的に記憶す
る。又、周辺装置に対しても適宜制御を行っている。Ｒ
ＯＭ２２にはビジュアル型Ｘ−Ｙ方式インサーキットテ
スタ１０の全体を制御するための制御プログラム等が格
納されている。又、ＲＡＭ２４は外部から入力したデー
タ、ビジュアル検索処理プログラム、画像カメラ１６で
写した対象物の画像データ、それ等のデータからＣＰＵ
２０で演算したデータ等の各種データを記憶する。入出
力ポート２６には操作部１２、Ｘ−Ｙ−Ｚ制御部１４、
画像カメラ１６等が接続する。バスライン２８はそれ等
を接続するためのアドレスバスライン、データバスライ
ン、制御バスライン等を含み、周辺装置とも適宜結合す
る。
４、画像カメラ１６はＣＰＵを備えたコントローラ１８
によってそれぞれ制御する。コントローラ１８は例えば
マイクロコンピュータであり、ＣＰＵ（中央処理装置）
２０、ＲＯＭ（読み出し専用メモリ）２２、ＲＡＭ（読
み出し書き込み可能メモリ）２４、入出力ポート２６、
バスライン２８等から構成されている。ＣＰＵ２０はマ
イクロコンピュータの中心となる頭脳部に相当し、プロ
グラムの命令に従って、全体に対する制御を実行すると
共に算術、論理演算を行い、その結果も一時的に記憶す
る。又、周辺装置に対しても適宜制御を行っている。Ｒ
ＯＭ２２にはビジュアル型Ｘ−Ｙ方式インサーキットテ
スタ１０の全体を制御するための制御プログラム等が格
納されている。又、ＲＡＭ２４は外部から入力したデー
タ、ビジュアル検索処理プログラム、画像カメラ１６で
写した対象物の画像データ、それ等のデータからＣＰＵ
２０で演算したデータ等の各種データを記憶する。入出
力ポート２６には操作部１２、Ｘ−Ｙ−Ｚ制御部１４、
画像カメラ１６等が接続する。バスライン２８はそれ等
を接続するためのアドレスバスライン、データバスライ
ン、制御バスライン等を含み、周辺装置とも適宜結合す
る。
【００１１】図３、図４はビジュアル検索処理プログラ
ムのＰ１〜Ｐ５のステップからなるモデル登録部と、Ｐ
６〜Ｐ１１のステップからなる検索部との動作をそれぞ
れ示すフローチャートである。実装基板の良否をビジュ
アル検索する場合、最初にモデル登録用の基板３０を製
作する。その際、被検査基板上に装着すべき電子部品等
の検索対象物が画像的にモデルとして登録に適する場合
には従来通りその電子部品等をモデルにする。
ムのＰ１〜Ｐ５のステップからなるモデル登録部と、Ｐ
６〜Ｐ１１のステップからなる検索部との動作をそれぞ
れ示すフローチャートである。実装基板の良否をビジュ
アル検索する場合、最初にモデル登録用の基板３０を製
作する。その際、被検査基板上に装着すべき電子部品等
の検索対象物が画像的にモデルとして登録に適する場合
には従来通りその電子部品等をモデルにする。
【００１２】しかし、検索対象物たる電子部品等がモデ
ルに適さない場合、例えば基板面からの高さが相当高い
部品ではカメラのピントが合わずにぼやけるため、フラ
ックス（やに）が多く付着し易い部品ではフラックスの
付着状態が部品によって異なるため、抵抗等のリード線
のようにさびが発生し易い部品ではその反射状態が時間
の経過と共に変わるため、それ等の電子部品等をモデル
とせず、それ等の電子部品等によって通常隠れる位置に
あるシルク図等をモデルにする。又、同一画像中に含ま
れる電子部品等が複数種類ある場合で、部品の有無を判
別できればよいという条件の時にもシルク図等をモデル
にする。因みに、シルク図とは基板上に印刷した部品の
乗る位置に設けたパターン、部品の向きを示すマーク、
部品の位置を示すマーク等である。
ルに適さない場合、例えば基板面からの高さが相当高い
部品ではカメラのピントが合わずにぼやけるため、フラ
ックス（やに）が多く付着し易い部品ではフラックスの
付着状態が部品によって異なるため、抵抗等のリード線
のようにさびが発生し易い部品ではその反射状態が時間
の経過と共に変わるため、それ等の電子部品等をモデル
とせず、それ等の電子部品等によって通常隠れる位置に
あるシルク図等をモデルにする。又、同一画像中に含ま
れる電子部品等が複数種類ある場合で、部品の有無を判
別できればよいという条件の時にもシルク図等をモデル
にする。因みに、シルク図とは基板上に印刷した部品の
乗る位置に設けたパターン、部品の向きを示すマーク、
部品の位置を示すマーク等である。
【００１３】そして、モデルの登録をするために、先ず
Ｐ１で画像カメラ１６で設定順に従って写したモデル登
録用の基板３０の上にあるモデル対象物の画像を作成す
る。次にＰ２へ行き、画像に含まれるモデルが検索時の
画像中にモデルと同じものがあったら良の判定をすべき
ノーマルなモデルか否か決定してモデルの種別を選択す
る。次にＰ３へ行き、モデルの種別がノーマルなものか
判定する。ＹＥＳの場合、Ｐ４へ行く。Ｐ４では検索時
の画像中にモデルと同じものがあったら良の判定をすべ
きモデルとして登録する。ＮＯの場合、Ｐ５へ行く。Ｐ
５では検索時の画像中にモデルと同じものがあったら不
良の判定をすべきモデルとして登録する。このようなＰ
１〜Ｐ５のステップからなる処理を設定順に従って繰り
返して行なうと、画像的により判別可能性の高い対象物
をモデルとして次々登録できる。
Ｐ１で画像カメラ１６で設定順に従って写したモデル登
録用の基板３０の上にあるモデル対象物の画像を作成す
る。次にＰ２へ行き、画像に含まれるモデルが検索時の
画像中にモデルと同じものがあったら良の判定をすべき
ノーマルなモデルか否か決定してモデルの種別を選択す
る。次にＰ３へ行き、モデルの種別がノーマルなものか
判定する。ＹＥＳの場合、Ｐ４へ行く。Ｐ４では検索時
の画像中にモデルと同じものがあったら良の判定をすべ
きモデルとして登録する。ＮＯの場合、Ｐ５へ行く。Ｐ
５では検索時の画像中にモデルと同じものがあったら不
良の判定をすべきモデルとして登録する。このようなＰ
１〜Ｐ５のステップからなる処理を設定順に従って繰り
返して行なうと、画像的により判別可能性の高い対象物
をモデルとして次々登録できる。
【００１４】次に、検索をするために、先ずＰ６で画像
カメラ１６で設定順に従って写した被検査基板３２の上
にある検索対象物の画像を作成する。次にＰ７へ行き、
画像中にモデルと同じものがあるか判定する。ＹＥＳの
場合、Ｐ８へ行く。Ｐ８では画像中にあるモデルと同じ
ものがノーマルなものか判定する。ＹＥＳの場合、Ｐ９
へ行き、ＮＯの場合Ｐ１０へ行く。Ｐ７でＮＯの場合Ｐ
１１へ行く。Ｐ１１では画像中にあるモデルと異なるも
のがノーマルなものか判定する。ＹＥＳの場合Ｐ１０へ
行き、ＮＯの場合Ｐ９へ行く。Ｐ９ではＯＫ処理として
表示装置の画面上等に検査対象物たる電子部品等の座
標、画像、ＯＫの文字等の出力表示を行なう。又、Ｐ１
０ではＮＧ処理としてＮＧの文字出力表示を行なう。こ
のようなＰ６〜Ｐ１１のステップからなる処理を繰り返
して行なうと、被検査基板３２の上にある各対象物を設
定順に従って順次検索できる。
カメラ１６で設定順に従って写した被検査基板３２の上
にある検索対象物の画像を作成する。次にＰ７へ行き、
画像中にモデルと同じものがあるか判定する。ＹＥＳの
場合、Ｐ８へ行く。Ｐ８では画像中にあるモデルと同じ
ものがノーマルなものか判定する。ＹＥＳの場合、Ｐ９
へ行き、ＮＯの場合Ｐ１０へ行く。Ｐ７でＮＯの場合Ｐ
１１へ行く。Ｐ１１では画像中にあるモデルと異なるも
のがノーマルなものか判定する。ＹＥＳの場合Ｐ１０へ
行き、ＮＯの場合Ｐ９へ行く。Ｐ９ではＯＫ処理として
表示装置の画面上等に検査対象物たる電子部品等の座
標、画像、ＯＫの文字等の出力表示を行なう。又、Ｐ１
０ではＮＧ処理としてＮＧの文字出力表示を行なう。こ
のようなＰ６〜Ｐ１１のステップからなる処理を繰り返
して行なうと、被検査基板３２の上にある各対象物を設
定順に従って順次検索できる。
【００１５】
【発明の効果】以上説明した本発明によれば、被検査基
板上に装着すべき検索対象物たる電子部品等が画像的に
モデルとして登録し難いとき、その電子部品によって通
常隠れる位置にある対象物をモデルとして登録すること
により、判別可能性の高いモデルを選んで登録できる。
それ故、検査の信頼性が向上する。しかも、同一画像中
に含まれる電子部品等が複数種類ある場合で、部品の有
無を判別できればよいという条件のときには１回の検索
で判定を下せるため、検査をスピード化できる。
板上に装着すべき検索対象物たる電子部品等が画像的に
モデルとして登録し難いとき、その電子部品によって通
常隠れる位置にある対象物をモデルとして登録すること
により、判別可能性の高いモデルを選んで登録できる。
それ故、検査の信頼性が向上する。しかも、同一画像中
に含まれる電子部品等が複数種類ある場合で、部品の有
無を判別できればよいという条件のときには１回の検索
で判定を下せるため、検査をスピード化できる。
【図１】本発明によるビジュアル型Ｘ−Ｙ方式インサー
キットテスタの構成とモデル登録用の基板或いは被検査
基板を示すブロック図である。
キットテスタの構成とモデル登録用の基板或いは被検査
基板を示すブロック図である。
【図２】本発明を適用したビジュアル型Ｘ−Ｙ方式イン
サーキットテスタの構成を示すブロック図である。
サーキットテスタの構成を示すブロック図である。
【図３】同ビジュアル型Ｘ−Ｙ方式インサーキットテス
タのコントローラのＲＡＭに格納するビジュアル検索処
理プログラムのモデル登録部による動作を示すフローチ
ャートである。
タのコントローラのＲＡＭに格納するビジュアル検索処
理プログラムのモデル登録部による動作を示すフローチ
ャートである。
【図４】同ビジュアル検索処理プログラムの検索部によ
る動作を示すフローチャートである。
る動作を示すフローチャートである。
１０…ビジュアル型Ｘ−Ｙ方式インサーキットテスタ
１２…操作部 １４…Ｘ−Ｙ−Ｚ制御部 １６…画像カ
メラ １８…コントローラ ２４…ＲＡＭ ３０（３
２）…基板 ３４…モデル登録用画像取込手段 ３６…
モデル種別選択手段 ３８…モデル登録手段 ４０…検
索用画像取込手段 ４２…画像判別手段４４…出力手段
１２…操作部 １４…Ｘ−Ｙ−Ｚ制御部 １６…画像カ
メラ １８…コントローラ ２４…ＲＡＭ ３０（３
２）…基板 ３４…モデル登録用画像取込手段 ３６…
モデル種別選択手段 ３８…モデル登録手段 ４０…検
索用画像取込手段 ４２…画像判別手段４４…出力手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０１Ｌ 21/66 Ｊ 7514−4Ｍ (72)発明者 小泉 敏衛 長野県上田市大字小泉字桜町81番地 日置 電機株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】 Ｘ−Ｙ方式により可動するＺ軸ユニット
に備えた画像カメラと、その画像カメラで順次写したモ
デル登録用の基板上にある各種のモデル対象物の画像を
作成するモデル登録用画像取込手段と、それ等の各画像
に含まれるモデルが検索時の画像中にモデルと同じもの
があったら良の判定をすべきモデルか否か決定してモデ
ルの種別を選択するモデル種別選択手段と、それ等の各
モデルの種別を判定し、各モデルを検索時の画像中にモ
デルと同じものがあったら良の判定をすべきモデルとあ
ったら不良の判定をすべきモデルとに区別して登録する
モデル登録手段と、画像カメラで順次写した被検査基板
上にある各検索対象物の画像を作成する検索用画像取込
手段と、それ等の各画像中にモデルと同じものがあるか
判定する画像判定手段と、それ等の各判定結果に基づい
てあったら良の判定をすべきモデルの場合にはＯＫ処理
をし、あったら不良の判定をすべきモデルの場合にはＮ
Ｇ処理をする出力手段とを備えることを特徴とするビジ
ュアル型Ｘ−Ｙ方式インサーキットテスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6191078A JPH0835935A (ja) | 1994-07-21 | 1994-07-21 | ビジュアル型ｘ−ｙ方式インサーキットテスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6191078A JPH0835935A (ja) | 1994-07-21 | 1994-07-21 | ビジュアル型ｘ−ｙ方式インサーキットテスタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0835935A true JPH0835935A (ja) | 1996-02-06 |
Family
ID=16268503
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6191078A Pending JPH0835935A (ja) | 1994-07-21 | 1994-07-21 | ビジュアル型ｘ−ｙ方式インサーキットテスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0835935A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004502250A (ja) * | 2000-06-28 | 2004-01-22 | テラダイン・インコーポレーテッド | 検査システムと共に用いるための画像処理システム |
-
1994
- 1994-07-21 JP JP6191078A patent/JPH0835935A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004502250A (ja) * | 2000-06-28 | 2004-01-22 | テラダイン・インコーポレーテッド | 検査システムと共に用いるための画像処理システム |
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