JPH04166777A - 大規模集積回路装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は既に開発済のＬＳＩ回路ブロックを一部に含ん
で設計開発された大規模集積回路装置の上記ＬＳＩ回路
ブロックの機能を容易にテストすることのできるテスト
回路を備えた大規模集積回路装置に関する。

（従来の技術） 近時、ＬＳＩの微細化加工技術の進歩に伴い、種々の回
路機能を実現するＬＳＩ回路ブロックの高密度化が進め
られて、より多くの機能を１チツプ上に集積した大規模
集積回路装置が種々開発されるようになってきた。例え
ば従来、回路機能毎に個々に実現されていたＬＳＩ回路
ブロックを、システムインテグレーションの思想を土台
として、これらをサブミクロン技術に立脚した大規模集
積化により、１チツプ化することが種々試みられている
。この種の技術はシステム・オン・チップと称され、成
る大きなシステムそのものを１つの大規模集積回路装置
として実現するものである。

さてこのような大規模集積回路装置を設計開発する場合
、既に個々に開発されているＬＳＩ回路ブロックをその
まま利用し、そのＬＳＩ回路ブロックを一部に含んで大
規模集積回路装置を構築することか多くある。このよう
にして設計開発された大規模集積回路装置の機能をテス
トする場合、一般的には個々の回路ブロック毎に、それ
が正常に機能しているか否かをテストし、その上で上記
大規模集積回路装置がなすシステムの全体的な機能テス
トを行う必要がある。

然し乍ら、大規模集積回路装置の一部として組み込まれ
た既存のＬＳＩ回路ブロックは、一般的に上記大規模集
積回路装置の内部において他のＬＳＩ回路ブロックと接
続されているだけであり、大規模集積回路装置の入出力
端子は各ＬＳＩ回路ブロックの入出力端子とは独立に、
そのシステムに必要な入出力信号に対応付けられて設け
られる。

これ故、個々のＬＳＩ回路ブロックの機能をテストする
には、例えば大規模集積回路装置の入出力端子とは別個
に、ＬＳＩ回路ブロックの入出力端子に対応した外部信
号端子を前記大規模集積回路装置にテスト用端子として
設ける必要がある。しかしこのようなテスト用の端子を
、大規模集積回路装置の本来の端子とは別個に設けるこ
とは、大規模集積回路装置の入出力端子の数を徒に増大
させることになり、実装可能な入出力端子（入Ｈ力ピン
）の数についての制約の点から問題かある。

また大規模集積回路装置の入出力端子を通じて前記ＬＳ
Ｉ回路ブロックの機能を個々にテストすることか考えら
れている。しかし前述したように大規模集積回路装置の
入出力端子は、個々のＬＳＩ回路ブロックの入出力端子
とは全く独立に設定されたものであるから、大規模集積
回路装置の入出力端子を通じて個々のＬＳＩ回路ブロッ
クの機能をテストするには、新たにテストパターンを開
発することか必要となる。

ところかこの種のテストパターンの開発は、−般的に非
常に困難で、多大な時間と手間の掛かるものである。特
にこの種のテストパターンの開発労力は、大規模集積回
路装置の設計開発に要する労力の３０〜４０％にも達す
ると云われており、システム・インテグレーションに基
づく大規模集積回路装置の設計開発におけるネックとな
っている。

（発明が解決しようとする課題） このように従来にあっては、既に開発済のＬＳＩ回路ブ
ロックを一部に組み込んで大規模集積回路装置を設計開
発しても、個々のＬＳＩ回路ブロックの機能をテストす
ることが非常に困難であると云う問題があった。

本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、そ
の目的とするところは、開発済のＬＳＩ回路ブロックを
一部に組み込んで設計開発された大規模集積回路装置の
機能テストを簡易に、且つ信頼性良くテストすることを
可能とする機能を備えた大規模集積回路装置を提供する
ことにある。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 本発明は、既に開発済のＬＳＩ回路ブロックを一部に含
んで設計開発された大規模集積回路装置に係り、 前記ＬＳＩ回路ブロックの機能テスト時に、当該ＬＳＩ
回路ブロックの入出力端子を、前記大規模集積回路装置
の入出力端子に接続する為のマルチプレクサをテスト回
路として前記大規模集積回路装置に組み込んでおき、 前記ＬＳＩ回路ブロックの機能テストを行う為に開発さ
れたテストパターンを前記大規模集積回路装置の入出力
端子から前記ＬＳＩ回路ブロックにそのまま印加し得る
ようにした二占をｃｆ徴とするものである。

（作　用） 本発明によれば、大規模集積回路装置の一部として組み
込まれたＬＳＩ回路ブロックの入出力端子を、テスト回
路として組み込まれたマルチプレクサにて、当該ＬＳＩ
回路ブロックの機能テスト時に前記大規模集積回路装置
の入出力端子に接続するので、この大規模集積回路装置
の入出力端子から、前記ＬＳＩ回路ブロックの機能テス
トを行う為に開発されているテストパターンをそのまま
当該ＬＳＩ回路ブロックに印加することが可能となる。

この結果、新たにテスト用の端子を設けることなく、既
に開発済のＬＳＩ回路ブロックと対をなして開発されて
いるテストパターンをそのまま用いて、つまり新たにテ
ストパターンを開発することなしに、個々のＬＳＩ回路
ブロックの機能を信頼性良くテストすることが可能とな
る。

（実施例） 以下、図面を参照して本発明の一実施例に係る大規模集
積回路装置について説明する。

第１図は実施例装置の概略構成図であり、■、２はそれ
ぞれ既に開発済のＬＳＩ回路ブロックである。この実施
例装置は、このような既存のＬＳＩ回路ブロック１．２
をそのまま一部の回路機能として組み込んで設計開発さ
れて実現される。尚、これらのＬＳＩ回路ブロック１．
２の各入出力端子は、大規模集積回路装置全体のシステ
ムとしての信号入出力端子（入出力端子群３）に接続さ
れる場合もあるか、一般的には大規模集積回路装置を構
築する他の回路ブロックの信号入出力端子との間で内部
的に接続される。

しかしてこの実施例装置か特徴とするところは、前記Ｌ
ＳＩ回路ブロック１，２の各信号入出力端子にそれぞれ
対応してマルチプレクサ４を設け、マルチプレクサ４を
介して前記ＬＳ１回路プロ、ツタ１．２の各信号入出力
端子を大規模集積回路装置の外部信号入出力端子３にそ
れぞれ接続するように構成した点にある。これらのマル
チプレクサ４は、前記ＬＳＩ回路ブロック１．２の機能
テスト時にテスト信号を受けて切り替え動作するもので
あり、テスト信号の印加時にのみ、前記ＬＳＩ回路ブロ
ック１．２の入出力端子を大規模集積回路装置の外部信
号入出力端子３にそれぞれ接続する。

尚、これらのマルチプレクサ４は、常時は外部信号入出
力端子３から入力される信号の前記ＬＳＩ回路ブロック
１，２への印加を禁止し、またＬＳＩ回路ブロック１，
２から出力される信号の外部信号入出力端子３への伝達
を阻止する。そして図中※印で示すように、前記ＬＳ１
回路プロ・ツク１，２の入出力端子を回路装置内部の他
の回路ブロックに接続し、且つ大規模集積回路装置の外
部信号入出力端子３を回路装置内部の他の回路ブロック
に接続するものとなっている。

かくしてこのように構成された本装置によれば、ＬＳＩ
回路ブロック１，２の機能をテストするべくテスト信号
を印加すれば、回路機能の一部として組み込まれたＬＳ
Ｉ回路ブロック１．２が内部的にそれぞれ切り離され、
その入出力端子か大規模集積回路装置の外部信号入出力
端子３にそれぞれ接続される。これらの外部信号入出力
端子３は、本来的にはＬＳＩ回路ブロック１．２の信号
入出力端子とは無関係に、大規模集積回路装置のシステ
ム的な機能に従って設けられたものであるか、上述した
如くマルチプレクサ４を作動させることにより、ＬＳＩ
回路ブロック１．２の信号入出力端子にそれぞれ対応し
たテスト用端子として用いられることになる。

この結果、これらの外部信号入出力端子３を介して前記
各ＬＳＩ回路ブロック１，２にテストパターンを印加し
てその機能をそれぞれ独立にテストすることが可能とな
る。しかもこれらのＬＳＩ回路ブロック１．２は、既に
開発済のものであり、その開発に伴ってＬＳＩ回路ブロ
ック１，２の機能テストの為のテストパターンも既に作
成済であることから、新たにテストパターンを作成する
ことなく、作成済のテストパターンをそのまま用いて前
記各ＬＳＩ回路ブロック１，２の機能を効率的にテスト
することか６５能となる。

従って大規模集積回路装置の開発設ＪＶに伴って新たに
テストパターンを作成すると云う労力が大幅に軽減され
、少なくとも既に開発済の回路ブロックについての機能
テストを非常に効率的に行うことが可能となる。

尚、本発明は上述した実施例に限定されるものではない
。前述した実施例では、ＬＳ１回路モジュールの人出力
端了数に比較して大規模集積回路装置の外部信号入出力
端子３の数が多い場合を想定しているか、外部信号入出
力端子３の数が少ない場合には、例えば（ｎ：１）の入
出力関係を持つマルチプレクサを用いて外部信号入出力
端子３に複数のＬＳ１回路モノニールの入出力端子を選
択的に接続し、これらのＬＳＩ回路ブロックの機能テス
トを順に行うようにすれば良い。この場合には、例えば
第２図に示すようにとのＬＳＩ回路モジュールの機能テ
ストを行うかを順に指定しながら、そのＬＳＩモジュー
ルに対するテストパターンを順番に与えていくようにす
れば良い。その他、本発明はその要旨を逸脱しない範囲
で種々変形して実施することができる。

［発明の効果］ 以上説明したように本発明によれば、大規模集積回路装
置の外部信号入出力端子をそのまま利用し、これらの外
部信号入出力端子にＬＳＩ回路ブロックの信号入出力端
子を選択的に接続して各ＬＳＩ回路ブロックの機能テス
トを行うので、ＬＳＩ回路ブロックの機能をテストする
為の信号端子をわざわざ設ける必要がなく、また既存の
ＬＳＩ回路ブロックに付随して開発されているテストパ
ターンをそのまま利用してＬＳＩ回路ブロックの機能テ
ストを行うことかできる。これ故、テストパターンの開
発に要する労力を大幅に削減し、新たに設計開発された
大規模集積回路装置の機能を効率的にテストすることか
できる等の実用上多大なる効果が奏せられる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例に係る大規模集積回路装置の
概略的な構成を示す図、第２図は複数のＬＳＩ回路ブロ
ックに対する機能テストの手順を示す図である。 １．２・・・ＬＳＩ回路ブロック、３・・・大規模集積
回路装置の外部信号入出力端子、４・・マルチプレクサ
（テスト回路）。 出願人代理人　弁理士　鈴江武彦 第１図 第２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 開発済のＬＳＩ回路ブロックを一部に含んで設計開発さ
   れた大規模集積回路装置において、前記ＬＳＩ回路ブロ
   ックの機能テスト時に、当該ＬＳＩ回路ブロックの入出
   力端子を、前記大規模集積回路装置の入出力端子に接続
   する為のマルチプレクサをテスト回路として組み込み、
   前記ＬＳＩ回路ブロックの機能テストを行う為に開発さ
   れたテストパターンを前記大規模集積回路装置の入出力
   端子から前記ＬＳＩ回路ブロックにそのまま印加し得る
   ようにしたことを特徴とする大規模集積回路装置。