JPH0572615B2 - - Google Patents

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JPH0572615B2
JPH0572615B2 JP60021616A JP2161685A JPH0572615B2 JP H0572615 B2 JPH0572615 B2 JP H0572615B2 JP 60021616 A JP60021616 A JP 60021616A JP 2161685 A JP2161685 A JP 2161685A JP H0572615 B2 JPH0572615 B2 JP H0572615B2
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JP
Japan
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shift
flip
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signal
output
Prior art date
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JP60021616A
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English (en)
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JPS61182140A (ja
Inventor
Toshio Tanahashi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
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Publication of JPS61182140A publication Critical patent/JPS61182140A/ja
Publication of JPH0572615B2 publication Critical patent/JPH0572615B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/221Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test buses, lines or interfaces, e.g. stuck-at or open line faults

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はデータ処理装置に於ける論理回路を診
断するための診断回路方式に関するものである。
〔従来技術とその問題点〕
第5図は従来の論理回路の診断回路方式の一例
を示す図である。第5図の装置は、組合せ回路
1、複数のフリツプフロツプ21〜2i、組合回路
3、複数のフリツプフロツプ2i+1〜2o(図では
FFで示してある。以下同じ。)および組合せ回路
4から成る論理回路と、エラー信号などを検出す
る検出回路5,6とから成つている。そして複数
のフリツプフロツプ21〜2oを縦続接続したシフ
トレジスタに構成するよう制御を行なうシフトモ
ード入力aと(但しフリツプフロツプは図では
FFで示してある。以下同じ。)前記複数のフリツ
プフロツプをシフトレジスタに構成した時の最初
のフリツプフロツプ21の入力に接続されるシフ
トイン入力bと、最後のフリツプフロツプ2o
出力に接続されるシフトアウト出力cとを印加又
は出力するようになつている。なお信号d及びe
は入力、f,g,及びhは出力をそれぞれ示して
いる。
上記のような構成において、前記複数のフリツ
プフロツプをシフトレジスタに構成にするよう前
記シフトモード入力aにレベル信号を与え、シフ
トイン入力bに任意の信号を与え、かつ任意のフ
リツプフロツプに対応した回数のクロツク入力信
号(図示せず)を印加することにより、任意のフ
リツプフロツプに任意のレベル信号を記憶させる
とともに、任意のフリツプフロツプに対応した回
数のクロツク入力信号を印加して前記シフトレジ
スタ構成になつた複数のフリツプフロツプの最後
のフリツプフロツプ2oに前記任意のフリツプフ
ロツプに記憶されていた信号をシフトすることに
より、シフトアウト出力から観測することができ
るようになつている。
しかしながら上記のようないわゆるスキヤン方
式においては、複数のフリツプフロツプをシフト
レジスタ構成にしないよう前記シフトモード入力
aにレベル信号を与えた時に、シフトモード入力
a、シフトイン入力bおよびシフトアウト出力c
は有効に使用されないという欠点があつた。すな
わちエラー信号などを検出する検出回路5および
6は実線で示すようにいずれも独立の検出信号
r,sを出力するようになつている。また検出信
号r,sを出力する代りに、図に鎖線で示すよう
に検出回路用FF7および8を用いる方式の場合
は、r′とs′を出力する必要がある。いずれにして
もシフトアウト出力cのほかに2つの出力を発す
る必要がある。したがつて組合せ回路(1,3,
4など)が多数の場合、出力の数が多くなり、ピ
ン数が非常に多くなる。
特に集積回路のように大規模な集積化を行なう
と、実装される素子数に比較して実装できる入出
力ピン数の割合が減少するために、集積化が入出
力ピンの制限により制限されることが多くなる。
したがつてこの場合入出力ピンを有効に使用する
必要性が生じて来た。
〔発明の目的〕
したがつて本発明の目的は、シフトモード入
力、シフトイン入力およびシフトアウト出力を有
効に使用することを可能にする診断回路方式を得
ることにある。
〔発明の構成〕
本発明によれば、複数のフリツプフロツプを縦
続接続してシフトレジスタ構成にすることの可能
な論理回路及びこの論理回路におけるエラー信号
を検出する検出回路を有し、而して単数または複
数の論理回路の単位ですべてのフリツプフロツプ
の入力に前記シフトレジスタ構成にする制御を行
うためのシフトモード入力を接続し、前記シフト
レジスタ構成にした場合の最初のフリツプフロツ
プの入力にシフトイン入力を接続すると共に最後
のフリツプフロツプの出力から出力信号を発する
ようにした診断回路において、前記シフトモード
入力、前記シフトイン入力、前記出力信号、およ
び前記検出回路の発する検出信号を入力し、前記
シフトモード入力が前記複数のフリツプフロツプ
をシフトレジスタに構成したときは、前記出力信
号を選択してシフトアウト出力として出力し、前
記シフトモード入力が前記複数のフリツプフロツ
プをシフトレジスタに構成せず且つ前記シフトイ
ン入力の入力信号が有意であるときはこの有意の
入力信号を選択して出力し、前記シフトモード入
力が前記複数のフリツプフロツプをシフトレジス
タに構成せず且つ前記シフトイン入力の入力信号
が有意でないときは前記検出回路の検出信号を選
択して出力する選択回路を設けたことを特徴とす
る診断回路方式が得られる。
〔実施例〕
第1図は本発明の第1の実施例を示す図であ
る。この第1図において、その要素で第5図の従
来の方式において用いている要素と同じものには
第5図におけると同じ番号を付してある。第1図
において、シフトモード入力aが複数のフリツプ
フロツプ21〜2oをシフトレジスタに構成する
時、選択回路9は最後のフリツプフロツプ2o
出力信号を選択してシフトアウト出力に出力する
が、その動作は第5図を参照して説明した従来の
診断回路方式と同様であるため説明を省略する。
シフトモード入力aが複数のフリツプフロツプ
1〜2oをシフトレジスタに構成しない時は、従
来の診断回路方式と異なり、選択回路9はシフト
イン入力bの有意の入力信号を選択し、前記シフ
トイン入力bの入力信号が有意でない時は、第1
の検出回路5および第2の検出回路6の出力信号
を選択してシフトアウト出力cに出力する。
次に第2図を参照して一使用例を説明する。お
のおのが第1図の実施例で示されるような診断回
路を含む3つの論理回路11,12,13におい
て、シフトモード入力jが第1図のシフトモード
入力aに相当する各論理回路11,12,13の
a1,a2,a3に入力され、シフトイン入力kは第1
の論理回路11のシフトイン入力bに相当するb1
に入力され、第1の論理回路11のシフトアウト
出力cに相当するc1は第2の論理回路12のシフ
トイン入力bに相当するb2に接続され、第2の論
理回路12のシフトアウト出力cに相当するc2
第3の論理回路13のシフトイン入力bに相当す
るb3に接続され、第3の論理回路13のシフトア
ウト出力cに相当するc3はシフトアウト出力lと
総検出回路出力mに接続されている。
シフトモード入力jがシフトレジスタを構成す
る信号レベルになると、論理回路11,12,1
3内の複数のフリツプフロツプはシフトレジスタ
を構成するとともに論理回路11,12,13の
間でもシフトレジスタを構成し、シフトイン入力
kより任意のフリツプフロツプに任意の信号レベ
ルを記憶ができるとともに、任意のフリツプフロ
ツプに記憶された信号レベルをシフトアウト出力
lより取り出すことができる。
シフトモード入力jがシフトレジスタを構成し
ない信号レベルで入力し、シフトイン入力kを有
意でない信号レベルにする時、論理回路11のシ
フトアウト出力c1には論理回路11の単数もしく
は複数の検出回路の出力信号が選択されて出力さ
れており、単数もしくは複数の検出回路が有意の
信号レベルになるとシフトアウト出力c1に有意の
信号レベルが出力され、論理回路12のシフトイ
ン入力b2に有意の信号レベルが入力される。従つ
て論理回路12のシフトアウト出力c2は有意の信
号レベルを出力し論理回路13のシフトイン入力
b3は有意の信号レベルを入力され、さらに論理回
路13のシフトアウト出力c3は有意の信号レベル
を出力し総検出回路出力mに有意の信号レベルを
転送する。
もし論理回路11のシフトアウト出力c1に有意
の信号レベルが出力されない時は、論理回路12
は論理回路11について説明した動作と同様の動
作を行ない、論理回路11,12,13のいずれ
の検出回路が有意の信号レベルを発生しても総検
出回路出力mに有意の信号レベルが出力されるこ
とになる。
本発明の診断回路方式からなる論理回路を第2
図のように複数個接続することにより、シフトレ
ジスタを構成して診断に使用するとともに、論理
回路内の検出回路の出力信号を集収することがで
きる。
第3図は本発明の第2の実施例を示す。第3図
の記号は第1図および第5図の記号と同じであ
る。第3図において、検出回路用フリツプフロツ
プ21および22は、検出回路5および6の出力
信号を記憶するために付加され、シフトイン入力
bから有意の信号レベルが入力されたか論理回路
内の検出回路5もしくは6から有意の信号レベル
が発生されたかを区別することを可能にするため
の回路である。この実施例における検出回路フリ
ツプフロツプ21,22は第5図の従来方式にお
けるフリツプフロツプ7,8に相当するものであ
るが、独立した出力(第5図のr′,s′)を出す必
要がないので参照数字を変えてある。
検出信号集収用フリツプフロツプ23はシフト
イン入力に入力された信号と検出回路5および6
から出力される信号をアンドもしくはオアした信
号を記憶するための回路であり、第2図に示され
るように同一のシフトモード入力を有し、シフト
レジスタを構成する複数の論理回路の最後の論理
回路の中に実装することにより、前記複数の論理
回路内に含まれる全ての検出回路の出力信号を集
収して記憶することが可能である。
ゲート回路24はシフトモード入力aがシフト
レジスタを構成しないレベル信号の時にシフトイ
ン入力bに入力される信号が有意でないレベル信
号であることが保証できない時に有意でないレベ
ル信号を出力するために付加される回路である。
このゲート回路24は、第2図に示されるように
同一のシフトモード入力を有してシフトレジスタ
を構成する複数の論理回路の最初の論理回路の中
に実装されることにより、シフトイン入力bに入
力される信号を有意でないレベル信号にすること
で前記複数の論理回路に含まれる全ての検出回路
の出力信号を集収することを可能にする回路であ
る。
第4図は第1図および第3図における単数もし
くは複数の検出回路5もしくは6の一構成例を示
す図である。第4図において、第2の選択回路3
0は第1の検出信号の発生源31の出力、第2の
検出信号発生源32の出力および第3の検出信号
発生源33の出力に接続され、制御信号pにより
いずれか1つの出力を選択して出力qに出力する
かもしくは複数の出力を選択しアンドもしくはオ
アして出力qに出力する回路であり、どの検出信
号発生源の出力が有意の信号レベルを出力したか
を特定するための回路である。
以上のような構成になつているので、検出回路
用フリツプフロツプ21および22はシフトモー
ド入力シフトレジスタ構成にして記憶した内容を
取り出せるため、出力を独立に取出す必要はなく
なる。従つて第1の実施例におけると同様、入出
力ピンを少なくする効果がある。
なお以上説明した実施例では、検出回路5およ
び6が2つであり、検出回路用フリツプフロツプ
21および22が2つの場合を示しているが、い
ずれも1つでも良くまた3つ以上あつても良い。
また第2の実施例において、複数の検出回路の
出力信号をアンドもしくはオアした信号を記憶す
ることにより、検出回路用フリツプフロツプの数
を少なくしても良い。更に第4図の検出回路5又
は6において、検出信号発生源が3回路であるこ
とを示しているが、本発明においては3回路に限
定せず、また制御信号pも複数であつても良い。
〔発明の効果〕
本発明は以上説明したようにシフトモード入
力、シフトイン入力およびシフトアウト出力を有
効に使用することにより、論理回路の入出力ピン
を減少できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロツク回路
図、第2図は本発明の一使用例を示す回路図、第
3図は本発明の他の実施例を示すブロツク回路
図、第4図は第1図および第3図で示した検出回
路の一実施例を示すブロツク回路図、第5図は従
来の診断回路方式の一例を示す図である。 記号の説明、1は組合せ回路、FFで示した21
〜2oはいずれもフリツプフロツプ、3,4は組
合せ回路、5と6は検出回路、7と8は検出回路
用フリツプフロツプ、9は(第1の)検出回路、
11,12,13は論理回路、21,22は検出
回路用フリツプフロツプ、23は検出信号集収用
フリツプフロツプ、24はゲート回路、30は
(第2の)選択回路、31,32,33は検出信
号発生源、aはシフトモード入力、bはシフトイ
ン入力、cはシフトアウト出力、d,eは論理回
路の入力、f,g,hは論理回路の出力、rとs
は検出信号をそれぞれあらわしている。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 複数のフリツプフロツプを縦続接続しシフト
    レジスタ構成にすることが可能な第1の論理回路
    および該第1の論理回路における異常信号を検出
    するための少なくとも1つの検出回路を含み、前
    記複数のフリツプフロツプをシフトレジスタ構成
    にするための制御を行うシフトモード信号を該複
    数のフリツプフロツプの全ての入力端子に信号線
    を介して供給するシフトモード入力端子と、前記
    複数のフリツプフロツプがシフトレジスタ構成と
    なる場合の最初のフリツプフロツプの入力端子に
    シフトイン入力信号線を介して供給するシフトイ
    ン入力端子と、前記シフトモード入力端子、前記
    シフトイン入力端子、前記複数のフリツプフロツ
    プがシフトレジスタ構成となる場合の最後のフリ
    ツプフロツプの出力端子からの出力信号および前
    記検出回路からの検出信号が入力され、該シフト
    モード入力信号に応答して該複数のフリツプフロ
    ツプがシフトレジスタ構成となる場合には該出力
    信号を選択し、該シフトモード入力信号に応答し
    て該複数のフリツプフロツプがシフトレジスタ構
    成とならず、かつ、該シフトイン入力信号が有意
    である場合には該シフトイン入力信号を選択し、
    該シフトモード入力信号に応答して該複数のフリ
    ツプフロツプがシフトレジスタ構成とならず、か
    つ、該シフトイン入力信号が有為でない場合には
    該検出回路からの検出信号を選択してシフトアウ
    ト出力端子から出力する選択回路とを設けた診断
    回路と、 前記診断回路をそれぞれ有し、前記各シフトモ
    ード入力端子に信号線を介して同一のシフトモー
    ド入力信号を供給し、それぞれ隣り合う前記シフ
    トイン入力端子および前記シフトアウト出力端子
    を信号線を介して縦続接続された複数の第2の論
    理回路と、 前記複数の第2の論理回路で前記シフトモード
    入力信号に応答して前記複数のフリツプフロツプ
    がシフトレジスタ構成とならず、かつ、前記シフ
    トイン入力信号が有意でない場合に、縦続接続さ
    れた最後の第2の論理回路の出力端子からの前記
    検出信号を信号線を介して出力する総検出回路出
    力端子とを備えたことを特徴とする診断回路方
    式。
JP60021616A 1985-02-08 1985-02-08 診断回路方式 Granted JPS61182140A (ja)

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JP60021616A JPS61182140A (ja) 1985-02-08 1985-02-08 診断回路方式

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JPS61182140A JPS61182140A (ja) 1986-08-14
JPH0572615B2 true JPH0572615B2 (ja) 1993-10-12

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0691465B2 (ja) * 1986-11-19 1994-11-14 日本電気株式会社 信号処理装置
GB8728444D0 (en) * 1987-12-04 1988-01-13 Plessey Co Plc Analogue circuit element & chain for testing analogue circuit
JPH01161447A (ja) * 1987-12-17 1989-06-26 Nec Corp エラー検出報告回路

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JPS61182140A (ja) 1986-08-14

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