JPS61213934A - シフトパス回路 - Google Patents
シフトパス回路Info
- Publication number
- JPS61213934A JPS61213934A JP60054787A JP5478785A JPS61213934A JP S61213934 A JPS61213934 A JP S61213934A JP 60054787 A JP60054787 A JP 60054787A JP 5478785 A JP5478785 A JP 5478785A JP S61213934 A JPS61213934 A JP S61213934A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shift
- circuit
- data
- parallel
- series
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、ディジタル技術によるシフトパス回路に関す
る。
る。
（従来の技術）
従来、この種のシフトパス回路はレジスタを利用し、直
列にレジスタを接続することにより、外部よりレジスタ
の値を任意に設定することが可能な構成となっていた。
列にレジスタを接続することにより、外部よりレジスタ
の値を任意に設定することが可能な構成となっていた。
例えば、斯かる技術に関しては特公昭４８−４１７７０
号に記載されている。
号に記載されている。
（発明が解決しようとする問題点）
上述した従来のシフトパス回路は、レジスタを利用する
ことにより、できうる限シ診断回路の増加を抑えている
ため、論理回路構成が複雑になるに伴ってシフトパス回
路に含まれるレジスタ数が数百〜壱千にもなシ、特定の
レジスタにある値を入力する場合にはシフトパス回路に
含まれるすべてのレジスタに再入力しなくてはならず、
設定時間が大幅に増加するという欠点があった。
ことにより、できうる限シ診断回路の増加を抑えている
ため、論理回路構成が複雑になるに伴ってシフトパス回
路に含まれるレジスタ数が数百〜壱千にもなシ、特定の
レジスタにある値を入力する場合にはシフトパス回路に
含まれるすべてのレジスタに再入力しなくてはならず、
設定時間が大幅に増加するという欠点があった。
シフトハス回路は、それ以外の回路の故障診断に対し非
常に有効な手法である。しかし、シフトパス回路のなか
のレジスタが１ビツトでも故障した場合には、シフトパ
ス回路のなかにデータが入力されても故障したレジスタ
以後に正しい値しか伝播されず、データを出力してもす
べてのビットから固定した値しか出力されないという欠
点があった。また、シフトデータのデータ入力回路、ま
たはデータ出力回路が故障した場合にも固定した値しか
出力されないため、シフトパス回路が複雑になるに伴っ
て７フトパス回路の故障診断が非常困難になるという欠
点があった。
常に有効な手法である。しかし、シフトパス回路のなか
のレジスタが１ビツトでも故障した場合には、シフトパ
ス回路のなかにデータが入力されても故障したレジスタ
以後に正しい値しか伝播されず、データを出力してもす
べてのビットから固定した値しか出力されないという欠
点があった。また、シフトデータのデータ入力回路、ま
たはデータ出力回路が故障した場合にも固定した値しか
出力されないため、シフトパス回路が複雑になるに伴っ
て７フトパス回路の故障診断が非常困難になるという欠
点があった。
本発明の目的は、レジスタを直列接続して構成したシフ
ト回路に、そのレジスタ数より少ない段数の直並列シフ
トレジスタを備け、直並列シフトレジスタにセットされ
ている値をシフト回路へ並列に入力したり、あるいはシ
フト回路にセットされている値を直並列シフトレジスタ
へ並列に入力することができるように結線することによ
り上記欠点を除去し、設定時間が短くて故障診断が容易
なように構成したシフトパス回路を提供することにある
。
ト回路に、そのレジスタ数より少ない段数の直並列シフ
トレジスタを備け、直並列シフトレジスタにセットされ
ている値をシフト回路へ並列に入力したり、あるいはシ
フト回路にセットされている値を直並列シフトレジスタ
へ並列に入力することができるように結線することによ
り上記欠点を除去し、設定時間が短くて故障診断が容易
なように構成したシフトパス回路を提供することにある
。
（問題点を解決するための手段）
本発明による７フトパス回路は、シフト回路とフト選択
回路とを具備し、直並列シフトレジスタにセットされて
いる値をシフト回路へ並列に入力したり、あるいはシフ
ト回路にセットされている値を直並列シフトレジスタへ
並列に入力したシすることができるように構成したもの
である。
回路とを具備し、直並列シフトレジスタにセットされて
いる値をシフト回路へ並列に入力したり、あるいはシフ
ト回路にセットされている値を直並列シフトレジスタへ
並列に入力したシすることができるように構成したもの
である。
シフト回路は、レジスタを直列に接続して故障診断を容
易にするためのものである。
易にするためのものである。
直並列シフトレジスタは、シフト回路より短い段数を有
するものである。
するものである。
データ選択回路は、シフト回路に処理データ、直列診断
データ、または並列診断データのうちの一つを選択的に
入力させるだめのものである。
データ、または並列診断データのうちの一つを選択的に
入力させるだめのものである。
シフト選択回路は、シフト回路のデータを直並列シフト
レジスタに選択的に入力させるだめのものである。
レジスタに選択的に入力させるだめのものである。
（実施例）
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図は、本発明によるシフトパス回路の一実施例を示
すブロック図である。第１図において、シフトパス回路
は直並列フットレジスタ１と、データ選択回路２１．２
２と、シフト回路３１゜３２と、シフト選択回路４と、
論理回路６１゜！ｉ２とにより構成されている。
すブロック図である。第１図において、シフトパス回路
は直並列フットレジスタ１と、データ選択回路２１．２
２と、シフト回路３１゜３２と、シフト選択回路４と、
論理回路６１゜！ｉ２とにより構成されている。
次に、第１図に従って動作を詳細に説明する。
第１図において、それぞれのシフト回路２１゜２２にセ
ットされている値はシフト選択回路４に入力される。信
号端子１０上の選択信号によ多入力が選択されると、選
択されたデータ出力が直並列シフトレジスタ１に入力さ
れる。直並列シフトレジスタ１にはシリアルデータ入力
信号端子８、またはシフト選択回路４から並列データが
入力され、データはデータ出力回路７を通してシリアル
データ出力信号端子９に出力される。並列データはデー
タ選択回路２１に入力され、データ選択回路２１．２２
では端子１４のデータ、論理回路６１．６２のデータ、
あるいはシフト回路！１゜３２、もしくは直並列シフト
レジスタ１からのデータが端子１３上の選択信号により
選択されて出力される。シフト回路！！ １’、 ！Ｉ
２にはデータ選択回路２１．２２からのデータが入力
され、論理回路６１．６２およびシフト選択回路４へ出
力される。
ットされている値はシフト選択回路４に入力される。信
号端子１０上の選択信号によ多入力が選択されると、選
択されたデータ出力が直並列シフトレジスタ１に入力さ
れる。直並列シフトレジスタ１にはシリアルデータ入力
信号端子８、またはシフト選択回路４から並列データが
入力され、データはデータ出力回路７を通してシリアル
データ出力信号端子９に出力される。並列データはデー
タ選択回路２１に入力され、データ選択回路２１．２２
では端子１４のデータ、論理回路６１．６２のデータ、
あるいはシフト回路！１゜３２、もしくは直並列シフト
レジスタ１からのデータが端子１３上の選択信号により
選択されて出力される。シフト回路！！ １’、 ！Ｉ
２にはデータ選択回路２１．２２からのデータが入力
され、論理回路６１．６２およびシフト選択回路４へ出
力される。
直並列データをシフト回路！１．１２に入力する場合に
は、端子１１上のシリアルデータは入力回路１３を介し
て全ビットと・もシフト回路３１゜５２に入力される。
は、端子１１上のシリアルデータは入力回路１３を介し
て全ビットと・もシフト回路３１゜５２に入力される。
直並列シフトレ、ジスタ１と同一ビット幅に分割された
シフト回路５１．３２の内部の一つにデ゛−夕を入力す
る場合には、端子８からデータ入力回路６を介して直並
列シフトレジスタ１にシリアルデータを入力し、その後
、データ選択回路２１．２２により直並列シフトレジス
タ１の出力を選択してシフト回路３１．３２に入力する
。したがって、シフト回路５１．８２のデータ幅に対す
る直並列シフトレジスタ１のデータ幅の比だけデータ入
力時間が短縮・さ・れる。その結果＼第１図の回路を検
査するための試験パターン容量が低減されて試験時間が
短縮される。
シフト回路５１．３２の内部の一つにデ゛−夕を入力す
る場合には、端子８からデータ入力回路６を介して直並
列シフトレジスタ１にシリアルデータを入力し、その後
、データ選択回路２１．２２により直並列シフトレジス
タ１の出力を選択してシフト回路３１．３２に入力する
。したがって、シフト回路５１．８２のデータ幅に対す
る直並列シフトレジスタ１のデータ幅の比だけデータ入
力時間が短縮・さ・れる。その結果＼第１図の回路を検
査するための試験パターン容量が低減されて試験時間が
短縮される。
データ入力回路１Ｍと、データ出力回路１４と、シフト
回路Ｂ １ 、、８．２とのなかに故障が発生した場合
には、データ入力回路１３より入力されたデータはシフ
ト回路３１．５２に正しく入力てれず、データ出力回路
１４より正しく出力されないため、故障箇所の指定が困
難となる。そこで、直並列シフトレジスタ１にセットさ
れた値を上記と同様にしてシフト回路５１．３２のすべ
て、または一つに選択的に入力し、端子１０から入力さ
れた選択信号によりシフト選択回路４を介して選択され
たシフト回路３１．３２の出力を直並列シフトレジスタ
１に入力し、シリアルデータとして出力端子９に出力し
て確認する。これによってシフト回路！１．５２の故障
箇所を指定することができるため、データ入力回路１３
またはデータ出力回路１４の故障を容易に指摘すること
もできる。
回路Ｂ １ 、、８．２とのなかに故障が発生した場合
には、データ入力回路１３より入力されたデータはシフ
ト回路３１．５２に正しく入力てれず、データ出力回路
１４より正しく出力されないため、故障箇所の指定が困
難となる。そこで、直並列シフトレジスタ１にセットさ
れた値を上記と同様にしてシフト回路５１．３２のすべ
て、または一つに選択的に入力し、端子１０から入力さ
れた選択信号によりシフト選択回路４を介して選択され
たシフト回路３１．３２の出力を直並列シフトレジスタ
１に入力し、シリアルデータとして出力端子９に出力し
て確認する。これによってシフト回路！１．５２の故障
箇所を指定することができるため、データ入力回路１３
またはデータ出力回路１４の故障を容易に指摘すること
もできる。
（発明の効果）
以上説明したように本発明は、レジスタを直列接続して
構成したシフト回路に、そのレジスタ数より少ない段数
の直並列シフトレジスタを設け、直並列シフトレジスタ
にセットされている値をシフト回路に入力したり、ある
いはシフト回路にセットされている値を直並列シフトレ
ジスタへ並列に入力することができるように結線するこ
とにより、シフト回路のデータ入力時間を短縮でき、シ
フト回路が故障した場合には故障箇所をすみやかに指摘
できるという効果がある。
構成したシフト回路に、そのレジスタ数より少ない段数
の直並列シフトレジスタを設け、直並列シフトレジスタ
にセットされている値をシフト回路に入力したり、ある
いはシフト回路にセットされている値を直並列シフトレ
ジスタへ並列に入力することができるように結線するこ
とにより、シフト回路のデータ入力時間を短縮でき、シ
フト回路が故障した場合には故障箇所をすみやかに指摘
できるという効果がある。
第１図は、本発明によるシフトパス回路の一実施例を示
すブロック図である。 １・・・直並列シフトレジスタ ２１．２２・・・選択回路 ３１．１２・・・シフト回路 ４・・・選択回路 ５１．５２・・・論理回路 ６．１ｉＳ・・・データ入力回路 ７．１４・・・データ出力回路
すブロック図である。 １・・・直並列シフトレジスタ ２１．２２・・・選択回路 ３１．１２・・・シフト回路 ４・・・選択回路 ５１．５２・・・論理回路 ６．１ｉＳ・・・データ入力回路 ７．１４・・・データ出力回路
Claims (1)
- レジスタを直列に接続して故障診断を容易にするための
シフト回路と、前記シフト回路より短い段数を有する直
並列シフトレジスタと、前記シフト回路に処理データ、
直列診断データ、または並列診断データのうちの一つを
選択的に入力させるためのデータ選択回路と、前記シフ
ト回路のデータを前記直並列シフトレジスタに選択的に
入力させるためのシフト選択回路とを具備し、前記直並
列シフトレジスタにセットされている値を前記シフト回
路へ並列に入力したり、あるいは前記シフト回路にセッ
トされている値を前記直並列シフトレジスタへ並列に入
力することができるように構成したことを特徴とするシ
フトパス回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60054787A JPS61213934A (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | シフトパス回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60054787A JPS61213934A (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | シフトパス回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61213934A true JPS61213934A (ja) | 1986-09-22 |
Family
ID=12980467
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60054787A Pending JPS61213934A (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | シフトパス回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61213934A (ja) |
-
1985
- 1985-03-19 JP JP60054787A patent/JPS61213934A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0111053B1 (en) | On-chip monitor | |
| JPS63263480A (ja) | 半導体集積論理回路 | |
| US4913557A (en) | Intergrated logic circuit having testing function circuit formed integrally therewith | |
| JPS60239836A (ja) | 論理回路の故障診断方式 | |
| JPS61213934A (ja) | シフトパス回路 | |
| JPS62195169A (ja) | 大規模集積回路 | |
| JPH04148258A (ja) | バス線試験方法および該方法を実施する装置 | |
| JPS61262856A (ja) | 試験回路 | |
| JPH0572615B2 (ja) | ||
| JP2000338188A (ja) | 半導体集積回路の試験回路 | |
| JPH06123761A (ja) | 大規模集積回路 | |
| JPH01238050A (ja) | 半導体装置 | |
| JPS62211573A (ja) | 故障診断回路をもつ大規模集積回路 | |
| JPH0561713A (ja) | 電子回路ブロツク試験回路 | |
| JPS62204172A (ja) | スキヤンル−トの多重化診断方式 | |
| JPS63255672A (ja) | 回路ブロツクテスト回路 | |
| JPH01229985A (ja) | 集積回路 | |
| JPH10104313A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH04352238A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPS6381282A (ja) | 論理回路 | |
| JPS636470A (ja) | 集積回路の出力端子試験回路 | |
| JPH0339672A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH0553862A (ja) | スキヤンパス診断システム | |
| JPH09127203A (ja) | 論理集積回路の故障テスト方法及び論理集積回路 | |
| JPS60239835A (ja) | 論理回路の故障診断方式 |