JPS60239834A - 集積回路 - Google Patents

集積回路

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Publication number
JPS60239834A
JPS60239834A JP59096002A JP9600284A JPS60239834A JP S60239834 A JPS60239834 A JP S60239834A JP 59096002 A JP59096002 A JP 59096002A JP 9600284 A JP9600284 A JP 9600284A JP S60239834 A JPS60239834 A JP S60239834A
Authority
JP
Japan
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terminals
circuits
test mode
circuit
latches
Prior art date
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Granted
Application number
JP59096002A
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English (en)
Other versions
JPH0345406B2 (ja
Inventor
Kazuhiro Akiyama
和弘 秋山
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は集積回路のテスト回路に関し、特にパイプライ
ン処理を行なう回路のテスト回路に関する。
一般に、パイプライン処理はある一定時間内(以下、ピ
ッチとよぶ)に各ブロックがそれぞれの受けもつ処理を
終了させ5次の回路へ処理したデータを送るために次の
回路との間にラッチを入れておくことが多い。しかしな
がら、パイプライン処理を行な5回路に故障等が起こっ
た場合には、複数のブロックで処理の施された出力しか
出力端子から得られないので、故障の個所を見つけ出す
ことは容易ではない。
本発明の目的は、素子数を増やすことなく、たとえ増加
してもできるだけ少なくおさえて故障のおこった回路を
見つけ出すことができるテスト回路を提供することにあ
る。
以下1図面を用いて説明する。
第1図は本発明の一実施例としてあげた2段の加算回路
網である。1〜7はlピッチを周期とするクロックによ
り動作するラッチ回路であり、シフト・レジスタの機能
も備えている。8〜10Fi加算回路である。通常は、
回路1〜7はラッチ回路として動作す−るため、1発目
のクロックで前段の加算回路の演算結果を取りこんで後
段の加算回路へ出力し、次のクロックで前段の加算回路
の次の演算結果を取りこんで再び後段の加算回路へ送る
こうして、パイプライン処理を行なっているが、テスト
・モードになると1回路1〜7はラッチ回路として動作
せずシフト・レジスタとして動作する。テスト・モード
とするために、図示しないテスト・モード/通常モード
切換端子が設けられており、この端子のレベル制御、又
は通常モードにおいて禁止されている信号の供給により
ナストモ1−ドとしている。テストモードとなると、回
路1〜7は前段からの演算結果をラッチせず、端子A。
Bから直列に入力されるデータを転送し1回路1〜6の
シフト・レジスタのビット数分のデータを入力する。端
子A、B社通常動作モードにおけるデータの入出力端子
等と共用することができる。
回路1〜7がデータをシフトレジスタとして取り込むと
、lピッチ分だけテスト・モードを解除させて回路1〜
7をラッチとして動作させる。そうすると、加算回路8
,9.および10はそれぞれラッチ1と2,3と4,5
と6に夫々う1.チされているデータを入力として加算
を行ない、後段のラッチ5,6.7がそれぞれの加算結
果をテスト・モードを解除した時のピッチ内のクロ、・
7りによリラッチする。加算結果のう1.チ後は、前述
の切換端子を制御することにより、再びテスト・モード
に切換えて1回路1〜7を再びシフト・レジスタとして
動作させる。これによ−て、ラッチ5゜6.7は加算回
路8,9.10の行な−、た演算結果をそれぞれシリア
ルに端子C,DおよびEへと出力する。端子C,Dおよ
びEは通常動作モードにおけるデータの入出力端子と共
用できる。またテストモード切換端子も共用できる。
このような構成により、個々の加算回路8′、9および
10を同時にテストすることができ、また、テストする
ために必要な入出力端子は通常モードの時に使用してい
る端子と共有し、テスト・モードの時に切換えられるよ
うにすれば、素子数もだいして増加させることなく、テ
ストが容易となっ とたパイプライン処理の集積回路化
を得ることができる。
ここでは、例として加算回路網をあげたが、この他にR
OMダンプ等、パイプライン処理を行なうブロックには
容易に実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すプロ、り本成図である
。 1〜7:う、子回路、8〜10:加算回路、A。 B:データ入力端、C,D、l::データ出力端第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 第1のラッチ回路と、この第1のラッチ回路の出力を入
    力とする信号処理回路と、この信号処理回路の出力を入
    力とする第2のラッチ回路とを備えた集積回路において
    、テストモード時に少なくとも前記第1のラッチ回路に
    テストパターンデータを入力する手段と、少なくとも前
    記第2のラッチ回路からテストパターンデニタを前記信
    号処理回路で処理したデータを出力する手段とを設けた
    ことを特徴とする集積回路。
JP59096002A 1984-05-14 1984-05-14 集積回路 Granted JPS60239834A (ja)

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JP59096002A JPS60239834A (ja) 1984-05-14 1984-05-14 集積回路

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JPH0345406B2 JPH0345406B2 (ja) 1991-07-11

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01237842A (ja) * 1988-03-18 1989-09-22 Fujitsu Ltd データ処理装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53129553A (en) * 1977-04-18 1978-11-11 Hitachi Ltd Diagnostic control system
JPS58207152A (ja) * 1982-05-28 1983-12-02 Nec Corp パイプライン演算装置テスト方式
JPS5945560A (ja) * 1982-09-07 1984-03-14 Fujitsu Ltd スキヤンイン・アウト方式

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JPH0345406B2 (ja) 1991-07-11

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