JP3191467B2 - プリント基板検査データ作成方法 - Google Patents

プリント基板検査データ作成方法

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JP3191467B2
JP3191467B2 JP00313793A JP313793A JP3191467B2 JP 3191467 B2 JP3191467 B2 JP 3191467B2 JP 00313793 A JP00313793 A JP 00313793A JP 313793 A JP313793 A JP 313793A JP 3191467 B2 JP3191467 B2 JP 3191467B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板の導通,
短絡検査装置で使用する検査データを作成する方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】複数のXYロボットと各ロボットに付属
するプローブでプリント基板の導通,短絡検査を行なう
プリント基板検査設備で使用する検査データを作成する
従来の方法の一例について図面を参照しながら説明す
る。
【0003】図9は、検査データを作成する従来の手順
を示したフロー図である。まず作業者は基板の設計情報
から、基板上の導通,短絡情報を取り出し(ステップ#
30)、各ロボットの動作範囲から干渉回避を考慮した
動きになるように入手で各ポイントをティーチング作業
で座標値を取り込み(ステップ#31)、プリント基板
検査用のデータを作成していく。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな方法では、複数のロボットがそれぞれに取り付けら
れたプローブを動かして検査するデータを作成するため
には、人間が各ロボットの干渉回避を考慮しながら1ポ
イントずつデータを作成するといった手間のかかる作業
が発生するといった問題点がある。また、作業者の熟練
度により作成する検査データの品質に大きな差があると
いった問題点がある。
【0005】本発明は、人が判断しながら作成するとい
った時間のかかる工程を、コンピュータを使うことによ
り、誰が作成しても干渉回避を考慮した同じ品質のデー
タが効果的に作成できる方法を提供することを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本願の第1発明のプリント基板検査データ作成方法
は、プリント基板の同一面側にある検査ポイントのペア
を選択し、前記選択した検査ポイントにそれぞれ位置決
めされ導通または短絡の検査を行うためのペアのプロー
ブと、前記プローブをそれぞれプリント基板上の前記検
査ポイントに位置決めするロボットと、を備えたプリン
ト基板の導通検査装置において、前記プローブの位置決
めや検査を指示するプリント基板の検査データを作成す
る方法であって、 プリント基板上の結線されるネット毎
に、基準となる検査ポイントである基準ポイントとし
て、前記ネットにおけるプリント基板上の最も端にある
検査ポイントを抽出する基準ポイント抽出工程と、 前記
抽出した基準ポイントを検査するプローブを、基準ポイ
ントに近い側にある1つのプローブに固定して割り付
け、前記基準ポイントと組み合わせて検査するプリント
基板上の他の検査ポイントを他のプローブに割り付ける
ことにより、順次検査ポイントのペアを検査する検査デ
ータを作成する検査データ作成工程と、を備えたもので
あるまた、上記目的を達成するために本願の第2発明
のプリント基板検査データ作成方法は、プリント基板の
表面側にある検査ポイントのペアを選択し、前記選択し
た検査ポイントにそれぞれ位置決めされ導通または短絡
の検査を行うためのペアのプローブと、前記プローブを
それぞれプリント基板の表面上の前記検査ポイントに位
置決めするロボットと、プリント基板の裏面側にある検
査ポイントのペアを選択し、前記選択した検査ポイント
にそれぞれ位置決めされ導通または短絡の検査を行うた
めのペアのプローブと、前記プローブをそれぞれプリン
ト基板の裏面上の前記検査ポイントに位置決めするロボ
ットと、を備えたプリント基板の導通検査装置におい
て、前記プローブの位置決めや検査を指示するプリント
基板の検査データを作成する方法であって、 プリント基
板上の結線されるネット毎に、表面側の基準となる検査
ポイントである基準ポイントとして、前記ネットにおけ
るプリント基板の表面上の最も端に ある検査ポイントを
抽出し、裏面側の基準となる検査ポイントである基準ポ
イントとして、前記ネットにおけるプリント基板の裏面
上の最も端にある検査ポイントを抽出する基準ポイント
抽出工程と、 前記抽出した表面の基準ポイントを検査す
るプローブを、表面の基準ポイントに近い側にある1つ
の表面側のプローブに固定して割り付け、前記表面の基
準ポイントと組み合わせて検査する検査ポイントを表面
側の他の検査ポイントとし、この検査ポイントを表面側
の他のプローブに割り付け、一方、前記抽出した裏面の
基準ポイントを検査するプローブを、裏面の基準ポイン
トに近い側にある1つの裏面側のプローブに固定して割
り付け、前記裏面の基準ポイントと組み合わせて検査す
る検査ポイントを裏面側の他の検査ポイントとし、この
検査ポイントを裏面側の他のプローブに割り付けること
により、順次表面および裏面の検査ポイントのペアを検
査する検査データを作成する検査データ作成工程と、
記作成した検査データを、表面側のプローブのペアと裏
面側のプローブのペアとを並行して動作させるものとす
る工程と、を備えたものであるまた、上記目的を達成
するために本願の第3発明のプリント基板検査データ作
成方法は、表面側の検査ポイントと裏面側の検査ポイン
トとをペアで組み合わせて検査する場合に、表面側の検
査ポイントを2つのグループに分けてそれぞれのグルー
プに検査するプローブを割り付け、裏面側の検査ポイン
トを2つのグループに分けてそれぞれのグループに検査
するプローブを割り付けることにより、表面側と裏面側
とのペアのプローブを2組で並行して検査する検査デー
タを作成する工程を備えたものである
【0007】
【作用】本願の第1発明によると、上記した構成によ
り、ネットにおけるプリント基板上の最も端にある検査
ポイントを基準ポイントとし、その基準ポイントを基準
ポイントに近い側にある1つのプローブに固定する検査
データを作成するので、1つのプローブを常に端に位置
し、他の検査ポイントに割りつけるプローブと干渉する
ことがなくなる。また、基準ポイントを常時同一のプロ
ーブで検査するため、プローブの位置決め時間を削減で
きるので、検査タクトを大幅に短縮することができる。
従来では、プローブ同志が干渉せずタクトがかからない
ことを考慮しながら検査データを作成するには、いろい
ろと試行錯誤しながら行うので、かなり作成時間を要す
るが、本発明によると、このような、導通または短絡を
検査するペアのプローブ同志が干渉せずに、しかも検査
タクトの短縮が可能な検査データを容易に作成すること
ができ、更に、検査データを作成する作業者の作成工数
を大幅に削減することができるまた、本願の第2発明
によると、上記した構成により、表面の検査ポイント同
志および裏面の検査ポイント同志の組み合わせで並行し
て検査するような検査データにすることにより、プリン
ト基板の表面と裏面との導通検査を効率的に行うことが
できるまた、本願の第3発明によると、上記した構成
により、表面と裏面とのプローブのペアで干渉し合わな
いように2組のペアのプローブを動作させる検査データ
を作成することにより、導通検査を効率的に行うことが
できる
【0008】
【実施例】実施例を説明する前に、本発明の基板検査デ
ータ作成方法で作成した基板検査データで動作する基板
検査機について説明する。図6は基板検査機の外観図で
ある。17は基板表面を検査するプローブを動かすXY
ロボット、18は基板表面プローブコンタクトユニッ
ト、19は基板裏面を検査するプローブを動かすXYロ
ボット、20は基板裏面プローブコンタクトユニット、
21は基板保持部である。プローブコンタクトユニット
の先にはプローブが取り付けられている。基板を基板保
持部に取り付けた後、設備を制御するコンピュータから
検査スタートの信号が送られると、上下にある各XYロ
ボットがそれぞれに取り付けてある4つのプローブを同
時に動かしプリント基板に接触させ電気を流すことによ
り導通,短絡の基板検査を実行するものである。以下に
記述する実施例の中に出てくるプローブ番号は、図7に
示すように、22をプローブ1、23をプローブ2、2
4をプローブ3、25をプローブ4と定義した場合のも
のである。
【0009】以下に本発明の一実施例を図面を参照しな
がら説明する。図1は、両面基板用の導通,短絡検査デ
ータの一連の作成手順を示したフローチャートである。
まずCADから基板上の結線情報であるネットリストを
出力し(ステップ#1)、コンピュータ内に登録する。
このネットリストには、ネット各称、検査ポイントの存
在する基板面(表,裏)、ピン名称、検査ポイントの座
標値(X,Y)、検査方式(導通検査,短絡検査)の各
情報が登録されている。
【0010】コンピュータの内部では、ネットリスト内
をネット単位で分割し、更に各ネット内で表面のポイン
トと裏面のポイントに分割し、それぞれの中の導通検査
ポイントで最もX座標値の小さいもの(X座標値が同じ
場合はY座標値の小さいもの)を基準ポイントとして抽
する(ステップ#2)。図2は基準ポイントを抽出す
る具体例である。1はネットリスト内でネット単位で分
割された後の状態である。図2では、データを簡略化し
て記述しており、左からネット名、基準名、測定ランド
のX座標、Y座標、検査区分(導通:0、短絡:S)の
み表現している。1の状態から表面に存在する導通検査
用のポイントデータ内(2)、裏面に存在する導通検査
用のポイントデータ内(3)、表面に存在する短絡検査
用のポイントデータ内(4)、裏面に存在する短絡検査
用のポイントデータ内(5)でそれぞれX座標値による
昇順ソートを行う。6はソート結果である。このデータ
で表面に存在する導通検査用のポイントでX座標値が最
小のもの(7)と、裏面に存在する導通検査用のポイン
トでX座標値が最小のもの(8)を基準ポイントとして
抽出する。
【0011】次に各々のネット内で、抽出した基準ポイ
ントと他のポイントを組合せ検査箇所の情報を作成する
(ステップ#3)。図3は、ステップ#3の詳細を示す
検査情報作成のフローチャートである。まず、図2のデ
ータ6(図4のデータ9)に相当するデータを1行読み
込んだ後(ステップ#12)、前行のネット名と同じか
どうかを比較する(ステップ#13)。新しいネット名
の場合、読み込んだポイントが表面のものであれば基準
ポイントとして基準1にセットし(ステップ#15)、
プローブ1としてその座標値をデータ13のX1、Y1
にセットする(ステップ#16)読み込んだポイント
が裏面のものであれば基準ポイントとして基準2にセッ
トし(ステップ#17)、プローブ3としてその座標値
をデータ13のX3、Y3にセットする(ステップ#1
8)。同じネット名の場合は、表裏どちらのポイントか
によってプローブ番号を決定する。基準ポイントが表面
(前行が表面)でかつ現在の読み込み行のポイントが表
面の場合には、現在の読み込みポイントをプローブ2と
してその座標値をデータ13のX2、Y2にセットする
(ステップ#24)。また、基準ポイントが表面(前行
が表面)でかつ現在の読み込み行のポイントが裏面の場
で、オープン検査(導通検査)ポイントの場合には、
現在の読み込みポイントを基準ポイントとして基準2に
セットし(ステップ#26)、プローブ3としてその座
標値をデータ13のX3、Y3にセットするまた、基
準ポイントが表面(前行が表面)でかつ現在の読み込み
行のポイントが裏面の場合で、オープン検査でない(短
絡検査)ポイントの場合には、現在の読み込みポイント
をプローブ4としてその座標値をデータ13のX4、Y
4にセットする(ステップ#27)また、基準ポイン
トが裏面(前行が裏面)でかつ現在の読み込み行のポイ
ントが表面の場合には、現在の読み込みポイントをプロ
ーブ2としてその座標値をデータ13のX2、Y2にセ
ットする(ステップ#22)。また、基準ポイントが裏
(前行が裏面)でかつ現在の読み込み行のポイント
裏面の場合には、現在の読み込みポイントをプローブ4
としてその座標値をデータ13のX4、Y4にセットす
る(ステップ#21)。但し、前行が表面のポイント
(基準ポイントが表面のものにセットされている)で現
在読み込み行のポイントが裏面のポイントの場合は(逆
の場合もあり)、基準ポイントデータを裏面(逆の場合
は表面)のものに更新している(ステップ#27、逆の
場合はステップ#22)。この処理は、表面のポイント
どおしまたは裏面のポイントどおしをできるだけペアに
することで4プローブ同時に検査可能になるようにし、
検査動作時間を短くするためである。この処理を最終行
まで繰返し(ステップ#29)、各プローブにポイント
を振り分けた検査情報を作成する。この一連の動作によ
り導通検査用のデータについて干渉回避が考慮されたデ
ータに変換されることになる。短絡検査用のデータにつ
いては、基準ポイントのX座標値が必ずしもペアとなる
短絡検査用のポイントのX座標値より小さいとは限らな
いので、プローブ1とプローブ2に割り付けられた座標
値を比較し、X1>X2ならばX1、Y1とX2、Y2
の座標値を入れ替える。プローブ3とプローブ4も同様
に行うことで全検査ポイントの干渉回避が実現できる。
具体的なデータによる処理結果を図4に示す。ステップ
#2で作成したデータ(9)より表面の基準ポイントは
他の表面のポイントと組合わせ(10)、裏面の基準ポ
イントは裏面のポイントと組合わせるように作成する
(11)。但し導通検査用のポイントが表面から裏面
(または裏面から表面)へとつながっている場合(スル
ーホール存在時)は、表面の基準ポイントと裏面の基準
ポイントとの組合わせにする(12)。この一連の処理
で検査箇所の情報が作成される(13)。図3中のXま
たはYの後の数字はプローブ番号を示している。ここ
で、図7を用いて上述したようなプローブ番号定義にな
っている場合、X1の座標値≦X2の座標値、X3の座
標値≦X4の座標値でなければ各プローブが干渉するた
め、この条件に合っていない組合せデータのみX1、Y
1座標とX2、Y2座標の入れ替えまたは、X3、Y3
座標とX4、Y4座標の入れ替えを行う(ステップ#
4)。
【0012】上記状態のデータを表面のポイントと表面
のポイントとの組み合わせ、裏面のポイントと裏面のポ
イントとの組み合わせ、表面のポイントと裏面のポイン
トとの組み合わせの3のパターンに分類する(ステップ
#5)。表面のポイントと表面のポイントとの組み合わ
せになったデータと裏面のポイントと裏面のポイントと
の組み合わせになったデータは同時に4つのプローブを
動作させて検査することが可能なため、同時に2箇所
(測定ポイント4箇所)検査可能な検査データ変換する
(ステップ#6)。
【0013】次に表面のポイントと裏面のポイントとの
組み合わせは、表面側のポイントをX座標値を昇順にソ
ート(X座標値が同じところはY座標値昇順ソート)し
中央値を抽出し(ステップ#7)、別々のプローブに振
り分ける(ステップ#8)。同様の処理を裏面側のポイ
ントにも行なう(ステップ#9)。図5は、図1のステ
ップ#7からステップ#9までの内容を示したものであ
る。14は振り分け前のデータ、15は表面、裏面それ
ぞれにおける中央値抽出時の例、16は振り分け後のデ
ータを示す。
【0014】ステップ#9までの処理でできたデータに
対し、プローブ1とプローブ3の組み合わせとプローブ
2とプローブ4の組み合わせは同時にプローブを動作さ
せることが可能なため、ステップ#6と同様に同時に2
箇所(測定ポイント4箇所)検査する検査データに変換
する。同様にプローブ1プローブ4の組み合わせとプロ
ーブ2とプローブ3の組み合わせも同時に検査可能なデ
ータに変換する(ステップ#10)。ここでステップ#
6、ステップ#10で作成したデータを結合し、基板検
査データを作成する(ステップ#11)。これにより両
面基板を検査する検査データの作成が終了する。図8
は、作成された基板検査データの座標点の軌跡を示して
いる。図中の番号は、移動順に示す。
【0015】
【発明の効果】以上のように本発明は、CADよりネッ
トリスト情報を受け取り、コンピュータ内部で自動的に
検査ポイントの座標値の関係からプローブを割り付け、
各ロボットの干渉回避を行うプログラムを持たせること
により、ティーチングにより1ポイントずつデータを取
り込み、人間がロボット干渉回避を考慮して検査データ
作成を行うといった時間がかかりミスも発生する工程を
排除し、短時間でデータ作成者による品質の差のない基
板検査データの作成が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例におけるプリント基板検査デ
ータ作成方法の一実施例を示すフローチャート
【図2】本実施例で行っている各ネット内の基準ポイン
トの抽出方法を示した説明図
【図3】プローブ割り当て方法のフローチャート
【図4】本実施例で行っている基準ポイントと他のポイ
ントから検査情報を作成する内容を説明した説明図
【図5】本実施例で行っている表面から裏面につながっ
ている導通部の検査データの変換内容を説明した説明図
【図6】本実施例で使用している基板検査機の概略斜視
【図7】本実施例で使用している基板検査機に取り付け
てあるプローブの番号を定義した説明図
【図8】本実施例で作成した基板検査データの軌跡図
【図9】基板検査データ作成における従来例を示した
ローチャート
【符号の説明】
1、6、9 ネットリスト 17、19 XYロボット 18、20 コンタクトユニット 21 基板保持部 22、23、24 プローブ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−19575(JP,A) 特開 平4−102077(JP,A) 特開 平4−340484(JP,A) 特開 昭63−142276(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 31/02,31/28 H05K 3/00 G06F 17/50

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プリント基板の同一面側にある検査ポイ
    ントのペアを選択し、前記選択した検査ポイントにそれ
    ぞれ位置決めされ導通または短絡の検査を行うためのペ
    アのプローブと、前記プローブをそれぞれプリント基板
    上の前記検査ポイントに位置決めするロボットと、を備
    えたプリント基板の導通検査装置において、前記プロー
    ブの位置決めや検査を指示するプリント基板の検査デー
    タを作成する方法であって、 プリント基板上の結線されるネット毎に、基準となる検
    査ポイントである基準ポイントとして、前記ネットにお
    けるプリント基板上の最も端にある検査ポイントを抽出
    する基準ポイント抽出工程と、 前記抽出した基準ポイントを検査するプローブを、基準
    ポイントに近い側にある1つのプローブに固定して割り
    付け、前記基準ポイントと組み合わせて検査するプリン
    ト基板上の他の検査ポイントを他のプローブに割り付け
    ることにより、順次検査ポイントのペアを検査する検査
    データを作成する検査データ作成工程と、を備えた プリ
    ント基板検査データ作成方法。
  2. 【請求項2】 プリント基板の表面側にある検査ポイン
    トのペアを選択し、前記選択した検査ポイントにそれぞ
    れ位置決めされ導通または短絡の検査を行うためのペア
    のプローブと、前記プローブをそれぞれプリント基板の
    表面上の前記検査ポイントに位置決めするロボットと、
    プリント基板の裏面側にある検査ポイントのペアを選択
    し、前記選択した検査ポイントにそれぞれ位置決めされ
    導通または短絡の検査を行うためのペアのプローブと、
    前記プローブをそれぞれプリント基板の裏面上の前記検
    査ポイントに位置決めするロボットと、を備えたプリン
    ト基板の導通検査装置において、前記プローブの位置決
    めや検査を指示するプリント基板の検査データを作成す
    る方法であって、 プリント基板上の結線されるネット毎に、表面側の基準
    となる検査ポイントである基準ポイントとして、前記ネ
    ットにおけるプリント基板の表面上の最も端にある検査
    ポイントを抽出し、裏面側の基準となる検査ポイントで
    ある基準ポイントとして、前記ネットにおけるプリント
    基板の裏面上の最も端にある検査ポイントを抽出する基
    準ポイント抽出工程と、 前記抽出した表面の基準ポイントを検査するプローブ
    を、表面の基準ポイントに近い側にある1つの表面側の
    プローブに固定して割り付け、前記表面の基準ポイント
    と組み合わせて検査する検査ポイントを表面側の他の検
    査ポイントとし、この検査ポイントを表面側の他のプロ
    ーブに割り付け、一方、前記抽出した裏面の基準ポイン
    トを検査するプローブを、裏面の基準ポイントに近い側
    にある1つの裏面側のプローブに固定して割り付け、前
    記裏面の基準ポイントと組み合わせて検査する検査ポイ
    ントを裏面側の他の検査ポイントとし、この検査ポイン
    トを裏面側の他のプローブに割り付けることにより、順
    次表面および裏面の検査ポイントのペアを検査する検査
    データを作成する検査データ作成工程と、 前記作成した検査データを、表面側のプローブのペアと
    裏面側のプローブのペアとを並行して動作させるものと
    する工程と、を備えた プリント基板検査データ作成方
    法。
  3. 【請求項3】 表面側の基準ポイントと裏面側の基準ポ
    イントとをペアで組み合わせて検査する検査データを作
    成する工程を備えた請求項2に記載のプリント基板検査
    データ作成方法。
  4. 【請求項4】 表面側の検査ポイントと裏面側の検査ポ
    イントとをペアで組み合わせて検査する場合に、表面側
    の検査ポイントを2つのグループに分けてそれぞれのグ
    ループに検査するプローブを割り付け、裏面側の検査ポ
    イントを2つのグループに分けてそれぞれのグループに
    検査するプローブを割り付けることにより、表面側と裏
    面側とのペアのプローブを2組で並行して検査する検査
    データを作成する工程を備えた請求項2または請求項3
    に記載のプリント基板検査データ作成方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7836135B2 (en) 2001-06-14 2010-11-16 Apple Inc. Method and apparatus for filtering email
US7991720B2 (en) 1992-04-30 2011-08-02 Apple Inc. Method and apparatus for organizing information in a computer system

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007322127A (ja) * 2006-05-30 2007-12-13 Nidec-Read Corp 基板検査方法及び基板検査装置
JP2008008773A (ja) * 2006-06-29 2008-01-17 Nidec-Read Corp 基板検査方法及び基板検査装置
JP5004010B2 (ja) * 2007-05-09 2012-08-22 日本電産リード株式会社 基板検査装置及び基板検査方法
JP4995682B2 (ja) * 2007-09-27 2012-08-08 日置電機株式会社 回路基板検査装置および回路基板検査方法
JP6129011B2 (ja) * 2013-07-25 2017-05-17 日置電機株式会社 検査ポイント設定装置、及び基板検査装置
JP6587922B2 (ja) * 2015-12-11 2019-10-09 日置電機株式会社 データ生成装置およびデータ生成方法
CN107064779B (zh) * 2017-05-26 2023-10-31 深圳市赛伦北斗科技有限责任公司 一种电路板测试方法、装置及系统
CN112969925A (zh) * 2018-11-09 2021-06-15 日本电产理德股份有限公司 检查指示信息产生装置、基板检查系统、检查指示信息产生方法以及检查指示信息产生程序

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7991720B2 (en) 1992-04-30 2011-08-02 Apple Inc. Method and apparatus for organizing information in a computer system
US7836135B2 (en) 2001-06-14 2010-11-16 Apple Inc. Method and apparatus for filtering email
US7856479B2 (en) 2001-06-14 2010-12-21 Apple Inc. Method and apparatus for filtering email

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