JPH0244269A - Lsiの故障解析方式 - Google Patents
Lsiの故障解析方式Info
- Publication number
- JPH0244269A JPH0244269A JP63195219A JP19521988A JPH0244269A JP H0244269 A JPH0244269 A JP H0244269A JP 63195219 A JP63195219 A JP 63195219A JP 19521988 A JP19521988 A JP 19521988A JP H0244269 A JPH0244269 A JP H0244269A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- trouble
- lsi
- failure
- display device
- place
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 20
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、LSIの機能テストで故障を検出した場合
、その故障情報を基に故障解析を行い、LSI内部の故
障解析を指摘表示するLSIの故障解析方式に関するも
のである− 〔従来の技術〕 LSIの故障をテストする場合、LS、Iのテストを行
うためのテストパターンを用意し、LSIにこのテスト
パターンを入力し、LSIから出力されるパターンを調
べてそのLSIの故障解析を行う。
、その故障情報を基に故障解析を行い、LSI内部の故
障解析を指摘表示するLSIの故障解析方式に関するも
のである− 〔従来の技術〕 LSIの故障をテストする場合、LS、Iのテストを行
うためのテストパターンを用意し、LSIにこのテスト
パターンを入力し、LSIから出力されるパターンを調
べてそのLSIの故障解析を行う。
従来、このLSIの故障解析は次のようにして行なって
いる。まずLSIの出力パターンによって故障情報が得
られた場合、故障が検出された時に印加したテストパタ
ーン系列を求める。次いで、印加したテストパターン系
列と論理図面を参照し、人手によって故障解析を行い、
故障箇所の論理位置を求める。次いで、論理位置と物理
位置の対応リストを参照して故障箇所の物理位置を求め
る。
いる。まずLSIの出力パターンによって故障情報が得
られた場合、故障が検出された時に印加したテストパタ
ーン系列を求める。次いで、印加したテストパターン系
列と論理図面を参照し、人手によって故障解析を行い、
故障箇所の論理位置を求める。次いで、論理位置と物理
位置の対応リストを参照して故障箇所の物理位置を求め
る。
以上の動作を人手によって行う。
従来のLSI機能テストでの故障解析は、以上のように
人手によって行う方式であるため、容易に故障箇所を指
摘することができず、多大な時間。
人手によって行う方式であるため、容易に故障箇所を指
摘することができず、多大な時間。
労力がかかる。また、誤った故障箇所を指摘する等の問
題点があった。
題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、L S I IJM能テステスト故障解析及
び故障箇所の表示を、自動的にしかも短時間で行うこと
ができる故障解析表示方式を得ることを目的とする。
たもので、L S I IJM能テステスト故障解析及
び故障箇所の表示を、自動的にしかも短時間で行うこと
ができる故障解析表示方式を得ることを目的とする。
このためこの発明に係る故障解析方式は、少なくとも中
央処理装置2と、表示装置5と、LSIの故障解析を行
うのに必要な情報テーブル61及びこの情報テーブルに
基づいてLSIの故障解析を行い、故障箇所を上記表示
装置5に表示する故障解析プログラム62を格納する記
憶装置6とを備え、LSIにテストパターンの情報を入
力し、出力されたLSIの情報から故障が検出された時
上記記憶装置6に格納される情報デープル61と故障解
析プログラム62により、上記表示装置5に自動的に故
障箇所を表示することを特徴とするものである。
央処理装置2と、表示装置5と、LSIの故障解析を行
うのに必要な情報テーブル61及びこの情報テーブルに
基づいてLSIの故障解析を行い、故障箇所を上記表示
装置5に表示する故障解析プログラム62を格納する記
憶装置6とを備え、LSIにテストパターンの情報を入
力し、出力されたLSIの情報から故障が検出された時
上記記憶装置6に格納される情報デープル61と故障解
析プログラム62により、上記表示装置5に自動的に故
障箇所を表示することを特徴とするものである。
LSIにテストパターンを入力し、得られたLSIの出
力から故障が検出されると、故障解析プログラム62は
記憶装置6に格納されている故障解析を行うのに必要な
情報テーブル61を基にLSIの故障箇所を求め、表示
装置5に表示する。
力から故障が検出されると、故障解析プログラム62は
記憶装置6に格納されている故障解析を行うのに必要な
情報テーブル61を基にLSIの故障箇所を求め、表示
装置5に表示する。
以下この発明の一実施例を図について説明する。
第1図において、1はLSIを試験するLSIテスター
2は故障情報から故障位置を求める中央処理装置、3
はLSIテスター1と中央処理装置2を接続するインタ
ーフェース、4は中央処理装置2の動作を制御するコン
ソール、5は故障位置を表示する表示装置、6は故障情
fHから故障位置を求めるために必要な情報テーブル6
1及び故障解析プログラム62を保持する磁気ディスク
等の記憶装置、7は必要なリストを出力するためのプリ
ンターである。
2は故障情報から故障位置を求める中央処理装置、3
はLSIテスター1と中央処理装置2を接続するインタ
ーフェース、4は中央処理装置2の動作を制御するコン
ソール、5は故障位置を表示する表示装置、6は故障情
fHから故障位置を求めるために必要な情報テーブル6
1及び故障解析プログラム62を保持する磁気ディスク
等の記憶装置、7は必要なリストを出力するためのプリ
ンターである。
第2図は故障情報から故障位置を求めるために必要な記
憶装置6に保持する故障解析用データのフォーマット図
であり、LSI機能テストパターンの生成時に作成する
。8はテストパターン番号とLSIの出力ピンの故障情
報と故障番号の対応情報、9は故障番号と故障箇所の論
理位置との対応情報、IOは故障番号と故障箇所の物理
位置との対応情報である。
憶装置6に保持する故障解析用データのフォーマット図
であり、LSI機能テストパターンの生成時に作成する
。8はテストパターン番号とLSIの出力ピンの故障情
報と故障番号の対応情報、9は故障番号と故障箇所の論
理位置との対応情報、IOは故障番号と故障箇所の物理
位置との対応情報である。
次に動作について説明する。LSIテスター1で機能テ
ストを実施し、フェイルした時の故障情報をインターフ
ェース3を介して中央処理装置2に送る。中央処理装置
2は記憶装置6に記憶された第2図の8.9.10に示
す故障解析データを基に故障解析プログラム62を実行
し、LSI内部の故障位置を求め、表示装置5に故障箇
所の論理位置と物理位置を自動的に表示する。すなわち
、具体的にはテストを実施した結果として、得られるテ
ストパターンの種類(番号)に応じて故障箇所の論理位
置と物理位置をあらかじめ設定してテーブル化しておき
、このテーブルにもとづいて故障個所を表示する。例え
ば、テストパターン番号1、LSIの出力ビン番号10
でフェイルした場合、第2図における故障情Iff 8
と故障番号対応情報から故障番号1と2を得る。次に故
障番号9と故障箇所の論理位置対応情報から故障箇所の
論理位置AOOIとA002を得て表示装置5に表示す
る。続いて、故障番号10と故障箇所の物理位置対応情
報から故障箇所の物理位置0001と0201を得て表
示装置5に表示する。
ストを実施し、フェイルした時の故障情報をインターフ
ェース3を介して中央処理装置2に送る。中央処理装置
2は記憶装置6に記憶された第2図の8.9.10に示
す故障解析データを基に故障解析プログラム62を実行
し、LSI内部の故障位置を求め、表示装置5に故障箇
所の論理位置と物理位置を自動的に表示する。すなわち
、具体的にはテストを実施した結果として、得られるテ
ストパターンの種類(番号)に応じて故障箇所の論理位
置と物理位置をあらかじめ設定してテーブル化しておき
、このテーブルにもとづいて故障個所を表示する。例え
ば、テストパターン番号1、LSIの出力ビン番号10
でフェイルした場合、第2図における故障情Iff 8
と故障番号対応情報から故障番号1と2を得る。次に故
障番号9と故障箇所の論理位置対応情報から故障箇所の
論理位置AOOIとA002を得て表示装置5に表示す
る。続いて、故障番号10と故障箇所の物理位置対応情
報から故障箇所の物理位置0001と0201を得て表
示装置5に表示する。
以上説明したように、この発明によれば、少なくとも中
央処理装置と、表示装置と、LSIの故障解析を行うの
に必要な情報テーブル及びこの情報テーブルに基づいて
LSIの故障解析を行い、故障箇所を上記表示装置に表
示する故障解析プログラムを格納する記憶装置とを備え
、LSIにテストパターンの情報を入力し、出力された
LS[の情報から故障が検出された時上記記憶装置に格
納される情報テーブルと故障解析プログラムにより、上
記表示装置に自動的に故障箇所を表わすので、LSIの
故障解析、故障箇所の表示を自動的にしかも短時間に行
うことができる。
央処理装置と、表示装置と、LSIの故障解析を行うの
に必要な情報テーブル及びこの情報テーブルに基づいて
LSIの故障解析を行い、故障箇所を上記表示装置に表
示する故障解析プログラムを格納する記憶装置とを備え
、LSIにテストパターンの情報を入力し、出力された
LS[の情報から故障が検出された時上記記憶装置に格
納される情報テーブルと故障解析プログラムにより、上
記表示装置に自動的に故障箇所を表わすので、LSIの
故障解析、故障箇所の表示を自動的にしかも短時間に行
うことができる。
第1図はこの発明の一実施例を示す構成図、第2図は故
障解析用データのフォーマット図である。 1・・・LSIテスター 2・・・中央処理装置、3・
・・インターフェース、6・・・記憶装置。 代理人 大 岩 増 雄(ばか2名)第2図
障解析用データのフォーマット図である。 1・・・LSIテスター 2・・・中央処理装置、3・
・・インターフェース、6・・・記憶装置。 代理人 大 岩 増 雄(ばか2名)第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 少なくとも中央処理装置と、表示装置と、 LSIの故障解析を行うのに必要な情報テーブル及びこ
の情報テーブルに基づいてLSIの故障解析を行い、故
障箇所を上記表示装置に表示する故障解析プログラムを
格納する故障装置とを備え、LSIにテストパターンの
情報を入力し、LSIから出力されたLSIの出力パタ
ーンから故障が検出された時上記中央処理装置は、上記
記憶装置に格納される情報テーブルと故障解析プログラ
ムとにより、上記表示装置に故障箇所を表示することを
特徴とするLSIの故障解析方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63195219A JPH0244269A (ja) | 1988-08-04 | 1988-08-04 | Lsiの故障解析方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63195219A JPH0244269A (ja) | 1988-08-04 | 1988-08-04 | Lsiの故障解析方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0244269A true JPH0244269A (ja) | 1990-02-14 |
Family
ID=16337446
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63195219A Pending JPH0244269A (ja) | 1988-08-04 | 1988-08-04 | Lsiの故障解析方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0244269A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0559353U (ja) * | 1991-10-17 | 1993-08-06 | 日本電気株式会社 | メモリ搭載パッケージ試験装置 |
US6126480A (en) * | 1997-07-01 | 2000-10-03 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Connector |
JP2002530659A (ja) * | 1998-11-13 | 2002-09-17 | ナイツ・テクノロジー・インコーポレーテッド | 論理集積回路の論理機能試験データを物理的表現にマッピングするためのic試験ソフトウェア・システム |
JP2011086509A (ja) * | 2009-10-15 | 2011-04-28 | Smk Corp | コネクタ |
-
1988
- 1988-08-04 JP JP63195219A patent/JPH0244269A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0559353U (ja) * | 1991-10-17 | 1993-08-06 | 日本電気株式会社 | メモリ搭載パッケージ試験装置 |
US6126480A (en) * | 1997-07-01 | 2000-10-03 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Connector |
JP2002530659A (ja) * | 1998-11-13 | 2002-09-17 | ナイツ・テクノロジー・インコーポレーテッド | 論理集積回路の論理機能試験データを物理的表現にマッピングするためのic試験ソフトウェア・システム |
JP2011086509A (ja) * | 2009-10-15 | 2011-04-28 | Smk Corp | コネクタ |
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