JP2633539B2 - 論理集積回路のテストデータ作成方式 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 （産業上の利用分野） この発明は、既存の複数の論理集積回路を組み合わせ
て作られた大規模論理集積回路のテストデータの作成方
式に関する。

（従来の技術） 論理集積回路の大規模化、１チップLSI化に伴い、全
体レベルでのテストデータの作成が困難になってきてい
る。

論理回路のテストデータは、回路の機能動作を基にマ
ニュアルで作成する方法と、回路の構造を基にコンピュ
ータを用いて作成する方法とがある。コンピュータを用
いて作成する場合は、論理シミュレーションと、論理回
路の各部に故障を仮定してその故障が診断し得るか否か
をシミュレーションする故障シミュレーションを実行し
て対象とする論理回路の入力パターンと出力ターンを求
ることによってテストデータを作成する。しかし、論理
回路が大規模になった場合、全体を一括して論理シミュ
レーション、故障シミュレーションすることは、コンピ
ュータのメモリ容量及び計算時間が多くなり困難であ
る。

（発明が解決しようとする問題点） この発明は、かかる点に鑑み前記従来の欠点を除去す
ること、即ち全体回路を一括して論理シミュレーショ
ン、故障シミュレーションせずに、各単位回路ごとに論
理シミュレーション，故障シミュレーションを行ない、
あるいは過去行なった論理シミュレーション，故障シミ
ュレーション結果を用いて、全体回路のテストリーダを
簡単に作成することを目的としており、この発明の要点
は次の様である。

（１）大規模論理集積回路に対して、回路全体を一括し
て論理シミュレーション及び故障シミュレーションを行
なう事は、コンピュータのメモリ容量や計算時間などの
ピュータリソースの制限により困難であるが、各単位回
路ごとの論理シミュレーション及び故障シミュレーショ
ンならば可能である。また、ある単位回路に対して論理
シミュレーション及び故障シミュレーションがすでに行
なわれている場合には、論理シミュレーション及び故障
シミュレーションを行なわずに、そのシミュレーション
結果のみを用いることができる。

（２）全体回路に対するテストデータを作成する場合
に、コンピュータにより、自動的に発生された入力デー
タに対しても、または人間により作成された入力データ
に対しても、出力データを求めることができる。

〔発明の構成〕

（問題点を解決するための手段及び作用） 全体集積回路を構成する複数の単位回路に対しては、
個々の単位回路に対して、論理シミュレーション及び故
障シミュレーションを行う事により、または過去に行わ
れた論理シミュレーション及び故障レミュレーションに
より、入力データと出力データ持ち、各単位回路の入力
データと出力データを互いに補完することにより、全体
集積回路のテストデータ作成する。

こうする事により、各単位回路に対してはコンピュー
タのメモリ容量や計算時間に関して現実的に、論理シミ
ュレーション及び故障シミュレーションが行なえ、また
色々な集積回路で共通に用いられる単位回路に対して
は、一度論理シミュレーション及び故障シミュレーショ
ンを行なう事により、入力データと出力データをライブ
ラリとして持ち、毎回シミュレーションを行なう必要は
なく、効率良く全体集積回路に対するテストデータを得
ることができる。

（実施例） 以下、本発明の実施例について説明する。第１図は本
発明を実施する場合のテストデータ作成の作業手順を示
すフローチャートである。第２図は本発明の一実施例と
しての論理集積回路チップの単位回路ブロックの構成図
である。21は、単位回路ブロックA,B,C,Dと、各ブロッ
ク間の配線及びチップの入力，出力端子とその配線から
なる。チップの入力端子群211は配線213により、ブロッ
クＡの入力となり、配線214によりブロックＢの、配線2
15によりブロックＣの、配線216によりブロックＤの入
力となっている。同様にチップの出力端子群212は配線2
17によりブロックＡの出力となり、配線218によりブロ
ックＢの、配線219によりブロックＣの、配線22により
ブロックＤの出力となっている。

また、ブロックＡの入力は上記の配線213によるステ
ップ入力端子からの入力の外に、配線221によるブロッ
クＢの出力からの入力及び配線222によるブロックの出
力からの入力がある。また出力も同様に配線212による
チップへの出力の外に、配線223によるブロックＢへの
出力及び配線224によるブロックＣへの出力がある。

ここで、各単位回路ブロックごとの論理シミュレーシ
ョン及び故障シミュレーションは、そのブロックへの入
力及びそのブロックからの出力のデータを求める。

チップ全体に対する入力パターンに対して、ブロック
Ａへの入力パターン、ブロックＢへの入力パターン、ブ
ロックＣヘの入力パターン及びブロックＤへの入力パー
ンより、各ブロックのシミュレーション結果の入力デー
タ，出力データを検索する。検索された入力・出力デー
タの各ブロック間の入出力値関係、例えばブロックＡの
入力データの信号のうちブロックＢから入力することに
なっている信号の入力データの値と、ブロックＢの出力
データの信号のうち、ブロックＡへの出力になっている
信号の出力データの値とが同じであることをチェックす
る。そして、各ブロックの出力データのうちチップの出
力端子への出力になっている信号の出力データの値をチ
ップの出力パターンとする。

ここで、各ブロックの入力・出力データは、正常な論
理シミュレーションの結果の入力・出力データと、故障
を仮定した故障シミュレーションの結果の入力・出力デ
ータの２つに大別される。

正常な回路動作に対するテストデータを求める場合に
は、各ブロックの入力・出力データは、正常な論理シミ
ュレーションの結果のものを用いる。また、故障を仮定
した回路動作に対するテストデータを求める場合には、
例えば故障を仮定した部分がブロックＡ内である場合に
は、ブロックＡの入力・出力データは故障シミュレーシ
ョンの結果のものを用い、他のブロックB,C,Dの入力・
出力データに対しては、正常な論理シミュレーションの
結果のものを用いる。他のブロックに故障が仮定された
場合も同様に、１つのブロックに対しては、故障シミュ
レーションの結果の入力・出力データを用い、そのブロ
ック以外のブロックに対する入力・出力データは正常な
論理シミュレーションの結果のものを用いる。

次に、具体的にテストデータの検索方法を述べる。各
ブロックの入力・出力データは、第３図331,332,333に
示す様なブロック端子管理テーブルと、正常な論理シミ
ュレーション入力・出力データテーブルと故障を仮定し
た故障シミュレーション入力・出力データテーブルとか
ら成る。また、「チップの入出力端子情報」より第３図
31に示す様なチップ端子管理テーブルが作成され、さら
に「ブロック間接続情報」より第３図32に示す様なブロ
ック端子接続テーブルが各ブロックに対して作成され
る。

ここで、１つのチップ全体に対する入力データに対し
て、ブロックＡ端子接続テーブル（32）とブロックＡ端
子管理テーブル（331）より、入力・出力データテーブ
ル（332または333）の乳パターンのチップからの入力以
外の入力パターンをマスクすることにより該当する入力
パターン，出力パターンを取り出す。他のブロックに対
しても同様に該当する入力パターン，出力パターンを取
り出す。そして、取り出された各ブロックの入力パター
ン，出力パターンに対して、ブロック間の入力パター
ン，出力パターンの値が一致していることをチェックす
る。そして、各ブロックの出力パターンのうち、チップ
の出力となっているものの出力パターンをまとめたもの
を出力データとする。

ここで、各単位回路ブロックが、組み合せ回路のみか
ら成る場合は、チップ全体に対する入力データから各単
位回路ブロックの該当する入力・出力データは一意に決
まると考えて十分である。というのは、各単位回路ブロ
ックはそれぞれ機械的にまとまっており、相互のブロッ
ク間の入力・出力信号が相互にブロックにフィードバッ
クして決定する様な場合、例えばブロックＡとブロック
Ｂの間で、ブロックＡからブロックＢへの信号が、ブロ
ックＢからブロックＡへの信号に依り影響を受け、なお
かつ、上記のブロックＢからブロックＡへの信号が上記
のブロックＡからブロックＢへの信号により影響を受け
る様な場合はほとんど無いと考えられる。しかし、上記
の様な場合で各ブロックの入力・出力データが一意に決
まらない時は、ブロックＡの入力データでブロックＢか
らの入力のものの値と、対応するブロックＢの出力デー
タでブロックＡへの出力のものの値が同じであること、
逆にブロックＢの入力データでブロックＡからの入力の
ものの値と、対応するブロックＡの出力データでブロッ
クＢへの出力のものの値が同じであることをチェックし
て決める。

単位回路ブロックが順序回路を含む場合は、単位回路
ブロックが内部状態をもち、この内部状態の違いに対応
して単位回路ブロックの出力データが異なる場合と、内
部状態は違うが出力データは同じになる場合とがある。
内部状態の違いに対応して単位回路ブロックの出力デー
タが異なる場合は、チップ全体に対する入力データか
ら、各単位回路ブロックの該当する入力・出力データが
複数あった時に、各単位回路ブロック間の対応する入力
データ・出力データは同じである場合、言い換えると単
位回路ブロックのシミュレーション時に内部状態が異な
り、入力データ・出力データのシーケンスで見た場合に
ある時刻で入力データ・出力データが同じになる場合が
ある。この様な場合は、単位回路ブロックのシミュレー
ション時に、内部状態の違いを表わす信号値と、それを
決定する入力データ信号名と繰り返し回数をシミュレー
ション結果の入力・出力データと一緒に持つ様にする。
チップ全体のテストデータを求める際には、単位回路ブ
ロックの入力・出力データは同一で、内部状態が異なる
場合は異なる内部状態を表わす信号名と、その値及びそ
れを決定する入力データ信号名と繰り返し回数を表示し
て人の入力を促す。人は、内部状態の違いを意識して、
入力データの繰り返しを指示する。

例えば、クロック信号の繰り返し。これに対し指定さ
れた入力データ信号の繰り返しを考慮してテストデータ
の作成を行なっていく。

〔発明の効果〕

以上の様に、従来論理シミュレーション及び故障シミ
ュレーションが適用できない様な大規模な論理集積回路
に対してテストデータを作成することができること、及
びすでに論理シミュレーションと故障シミュレーション
が行なわれている単位回路に対しては、そのシミュレー
ション結果を用いることにより新らたにシミュレーショ
ンを行なわずに、短時間に安価にテストデータを作成す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明のテストデータ作成のフローチャー
ト、第２図はこの発明の一実施例として説明する大規模
論理集積回路のブロック構成図、第３図はこの発明の一
実施例としてのデータテーブルである。 21……大規模論理集積回路チップ、Ａ……単位回路ブロ
ックＡ、Ｂ……単位回路ブロックＢ、Ｃ……単位回路ブ
ロックＣ、Ｄ……単位回路ブロックＤ、221……チップ
入力端子群、212……チップ出力端子群、213……ブロッ
クＡへのチップ入力端子配線、214……ブロックＡへの
チップ入力端子配線、215……ブロックＣへのチップ入
力端子配線、216……ブロックＤへのチップ入力端子配
線、217……ブロックＡからのチップ出力端子配線、218
……ブロックＢからのチップ出力端子配線、219……ブ
ロックＣからのチップ出力端子配線、220……ブロック
Ｄからのチップ出力端子配線、221……ブロックＡへの
ブロックＢからの入力配線、222……ブロックＡへのブ
ロックＣからの入力配線、223……ブロックＡからブロ
ックＢへの出力配線、224……ブロックＡからブロック
Ｃへの出力配線、31……チップ端子管理テーブル、32…
…ブロックＡ端子接続テーブル、 331……ブロックＡ端子管理テーブル、（ブロックＡの
入力・出力データ）332……論理シミュレーション入力
・出力データテーブル（ブロックＡの入力・出力デー
タ） 333……故障シミュレーション入力・出力データテーブ
ル（ブロックＡの入力・出力データ）。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】複数の単位回路ブロックよりなる論理集積
   回路のテストデータを作成する方式において、各単位回
   路ブロックについては、論理シミュレーション及び故障
   シミュレーションを行う手段と、シミュレーション結果
   の入力データ及び出力データを入力データテーブルに記
   録する手段と、さらに各単位回路ブロックの入力データ
   及び出力データを前記入出力データテーブルに基づいて
   検索し、前記検索結果を用いて各単位回路ブロック間の
   入力・出力データの一致・不一致を判定する手段と、各
   単位回路ブロック間の入力・出力データが一致している
   場合に、各単位回路ブロックの出力データのうち論理集
   積回路全体の出力となっているものの出力パターンをま
   とめたものを出力データとする手段を有し、該複数の単
   位回路ブロックよりなる論理集積回路のテストデータを
   作成することを特徴とする論理集積回路のテストデータ
   作成方式。