JPS5945560A - スキヤンイン・アウト方式 - Google Patents

スキヤンイン・アウト方式

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JPS5945560A
JPS5945560A JP57155361A JP15536182A JPS5945560A JP S5945560 A JPS5945560 A JP S5945560A JP 57155361 A JP57155361 A JP 57155361A JP 15536182 A JP15536182 A JP 15536182A JP S5945560 A JPS5945560 A JP S5945560A
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JP
Japan
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scan
register
serial
data
registers
Prior art date
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JP57155361A
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JPS6250859B2 (ja
Inventor
Shigeru Nagasawa
長沢 茂
Toshiro Nakazuru
敏朗 中水流
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPS5945560A publication Critical patent/JPS5945560A/ja
Publication of JPS6250859B2 publication Critical patent/JPS6250859B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
    • G01R31/318555Control logic

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、スキャイン・アウトするレジスタな指定する
手段を設け、この手段によって指定されたレジスタに対
してシリアルイン又はシリアルアウト動作を行い得るよ
うにしたスキャイン・アウト方式に関するものである・ 〔従来技術と問題点〕 LSIで構成された処理装置の中のレジスタをパラレル
イン/アウト動作およびシリアルイン/アウト動作でき
るように構成しておくことは従来より行われている。こ
れらのレジスタは通常動作時にはパラレルイン・アウト
動作を行うように設定される。LSIで構成された処理
装置のテストなどを行う場合には、先ずこれらのレジス
タがシリアルイン・アウト動作を行うように設定し、ス
キャイン・データ端子から入力したスキャイン・データ
を所望のレジスタくセットし9、これらのレジスタがパ
ラレルイン・アウト動作を、行うようにモードを設定し
、クロックを印加して処理装置を動作させ、これらのレ
ジスタがシリアルイン・アウト動作を行うようにモード
を設定し、しかる後にこれらのレジスタの内容をスキャ
ンアウト・データ端子から取出し7ている・従CJ’(
+7)?lθ)(’fJ (r−rスキャンイン・アウ
ト方式で(・文、全1/ジスタが直列接続され+’ 4
た、出入II &)イ゛れ、1−゛れ】個とさ11でい
た。しかし、この■σ)スキャン・イン・アウト方式は
、1回に転送する′117報量が大きくなること及び転
送に長時間を必要とする欠点が41゛)っlと・〔発明
σ1目的〕 本発明は、上記の欠点を除去才ろもC)であって。
スキャンイン・アラ+を効率1)りにイ1い得ろよう、
(4Xしたスキャンイン・アウト方式な4昂洪rること
を目的としている。
〔発明の構成〕
そしてそのため、水元1りjのスキャンイン・−ア、ウ
ド方式は1通常は演算回路などの入出力バッファとL[
パラレルイン・・アウトjjl17作を行うレジ“スタ
をスキャンイン・アウト時にシリアルイン・アウト動作
を行わせろ、l:うに構成されブヒスキ千ンイン・アウ
ト方式において、上記各レジスタのシリアルイン端子を
ゲートを介してスキャンイン・データ線に接続すると共
Vζ各レしスクσ)シリアルアウト端子をゲートを介し
てスキャンアウト・データ線および自レジスタのシリア
ルイン端子に接続し。
上記ス・キャンイン・データ線の端をスキャン・データ
・レジスタσ】シリアルアウト端子に接続し。
上記スキャンアウト・データ線を上記スキャン・データ
・レジスタのシリアルイン端子に接続し。
レジスタの動作モード情報、転送データの大きさを示す
゛[N報、スキャンイン・アウトすべきレジスタを指す
行列情報および同一行のレジスタの全てに同一データを
セットすべきか否かを示すフラグ情報をスキャン・アド
レス・レジスタにセットし。
当該スキャン・アドレス・レジスタの内容に従ってスキ
ャンイン・アウトを行うよう構成されたことを特徴とす
るものである。
〔発明の実施例〕
以下1本発明を図面を参照しつ\説明する。
第1図は1本発明の肌1実施例のブロック図である6尾
1図゛において、1はスキャンイン・アウト対象、2−
Aないし2−Dはレジスタ、3−1と3−2はOR回路
、4はスキャン・アドレス6レジスタ、5はスキャン・
データ・レジスタ、6はデコーダ、7はスキャンイン・
データ線、8はスキャンアウト・データ線、9は論理回
路をそれぞれ示している。
スキャンイン・アウト対象は1例えばLSI構成のバイ
ブライン式σ)演91回路である・レジスタ゛2−Aな
いし2−Dば、パラレルイン・アウト動作鈴よびシリア
ルイン・アウト動作を行い得るものである。第1図σフ
レジスタ2−Aと2−Bは肌1段目σ)レジスタ列を朽
成し、また、レジスタ2−Cと2−Dは駆2段百〇)レ
ジスタ列を構成している。レジスタ2−Aないし2−D
のシリアルイン端子は図示しないゲー)・2介してスキ
ャンイン・データ線7に並列接続され、レジスタ2−A
ないし2−Dのシリアルアウト端子はゲー1− (図示
せず)およびOR回路3−1.3−2を介してスキャン
アウト・データ線に並列接続され更に自レジスタのシリ
アルイン端子に接続さ肛ている。スキャン・アドレス・
レジスタ4には、肌2図に示すようなデータがセットさ
れる。肌2図において。
大キサはスキャンイン・データ又はスキャンアウト・デ
ータの)大きさを示す情報を、全は指定された段の全レ
ジスタに同一のデータをセットするか否かを示すフラグ
情報1段はスキャンイン又はスキャンアクトすべきレジ
スタぬ段を示す情郭、横方向はスキャンイン又はスキャ
ンアウトすべきレジスタが段σ)中の肌何番目σ)もσ
)であるかを示す情報をそれぞれ示している。なお、第
2図には示されていないが、スキャンインか、スキャン
アウトかなどを示す動作モード情報もスキャン・アドレ
ス・レジスタの中に存在する。スキャン・アドレス・レ
ジスタ4の内容は、デコーダ6に送られる。デコーダ6
は送られて米だ情報をデコードし。
対応するゲートを開く、スキャンインする場合。
スキャン・データ・レジスタ5に予めスキャンイン・デ
ータがパラレルインされる。スキャン・データ・レジス
タ5は1図示しないが、シフト・クロック発生回路を有
している。このシフト・クロック発生回路は、スキャン
・アドレス・レジスタ4から送られて来る大きさ情報で
指定される回数だけシフト・クロックな発生すイ、7シ
フ)・・クロックは、レジスタ2−Aないし2−DKも
辺らi[る、論理回路9の診断は、下記、θ]ようにし
て行われろ、レジスタ2−Aとレジスタ2−Bに異なる
データをセット−rる場合Vこは、先ずレジスタ2−A
を指定してスキャンインを行い1次にレジスタ2−Bを
指定してスキャンインを行う、同一のデータをセットす
る場合九は、全部+1jl−データをセットすべきこと
を示すフラグをオンとすると共Vこ第1段を指定してス
キャンインをイ1つ、レジス1り2−Aと2−Hにデー
タをセットした後、通常動作モードにして所定Oσ)ク
ロックを印加する。論理回路9は、レジスタ2−Aと2
−Bのデータを入力し、これらσ)データな演り処〕+
lする。演39結果は、レジスタ2−Cと2−1)&こ
パラレルインされる。レジスタI)  Cと2− 、I
J K瑣RA4+’?果がセットされた後、Lメジメタ
2−Cの円り二; Yスキャンアウトし1次いでレジス
タ2−1) 0) VE容4′スキャンアウトすると同
時に再びレジスタに戻す。
第3図は本発明の第2失施例σ)袂部な示1−ブロック
図である。第3図において、1o−iと10−2はOR
回路を示している。なお第1図と同−符ぢは同一物を示
している。第3図においては。
レジスタ2−Aσ)シリアルアウト出力がOR回路10
−1の上側入カグ、■子に接続され、OR回路1〇−1
σ)出力がレジスタ2−Aのシリアルイン入力に接続さ
71.ている、0′R回路10−1の下側入力はスキャ
ンイン・データ線7に接続されている。
レジアタ2−Cσ) (Illも同様な前底となってい
る。
例エバ、レジスタ2−hをループ・モードで動作すべき
ことを指定すイ1と、レジスタ2−Aはシフトレジスタ
とし、て動作すると共に、シリアルアウトされたデータ
が再びシリアルインされる。爪3図のような柑成目、レ
ジスタ2〜A、論理[01路9およびレジスタ2−Cよ
り成る回路部分がレーシング’t: fcはメーバデイ
レイを起しているか、否かを調べる場合に有効々もθ」
でを〕る。第4図はレーシングを鋭、明するものてを)
る、レジスタ2−Aに印加さ才しるクロック列Aと、レ
ジスタ2−Cに印加されるクロック列Cが完全に同期で
あるとすると、xi番目σ)クロyりでレジスタ2−A
にデータdiがセットされたとすを)と、示2番ロカク
ロックでデータI)1がレジスタ2−Cにセットさ11
.る。
いま、クロック列Cがクロック列Aより少し遅れたとす
ると、上の点線で示すようなタイミングでデータD1が
レジスタ2−Cにセソlされろ。こσ)点線で示すよう
な現象なレーシングという1寸だ下の点線で水子ような
タイミングでノ゛−夕が2−Cにセットされる場合をオ
ーバーブ・fレイ々いう。
レーシングが発生しているか、否かを調べろためには、
先ずレジスタ2−Aにデータをセットする。そして、シ
リアルアウトされたデータがシリアルインされるように
レジスタ2−Aσ) (ilを設定し、レジスタ2−C
Yパラレルイン・アウト動作を行うように設定する。そ
して、 J1常クロックを1個印加し、しかる後にレジ
スタ2−Cσ)内容をスキャンアウトする。このよつな
動作を一定回敬くり返す・オーバディレィなUIrj詔
するには、レジスタ2人にデータをセットし、レジスタ
2AfX:ループモードに設定する。
レジスタ2Cはパラレルインアウト動作を行なうように
設足する、そして通常クロックを2個印加し、しかる後
にレジスタ2Cの内容をスキャンアウトする。このよう
な動作を一定回数くり返す。
なお、第3図の実施例は、箪1図のようなスキャンイン
・アウト方式を前提としている・〔発明の効果〕 以上の説明から明らかなように9本発明によれば、スキ
ャンイン・スキャンアウトを<−r ’>際σl’IN
報′I#、を少なくできると共に、情報転送に必要とす
る時間を短縮することが出来る。
【図面の簡単な説明】
肌1図は本発明の第1冥施例のブロック図、筑2図はス
キャン−アドレス嗜レジスタにセットされるデータを説
明する図、舅3図は本発明σ)第2実施例のブロック図
、簗4図はレーシングを説明する図である。 1・・・スキャンイン・アウト対象、2−Aないし2−
Dはレジスタ、3−1と3−2・・・OR回路。 4・・・スキャン・アドレス・レジスタ、5・・・スキ
ャン・データ・レジスタ、6・・・デコーダ、7・・・
スキャンイン・データΩ、8・−ス’rヤンリ゛ウド・
データ綜、9・・・酊;l理回路、1(J−1と10−
2・・・Of< [tfi蛇。 特許出願人  富士通株式会社 代理人弁理士  京 谷 四 部 7、キャン 斤、′イ〉ト             
          惧ア 2 し口火きさ全役 榎方
藺 ヤ3図 大4■ 20・ノフグ11ハ 90ツク5110 しシ゛スタ2−△  −m−「−−一一一−−−−−し
シ′°スタ2.−C”−−−−−−−(L−=ノン7)
、、−−」(オーバティレイ)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  通常は演算回路などの人出カバッファとして
    パラレルイン・アウト動作を行うレジスタをスキャンイ
    ン・アウト時にシリアルイン・アウト動作を行わせるよ
    うに宿成されたスキャンイン・アウト方式において、上
    記各レジスタのシリアルイン端子をゲートを介してスキ
    ャンイン・データ線に接続すると共に各レジスタのシリ
    アルアウト端子をゲートを介してスキャンアウト・デー
    タ線および自レジスタのシリアルイン端子に接続し、上
    記スキャンイン・データ線の端をスキャン・データ・レ
    ジスタのシリアルアウト端子に接続し、上記スキャンア
    ウト・データ線を上記スキャン・データ・レジスタのシ
    リアルイン端子に接続し、レジスタの動作モード情報、
    転送データの大きさを示す情報、スキーN’ンイン・ア
    ウトずべきレジスタを指す行列情報および同一行σ)レ
    ジスタの全てに同一7’−夕を七ッ卜すべきか否かを示
    すフラグ情報をスキャン・アドレス・レジスタにセット
    し、邑該スキャン・アドレス・レジスタσ)内容に従っ
    てスキャンイン・アウトを行うよう宿成されたことを特
    徴とするスキャンイン・アウト方式。 C) パラレルイン・アウト卦よびシリアルイン・アラ
    ) Wh作を行い得る各レジスタに、シリアルアウトさ
    れたデータが再びシリアルインでき71紅路を設け、上
    記スキャン・アドレス・レジスタσ)動作モードがルー
    プを指定しているときには、シリアルアウトされたデー
    タを再びシリアルインする動作を該当するレジスタが行
    うようワク族されていることを特徴とする特許請求の範
    囲第α)項記載のスキャンイン・アウト方式。
JP57155361A 1982-09-07 1982-09-07 スキヤンイン・アウト方式 Granted JPS5945560A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57155361A JPS5945560A (ja) 1982-09-07 1982-09-07 スキヤンイン・アウト方式

Applications Claiming Priority (1)

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JP57155361A JPS5945560A (ja) 1982-09-07 1982-09-07 スキヤンイン・アウト方式

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5945560A true JPS5945560A (ja) 1984-03-14
JPS6250859B2 JPS6250859B2 (ja) 1987-10-27

Family

ID=15604227

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57155361A Granted JPS5945560A (ja) 1982-09-07 1982-09-07 スキヤンイン・アウト方式

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JP (1) JPS5945560A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60239834A (ja) * 1984-05-14 1985-11-28 Nec Corp 集積回路
JPH01311322A (ja) * 1988-06-10 1989-12-15 Sanyo Electric Co Ltd 乗算器を内蔵するデータ処理装置のテスト方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60239834A (ja) * 1984-05-14 1985-11-28 Nec Corp 集積回路
JPH0345406B2 (ja) * 1984-05-14 1991-07-11 Nippon Electric Co
JPH01311322A (ja) * 1988-06-10 1989-12-15 Sanyo Electric Co Ltd 乗算器を内蔵するデータ処理装置のテスト方法

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JPS6250859B2 (ja) 1987-10-27

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