JPS63255672A - 回路ブロツクテスト回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、集積回路の内部回路を複数の部分回路ブロ
ックに分けてブロック単位でテストする回路ブロックテ
スト回路に関するものである。

〔従来の技術〕

第２図は従来の集積回路１３の内部回路の一例を示した
ものであり、図において、１は第１の部分回路ブロック
、２は第２の部分回路ブロック、３は第３の部分回路ブ
ロック、４は第１の入力ピン、５は第１の出力ピン、６
は第２の出力ピンである。

次に、動作について説明する。第１の入力ヒン４からデ
ータを入力し、第１の出力ピン５の出力をみることによ
って第１の部分回路ブロック１のテストを、第１の入力
ピン４からデータを入力し、第２の出力ピン６の出力を
みることによって第１の部分回路ブロック１、第２の部
分回路ブロック２及び第３の部分回路ブロック３の全体
のテストを行う。

〔発明が解決しようとする問題点〕

従来の回路ブロックテスト回路は、以上のように構成さ
れているので、テストプランニングが困難であり、また
、回路の一部変更のために、全体のテストパターンを変
更する必要があるなどの問題点があった。

この発明は上記のような問題点を解消するために４され
たもので、部分回路ブロックをそれぞれ独号してテスト
できる回路ブロックテスト回路を得ることを目的とする
。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明に係る回路ブロックテスト回路は、相互に直列
接続される複数段の部分回路ブロックの２段目以後の入
力側にマルチプレクサを接続し、該マルチプレクサを介
して後段の前記部分回路ブロックは前段の前記部分回路
ブロックの出力端と集積回路の外部入力ピンとに接続し
たものである。

〔作用〕゛ こ゛の発明におけるマルチプレクサは、各部分回路ブロ
ックをそれぞれ独立してテストすることができるように
制御する。

〔実施例〕

以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において、前述した従来技術を示す第２図と同−又は
相当部分には同一符号をつけて示している。７は第２の
部分回路ブロック２の入力端に接続された第１のマルチ
プレクサであり、第２の部分回路ブロック２はこの第１
のマルチプレクサ７を介して第１の部分回路ブロック１
の出力端と第１の入力ピン４とにそれぞれ接続されてい
る。８は第２のマルチプレクサであり、そのへ力端は第
１．第２の部分回路ブロック１′、２の各出力端に接続
され、且つその出力端は第１の出力ピン５に接続されて
いる−０９は第３の部分回路ブロック３の入力端に接続
された第３のマルチプレクサであり、第３の部分回路ブ
ロック３はこの第３のマルチプレクサ９を介して第２の
部分回路ブロック２の出力端と第１の入力ピン４とにそ
れぞれ接続されている。１０，１１．１２はテスト選択
入力ピンであり、各マルチプレクサ７、’８．”９のセ
レクト端子に接続されている。

次に、動作について説明する。まず、通常使用時は、第
１の部分回路ブロック１の出力が第２の部分回路ブロッ
ク２の入力となり、第２の部分回路ブロック２の出力が
第３の部分回路ブロック３の入力となっている。そこで
、テスト選択入力ピン１０．１１をテストモードに変え
、第２の部分回路ブロック２の入出力端を第１の入力ピ
ン４と第１の出力ピン５につなく。そして、第１の入力
ピン４からデータを入力し、第１の出力ピン５の出力を
みることによって、第２の部分回路ブロック２のテスト
を行う。また、テスト選択入力ピン１２をテストモード
に変え、第３の部分回路ブロック３の入力端を第１の入
力ピン４につなぎ、第１の入力ピン４．第２の出力ピン
６を使って第３の部分回路ブロック３のテストを行う。

さらに、テスト選択入力ピン１１をテストモードに変え
ると１．第１の部分回路ブロック１と第２の部分回路ブ
ロック２の２段のテストが行え、テスト選択入力ピン１
０をテストモードに変えると第２の部分回路ブロック２
と第３の部分回路ブロック３の２段のテストが行える。

なお、上記実施例では第１の部分回路ブロック１への第
１の入力ピン４に、第２の部分回路ブロック２及び第３
の部分回路ブロック３のテスト用入力信号線を接続した
場合を示したが、更に他の部分回路ブロックのテスト用
入力信号線を接続してもよい。

同様に、第１の出力ピン５にも他の部分回路ブロックの
テスト用出力信号を導くことができる。

テスト用入出力信号を通常動作時に使用する集積回路の
外部ピンに接続するのは、集積回路の外部ピンを減らす
ためのものであり、もちろんテスト用の外部ピンに接続
しても上記実施例と同様の効果を奏する。

上記実施例では、部分回路ブロックが３段の場合につい
て説明したが、部分回路ブロックは２段以上であれば何
段でもよい。　　□ 〔発明の効果〕 以上のように、この発明によれば、相互に直列接続され
る複数段の各部分回路ブロックの２段目以後の入力側に
マルチプレクサを接続し、このマルチプレクサを介して
後段の部分回路ブロックの入力端を前段の部分回路ブロ
ックの出力端と集積回路の外部入力ピンと□に接続する
ように構成したので、部分回路ブロックをそれぞれ独立
してテストすることができる。従って、この発明によれ
ば、新規設計の場合は、テストプランニングが容易であ
り、流用の場合は従来のテストパターンがそのまま使用
できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の一実施例による回路ブロックテス
ト回路を示すブロック図、第２図は、従来の回路ブロッ
クテスト回路を示すブロック図である。 １は第１の部分回路ブロック、２は第２の部分回路ブロ
ック、３は第３の部分回路ブロック、４は第１の入力ピ
ン、５は第１の出力ピン、６は第２の出力ピン、７，８
．９は第１〜第３のマルチプレクサ、１０，１１，１．
２はテスト選択入力ピン、１３は集積回路。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　集積回路の内部回路を複数の部分回路ブロックに分け
   て直列接続し、これら部分回路ブロックのテストを行う
   回路ブロックテスト回路において、相互に直列接続され
   る複数段の前記各部分回路ブロックの２段目以降の入力
   側にマルチプレクサが接続され、前記マルチプレクサを
   介して後段の前記部分回路ブロックの入力端は前段の前
   記部分回路ブロックの出力端と前記集積回路の外部入力
   ピンとに接続されていることを特徴とする回路ブロック
   テスト回路。