JPS5945560A - スキヤンイン・アウト方式 - Google Patents
スキヤンイン・アウト方式Info
- Publication number
- JPS5945560A JPS5945560A JP57155361A JP15536182A JPS5945560A JP S5945560 A JPS5945560 A JP S5945560A JP 57155361 A JP57155361 A JP 57155361A JP 15536182 A JP15536182 A JP 15536182A JP S5945560 A JPS5945560 A JP S5945560A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scan
- register
- serial
- data
- registers
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
- G01R31/318555—Control logic
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、スキャイン・アウトするレジスタな指定する
手段を設け、この手段によって指定されたレジスタに対
してシリアルイン又はシリアルアウト動作を行い得るよ
うにしたスキャイン・アウト方式に関するものである・ 〔従来技術と問題点〕 LSIで構成された処理装置の中のレジスタをパラレル
イン/アウト動作およびシリアルイン/アウト動作でき
るように構成しておくことは従来より行われている。こ
れらのレジスタは通常動作時にはパラレルイン・アウト
動作を行うように設定される。LSIで構成された処理
装置のテストなどを行う場合には、先ずこれらのレジス
タがシリアルイン・アウト動作を行うように設定し、ス
キャイン・データ端子から入力したスキャイン・データ
を所望のレジスタくセットし9、これらのレジスタがパ
ラレルイン・アウト動作を、行うようにモードを設定し
、クロックを印加して処理装置を動作させ、これらのレ
ジスタがシリアルイン・アウト動作を行うようにモード
を設定し、しかる後にこれらのレジスタの内容をスキャ
ンアウト・データ端子から取出し7ている・従CJ’(
+7)?lθ)(’fJ (r−rスキャンイン・アウ
ト方式で(・文、全1/ジスタが直列接続され+’ 4
た、出入II &)イ゛れ、1−゛れ】個とさ11でい
た。しかし、この■σ)スキャン・イン・アウト方式は
、1回に転送する′117報量が大きくなること及び転
送に長時間を必要とする欠点が41゛)っlと・〔発明
σ1目的〕 本発明は、上記の欠点を除去才ろもC)であって。
手段を設け、この手段によって指定されたレジスタに対
してシリアルイン又はシリアルアウト動作を行い得るよ
うにしたスキャイン・アウト方式に関するものである・ 〔従来技術と問題点〕 LSIで構成された処理装置の中のレジスタをパラレル
イン/アウト動作およびシリアルイン/アウト動作でき
るように構成しておくことは従来より行われている。こ
れらのレジスタは通常動作時にはパラレルイン・アウト
動作を行うように設定される。LSIで構成された処理
装置のテストなどを行う場合には、先ずこれらのレジス
タがシリアルイン・アウト動作を行うように設定し、ス
キャイン・データ端子から入力したスキャイン・データ
を所望のレジスタくセットし9、これらのレジスタがパ
ラレルイン・アウト動作を、行うようにモードを設定し
、クロックを印加して処理装置を動作させ、これらのレ
ジスタがシリアルイン・アウト動作を行うようにモード
を設定し、しかる後にこれらのレジスタの内容をスキャ
ンアウト・データ端子から取出し7ている・従CJ’(
+7)?lθ)(’fJ (r−rスキャンイン・アウ
ト方式で(・文、全1/ジスタが直列接続され+’ 4
た、出入II &)イ゛れ、1−゛れ】個とさ11でい
た。しかし、この■σ)スキャン・イン・アウト方式は
、1回に転送する′117報量が大きくなること及び転
送に長時間を必要とする欠点が41゛)っlと・〔発明
σ1目的〕 本発明は、上記の欠点を除去才ろもC)であって。
スキャンイン・アラ+を効率1)りにイ1い得ろよう、
(4Xしたスキャンイン・アウト方式な4昂洪rること
を目的としている。
(4Xしたスキャンイン・アウト方式な4昂洪rること
を目的としている。
そしてそのため、水元1りjのスキャンイン・−ア、ウ
ド方式は1通常は演算回路などの入出力バッファとL[
パラレルイン・・アウトjjl17作を行うレジ“スタ
をスキャンイン・アウト時にシリアルイン・アウト動作
を行わせろ、l:うに構成されブヒスキ千ンイン・アウ
ト方式において、上記各レジスタのシリアルイン端子を
ゲートを介してスキャンイン・データ線に接続すると共
Vζ各レしスクσ)シリアルアウト端子をゲートを介し
てスキャンアウト・データ線および自レジスタのシリア
ルイン端子に接続し。
ド方式は1通常は演算回路などの入出力バッファとL[
パラレルイン・・アウトjjl17作を行うレジ“スタ
をスキャンイン・アウト時にシリアルイン・アウト動作
を行わせろ、l:うに構成されブヒスキ千ンイン・アウ
ト方式において、上記各レジスタのシリアルイン端子を
ゲートを介してスキャンイン・データ線に接続すると共
Vζ各レしスクσ)シリアルアウト端子をゲートを介し
てスキャンアウト・データ線および自レジスタのシリア
ルイン端子に接続し。
上記ス・キャンイン・データ線の端をスキャン・データ
・レジスタσ】シリアルアウト端子に接続し。
・レジスタσ】シリアルアウト端子に接続し。
上記スキャンアウト・データ線を上記スキャン・データ
・レジスタのシリアルイン端子に接続し。
・レジスタのシリアルイン端子に接続し。
レジスタの動作モード情報、転送データの大きさを示す
゛[N報、スキャンイン・アウトすべきレジスタを指す
行列情報および同一行のレジスタの全てに同一データを
セットすべきか否かを示すフラグ情報をスキャン・アド
レス・レジスタにセットし。
゛[N報、スキャンイン・アウトすべきレジスタを指す
行列情報および同一行のレジスタの全てに同一データを
セットすべきか否かを示すフラグ情報をスキャン・アド
レス・レジスタにセットし。
当該スキャン・アドレス・レジスタの内容に従ってスキ
ャンイン・アウトを行うよう構成されたことを特徴とす
るものである。
ャンイン・アウトを行うよう構成されたことを特徴とす
るものである。
以下1本発明を図面を参照しつ\説明する。
第1図は1本発明の肌1実施例のブロック図である6尾
1図゛において、1はスキャンイン・アウト対象、2−
Aないし2−Dはレジスタ、3−1と3−2はOR回路
、4はスキャン・アドレス6レジスタ、5はスキャン・
データ・レジスタ、6はデコーダ、7はスキャンイン・
データ線、8はスキャンアウト・データ線、9は論理回
路をそれぞれ示している。
1図゛において、1はスキャンイン・アウト対象、2−
Aないし2−Dはレジスタ、3−1と3−2はOR回路
、4はスキャン・アドレス6レジスタ、5はスキャン・
データ・レジスタ、6はデコーダ、7はスキャンイン・
データ線、8はスキャンアウト・データ線、9は論理回
路をそれぞれ示している。
スキャンイン・アウト対象は1例えばLSI構成のバイ
ブライン式σ)演91回路である・レジスタ゛2−Aな
いし2−Dば、パラレルイン・アウト動作鈴よびシリア
ルイン・アウト動作を行い得るものである。第1図σフ
レジスタ2−Aと2−Bは肌1段目σ)レジスタ列を朽
成し、また、レジスタ2−Cと2−Dは駆2段百〇)レ
ジスタ列を構成している。レジスタ2−Aないし2−D
のシリアルイン端子は図示しないゲー)・2介してスキ
ャンイン・データ線7に並列接続され、レジスタ2−A
ないし2−Dのシリアルアウト端子はゲー1− (図示
せず)およびOR回路3−1.3−2を介してスキャン
アウト・データ線に並列接続され更に自レジスタのシリ
アルイン端子に接続さ肛ている。スキャン・アドレス・
レジスタ4には、肌2図に示すようなデータがセットさ
れる。肌2図において。
ブライン式σ)演91回路である・レジスタ゛2−Aな
いし2−Dば、パラレルイン・アウト動作鈴よびシリア
ルイン・アウト動作を行い得るものである。第1図σフ
レジスタ2−Aと2−Bは肌1段目σ)レジスタ列を朽
成し、また、レジスタ2−Cと2−Dは駆2段百〇)レ
ジスタ列を構成している。レジスタ2−Aないし2−D
のシリアルイン端子は図示しないゲー)・2介してスキ
ャンイン・データ線7に並列接続され、レジスタ2−A
ないし2−Dのシリアルアウト端子はゲー1− (図示
せず)およびOR回路3−1.3−2を介してスキャン
アウト・データ線に並列接続され更に自レジスタのシリ
アルイン端子に接続さ肛ている。スキャン・アドレス・
レジスタ4には、肌2図に示すようなデータがセットさ
れる。肌2図において。
大キサはスキャンイン・データ又はスキャンアウト・デ
ータの)大きさを示す情報を、全は指定された段の全レ
ジスタに同一のデータをセットするか否かを示すフラグ
情報1段はスキャンイン又はスキャンアクトすべきレジ
スタぬ段を示す情郭、横方向はスキャンイン又はスキャ
ンアウトすべきレジスタが段σ)中の肌何番目σ)もσ
)であるかを示す情報をそれぞれ示している。なお、第
2図には示されていないが、スキャンインか、スキャン
アウトかなどを示す動作モード情報もスキャン・アドレ
ス・レジスタの中に存在する。スキャン・アドレス・レ
ジスタ4の内容は、デコーダ6に送られる。デコーダ6
は送られて米だ情報をデコードし。
ータの)大きさを示す情報を、全は指定された段の全レ
ジスタに同一のデータをセットするか否かを示すフラグ
情報1段はスキャンイン又はスキャンアクトすべきレジ
スタぬ段を示す情郭、横方向はスキャンイン又はスキャ
ンアウトすべきレジスタが段σ)中の肌何番目σ)もσ
)であるかを示す情報をそれぞれ示している。なお、第
2図には示されていないが、スキャンインか、スキャン
アウトかなどを示す動作モード情報もスキャン・アドレ
ス・レジスタの中に存在する。スキャン・アドレス・レ
ジスタ4の内容は、デコーダ6に送られる。デコーダ6
は送られて米だ情報をデコードし。
対応するゲートを開く、スキャンインする場合。
スキャン・データ・レジスタ5に予めスキャンイン・デ
ータがパラレルインされる。スキャン・データ・レジス
タ5は1図示しないが、シフト・クロック発生回路を有
している。このシフト・クロック発生回路は、スキャン
・アドレス・レジスタ4から送られて来る大きさ情報で
指定される回数だけシフト・クロックな発生すイ、7シ
フ)・・クロックは、レジスタ2−Aないし2−DKも
辺らi[る、論理回路9の診断は、下記、θ]ようにし
て行われろ、レジスタ2−Aとレジスタ2−Bに異なる
データをセット−rる場合Vこは、先ずレジスタ2−A
を指定してスキャンインを行い1次にレジスタ2−Bを
指定してスキャンインを行う、同一のデータをセットす
る場合九は、全部+1jl−データをセットすべきこと
を示すフラグをオンとすると共Vこ第1段を指定してス
キャンインをイ1つ、レジス1り2−Aと2−Hにデー
タをセットした後、通常動作モードにして所定Oσ)ク
ロックを印加する。論理回路9は、レジスタ2−Aと2
−Bのデータを入力し、これらσ)データな演り処〕+
lする。演39結果は、レジスタ2−Cと2−1)&こ
パラレルインされる。レジスタI) Cと2− 、I
J K瑣RA4+’?果がセットされた後、Lメジメタ
2−Cの円り二; Yスキャンアウトし1次いでレジス
タ2−1) 0) VE容4′スキャンアウトすると同
時に再びレジスタに戻す。
ータがパラレルインされる。スキャン・データ・レジス
タ5は1図示しないが、シフト・クロック発生回路を有
している。このシフト・クロック発生回路は、スキャン
・アドレス・レジスタ4から送られて来る大きさ情報で
指定される回数だけシフト・クロックな発生すイ、7シ
フ)・・クロックは、レジスタ2−Aないし2−DKも
辺らi[る、論理回路9の診断は、下記、θ]ようにし
て行われろ、レジスタ2−Aとレジスタ2−Bに異なる
データをセット−rる場合Vこは、先ずレジスタ2−A
を指定してスキャンインを行い1次にレジスタ2−Bを
指定してスキャンインを行う、同一のデータをセットす
る場合九は、全部+1jl−データをセットすべきこと
を示すフラグをオンとすると共Vこ第1段を指定してス
キャンインをイ1つ、レジス1り2−Aと2−Hにデー
タをセットした後、通常動作モードにして所定Oσ)ク
ロックを印加する。論理回路9は、レジスタ2−Aと2
−Bのデータを入力し、これらσ)データな演り処〕+
lする。演39結果は、レジスタ2−Cと2−1)&こ
パラレルインされる。レジスタI) Cと2− 、I
J K瑣RA4+’?果がセットされた後、Lメジメタ
2−Cの円り二; Yスキャンアウトし1次いでレジス
タ2−1) 0) VE容4′スキャンアウトすると同
時に再びレジスタに戻す。
第3図は本発明の第2失施例σ)袂部な示1−ブロック
図である。第3図において、1o−iと10−2はOR
回路を示している。なお第1図と同−符ぢは同一物を示
している。第3図においては。
図である。第3図において、1o−iと10−2はOR
回路を示している。なお第1図と同−符ぢは同一物を示
している。第3図においては。
レジスタ2−Aσ)シリアルアウト出力がOR回路10
−1の上側入カグ、■子に接続され、OR回路1〇−1
σ)出力がレジスタ2−Aのシリアルイン入力に接続さ
71.ている、0′R回路10−1の下側入力はスキャ
ンイン・データ線7に接続されている。
−1の上側入カグ、■子に接続され、OR回路1〇−1
σ)出力がレジスタ2−Aのシリアルイン入力に接続さ
71.ている、0′R回路10−1の下側入力はスキャ
ンイン・データ線7に接続されている。
レジアタ2−Cσ) (Illも同様な前底となってい
る。
る。
例エバ、レジスタ2−hをループ・モードで動作すべき
ことを指定すイ1と、レジスタ2−Aはシフトレジスタ
とし、て動作すると共に、シリアルアウトされたデータ
が再びシリアルインされる。爪3図のような柑成目、レ
ジスタ2〜A、論理[01路9およびレジスタ2−Cよ
り成る回路部分がレーシング’t: fcはメーバデイ
レイを起しているか、否かを調べる場合に有効々もθ」
でを〕る。第4図はレーシングを鋭、明するものてを)
る、レジスタ2−Aに印加さ才しるクロック列Aと、レ
ジスタ2−Cに印加されるクロック列Cが完全に同期で
あるとすると、xi番目σ)クロyりでレジスタ2−A
にデータdiがセットされたとすを)と、示2番ロカク
ロックでデータI)1がレジスタ2−Cにセットさ11
.る。
ことを指定すイ1と、レジスタ2−Aはシフトレジスタ
とし、て動作すると共に、シリアルアウトされたデータ
が再びシリアルインされる。爪3図のような柑成目、レ
ジスタ2〜A、論理[01路9およびレジスタ2−Cよ
り成る回路部分がレーシング’t: fcはメーバデイ
レイを起しているか、否かを調べる場合に有効々もθ」
でを〕る。第4図はレーシングを鋭、明するものてを)
る、レジスタ2−Aに印加さ才しるクロック列Aと、レ
ジスタ2−Cに印加されるクロック列Cが完全に同期で
あるとすると、xi番目σ)クロyりでレジスタ2−A
にデータdiがセットされたとすを)と、示2番ロカク
ロックでデータI)1がレジスタ2−Cにセットさ11
.る。
いま、クロック列Cがクロック列Aより少し遅れたとす
ると、上の点線で示すようなタイミングでデータD1が
レジスタ2−Cにセソlされろ。こσ)点線で示すよう
な現象なレーシングという1寸だ下の点線で水子ような
タイミングでノ゛−夕が2−Cにセットされる場合をオ
ーバーブ・fレイ々いう。
ると、上の点線で示すようなタイミングでデータD1が
レジスタ2−Cにセソlされろ。こσ)点線で示すよう
な現象なレーシングという1寸だ下の点線で水子ような
タイミングでノ゛−夕が2−Cにセットされる場合をオ
ーバーブ・fレイ々いう。
レーシングが発生しているか、否かを調べろためには、
先ずレジスタ2−Aにデータをセットする。そして、シ
リアルアウトされたデータがシリアルインされるように
レジスタ2−Aσ) (ilを設定し、レジスタ2−C
Yパラレルイン・アウト動作を行うように設定する。そ
して、 J1常クロックを1個印加し、しかる後にレジ
スタ2−Cσ)内容をスキャンアウトする。このよつな
動作を一定回敬くり返す・オーバディレィなUIrj詔
するには、レジスタ2人にデータをセットし、レジスタ
2AfX:ループモードに設定する。
先ずレジスタ2−Aにデータをセットする。そして、シ
リアルアウトされたデータがシリアルインされるように
レジスタ2−Aσ) (ilを設定し、レジスタ2−C
Yパラレルイン・アウト動作を行うように設定する。そ
して、 J1常クロックを1個印加し、しかる後にレジ
スタ2−Cσ)内容をスキャンアウトする。このよつな
動作を一定回敬くり返す・オーバディレィなUIrj詔
するには、レジスタ2人にデータをセットし、レジスタ
2AfX:ループモードに設定する。
レジスタ2Cはパラレルインアウト動作を行なうように
設足する、そして通常クロックを2個印加し、しかる後
にレジスタ2Cの内容をスキャンアウトする。このよう
な動作を一定回数くり返す。
設足する、そして通常クロックを2個印加し、しかる後
にレジスタ2Cの内容をスキャンアウトする。このよう
な動作を一定回数くり返す。
なお、第3図の実施例は、箪1図のようなスキャンイン
・アウト方式を前提としている・〔発明の効果〕 以上の説明から明らかなように9本発明によれば、スキ
ャンイン・スキャンアウトを<−r ’>際σl’IN
報′I#、を少なくできると共に、情報転送に必要とす
る時間を短縮することが出来る。
・アウト方式を前提としている・〔発明の効果〕 以上の説明から明らかなように9本発明によれば、スキ
ャンイン・スキャンアウトを<−r ’>際σl’IN
報′I#、を少なくできると共に、情報転送に必要とす
る時間を短縮することが出来る。
肌1図は本発明の第1冥施例のブロック図、筑2図はス
キャン−アドレス嗜レジスタにセットされるデータを説
明する図、舅3図は本発明σ)第2実施例のブロック図
、簗4図はレーシングを説明する図である。 1・・・スキャンイン・アウト対象、2−Aないし2−
Dはレジスタ、3−1と3−2・・・OR回路。 4・・・スキャン・アドレス・レジスタ、5・・・スキ
ャン・データ・レジスタ、6・・・デコーダ、7・・・
スキャンイン・データΩ、8・−ス’rヤンリ゛ウド・
データ綜、9・・・酊;l理回路、1(J−1と10−
2・・・Of< [tfi蛇。 特許出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 京 谷 四 部 7、キャン 斤、′イ〉ト
惧ア 2 し口火きさ全役 榎方
藺 ヤ3図 大4■ 20・ノフグ11ハ 90ツク5110 しシ゛スタ2−△ −m−「−−一一一−−−−−し
シ′°スタ2.−C”−−−−−−−(L−=ノン7)
、、−−」(オーバティレイ)
キャン−アドレス嗜レジスタにセットされるデータを説
明する図、舅3図は本発明σ)第2実施例のブロック図
、簗4図はレーシングを説明する図である。 1・・・スキャンイン・アウト対象、2−Aないし2−
Dはレジスタ、3−1と3−2・・・OR回路。 4・・・スキャン・アドレス・レジスタ、5・・・スキ
ャン・データ・レジスタ、6・・・デコーダ、7・・・
スキャンイン・データΩ、8・−ス’rヤンリ゛ウド・
データ綜、9・・・酊;l理回路、1(J−1と10−
2・・・Of< [tfi蛇。 特許出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 京 谷 四 部 7、キャン 斤、′イ〉ト
惧ア 2 し口火きさ全役 榎方
藺 ヤ3図 大4■ 20・ノフグ11ハ 90ツク5110 しシ゛スタ2−△ −m−「−−一一一−−−−−し
シ′°スタ2.−C”−−−−−−−(L−=ノン7)
、、−−」(オーバティレイ)
Claims (1)
- (1) 通常は演算回路などの人出カバッファとして
パラレルイン・アウト動作を行うレジスタをスキャンイ
ン・アウト時にシリアルイン・アウト動作を行わせるよ
うに宿成されたスキャンイン・アウト方式において、上
記各レジスタのシリアルイン端子をゲートを介してスキ
ャンイン・データ線に接続すると共に各レジスタのシリ
アルアウト端子をゲートを介してスキャンアウト・デー
タ線および自レジスタのシリアルイン端子に接続し、上
記スキャンイン・データ線の端をスキャン・データ・レ
ジスタのシリアルアウト端子に接続し、上記スキャンア
ウト・データ線を上記スキャン・データ・レジスタのシ
リアルイン端子に接続し、レジスタの動作モード情報、
転送データの大きさを示す情報、スキーN’ンイン・ア
ウトずべきレジスタを指す行列情報および同一行σ)レ
ジスタの全てに同一7’−夕を七ッ卜すべきか否かを示
すフラグ情報をスキャン・アドレス・レジスタにセット
し、邑該スキャン・アドレス・レジスタσ)内容に従っ
てスキャンイン・アウトを行うよう宿成されたことを特
徴とするスキャンイン・アウト方式。 C) パラレルイン・アウト卦よびシリアルイン・アラ
) Wh作を行い得る各レジスタに、シリアルアウトさ
れたデータが再びシリアルインでき71紅路を設け、上
記スキャン・アドレス・レジスタσ)動作モードがルー
プを指定しているときには、シリアルアウトされたデー
タを再びシリアルインする動作を該当するレジスタが行
うようワク族されていることを特徴とする特許請求の範
囲第α)項記載のスキャンイン・アウト方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57155361A JPS5945560A (ja) | 1982-09-07 | 1982-09-07 | スキヤンイン・アウト方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57155361A JPS5945560A (ja) | 1982-09-07 | 1982-09-07 | スキヤンイン・アウト方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5945560A true JPS5945560A (ja) | 1984-03-14 |
JPS6250859B2 JPS6250859B2 (ja) | 1987-10-27 |
Family
ID=15604227
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57155361A Granted JPS5945560A (ja) | 1982-09-07 | 1982-09-07 | スキヤンイン・アウト方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5945560A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60239834A (ja) * | 1984-05-14 | 1985-11-28 | Nec Corp | 集積回路 |
JPH01311322A (ja) * | 1988-06-10 | 1989-12-15 | Sanyo Electric Co Ltd | 乗算器を内蔵するデータ処理装置のテスト方法 |
-
1982
- 1982-09-07 JP JP57155361A patent/JPS5945560A/ja active Granted
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60239834A (ja) * | 1984-05-14 | 1985-11-28 | Nec Corp | 集積回路 |
JPH0345406B2 (ja) * | 1984-05-14 | 1991-07-11 | Nippon Electric Co | |
JPH01311322A (ja) * | 1988-06-10 | 1989-12-15 | Sanyo Electric Co Ltd | 乗算器を内蔵するデータ処理装置のテスト方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6250859B2 (ja) | 1987-10-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH07107916B2 (ja) | 超大規模集積回路 | |
JPS60124744A (ja) | エラ−・テスト及び診断装置 | |
WO1999027459A1 (en) | Processor local bus posted dma flyby burst transfers | |
JPH07167921A (ja) | バウンダリスキャンセル装置とバウンダリスキャンテスト方法 | |
US4780822A (en) | Semaphore circuit for shared memory cells | |
US4831623A (en) | Swap scan testing of digital logic | |
JPS5945560A (ja) | スキヤンイン・アウト方式 | |
JPS6242306B2 (ja) | ||
EP0945810A2 (en) | Pipeline-type multi-processor system | |
JP2000187676A (ja) | 論理合成装置および論理合成プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
EP0344736A2 (en) | High-speed synchronous data transfer system | |
JP2536912B2 (ja) | バス制御方式 | |
JPH10134591A (ja) | ダィナミックレジスタを含む半導体集積回路 | |
JPH05172897A (ja) | デジタル論理装置のスキャン回路 | |
JP2885126B2 (ja) | 入力試験回路 | |
JPS58151569A (ja) | 集積回路 | |
GB2230121A (en) | A processor/peripheral interface controller | |
JPH03118652A (ja) | 集積回路の制御信号切換装置 | |
JPH03292542A (ja) | 情報処理装置 | |
JPS58211231A (ja) | 情報処理システム | |
JPH0652090A (ja) | メモリ制御回路 | |
JPS6073377A (ja) | 集積回路素子実装ユニットの試験方式 | |
JPS60112144A (ja) | 制御信号転送方式 | |
IL135110A (en) | Method for transferring data from a slave bus controller memory on a slave bus to a peripheral device | |
JPH05257863A (ja) | 処理装置の割込みステータス認識方法 |