JP3193850B2

JP3193850B2 - Ｘｙインサーキットテスタのテストポイント決定方法

Info

Publication number: JP3193850B2
Application number: JP23224895A
Authority: JP
Inventors: 本博岡
Original assignee: PFU Ltd
Current assignee: PFU Ltd
Priority date: 1995-09-11
Filing date: 1995-09-11
Publication date: 2001-07-30
Anticipated expiration: 2015-09-11
Also published as: JPH0980117A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板のテスト
を行なうＸＹインサーキットテスタに関するもので、特
にショート・テストにおいて検査すべきネット対の抽出
に際して、ショート発生の可能性がある調査箇所のみを
抽出するＸＹインサーキットテスタのテストポイント決
定方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】電子部品を実装したプリント基板の動作
テストを自動的に行なう手段の１つとして、インサーキ
ットテスタが知られている。インサーキットテスタは、
プリント基板上の電子部品のリード・ピンなどにテスタ
のプローブを接触させて、このプローブからテスト・パ
ターンを供給することで動作テストを行なう仕組みにな
っている。

【０００３】しかし、このようなテスト方法はプローブ
を設置する治具を使うため、プリント基板が変わるごと
に費用と時間を費やして新たな治具を製作する必要があ
る。したがって、少量生産品や試作品のテストには適さ
ず、プリント基板の設計変更に対しても治具の改造が必
要となってくる。この点を改善するものとして、移動可
能なプローブを用いるＸＹインサーキットテスタがあ
り、プリント基板に応じて位置データを変えるだけで、
プローブの接触位置を自由に変更できる。しかしこのテ
スタはＩＣなどのテストができず、主にアナログ基板の
抵抗コンデンサを測定するものであった。

【０００４】また、ＬＳＩなど高機能部品の普及により
複雑なテスト・パターンが必要とされるなど、動作テス
トが複雑となってきた。そして、部品の信頼性が向上し
てきたため、部品自体をテストする必要性も低下してき
た。むしろ、高機能化して面積あたりの部品ピン数が増
えたものが使われるようになってきたことや、実装密度
の高いプリント基板が要求されるようになってきたこと
により、部品をハンダ付けする際のショートの方が問題
となってきている。

【０００５】そのため、ＸＹインサーキットテスタのプ
ローブをプリント基板にあて、その２点間の抵抗値を測
定することでショートの有無を検出する方法がある。こ
の方法では短時間でのテストを実現するために、特にシ
ョートしそうな２点を厳選する必要がある。

【０００６】そこで従来の技術では、図２１のフローチ
ャートに示したように、多数の部品ピンを持ったピン間
隔の狭いＬＳＩなどについて、その隣接する部品ピンど
うしのショートのみをテストしていた。すなわち、プリ
ント基板のＬＳＩリードをデジタイズするなり、実装デ
ータ・ファイルから得るなりしたデータで、同一部品の
隣接する部品ピンの位置Ｐ１とＰ２とを選択し（２１
ａ）、テストデータとして登録し（２１ｂ）、そのよう
な処理をその部品のすべての部品ピンについて繰り返し
（２１ｃ）、同様にすべての部品について繰り返す（２
１ｄ）ことでテストポイントを決定していた。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】このように従来の技術
では、ショートしそうな部分を人間が指示しており、プ
ローブ接触を行なう場所はそのポイントを使っていた。
したがって、他の部品や配線ビアとの間、プリント・パ
ターンが接近した部分など、テストしていない点でのシ
ョートの可能性があり、充分なテストとはいえなかっ
た。かと言って、設計情報として持つあらゆる点に対し
て、すべての組合せを対象とすると、テストに必要な時
間が極端に増大することになってしまう。そこで接近し
ているポイント対をもれなく捜し、それが属する配線ネ
ット対を特定し、そのそれぞれをテスト対象位置として
指定してやるという手間のかかる作業が必要であった。

【０００８】

【０００９】本発明は、ショート・テストの必要な配線
ネット対をもれなく抽出するとともに、不必要な箇所は
テスト対象としないことでテストに要する時間を短くお
さえることを課題とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の概要を示
すフローチャートであり、同図においてＰ１ないしＰ２
は、実装データ・ファイル中の調査位置のうちで不特定
の２点を示す。本発明のテストポイント決定方法は、以
下の各処理により構成される。配線ネット名、部品ピン
や配線ビアの位置情報などを含む実装設計情報に基づい
て、処理手段にて座標値の順でソートした座標ファイル
を作り、近接する第１の検査位置と第２の検査位置とを
位置情報により選択し、それぞれの検査位置が属する配
線ネットが異なるかどうかを前記配線ネット名により調
べ、異なる場合はそれら２つの配線ネットの組合せを選
択された配線ネット対として登録し、同様にして位置情
報すべての組合せについて、以上の処理を繰り返す。

【００１１】

【００１２】ここで配線ネットとは、プリント基板上に
プリント・パターンにより形成される回路網の一部であ
り、連続するプリント・パターンにより連結されている
部分をいう。配線ネットに属する調査位置とは、その配
線ネットに接続されるべき部品の部品ピンの位置や、配
線ネットに含まれる配線ビアの位置、配線ネットを構成
するプリント・パターンにおいては、その形状を近似す
る折れ線の角など、実装設計情報中で座標により指定さ
れる位置のことである。ただしプリント・パターンは、
そのライン上のすべての位置と他の調査位置の接近を調
査する。また、プローブ接触候補位置とは、調査位置の
うちプローブを接触させ得る位置、たとえばパッドやラ
ンドの位置のことで、安定した接触を得られないほど狭
いＬＳＩ部品リードの小さいパッドなどは対象から除か
れる。

【００１３】

【作用】まず、実装データ・ファイル中の各調査位置に
関するレコードを、その座標値の順に並べ変えることに
より座標ファイルを作る。座標ファイル中では、Ｙ座標
の値が同じである調査位置のレコードがグループになっ
て１か所にまとまり、同様にＹ座標値が１だけ異なるレ
コードも、そのグループと連続した位置にまとまって別
のグループを構成する。このことは、座標が近接した調
査位置どうしのレコードは、座標ファイル上でも近接し
た位置に記録されることを意味する。

【００１４】次に、第１の調査位置としてＰ１を選択
し、それに近接する第２の調査位置Ｐ２を座標ファイル
上での位置関係を元に選択する。Ｐ１とＰ２とのレコー
ドからそれぞれが属する配線ネット名を調べ、これら２
点が同一の配線ネットに属していないことを確認する。
配線ネット名がネットａおよびネットｂと異なっていた
場合、異なるネットどうしが少なくともＰ１とＰ２との
間で近接しているのであるから、ネットａとネットｂと
の間でのショート・テストが必要である。

【００１５】テスト対象となる配線ネットの対が決まっ
たなら、それぞれの配線ネットに属するプローブ接触候
補位置の組合せの中から、任意のものをテストポイント
対として登録する。

【００１６】

【００１７】

【実施例】図３ないし図２０を用いて、本発明の実施例
を説明する。図３は本発明のハードウェア構成を、図４
はショート発生部分をそれぞれ示す図。図５は実装デー
タ・ファイル、図６は禁止領域ファイルの構成を示す
図。図７は、部品ピンのテストポイントを示す図。図８
ないし図１２は、その他のファイルやテーブルの構成を
示す図で、図８はネットリスト・ファイル、図９は座標
ファイル、図１０はテストネット管理テーブル、図１１
はテストデータ・ファイル、図１２はネット探索テーブ
ルを、それぞれ示す図である。

【００１８】図１３ないし図２０は、本発明の各段階に
おけるフローチャートを示す図である。図１３は前処
理、図１４は禁止領域追加処理、図１５は接触可否判断
処理のためのもの。図１６はネットリスト・ファイル完
成、図１７は座標ファイルの作成を示すもの。図１８は
接近点検出処理、図１９はテストポイントの作成、図２
０はネットｂ側対応候補作成に関するフローチャートで
ある。

【００１９】図３は、本発明が適用されるシステム全体
のハードウェア構成を示すものである。本発明の前提と
なるコンピュータ設計支援（以下ＣＡＤと略す）システ
ム３１は、実装設計情報であるＣＡＤデータ３４を作成
する。コンピュータ３２は、受け取ったＣＡＤデータ３
４を、ＣＡＤシステム３１とは独立した状態で加工し
て、テストすべき配線ネット対を決定する。また、その
決定に基づいて実際にプローブを接触させるべきテスト
ポイントを決定する。ＸＹインサーキットテスタ３３
は、コンピュータ３２によって作成された制御データ３
５に基づいて、プローブを位置制御し、ショート・テス
トを実行する。

【００２０】図４を用いて、本発明においてショート・
テストの対象とした部分につき説明する。図で４１はＬ
ＳＩパッケージ、４２はそのＬＳＩの部品ピンである。
４３は、プリント基板上に設けられた配線ビア、４４は
プリント・パターンを示している。これらの部品ピン、
配線ビア、プリント・パターンが近接して配置されてい
る場合、そこをショート発生の可能性がある箇所４５と
してテストの対象とする。ＬＳＩの隣接する２本の部品
ピンの間４５ａは、従来技術でもテストを行なっていた
部分である。４５ｂは配線ビアどうしが近接する場合、
４５ｃは、プリント・パターンどうしが近接する場合で
ある。それ以外の組合せとして、部品ピンと配線ビアの
近接４５ｄ、部品ピンとプリント・パターンの近接４５
ｅ、配線ビアとプリント・パターンの近接４５ｆが、テ
ストの対象となる。

【００２１】図５に、実装データ・ファイルの構成を示
す。実装データ・ファイルの各レコードは、名称５１、
座標５２、搭載面５３、寸法５４、ネット名５５の５つ
の項目からなる。ここでネット名とは、そのレコードに
示された部品ピン等が属する配線ネットの名称で、「Ｒ
ｅｓｅｔ」や「Ｃｌｏｃｋ」のようにその配線ネットを
流れる信号の名称をそのまま使うか、信号名称がない場
合などには「Ｐ０００１」のように自動生成した名称を
使用する。レコードの種類としては、部品そのもの、部
品ピン、配線ビア、プリント・パターンの４種類があ
る。

【００２２】部品に関するレコードの場合、「部品１
１」として図５に例示したように、名称５１には、その
プリント基板において１つの部品を特定することのでき
る部品名称、座標５２にはプリント基板上でのその部品
の基準ピンの座標（Ｘ１１，Ｙ１１）が記録されてい
る。搭載面５３のＳ１１は、プリント基板上でその部品
が搭載されている面の番号である。寸法５４は、部品の
向きや形状を表す情報をコード化し、外形情報Ｆ１１と
したものである。対象が部品である場合には特定の配線
ネットのみには属さないレコードであることを示すた
め、ネット名５５としては所定のデータを格納する（図
５では「−−−」で表している）。

【００２３】部品ピンに関するデータは、図５の例では
「部品ピン２２」と略記したが、実際には「部品１１の
ピン２２」といったように、部品名称とピン名とを組み
合わせたものが名称５１として与えられる。座標５２と
しては、その部品ピンの位置を示す座標（Ｘ２２，Ｙ２
２）が、すなわちその部品ピンが半田付けされるランド
部またはパッド部の中心の座標が格納される。寸法５４
には、ランド部の直径かパッド部の短い方の辺の長さ
が、Ｄ２２として記録される。

【００２４】配線ビアに関するデータには、名称５１と
して形状を表すビア名「配線ビア３３」が与えられてい
る。座標５２には、配線ビアの中心座標（Ｘ３３，Ｙ３
３）が、搭載面５３には配線ビアが貫通している面のう
ち最も外側に位置する２つの面の番号Ｓ３３ａとＳ３３
ｂとが、寸法５４には配線ビアの直径がＤ３３として記
録される。

【００２５】プリント・パターンに関するデータでは、
各プリント・パターンを折れ線で近似してデータが作ら
れる。図５では「パターン４４」と書かれているが、実
際にはプリント・パターンであることを示す所定のデー
タが、名称５１として与えられる。座標５２には、近似
した直線の始点（Ｘ４４ａ，Ｙ４４ａ）と終点（Ｘ４４
ｂ，Ｙ４４ｂ）の座標が格納され、寸法５４としてはプ
リント・パターンの太さを表すコードなどがＷ４４とし
て記録される。

【００２６】図６に、禁止領域ファイルの構成を示す。
(a) は部品面側のデータ、(b) は半田面側のデータであ
る。このファイルは、プリント基板面上に部品が実装さ
れているためにプローブが接触できない領域を、プロー
ブ・ポイントの候補から除外するのに使われる。各レコ
ードは部品名６１と部品パッケージ領域６２の２つの項
目からなり、部品パッケージ領域６２は矩形の禁止領域
を表す２点の座標の対として記録される。

【００２７】図７では、ＳＭＴ部品を例にテストポイン
トのオフセットについて説明する。(a) はＳＭＴ部品を
上から見た場合の平面図、(b) はその一部である部品ピ
ン１本を拡大した図。７１はＳＭＴ部品、７２はその部
品ピンである。

【００２８】(a) において、７３は部品の中心軸で、部
品の中心を通り直交する２本が存在する。これらの中心
軸と平行で、より多くの部品ピンの座標を通る線がピン
並びライン７４である。図７では、ＳＭＴ部品７１の紙
面上下でそれぞれ８本の部品ピンの位置を通る２つの水
平なピン並びライン７４が示されている。垂直方向では
２つの部品ピン位置しか含まれないため、ピン並びライ
ン７４とはみなされない。

【００２９】(b) において、７５は部品ピン７２が半田
付けされるパッドで、その中心位置がＣＡＤ座標７６に
なる。実装データ・ファイル上の部品ピンの座標として
は、このＣＡＤ座標７６が使われる。ところがこの点に
は部品ピン７２が存在するため、プローブを安定して接
触させることが困難である。そこで接触位置を紙面上方
にオフセットし、充分な面積を持つ平坦なパッド７５上
の点をテストポイント７７とする。

【００３０】図示してはいないが、挿入部品の場合も同
様のオフセットが必要である。実装データ・ファイル上
の座標どおりの位置にオフセットなしでプローブを立て
た場合、部品ピンの先端の細い部分で不安定な接触をと
ることになる。それよりはその部品ピンが半田付けされ
るランド部にオフセットして、そこをテストポイントと
した方が安定した接触が得られる。

【００３１】図８にネットリスト・ファイルの例を示
す。(a) はネットリスト・ファイルそのもの、(b) はネ
ットリスト管理テーブルを示す図である。ネットリスト
・ファイルは、実装データ・ファイルをネット名５５に
基づいてソートしたもので、実装データ・ファイルと同
一の項目を含む。ただし、プリント・パターンのデータ
については、プローブ接触候補位置としないため除外さ
れている。

【００３２】(a) においては、ネット名８１を先頭に、
名称８２ないし接触可否８６の項目が並んでいる。接触
可否８６というのは、その点が図６の禁止領域ファイル
で示された領域内にあるかどうかを表す情報である。ネ
ット名８１でソートしてあるためネットリスト・ファイ
ルの各レコードは、同一の配線ネットに属するものごと
にまとまって配置されている。ネットａに属する部品ピ
ン１１、配線ビア１２に関するレコードが、ファイル内
位置１ないし２に格納されている。ネットｂに関して
は、部品ピン２１ないし部品ピン２２の２つのレコード
が記録される。

【００３３】(b) においては、ネットリスト・ファイル
のレコードについて、各配線ネットのネット名８１、そ
の配線ネットに属するレコードのうち最初に出てくるも
ののファイル内位置８７、その配線ネットに属するレコ
ードの総数を表すデータ数８８という情報をテーブルに
まとめている。

【００３４】図９に、ある調査位置に近接する他の調査
位置を探し出すための座標ファイルを示す。このファイ
ルは、ネットリスト・ファイルのレコードを座標値に従
ってソートしたものを元に作られる。(a) は部品面側と
半田面側とに分かれた座標ファイル、(b) はそれに対応
して部品面側と半田面側とに分かれた座標ファイル管理
テーブルである。

【００３５】(a) において、各レコードは座標９１のＹ
座標の値およびＸ座標の値に従い、ソートされている。
すなわち、Ｙ座標の値の順にレコードが並び変えられ、
Ｙ座標の値が同じものについてはＸ座標の順に並べられ
る。ここで、プリント・パターンのデータについては、
近似した直線の始点のみ注目することで、部品ピンなど
の場合と同様に座標値によるソートが可能となってい
る。

【００３６】その他の情報９２とあるところには、実際
にはネットリスト・ファイルの名称８２、ネット名８
１、寸法８５の情報が格納される。その他の情報９２と
は、これらの情報をまとめて略記したものである。

【００３７】半田面側座標ファイルは、部品面側座標フ
ァイルと同じ構造であり、同様のデータが格納されてい
る。

【００３８】(b) の座標ファイル管理テーブルは、Ｙ座
標先頭値９３とファイル内位置９４からなり、座標ファ
イル中で同一のＹ座標値を持つレコードのグループ１つ
に対して１つのエントリを持つ。Ｙ座標先頭値９３に
は、その同一のＹ座標値が格納される。ファイル内位置
９４には、そのグループのうち最初のレコードのファイ
ル内位置が格納される。図の例では、Ｙ座標先頭値９３
がＹ０のレコードが部品面側座標ファイルの１番目から
格納され、Ｙ１のレコードは４つめのレコードからであ
ることを表す。また、半田面側座標ファイルのレコード
は、Ｙ座標先頭値９３がＹ２でファイル内位置９４が１
から格納されている。

【００３９】図１０にテストネット管理テーブルの構成
を示す。このテーブルは、ショート・テストが必要と判
断された配線ネットの対を記録するもので、ネット名Ａ
１０１およびネット名Ｂ１０２からなる。図の例では、
ネットａとネットｂとの間でテストが必要であり、ネッ
トａとネットｃとの間でもテストが必要であることを示
している。

【００４０】図１１はテストデータ・ファイルの構成を
示す図である。このファイルは、ＸＹインサーキットテ
スタでのプローブの移動制御データを作る元になるもの
である。ネット名Ａ１１１およびネット名Ｂ１１４は、
テストネット管理テーブルのネット名Ａ１０１およびネ
ット名Ｂ１０２と同様のものである。接触座標Ａ１１２
とは、ネット名Ａ１１１側の配線ネットに属する選択さ
れたテストポイントの座標であり、部品識別Ａ１１３
は、そのテストポイントが挿入部品やＳＭＴ部品の部品
ピンであるか、その他のものかを区別するためのデータ
である。接触座標Ｂ１１５および部品識別Ｂ１１６は、
ネット名Ｂ１１４側配線ネットのテストポイントの座標
および識別データである。

【００４１】図１２に、ネット探索テーブルの例を示
す。このテーブルは、ショート・テストが必要とされた
２つの配線ネットに属するプローブ接触候補位置のすべ
ての組合せを網羅して、テストポイントとして最適の２
点を求めるためのものである。２つの配線ネットを図８
で例示したネットａおよびネットｂであるとしたときの
例で、(a) はネットａ側探索テーブルを示し、(b) はネ
ットｂ側探索テーブルを示している。

【００４２】(a) において、名称１２１は図８のネット
リスト・ファイルの名称８２と同じものであり、その他
の情報１２２とあるところには、実際にはネットリスト
・ファイルの座標８３、搭載面８４、寸法８５、接触可
否８６の情報が格納されている。その他の情報１２２と
は、これらの情報をまとめて略記したものである。評価
Ａ１２３は、その点の寸法が安定した接触を可能とする
のに充分な大きさか、およびその点のプローブ接触可否
を評価した値である。

【００４３】(b) において、名称１２１ないしその他の
情報１２２は、ネットａ側探索テーブルと同様のもので
ある。評価Ｂ１２４は、ネットｂ側の各点のプローブ接
触可否および寸法を元にした評価である。総合評価１２
５は、評価Ａ１２３と評価Ｂ１２４の値、および２点間
の距離が充分に離れているかなど相互の位置関係に基づ
く評価を総合して決定される。

【００４４】ここでまず、ネットａの部品ピン１１との
組合せによる評価が総合評価１２５に書き込まれる。す
なわち、部品ピンの評価Ａ１２３である評価１１と部品
ピン２１の評価Ｂ１２４である評価２１と相互のピン間
隔とを考慮した評価が総合評価１２５に評価２１１とし
て書き込まれ、評価１１と部品ピン２２の評価Ｂ１２４
である評価２２と相互のピン間隔とを考慮した評価が評
価２２１として書き込まれる。それで最も総合評価１２
５の高いプローブ接触候補位置の対が、その総合評価の
値とともに保存される。

【００４５】次にネットａの配線ビア１２との組合せに
よる評価が、総合評価１２５に上書きされる。このよう
にして総合評価が最も高いプローブ接触候補位置の対が
決定される。

【００４６】図１３以降では、以上説明した各ファイル
・テーブルを使った処理について説明する。まず図１３
では、前処理のフローチャートを示す。前処理は禁止領
域ファイル作成１３１、座標オフセット算出１３２、ネ
ットリスト・ファイル作成１３３の３つの工程からな
る。禁止領域ファイル作成１３１は、処理１３ａと処理
１３ｂとからなる。座標オフセット算出１３２は、処理
１３ｃないし処理１３ｆからなる。ネットリスト・ファ
イル作成１３３には、処理１３ｇないし処理１３ｈの工
程がある。

【００４７】まず、禁止領域ファイル作成１３１につい
て説明する。処理１３ａでは、実装データ・ファイルか
ら部品パッケージの輪郭情報をメモリー内のパッケージ
輪郭テーブルに読み込む。処理１３ｂでは、部品パッケ
ージ輪郭情報により図６に示すような禁止領域ファイル
を作成する。

【００４８】次に、座標オフセット算出１３２の処理に
ついて説明する。処理１３ｃでは、各部品パッケージに
対して中心軸を作成して、パッケージ輪郭テーブルにセ
ットする。処理１３ｄにおいては、部品毎に部品ピンの
データを読み込み、ピン並びラインを作成する。処理１
３ｅでは、ピン並びラインと平行するパッケージ中心軸
の関係から、部品の外側に向かうようにオフセット方向
を決める。処理１３ｆでは、パッドの寸法とオフセット
方向によりプローブ・ポイントの座標を算出して、部品
ピンの座標を変更する。

【００４９】最後に、ネットリスト・ファイル作成１３
３について説明する。処理１３ｇでは、部品ピンのデー
タからネットリスト・ファイルを作成する。処理１３ｈ
においては、配線ビアのデータをネットリスト・ファイ
ルに追加する。

【００５０】図１４に、禁止領域追加処理のフローチャ
ートを示す。図１３の禁止領域ファイル作成１３１で
は、実装データ・ファイルの部品データから禁止領域を
自動的に算出する処理について説明した。だが実際のプ
リント基板の場合には、改造配線や金具が存在するため
に、プローブを立てられない領域がこのほかにも存在す
る。そのため実際のショート・テストにあたっては、汎
用の図形ソフトを援用するなどして、そのような禁止領
域を追加設定する必要がある。

【００５１】処理１４ａにおいて、図１３で作成した禁
止領域ファイルを、汎用図形ソフトで読み込む。処理１
４ｂで図形を表示して部品実装状況を見、処理１４ｃで
は表示された図形の上に改造配線・金具による禁止領域
を入力する。処理１４ｄで、修正された図形のデータを
元に、禁止領域ファイルを完成させる。

【００５２】図１５に、接触可否判断処理のフローチャ
ートを示す。処理１５ａにおいて、図１４で完成した禁
止領域ファイルを読み込み、制御テーブルにセットす
る。処理１５ｂにおいて、ネットリスト・ファイルから
１行読み込む。処理１５ｃにおいて、座標が禁止領域内
の場合には「０」、領域外ならば「１」をテーブルに書
き込む。処理１５ｄでは、接触可否の項目を追加したネ
ットリスト・ファイルを作成する。処理１５ｅにおい
て、ネットリスト・ファイルのデータを全行読み込んだ
か判断し、最終行まで処理済みであれば終了し、そうで
なければ処理１５ｂに戻り、次の１行を読み込む。

【００５３】図１６に、ネットリスト・ファイル完成の
フローチャートを示す。処理１６ａでは、図１５で接触
可否の情報を付加したネットリスト・ファイルを、ネッ
ト名８１に従ってソートする。

【００５４】図１７に座標ファイルの作成のフローチャ
ートを示す。処理１７ａにおいて、実装データ・ファイ
ルを図９に示したフォーマットに変更し、座標順にソー
トして座標ファイルを作成する。

【００５５】図１８に、接近点検出処理のフローチャー
トを示す。処理１８ａでは、ネットリスト・ファイルを
読み込み、ネットリスト管理テーブルを作成する。処理
１８ｂでは、座標ファイルを読み込み、座標ファイル管
理テーブルを作成する。処理１８ｃでは、座標ファイル
から第１の調査位置Ｐ１を選択し、そのレコードを読み
込む。処理１８ｄでは、Ｐ１の近傍の点を座標ファイル
に従って選択し、第２の調査位置Ｐ２とする。処理１８
ｅでは、Ｐ１とＰ２とが属する配線ネットが同一でない
かを調べ、異なるなら処理１８ｆに進み、同一なら処理
１８ｇへ進む。処理１８ｆでは、それぞれの配線ネット
に属するテストポイントを作成する。処理１８ｇでは、
すべてのＰ２を調べたか判断し、すべて調査済みなら処
理１８ｈへ進み、そうでないなら処理１８ｄへ戻り、次
のＰ２を選択する。処理１８ｈでは、すべてのＰ１を調
べたか判断して、すべて調査済みなら終了し、そうでな
いなら処理１８ｃへ戻り、次のＰ１を選択する。

【００５６】図１９に、テストポイントの作成のフロー
チャートを示す。ここで、図１８の処理１８ｅで判断さ
れた２つの配線ネットの名称が、ネットａとネットｂで
あったとする。処理１９ａでは、このネットａとネット
ｂとの組合せが、すでにテストネット管理テーブルに登
録済みではないか判断する。登録済みの場合、同じ配線
ネット間で再度テストする必要はないので、テストポイ
ントの作成処理を終了する。登録されていなかった場合
は、処理１９ｂにおいてネットａおよびネットｂについ
てのネット探索テーブルを作成する。処理１９ｃでは、
ネットａ側の候補位置を１つ選択し、この点をＰ３とす
る。処理１９ｄでは、ネットｂ側の対応候補を作成す
る。処理１９ｅでは、すべてのＰ３について調べたか判
断し、すべて調査済みならば処理１９ｆへ進み、そうで
なければ処理１９ｃへ戻って次のＰ３を選択する。

【００５７】処理１９ｆでは、最も総合評価の高いＰ３
とＰ４との組合せを抽出する。処理１９ｇでは、ネット
ａおよびネットｂをテストネット管理テーブルに登録す
る。処理１９ｈでは、選択されたＰ３およびＰ４に関し
て、総合評価の値が所定の基準値に達しているか判断
し、達していれば処理１９ｉでテストデータ・ファイル
に登録し、達していなければ処理１９ｊでエラー処理を
行なう。

【００５８】図２０に、ネットｂ側対応候補作成のフロ
ーチャートを示す。処理２０ａで、ネットｂ探索テーブ
ルの総合評価の部分をクリアする。処理２０ｂでは、ネ
ットｂ探索テーブルからネットｂに属する候補位置Ｐ４
を１つ選択する。処理２０ｃでは、Ｐ３とＰ４との搭載
面の一致を調査し評価する。処理２０ｄでは、２点間の
距離を調査し評価する。処理２０ｅでは、ネットｂ探索
テーブルに総合評価を書き込む。処理２０ｆでは、すべ
てのＰ４について調べたか判断し、すべて調査済みなら
ば対応候補作成処理をおわり、そうでないなら処理２０
ｂへ戻り次のＰ４を選択する。処理２０ｇでは、総合評
価の最も高いＰ４と対応するＰ３、および総合評価値を
記録する。すでにこのルーチンを通り総合評価値が記録
されていれば、総合評価値を比較し大であれば入れ換え
る。

【００５９】

【発明の効果】以上の説明のとおり、本発明のテストポ
イント決定方法では、実装設計情報を元にショート発生
の可能性がある箇所を探し出すため、必要な場所はもれ
なく抽出できる。その一方で、近接する箇所を持たない
配線ネットどうしは対象として登録されないため、テス
ト時間は必要最小限度に制限できる。

【００６０】

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の概要フローチャートを示す図。

【図２】本発明のテストポイント決定のフローチャート
を示す図。

【図３】本発明のハードウェア構成を示す図。

【図４】ショート発生部分を示す図。

【図５】実装データ・ファイルを示す図。

【図６】禁止領域ファイルを示す図。

【図７】部品ピンのテストポイントを示す図。

【図８】ネットリスト・ファイルを示す図。

【図９】座標ファイルを示す図。

【図１０】テストネット管理テーブルを示す図。

【図１１】テストデータ・ファイルを示す図。

【図１２】ネット探索テーブルを示す図。

【図１３】前処理のフローチャートを示す図。

【図１４】禁止領域追加処理のフローチャートを示す
図。

【図１５】接触可否判断処理のフローチャートを示す
図。

【図１６】ネットリスト・ファイル完成のフローチャー
トを示す図。

【図１７】座標ファイルの作成のフローチャートを示す
図。

【図１８】接近点検出処理のフローチャートを示す図。

【図１９】テストポイントの作成のフローチャートを示
す図。

【図２０】ネットｂ側対応候補作成のフローチャートを
示す図。

【図２１】従来技術の概要フローチャートを示す図。

【符号の説明】

３１ＣＡＤシステム３２コンピュータ３３インサーキットテスタ４１ＬＳＩパッケージ４２部品ピン４３配線ビア４４プリント・パターン４５ショート発生の可能性がある箇所

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】プリント基板上の異なる配線ネットへ立
てた複数のプローブ間の導通状態を測定することで、該
異なる配線ネット間のショートの有無を確認するＸＹイ
ンサーキットテスタのテストポイント決定方法におい
て、前記プリント基板上のプリント・パターンの接続関係を
示す配線ネット名、電子部品のリード・ピンや配線ビア
の位置情報を、該プリント基板上の該電子部品の搭載状
態を示す実装設計情報としてあらかじめ記録手段に記録
しておき、処理手段にて、前記実装設計情報を前記位置情報として
含まれる座標値の順でソートした座標ファイルを作り
（１ａ）、前記座標ファイルに含まれる前記位置情報により第１の
調査位置を選択するとともに、前記座標ファイルの情報
により該第１の調査位置とショート発生の可能性がある
近接する調査位置があればそれを第２の調査位置として
選択し（１ｂ）、前記第１の調査位置が属する第１の配線ネットと、前記
第２の調査位置が属する第２の配線ネットとが、異なる
かどうかを前記配線ネット名により調べ（１ｃ）、前記第１の配線ネットと前記第２の配線ネットとが異な
る場合、該第１の配線ネットと該第２の配線ネットとの
組合せ一つを選択された配線ネット対として登録し（１
ｄ）、同様にして位置情報すべての組合せについて、前記選択
された配線ネット対の登録処理（１ｂないし１ｄ）を繰
り返し（１ｅ）、ショート障害が発生しうる近接する調査箇所のネット間
のみを抽出する、ことを特徴とするＸＹインサーキットテスタのテストポ
イント決定方法。