JPS6126243A - Lsiア−トワ−クデ−タの回路接続照合出力装置 - Google Patents

Lsiア−トワ−クデ−タの回路接続照合出力装置

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Publication number
JPS6126243A
JPS6126243A JP14712784A JP14712784A JPS6126243A JP S6126243 A JPS6126243 A JP S6126243A JP 14712784 A JP14712784 A JP 14712784A JP 14712784 A JP14712784 A JP 14712784A JP S6126243 A JPS6126243 A JP S6126243A
Authority
JP
Japan
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data
circuit connection
circuit
artwork
artwork data
Prior art date
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Pending
Application number
JP14712784A
Other languages
English (en)
Inventor
Kusumi Sumino
角野 久寿美
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS6126243A publication Critical patent/JPS6126243A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は半導体集積回路のアートワークデータにおける
レイアウト検証システムに関するものである。
〔従来技術〕
集積回路のマスクパターン図を設計する工程では、マス
クパターンの接続チェックが行なわれる。
従来、この検証は、レイアウト図面と回路図との目視に
よる方法でなされてきた。しかしこのような目視による
チェックで線接続違反箇所の見逃貝が起こり易く、又繰
り返してチェックを行なえば見逃し線減少するものの、
チェックのために費やされる工数が多大なものとなって
しまう。
〔発明の目的〕
本発明拡上記従来技術の欠点に鑑み提案されたものであ
り、回路復元されたアートワークデータと元の回路デー
タとの一致性を判断することを可能とするLSIアート
ワークデータの回路接続照合出力装置の提供t−目的と
する 。
〔発明の構成〕
本発明は、バイポーラ回路接続データと該回路のアート
ワークデータとを照合するシステムにおいて、前記アー
トワークデータより復元された回路接続データと元のバ
イポーラ回路接続デ叩夕と4臼−喜tの4−iペースπ
1イ畝鎮イス壬のシ前記それぞれのデータベースを照合
してその一致性を判断する手段と、前記判断手段の判断
結果を出力するラインプリンタとを備えたことを特徴と
する。
〔実施例〕
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の実施例装置の概略構成図である。
101は元の回路図のデータベースの格納子′段、10
2は回路復元されたアートワークデータベーらの格納手
段、103はこれらのデータベースを比較照合する手段
、104はその照合結果を出力するラインプリンタであ
る。
!#!2図はバイポーラ回路の一回路図であり、第3図
はこの回路図を基に作成したアートワークデータであり
、第4図は第3図のアートワークデータを基に回路復元
された回路図である。
82図、′1fI3図、$ 4 図o 1〜5 ハ外部
端子”eあり、外部端子にはチェックの便宜のためにア
ートワークデータ、回路接続の両データベースにおい【
同一のテキストが付けられ【いる。INI。
IN2.VCC,OUT、GND がテキストテあル、
6〜15は第2図の回路図の回路素子又は端子を示し、
16〜35は第3図および134図の回路素子、端子又
は回路パターンを示している。
次に本発明の実施例の動作を説明する。
まず、コントロールデータ105により回路動作上信号
が入力される外部端子(以下IN端子と言う)とその信
号が出力される外部端子(以下OUT端子と言う)の組
み合わせが指定される。次に比較照合手段103により
IN端子を端緒として、これに接続する素子の種類、端
子の種別を両データベースにおいて比較し、さらに尚該
IN端子に接続する素子の他端子の等電位集合に着目し
てその等電位集合に含まれる素子情報を照合する。照合
した上で不一致箇所が発見された場合には不一致な配線
及びそれに接続する素子データ金ファイルへ逐次出力す
る。
以上の処理を繰り返し、全ての配線、素子に関して比較
照合が終了した後ファイルに格納された不一致箇所を編
集してラインプリンタ104より出力する。この処理の
様子は第5図のフローチャートに示されている。この処
理によって第2図と第4図のデータの比較照合の結果、
第2因の抵抗9と気4図のコンデンサの接続関係が異な
ることが発見される。そして抵抗9とコンデンサー35
及び配[8,5と配線32.31に接続する素子の端子
情報が、アートワークデータと回路図データとを対比さ
せた形Kli集されラインプリンタより出力される。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば!スクレイアウトパ
ターン図面と回路図との目視により行なわれてきた回路
接続チェックを、コンピュータにより自動的に迅速且つ
正確に行ない、照合の結果として得た出力リストにより
接続違反箇所を確認することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例装置に係る概略構成図、82図
はバイポーラ回路の一回路図、91743図は第2図の
回路図を基に作成したアートワークデータ、第4図は第
3図のアートワークデータを基に回路復元された回路図
、185図は処理の様子を示すフローチャートである。 101・・・元の回路図のデータベースの格納手段10
2・・・回路復元されたアートワークデータベースの格
納手段 103−・・データさ−ス比較照合手段104・・・ラ
インプリンタ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  バイポーラ回路接続データと該回路のアートワークデ
    ータとを照合するシステムにおいて、前記アートワーク
    データより復元された回路接続データと元のバイポーラ
    回路接続データとを同一形式のデータベースにして格納
    する手段と、前記それぞれのデータベースを照合してそ
    の一致性を判断する手段と、 前記判断手段の判断結果を出力するラインプリンタとを
    備えたことを特徴とするLSIアートワークデータの回
    路接続照合出力装置。
JP14712784A 1984-07-16 1984-07-16 Lsiア−トワ−クデ−タの回路接続照合出力装置 Pending JPS6126243A (ja)

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JP (1) JPS6126243A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6347882A (ja) * 1986-08-18 1988-02-29 Fujitsu Ltd 図形処理装置
JPS6380367A (ja) * 1986-09-24 1988-04-11 Nec Corp ア−トワ−クデ−タ検証システム
JPH0182524U (ja) * 1987-11-24 1989-06-01
JPH0466653U (ja) * 1990-10-12 1992-06-12

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