JPH0581369A - 遅延時間解析装置 - Google Patents

遅延時間解析装置

Info

Publication number
JPH0581369A
JPH0581369A JP3243807A JP24380791A JPH0581369A JP H0581369 A JPH0581369 A JP H0581369A JP 3243807 A JP3243807 A JP 3243807A JP 24380791 A JP24380791 A JP 24380791A JP H0581369 A JPH0581369 A JP H0581369A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
delay time
circuit
circuit data
level
time analysis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3243807A
Other languages
English (en)
Inventor
Matsumi Shimotsuji
松美 下辻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP3243807A priority Critical patent/JPH0581369A/ja
Publication of JPH0581369A publication Critical patent/JPH0581369A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 回路の遅延情報を容易に獲得する事を目的と
している。 【構成】 電子回路の設計段階を表すレベル情報が付加
された回路データを記憶する回路データ記憶部2と、回
路データ記憶部2に記憶されている回路データに付加さ
れたレベル情報に応じた設計段階の遅延時間解析手法4
1〜43を記憶する遅延時間解析手法記憶部4と、回路
データ記憶部2に記憶されている回路データに付加され
たレベル情報を認識して該レベル情報に応じた遅延時間
解析手法41〜43を遅延時間解析手法記憶部4から抽
出して遅延時間解析を実行させる回路レベル管理部3
と、解析された遅延時間を任意のレベルに変換する変換
ライブラリ51,52とから構成されている。 【効果】 様々なレベルの回路データが混在する回路デ
ータの遅延時間解析を容易に実行でき、設計の任意の状
態で検証可能とし、設計効率を向上させることができる

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、論理回路の遅延時間解
析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】大規模論理回路は一般に、回路をいくつ
かの部分回路に分割して設計を行い、後に一つの回路に
まとめるという手法が採られている。このような設計手
法を用いた場合には、各部分回路を複数の設計者が分担
して独立に設計を進めることで設計期間の短縮を謀るこ
とができる。しかしこのように分担してそれぞれ独立に
設計を進めることで、設計の進捗状況が部分回路によっ
て全く異なってくる。また、計算機のメモリ容量等の問
題から設計過程の各段階での回路データの履歴はほとん
ど保存していることがないため、設計の途中段階で部分
回路をつなぎ合わせると、一つの回路データの中に、初
期段階のレジスタ間のデータ転送情報を実現した回路デ
ータから、最終段階のテクノロジに依存した素子で構成
された回路データまで様々なレベルの部分回路データが
混在していることになる。
【0003】一方、回路データに課せられたパス遅延時
間等の設計仕様上の制約条件は絶対的なものであり、最
終段階のテクノロジに依存した回路データも混在してい
るデータ上で如何なる最適化処理を施してもその設計仕
様を満たすことができなかった場合には再設計をしなけ
ればならない。これにより設計者は回路の設計スケジュ
ールを大きく狂わすこととなってしまう。このような事
態を避けるためには、なるべく設計の初期段階で設計方
針の再検討等の可能性を把握することが肝要である。こ
のため、設計の途中段階における回路全体の評価、検証
は必須である。遅延時間解析ツールは一般に各レベルに
依存して入力データも処理内容も処理方法も異っている
ため、このような設計の途中段階で回路全体の遅延時間
解析を行うには、設計者が回路データを構成する全ての
素子の種類を調査して回路がどのレベルに属するかを判
別し、各部分回路データのレベルに合った遅延時間解析
ツールを別個に起動して、求めた各々部分回路データの
遅延時間情報を人手で結合することで回路全体の遅延時
間情報を求めるという手法を採ってきた。あるいは、設
計システム全体の処理内容や遅延時間解析対象回路デー
タの設計履歴情報等、様々な情報を入力・設定すること
により、システムが回路データのレベルを自動的に解析
してツールを起動するという手法も採られてきた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の手法に
おいて、人手で各部分回路のレベルを調べ該当レベルの
遅延解析ツールを起動する手法を用いた場合には、設計
者にとってレベルの判断が非常に困難であり、非常な忍
耐と労力を余儀なくされる。また、システムが自動的に
レベルを判別し、遅延時間解析ツールを起動する遅延時
間解析装置においては、回路データのレベルを識別する
ための設定が非常に面倒であり、回路データのレベルを
識別するための探索に時間がかかるという問題もあっ
た。
【0005】本発明は、上記のような事情に鑑みてなさ
れたもので、その目的とするところは、各回路データに
回路の設計段階を表すレベル情報を付加するだけで、そ
のレベルに応じた遅延時間解析手法を用いて遅延時間を
解析し、ある1つのレベルの遅延情報に変換・統合する
ことによって、回路全体の遅延情報を容易に獲得するこ
とができる遅延時間解析装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の遅延時間解析装置は、電子回路の設計段階
を表すレベル情報が付加された回路データを記憶する回
路データ記憶手段と、この回路データ記憶手段に記憶さ
れている回路データに付加されたレベル情報に応じた設
計段階の遅延時間解析手法を記憶する遅延時間解析手法
記憶手段と、前記回路データ記憶手段に記憶されている
回路データに付加されたレベル情報を認識して該レベル
情報に応じた遅延時間解析手法を前記遅延時間解析手法
記憶手段から抽出して遅延時間解析を実行させる回路レ
ベル管理手段と、解析された遅延時間を任意のレベルに
変換・統合するレベル変換統合手段とから構成されてい
る。
【0007】
【作用】上記構成によって本発明は、論理回路データを
いくつかの部分回路に分割して回路を生成する論理回路
設計システムにおいて、論理回路データに設計の段階を
表すレベル情報を付加させ、このレベル情報を管理する
手段を設けることで、様々なレベルの回路データが混在
する大規模回路データの遅延時間解析を行い、任意の1
つのレベルの遅延情報に変換・統合している。
【0008】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図1は、本発明の遅延時間解析装置の一実施例に係
わる構成を示す回路ブロック図である。
【0009】同図に示す遅延時間解析装置は、レジスタ
転送レベルの回路記述からテクノロジに依存した回路デ
ータを自動的に合成する回路設計部1と、回路設計部1
で設計されたあらゆる段階の回路データを、その設計段
階を表すレベル情報と共に記憶する回路データ記憶部2
と、回路データ記憶部2に記憶されている各回路データ
のレベル情報を認識し、そのレベルに応じた遅延時間解
析ツールを起動し、さらに得られた各レベルの遅延時間
情報を任意の1つのレベルに変換・統合する回路レベル
管理部3と、回路レベル管理部3によって起動される遅
延時間解析手法群を記憶する遅延時間解析手法記憶部4
と、遅延時間解析手法記憶部4に記憶されている機能レ
ベル遅延時間解析41、論理レベル遅延時間解析42、
セルレベル遅延時間解析43と、機能レベル遅延時間解
析41あるいは論理レベル遅延時間解析42が算出した
遅延時間情報をセルレベルの遅延時間情報に変換するた
めに参照する機能セル変換ライブラリ51と、論理セル
変換ライブラリ52とを記憶する変換ライブラリ記憶部
5とから構成されている。
【0010】次に、図2に示す回路データに対し遅延時
間解析処理を実行する場合について説明する。図2に示
す回路データは回路設計部1によって設計された回路デ
ータであり、外部から信号を入力する外部入力端子I
1,I2,I3と、外部に信号を出力する外部出力端子
O1,O2と、テクノロジに依存したインバータ素子I
Vと、部分回路データA,B,C,Dとから成る識別名
TLの回路データである。ここで、各回路データに付加
されている0〜2の整数値は各回路データの設計段階を
表すレベル情報である。このレベル情報は大きい値ほど
論理合成の過程が進んでいることを示す。
【0011】このような回路データに対する遅延時間解
析処理手順を、図3に示す処理フローに従って説明す
る。まず、回路レベル管理部3により、回路データ記憶
部2から回路データTLが読み込まれ(ステップ3
1)、回路データTLのレベル値2が認識される(ステ
ップ32)。遅延時間解析手法記憶部4に記憶されてい
る遅延時間解析手法の中から、レベル2に対応するセル
レベル遅延時間解析43が選択され起動される(ステッ
プ35)。
【0012】セルレベル遅延時間解析43は、外部入力
端子から外部出力端子に向かって信号の伝搬経路を辿り
ながらパス遅延時間を計算していく。例えば、外部入力
端子I1からのパス遅延時間を計算するためには、まず
I1の接続先である部分回路Aの遅延時間を求める必要
がある。よって回路データTLに対するセルレベル遅延
時間解析43は、回路レベル管理部3に部分回路データ
Aに対する遅延解析処理を要求する。
【0013】回路レベル管理部3により、回路データA
のレベルは0である(ステップ31,32)ので、機能
レベル遅延時間解析41が起動され、回路データAの遅
延情報が得られる(ステップ33)。得られた回路デー
タAの遅延情報は、機能セル変換ライブラリ51によっ
てセルレベルの遅延情報に変換される(ステップ3
6)。さらに、変換された情報は、セルレベルの情報に
統合され(ステップ38)、セルレベル遅延時間解析処
理が続行される(ステップ39)。これにより、部分回
路Aを含むセルレベルの遅延情報が得られる。同様にし
て部分回路C,Dのセルレベルの遅延情報を得ること
で、外部入力端子I1から外部出力端子O1,O2まで
の遅延情報が得られる。
【0014】尚、本発明は本実施例に限るものではな
く、回路データのレベルの分類や処理範囲もこれに限る
ものではない。例えば、回路の機能のみを実現したより
ハードウェアを意識しない回路データや、電気的に表現
されたプリミティブな回路データまで自由に設定するこ
とができる。また、この実施例では回路の遅延時間解析
処理について説明したが、これに限らず、遅延時間解析
手法記憶部4に他の記憶部を追加することにより、回路
の合成やシミュレーション、最適化処理、面積の概算を
含む回路の性能評価等も任意のレベルについて容易に実
行することができる。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように、本説明の遅延時間
解析装置によれば、論理回路の設計段階を識別するレベ
ル値を回路データに付加させることにより、各レベルに
応じた遅延時間解析処理を自動的に選択実行している。
これにより、様々なレベルの回路データが混在する大規
模論理回路データでも、論理回路のタイミング仕様を満
たさない等の過ちを回路設計の任意の状態で検証するこ
とができ、設計効率を大幅に向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の遅延時間解析装置に係わる一実施例の
構成を示す回路ブロック図である。
【図2】図1に示した回路データ記憶部2に記憶されて
いる回路データを示す図である。
【図3】本発明の遅延時間解析装置の処理手順を示す処
理フローである。
【符号の説明】
1 回路設計部 2 回路データ記憶部 3 回路レベル管理部 4 遅延時間解析手法記憶部 41 機能レベル遅延時間解析 42 論理レベル遅延時間解析 43 セルレベル遅延時間解析 5 変換ライブラリ記憶部 51 機能セル変換ライブラリ 52 論理セル変換ライブラリ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子回路の設計段階を表すレベル情報が
    付加された回路データを記憶する回路データ記憶手段
    と、この回路データ記憶手段に記憶されている回路デー
    タに付加されたレベル情報に応じた設計段階の遅延時間
    解析手法を記憶する遅延時間解析手法記憶手段と、前記
    回路データ記憶手段に記憶されている回路データに付加
    されたレベル情報を認識して該レベル情報に応じた遅延
    時間解析手法を前記遅延時間解析手法記憶手段から抽出
    して遅延時間解析を実行させる回路レベル管理手段と、
    解析された遅延時間を任意のレベルに変換・統合するレ
    ベル変換統合手段とを有することを特徴とする遅延時間
    解析装置。
JP3243807A 1991-09-24 1991-09-24 遅延時間解析装置 Pending JPH0581369A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3243807A JPH0581369A (ja) 1991-09-24 1991-09-24 遅延時間解析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3243807A JPH0581369A (ja) 1991-09-24 1991-09-24 遅延時間解析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0581369A true JPH0581369A (ja) 1993-04-02

Family

ID=17109232

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3243807A Pending JPH0581369A (ja) 1991-09-24 1991-09-24 遅延時間解析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0581369A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8719742B2 (en) Conversion of circuit description to an abstract model of the circuit
US7900172B2 (en) Method and apparatus for analyzing power consumption
CN113255258B (zh) 逻辑综合方法、装置、电子设备及存储介质
CN116256621B (zh) 芯粒的测试方法、装置、电子设备及存储介质
US6993740B1 (en) Methods and arrangements for automatically interconnecting cores in systems-on-chip
US20090055781A1 (en) Circuit design device, circuit design program, and circuit design method
CN107784185B (zh) 一种门级网表中伪路径的提取方法、装置及终端设备
JP3272915B2 (ja) スタティックタイミング解析装置
CN112733478B (zh) 用于对设计进行形式验证的装置
US20230252192A1 (en) Hardware trojan detection method, hardware trojan detection device, and program for hardware trojan detection
US6170072B1 (en) Logic circuit verification apparatus and method for semiconductor integrated circuit
JPH0581369A (ja) 遅延時間解析装置
JPH06252266A (ja) 半導体集積回路自動設計装置
US6854102B1 (en) System and method of acquiring delay, setup and hold values for integrated circuit cells
CN112613257A (zh) 验证方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质
US20030144826A1 (en) Register repositioning method for functional verification systems
US20030225559A1 (en) Verification of multi-cycle paths
US6377909B1 (en) Method and apparatus for preparing a logic simulation model and recording medium for storing the same
CN117725866B (zh) 一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质
JP2633539B2 (ja) 論理集積回路のテストデータ作成方式
US20240037306A1 (en) Static timing analysis method and static timing analysis system
WO2024001891A1 (zh) 时序库最大负载的生成方法和装置、存储介质及电子装置
US7058908B2 (en) Systems and methods utilizing fast analysis information during detailed analysis of a circuit design
JP2009104387A (ja) テストデータ生成プログラム、テストデータ生成装置及びテストデータ生成方法
JP3171236B2 (ja) 入力端子競合パターン検出システム