JPH05340983A - 試験検査方法 - Google Patents
試験検査方法Info
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- JPH05340983A JPH05340983A JP4147553A JP14755392A JPH05340983A JP H05340983 A JPH05340983 A JP H05340983A JP 4147553 A JP4147553 A JP 4147553A JP 14755392 A JP14755392 A JP 14755392A JP H05340983 A JPH05340983 A JP H05340983A
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- JP
- Japan
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- test
- monitor
- pointer
- information
- execution
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 デバッガーの起動を自動的に行なわせテスト
の内容を容易に知ること。 【構成】 検査モードで、該モードの停止を判断して、
データ解析機能を有するモニターに入るようにした。
の内容を容易に知ること。 【構成】 検査モードで、該モードの停止を判断して、
データ解析機能を有するモニターに入るようにした。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マイクロコンピュータ
ー(以下単にマイコン)を使用した各種電気的試験器,
検査装置の試験検査方法に関するものである。
ー(以下単にマイコン)を使用した各種電気的試験器,
検査装置の試験検査方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】各テストの結果を評価するには、そのテ
ストステップ毎にテスト条件を保持したまま停止させ、
各種測定,検査項目について検証していかなければなら
ないが、従来、検査装置内部からそれを行なうのには専
用又は汎用のソフトウェアデバッガ(以下単にデバッ
ガ)を起動するか、デバッガを起動しない場合には指定
のテストモードで停止させ、外部から検証するかのいず
れかであった。
ストステップ毎にテスト条件を保持したまま停止させ、
各種測定,検査項目について検証していかなければなら
ないが、従来、検査装置内部からそれを行なうのには専
用又は汎用のソフトウェアデバッガ(以下単にデバッ
ガ)を起動するか、デバッガを起動しない場合には指定
のテストモードで停止させ、外部から検証するかのいず
れかであった。
【0003】又、検査装置システム全体を立上げる際の
ハードウェアの調整,チェックを行なう場合にもデバッ
ガを起動しなければならなかった。
ハードウェアの調整,チェックを行なう場合にもデバッ
ガを起動しなければならなかった。
【0004】
1.装置内部から測定結果を検証する場合、及びシステ
ム全体の調整,チェックを行なうにはデバッガを必要と
する為、次のような欠点があった。 1)組込型(ROMプログラム)検査システム、特に8
ビットマイコンによる検査システムでは、メモリエリア
が絶対的に小さく、穴長部分の多い市販デバッガを組み
込む事が非常に困難。 2)ディスクオペレーティングシステムもしくはそれに
オペレーティングシステムを持つ検査装置にあっては、
汎用のデバッガによりデバッグは可能であるが、a.起
動の為の操作を必要とする。 b.測定データ,規格等の確認に多くのキー操作が必要
で、繁雑。 c.ブレークポイントの設定とプログラム実行の繰り返
しにより、部分的に種々のプログラム構成はとれるが、
それによるテストモードの実現は不可能である。
ム全体の調整,チェックを行なうにはデバッガを必要と
する為、次のような欠点があった。 1)組込型(ROMプログラム)検査システム、特に8
ビットマイコンによる検査システムでは、メモリエリア
が絶対的に小さく、穴長部分の多い市販デバッガを組み
込む事が非常に困難。 2)ディスクオペレーティングシステムもしくはそれに
オペレーティングシステムを持つ検査装置にあっては、
汎用のデバッガによりデバッグは可能であるが、a.起
動の為の操作を必要とする。 b.測定データ,規格等の確認に多くのキー操作が必要
で、繁雑。 c.ブレークポイントの設定とプログラム実行の繰り返
しにより、部分的に種々のプログラム構成はとれるが、
それによるテストモードの実現は不可能である。
【0005】2.デバッガを起動しない場合は、テスト
モードにより指定したテストの実行終了後、そのテスト
ステップのテスト状態を保持したまま停止する事は出来
るが単に停止し、次に進めるかそこで終了するかのスイ
ッチ入力待ち状態となるだけである為に、 1)停止状態で外部から、被検査物の設定状態,出力状
態をオシロスコープ,デジボル等を用いて確認する事は
出来るが、装置内部からはそれが出来ない。 2)スタティックな測定の場合は上記1)の方法でも検
査結果の検証は出来るが、ダイナミックな検査の場合、
外部からの検証は非常に困難。 3)テスト停止後それ以降のテストを別のテストモード
で実行出来ない。
モードにより指定したテストの実行終了後、そのテスト
ステップのテスト状態を保持したまま停止する事は出来
るが単に停止し、次に進めるかそこで終了するかのスイ
ッチ入力待ち状態となるだけである為に、 1)停止状態で外部から、被検査物の設定状態,出力状
態をオシロスコープ,デジボル等を用いて確認する事は
出来るが、装置内部からはそれが出来ない。 2)スタティックな測定の場合は上記1)の方法でも検
査結果の検証は出来るが、ダイナミックな検査の場合、
外部からの検証は非常に困難。 3)テスト停止後それ以降のテストを別のテストモード
で実行出来ない。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の目的を
達成する為、被検査物の各検査項目を、任意の検査モー
ドでテスト実行、停止、終了の制御を行ない、停止を指
定した場合にはデバッグ機能、またはデータ解析機能を
有するモニターに入る事を特徴とする。
達成する為、被検査物の各検査項目を、任意の検査モー
ドでテスト実行、停止、終了の制御を行ない、停止を指
定した場合にはデバッグ機能、またはデータ解析機能を
有するモニターに入る事を特徴とする。
【0007】
【実施例】図1は本発明の1実施例を説明するブロック
図である。同図に於いて、KBは情報を入力するキーボ
ードで、文字、記号、機能命令等を入力する。MEMは
メモリで、キーボードKBからの情報、内部状態、処理
結果及び後述するプログラム等を記憶する。ROMはメ
モリで、システムを立上げるプログラム等が記憶されて
いる。FDDは外部記憶装置で、フロッピーのような記
憶媒体に記憶されたプログラム、情報を読み、書きす
る。かかる外部記憶装置からのプログラムが立ち上げプ
ログラムによりメモリMEMに転送される。CPUは処
理部で、メモリROM及びメモリMEMに記憶されたプ
ログラムに基づいて処理を実行し、かつ制御を行なう。
DCOTは表示制御部で、ビットマップのメモリを持
ち、かかるメモリに記憶した情報を表示器CRTで表示
する。処理部CPUは表示制御部DCOTに表示すべき
情報を送る。
図である。同図に於いて、KBは情報を入力するキーボ
ードで、文字、記号、機能命令等を入力する。MEMは
メモリで、キーボードKBからの情報、内部状態、処理
結果及び後述するプログラム等を記憶する。ROMはメ
モリで、システムを立上げるプログラム等が記憶されて
いる。FDDは外部記憶装置で、フロッピーのような記
憶媒体に記憶されたプログラム、情報を読み、書きす
る。かかる外部記憶装置からのプログラムが立ち上げプ
ログラムによりメモリMEMに転送される。CPUは処
理部で、メモリROM及びメモリMEMに記憶されたプ
ログラムに基づいて処理を実行し、かつ制御を行なう。
DCOTは表示制御部で、ビットマップのメモリを持
ち、かかるメモリに記憶した情報を表示器CRTで表示
する。処理部CPUは表示制御部DCOTに表示すべき
情報を送る。
【0008】IFはインタフェースで、被検査装置Tと
電気的に接続するものである。
電気的に接続するものである。
【0009】以上のブロック図と図2〜図7を参照して
本発明の作動を詳述する。
本発明の作動を詳述する。
【0010】ソフトウェアを汎用部と専用部に分離し
て、キーボードKB及び表示器CRT又はこれに準ずる
入出力装置により利用する事の出来る、マン・マシンイ
ンターフェースの集合体であるモニターを汎用部に設
け、各テストの実行をポインタを使用して制御する事に
より、テストモードを実現するとともに、テストスター
ト待ち状態でモニターへ入るキーを押すか、テスト開始
後テストモードによりテスト停止に該当するテストステ
ップがあった時には、各種デバッグ、解析機能を有する
このモニターに入るようにしたものである。
て、キーボードKB及び表示器CRT又はこれに準ずる
入出力装置により利用する事の出来る、マン・マシンイ
ンターフェースの集合体であるモニターを汎用部に設
け、各テストの実行をポインタを使用して制御する事に
より、テストモードを実現するとともに、テストスター
ト待ち状態でモニターへ入るキーを押すか、テスト開始
後テストモードによりテスト停止に該当するテストステ
ップがあった時には、各種デバッグ、解析機能を有する
このモニターに入るようにしたものである。
【0011】テストモードの内容を以下に示す。
【0012】1.NORMAL:規格外のテストがあれ
ばその結果を表示後テストを終了する。それ以後のテス
トは実行しない。出荷検査等生産に使用する検査装置で
は通常このテストモードを使用する。
ばその結果を表示後テストを終了する。それ以後のテス
トは実行しない。出荷検査等生産に使用する検査装置で
は通常このテストモードを使用する。
【0013】2.FAIL STOP:規格外のテスト
があれば、そのテストの結果を表示してモニターに入
る。デバッグ時に使用する。
があれば、そのテストの結果を表示してモニターに入
る。デバッグ時に使用する。
【0014】3.ALL TEST:規格外テストの有
無に関らず最後のテストまで実行し、終了後はトータル
の規格外テスト数を表示する。主にデバッグ時に使用す
る。
無に関らず最後のテストまで実行し、終了後はトータル
の規格外テスト数を表示する。主にデバッグ時に使用す
る。
【0015】4.STEP TEST:指定したテスト
ステップまで実行し、そのテストステップの結果を表示
してモニターに入る。デバッグ時に使用する。
ステップまで実行し、そのテストステップの結果を表示
してモニターに入る。デバッグ時に使用する。
【0016】5.SINGLE STEP:1テストず
つ実行後そのテスト結果を表示してモニターに入る。デ
バッグ時に使用する。
つ実行後そのテスト結果を表示してモニターに入る。デ
バッグ時に使用する。
【0017】モニターの主な機能を下記に示す。
【0018】1.テストモードの変更 これまでのテストモードに関係なく、別なモードに変え
て以降のテストを実行する事が出来る。例えばFAIL
STOPモードでモニターに入った後、それ以降をS
INGLE STEPモードで実行するなど。
て以降のテストを実行する事が出来る。例えばFAIL
STOPモードでモニターに入った後、それ以降をS
INGLE STEPモードで実行するなど。
【0019】2.I/OポートRead/Write
(マイコン周辺機器のコントロール)
(マイコン周辺機器のコントロール)
【0020】3.システムメモリーのRead/Wri
te
te
【0021】4.測定データ等各種データの表示 例)テスト番号,測定データ,テストリミット(規格上
限値,下限値),チェック数,パス数etc。
限値,下限値),チェック数,パス数etc。
【0022】5.モニターを抜ける時、その時のテスト
モードで引き続きテストを行なうか(NEXT)、その
テストで終了(END)とするかの選択。例えばSIN
GLE STEPモードにおいて“NEXT”キーを押
していく事によりTEST1,2,3と次々と次のステ
ップへ進める事が出来るが、例えばTEST3実行後に
“END”キーを押せばTEST4以降は実行せずにテ
スト終了となる。
モードで引き続きテストを行なうか(NEXT)、その
テストで終了(END)とするかの選択。例えばSIN
GLE STEPモードにおいて“NEXT”キーを押
していく事によりTEST1,2,3と次々と次のステ
ップへ進める事が出来るが、例えばTEST3実行後に
“END”キーを押せばTEST4以降は実行せずにテ
スト終了となる。
【0023】本ソフトがスタートすると各種初期設定を
行なった後、テストスタートSWが押されるか、キーボ
ードが押されるかするまでループI(メインループ)を
循環している。
行なった後、テストスタートSWが押されるか、キーボ
ードが押されるかするまでループI(メインループ)を
循環している。
【0024】この状態からキーボードが押されるとモニ
ターに入る(ループIII)。モニターに入るとモニタ
ーの各種機能が使用出来る。モニターから抜けるキー操
作を行えば再びメインループへ戻る。
ターに入る(ループIII)。モニターに入るとモニタ
ーの各種機能が使用出来る。モニターから抜けるキー操
作を行えば再びメインループへ戻る。
【0025】メインループからテストスタートSW O
Nを検出するとテストを開始する(ループII)。テス
ト開始後、例えばシングルステップテストモードでは1
テスト実行終了毎にモニターに入る(ループIV)。モ
ニター使用後、抜ける時に次のテストを実行したければ
Nキー(NEXT)、そのテストでそれ以降のテストを
実行せずに終了したい場合はEキー(END)を押す。
Eキーを押すか最後のテストを実行するとメインループ
へ戻る。
Nを検出するとテストを開始する(ループII)。テス
ト開始後、例えばシングルステップテストモードでは1
テスト実行終了毎にモニターに入る(ループIV)。モ
ニター使用後、抜ける時に次のテストを実行したければ
Nキー(NEXT)、そのテストでそれ以降のテストを
実行せずに終了したい場合はEキー(END)を押す。
Eキーを押すか最後のテストを実行するとメインループ
へ戻る。
【0026】図2に於いて本発明の実行時におけるメモ
リマップを示し、File1は汎用部で構成され、シス
テム全体の制御及びモニター機能を有する。File2
はテスト実行制御を行なう汎用部と検査対象毎に異なる
専用部より構成され、汎用部をライブラリーにUSER
ソフト(専用部)をコンパイルする事により1つのファ
イルとなる。
リマップを示し、File1は汎用部で構成され、シス
テム全体の制御及びモニター機能を有する。File2
はテスト実行制御を行なう汎用部と検査対象毎に異なる
専用部より構成され、汎用部をライブラリーにUSER
ソフト(専用部)をコンパイルする事により1つのファ
イルとなる。
【0027】File2は、汎用部が専用部のデータを
参照する為のリンクエリアがある。
参照する為のリンクエリアがある。
【0028】汎用部と専用部の接点(オフセットアドレ
ス4000H)は、どのような専用部でもテスト実行制
御を可能とする為の、汎用部が必要とする専用部のアド
レステーブルエリアである。(これは使用言語にリンカ
が無い為、絶対番地でリンクする様にしたものである)
ス4000H)は、どのような専用部でもテスト実行制
御を可能とする為の、汎用部が必要とする専用部のアド
レステーブルエリアである。(これは使用言語にリンカ
が無い為、絶対番地でリンクする様にしたものである)
【0029】これをリンクエリアと呼ぶ事にし、次にこ
のリンクエリアについて説明する。ユーザーソフトにお
いてリンクエリアは、コーディングフォーマットをと
る。READLIBはUSERがOS−TESTのシン
ボル情報を取り込む為の擬似命令。DWはその右に記述
したラベルのオフセットアドレスを16ビットで定義す
る擬似命令。¥マークはそれ以降コメント文である事を
示す。
のリンクエリアについて説明する。ユーザーソフトにお
いてリンクエリアは、コーディングフォーマットをと
る。READLIBはUSERがOS−TESTのシン
ボル情報を取り込む為の擬似命令。DWはその右に記述
したラベルのオフセットアドレスを16ビットで定義す
る擬似命令。¥マークはそれ以降コメント文である事を
示す。
【0030】 ユーザーのリンクエリアコーディングフォーマット READLIB ORG 4000H ¥ロケーションカウンターを4000Hにセット DW EXENO ¥実行順序テーブル先頭番地 DW STRROM ¥リミットテーブル先頭番地 DW STRRAM ¥データエリア先頭番地 DW TESTAD ¥テストプログラムアドレステーブル先頭番地 DW MTTBL ¥コメントテーブル先頭番地 DW STRTSNS ¥スタートセンスルーチン先頭番地 以下各リンク情報の内容について説明する。 1.実行順序テーブル どのテストをどういう順序で実行するかを定義する。 例1)EXENO: DW 1 ¥TEST
1 DW 2 ¥TEST2 DW 3 ¥TEST3 DW OFFFFH ¥TEST1 この例ではTEST1,2,3の順にテスト実行。EX
ENOはテーブルの先頭番地を知る為のラベル。 例2)EXENO: DW 3 ¥TEST
3 DW 1 ¥TEST1 DW OFFFFH ¥エンドコード この例ではTEST3,1と実行してテストを終了す
る。テスト2は実行しない。DWで定義する数値は、以
下に説明するテストプログラムアドレステーブル,コメ
ントテーブル,リミットテーブルの各テーブルの先頭か
ら何番目にコーディングされたテストかを指示する。こ
の3つのテーブル間のコーディング順は一致している必
要がある。
1 DW 2 ¥TEST2 DW 3 ¥TEST3 DW OFFFFH ¥TEST1 この例ではTEST1,2,3の順にテスト実行。EX
ENOはテーブルの先頭番地を知る為のラベル。 例2)EXENO: DW 3 ¥TEST
3 DW 1 ¥TEST1 DW OFFFFH ¥エンドコード この例ではTEST3,1と実行してテストを終了す
る。テスト2は実行しない。DWで定義する数値は、以
下に説明するテストプログラムアドレステーブル,コメ
ントテーブル,リミットテーブルの各テーブルの先頭か
ら何番目にコーディングされたテストかを指示する。こ
の3つのテーブル間のコーディング順は一致している必
要がある。
【0031】2.リミットテーブル 各テストの表示の為のテスト番号,単位,規格(下限
値,上限値)を定義する。規格は、そのテスト結果の良
・不良の判断にも使われる。1テストにつき8バイトを
使用する。 例)STRROM: DW 1 ¥テスト番
号1 DW 4000 ¥下限値 DW 5000 ¥上限値 DB “mV” ¥表示単位 DW 2 ¥テスト番号2 DW 10 ¥下限値 DW 100 ¥上限値 DB “uA” ¥表示単位 STRROMはリミットテーブルの先頭番地を知る為の
ラベル
値,上限値)を定義する。規格は、そのテスト結果の良
・不良の判断にも使われる。1テストにつき8バイトを
使用する。 例)STRROM: DW 1 ¥テスト番
号1 DW 4000 ¥下限値 DW 5000 ¥上限値 DB “mV” ¥表示単位 DW 2 ¥テスト番号2 DW 10 ¥下限値 DW 100 ¥上限値 DB “uA” ¥表示単位 STRROMはリミットテーブルの先頭番地を知る為の
ラベル
【0032】3.データエリア先頭番地 各テスト毎に測定データ,チェック数,パス数等のデー
タを保存するデータエリアの先頭番地を定義し、そのエ
リアを確保する。 例)STRRAM DSB 3 * 88 ↑ ↑ テスト数 1テストあたりのバイト数 STRRAMはデータエリアの先頭番地を知る為のラベ
ル。実行順序テーブルの定義数だけ、1テストあたり8
8バイトのデータエリアが生成される。図3はデータエ
リア メモリマップの一部を示す。
タを保存するデータエリアの先頭番地を定義し、そのエ
リアを確保する。 例)STRRAM DSB 3 * 88 ↑ ↑ テスト数 1テストあたりのバイト数 STRRAMはデータエリアの先頭番地を知る為のラベ
ル。実行順序テーブルの定義数だけ、1テストあたり8
8バイトのデータエリアが生成される。図3はデータエ
リア メモリマップの一部を示す。
【0033】4.テストプログラムアドレステーブル 例)TESTAE: DW TEST01 ¥TES
T01の実行番地 DW TEST02 ¥TEST02の実行番地 DW TEST03 ¥TEST03の実行番地 TESTADはテーブルの先頭番地を知る為のラベル
T01の実行番地 DW TEST02 ¥TEST02の実行番地 DW TEST03 ¥TEST03の実行番地 TESTADはテーブルの先頭番地を知る為のラベル
【0034】5.コメントテーブル 各テストが何のテストであるかを表示(プリント)する
為のテーブル 例)MTTBL:DW MT1 ¥テスト1コメント
文の先頭番地 DW MT2 ¥テスト2コメント文の先頭番地 DW MT3 ¥テスト3コメント文の先頭番地 MTTBLはコメントテーブルの先頭番地を知る為のラ
ベル MT1: DB ‘テスト1電源電圧$’ MT2: DB ‘テスト2電源電圧$’ MT3: DB ‘テスト3電源電圧$’ $記号はコメント文のENDマークで、$自身は表示さ
れない。本実施例では半角で最大18文字まで記述出来
る。
為のテーブル 例)MTTBL:DW MT1 ¥テスト1コメント
文の先頭番地 DW MT2 ¥テスト2コメント文の先頭番地 DW MT3 ¥テスト3コメント文の先頭番地 MTTBLはコメントテーブルの先頭番地を知る為のラ
ベル MT1: DB ‘テスト1電源電圧$’ MT2: DB ‘テスト2電源電圧$’ MT3: DB ‘テスト3電源電圧$’ $記号はコメント文のENDマークで、$自身は表示さ
れない。本実施例では半角で最大18文字まで記述出来
る。
【0035】6.スタートSWセンスルーチン どのスイッチが入った事でテストスタートとするかは、
検査システムによって異なる為、USERにおいて、ス
タートSWのセンスサブルーチンを定義する。リターン
情報として1か0を返し、1の時はスタートSW O
N、0の時はSWOFFとする。
検査システムによって異なる為、USERにおいて、ス
タートSWのセンスサブルーチンを定義する。リターン
情報として1か0を返し、1の時はスタートSW O
N、0の時はSWOFFとする。
【0036】図5はテスト実行時におけるフローを示
す。これは図4メインフローチャートのOS−TEST
実行制御部分の詳細フローチャートである。以下この動
作について説明する。
す。これは図4メインフローチャートのOS−TEST
実行制御部分の詳細フローチャートである。以下この動
作について説明する。
【0037】各処理に付した( )内の数字はその処理
の中で、図下部に記したどのポインタを使用しているか
示す。
の中で、図下部に記したどのポインタを使用しているか
示す。
【0038】まず各ポインタについて、そのラベル名と
名称、機能を以下に説明する。
名称、機能を以下に説明する。
【0039】 ラベル 名 称 機 能 (1)EXEP 実行順序ポインタ 実行順序テーブルの次に実行する 順番を指し示す。 (2)TPOINT テストポインタ テストプログラムアドレステーブル のテスト実行位置をポイントする。 (3)ROMADD リミットテーブルポインタ リミットテーブルの先頭 位置を示し、規格、表示単位の読み出しに使用する。 (4)RAMADD データエリアポインタ データエリアの先頭位置を示 し、測定データの格納、P/Fフラグのセット等に使用する。 (5)COMMNT コメントポインタ コメントテーブルをポイントし、 テストデータ表示時にポイントされた所のメッセージを表示する。
【0040】次にフローに従って説明していく。
【0041】テストがスタートすると最初に、上記各ポ
インタに初期値を代入するポインタセットを行なう。ポ
インタセットにおいて各ポインタには、それぞれ次の初
期値がセットされる。
インタに初期値を代入するポインタセットを行なう。ポ
インタセットにおいて各ポインタには、それぞれ次の初
期値がセットされる。
【0042】 EXEP ← EXENO(実行順序テーブルの先
頭番地) TPOINT ← TESTAD(テストプログラムア
ドレステーブルの先頭番地) ROMADD ← STRROM(リミットテーブルの
先頭番地) RAMADD ← STRRAM(データエリアの先頭
番地) COMMNT ← MTTBL(コメントテーブルの先
頭番地) これらの初期値は、説明を分かり易くする為に実行順序
テーブルを10ページ 1.例)で記述した場合について示している。
頭番地) TPOINT ← TESTAD(テストプログラムア
ドレステーブルの先頭番地) ROMADD ← STRROM(リミットテーブルの
先頭番地) RAMADD ← STRRAM(データエリアの先頭
番地) COMMNT ← MTTBL(コメントテーブルの先
頭番地) これらの初期値は、説明を分かり易くする為に実行順序
テーブルを10ページ 1.例)で記述した場合について示している。
【0043】次にTPOINTの内容によりTEST0
1のアドレスを知り、TEST01をサブルーチンコー
ルする。
1のアドレスを知り、TEST01をサブルーチンコー
ルする。
【0044】通常各テストプログラムは下記のコンディ
ングフォーマットをとる。
ングフォーマットをとる。
【0045】
【外1】 上記コーディングフォーマットにおいてP/Fは、測定
結果のデータエリアへの格納,規格と比較して良・不良
の判断等を行なうサブルーチンで、どのテストルーチン
においてもこれらを使用する。その他このP/Fルーチ
ンにおいては、判定結果フラグ(図2−2のP,Fフラ
グ)のセット,チェック数,パス数(パスした場合)の
インクリ等を行なう。このP/Fルーチンについては図
6の説明で詳述する。
結果のデータエリアへの格納,規格と比較して良・不良
の判断等を行なうサブルーチンで、どのテストルーチン
においてもこれらを使用する。その他このP/Fルーチ
ンにおいては、判定結果フラグ(図2−2のP,Fフラ
グ)のセット,チェック数,パス数(パスした場合)の
インクリ等を行なう。このP/Fルーチンについては図
6の説明で詳述する。
【0046】1テスト実行後、NORM TESTモー
ドでは、そのテストが、パスかフェイルかポインタRA
MADDにより図3のP,Fフラグを読み取り、フェイ
ルの場合、ポインタRAMADDによりテスト番号,測
定データ,チェック数,パス数,ポインタROMADD
により下限値,上限値,ポインタCOMMNTによりコ
メントを読み出してそれらをCRTに表示後テストを終
了する。パスの場合はポインタEXEPにより次の指し
示す内容がOFFFFH(実行順序テーブルのエンドコ
ード)かどうかで次のテストがあるかどうか判断し、次
のテストが無い時はそれでテスト終了となる。次に実行
すべきテストがある時は次のようにポインタをインクリ
メントする。
ドでは、そのテストが、パスかフェイルかポインタRA
MADDにより図3のP,Fフラグを読み取り、フェイ
ルの場合、ポインタRAMADDによりテスト番号,測
定データ,チェック数,パス数,ポインタROMADD
により下限値,上限値,ポインタCOMMNTによりコ
メントを読み出してそれらをCRTに表示後テストを終
了する。パスの場合はポインタEXEPにより次の指し
示す内容がOFFFFH(実行順序テーブルのエンドコ
ード)かどうかで次のテストがあるかどうか判断し、次
のテストが無い時はそれでテスト終了となる。次に実行
すべきテストがある時は次のようにポインタをインクリ
メントする。
【0047】 EXEP ←← EXEP+2 TPOINT ←← TPOINT+2 ROMADD ←← ROMADD+8 RAMADD ←← RAMADD+88 COMMNT ←← COMMNT+2 各ポインタの増分は各ポインタの指すテーブルの1テス
トあたりの増分(バイト数)である。これによりこの5
つのポインタすべてが一斉に次のテストを指し示す様に
変更される。
トあたりの増分(バイト数)である。これによりこの5
つのポインタすべてが一斉に次のテストを指し示す様に
変更される。
【0048】ALL TESTモードでは、フローチャ
ートからも分かる様に、パスかフェイルかの判断はせ
ず、最後のテストまでポインタをインクリしながら全テ
ストを実行する。
ートからも分かる様に、パスかフェイルかの判断はせ
ず、最後のテストまでポインタをインクリしながら全テ
ストを実行する。
【0049】FAIL STOPモードでは、テスト結
果がパスの場合は、それが最後のテストでない限り次の
テストを実行し、フェイルの場合はそのテストのデータ
表示を、NORM TESTモードでのフェイル時と同
様に行ない、モニターに入る。モニターに入るとその旨
の表示を行なった後キー入力待ちとなり、入力されたキ
ーに応じた処理を行なう。モニターをEキーにより抜け
た場合はテスト終了となり、Nキーで抜けた時はそれが
最後のテストでない場合ポインタをインクリメントし、
次のテストを実行する。
果がパスの場合は、それが最後のテストでない限り次の
テストを実行し、フェイルの場合はそのテストのデータ
表示を、NORM TESTモードでのフェイル時と同
様に行ない、モニターに入る。モニターに入るとその旨
の表示を行なった後キー入力待ちとなり、入力されたキ
ーに応じた処理を行なう。モニターをEキーにより抜け
た場合はテスト終了となり、Nキーで抜けた時はそれが
最後のテストでない場合ポインタをインクリメントし、
次のテストを実行する。
【0050】SINGLE STEPモードでは、テス
トの結果にかかわらず1テスト実行後そのテストのデー
タ表示を行ない、モニターに入る。ここでNキーを続け
て押していく事により、1テストずつ結果を確認しなが
ら、テストを進めていく事が出来る。
トの結果にかかわらず1テスト実行後そのテストのデー
タ表示を行ない、モニターに入る。ここでNキーを続け
て押していく事により、1テストずつ結果を確認しなが
ら、テストを進めていく事が出来る。
【0051】STEP TESTモードでは、モニター
のテストモード変更機能で指定されたテストNo.と現
在実行中のテストNo.をポインタRAMADDより読
み出して比較し、一致していればそのテストのデータ表
示後モニターに入る。
のテストモード変更機能で指定されたテストNo.と現
在実行中のテストNo.をポインタRAMADDより読
み出して比較し、一致していればそのテストのデータ表
示後モニターに入る。
【0052】図6はP/Fのフローチャートを示す。最
初に測定結果をポインタRAMADDの内容プラス2番
地の内容へストアし、次に測定結果を規格と比較する。
まず測定結果をポインタROMADDの内容プラス2番
地の内容(下限値)と比較し、これより小さければ不良
なので、ポインタRAMADDの内容プラス4番地の内
容の40Hにビットを立てる(Failフラグセッ
ト)。下限値より大きければ次にポインタROMADD
の内容プラス4番地の内容(上限値)と比較し、これよ
り小さければ規格内なのでポインタRAMADDの内容
プラス4番地の内容の80Hにビットを立て(Pass
フラグセット)、パス数を1インクリし、チェック数も
1インクリする。上限値よりも大きければやはりこれも
不良なのでFailフラグをセットし、この場合はチェ
ック数のみ1いんくりメントする。
初に測定結果をポインタRAMADDの内容プラス2番
地の内容へストアし、次に測定結果を規格と比較する。
まず測定結果をポインタROMADDの内容プラス2番
地の内容(下限値)と比較し、これより小さければ不良
なので、ポインタRAMADDの内容プラス4番地の内
容の40Hにビットを立てる(Failフラグセッ
ト)。下限値より大きければ次にポインタROMADD
の内容プラス4番地の内容(上限値)と比較し、これよ
り小さければ規格内なのでポインタRAMADDの内容
プラス4番地の内容の80Hにビットを立て(Pass
フラグセット)、パス数を1インクリし、チェック数も
1インクリする。上限値よりも大きければやはりこれも
不良なのでFailフラグをセットし、この場合はチェ
ック数のみ1いんくりメントする。
【0053】図7は実施例におけるモニターのフローチ
ャートを示し、図4で示したようにメインループ又はテ
ストモードによりCALLされる。モニター動作概略を
以下に示す。
ャートを示し、図4で示したようにメインループ又はテ
ストモードによりCALLされる。モニター動作概略を
以下に示す。
【0054】モニターに入るとキーの入力待ちとなる。
何かキーが押されると、押されたキーに該当するコマン
ドを実行し、それがNキー,Eキー以外の場合は、該当
コマンド実行終了後再びキー入力待ちとなる。Nキー,
Eキーの場合はそれぞれモニターから抜ける処理後、リ
ターン情報としてそれぞれ0又は1を返す。このリター
ン情報は、メインループから呼ばれた時は無視され、テ
ストモードにより呼ばれた時には、次のテストステップ
へ進むのか、そのテストで終了するかの判断に使用され
る。
何かキーが押されると、押されたキーに該当するコマン
ドを実行し、それがNキー,Eキー以外の場合は、該当
コマンド実行終了後再びキー入力待ちとなる。Nキー,
Eキーの場合はそれぞれモニターから抜ける処理後、リ
ターン情報としてそれぞれ0又は1を返す。このリター
ン情報は、メインループから呼ばれた時は無視され、テ
ストモードにより呼ばれた時には、次のテストステップ
へ進むのか、そのテストで終了するかの判断に使用され
る。
【0055】以下にモニターの全機能についてその概略
を説明する。
を説明する。
【0056】1.メモリーコマンド メインメモリの内容のバイト単位のダンプ,Read/
Write,ワード単位のRead/Writeを行な
う。
Write,ワード単位のRead/Writeを行な
う。
【0057】2.I/Oコマンド I/OポートのRead/Write
【0058】3.テストモードの設定 各テストモードのどのモードでテストするかをセット。
STEP TESTの場合はどのテスト番号で停止する
かテスト番号の指定。
STEP TESTの場合はどのテスト番号で停止する
かテスト番号の指定。
【0059】4.各種データ表示/プリント 1)テスト番号順全テストデータスクロール表示 2)直行率の低い順に並べかえて全テストデータスクロ
ール表示 3)タクトの遅い順に並べかえて全テストデータスクロ
ール表示 4)指定したテストのみテストデータ表示 5)指定テストのヒストグラム表示
ール表示 3)タクトの遅い順に並べかえて全テストデータスクロ
ール表示 4)指定したテストのみテストデータ表示 5)指定テストのヒストグラム表示
【0060】5.MS−DOS実行コマンド MS−DOSのチャイルドプロセスが実行出来る。
【0061】6.各種変更コマンド 1)上下限値変更 2)データのフロッピーへのセーブ/ロード 3)使用プリンタ指定(ASCIIプリンタ←→漢字プ
リンタ)
リンタ)
【0062】7.16進から10進へ、又は10進から
16進への変換。
16進への変換。
【0063】8.GP−IBモニター GP−IBを使用している場合、GP−IBコントロー
ルの為の各種コマンドが実行出来る。
ルの為の各種コマンドが実行出来る。
【0064】9.ユーザーコマンド実行 Uキーによりユーザー定義のモニターが実行される。
【0065】10.NEXT Nキー モニターから抜ける。テストモードによりモニターへ入
った場合は抜ける時のテストモードに従い次のテストを
実行する。
った場合は抜ける時のテストモードに従い次のテストを
実行する。
【0066】11.END Eキー モニターから抜ける。テストモードによりモニターに入
った場合、何のテストモードで入ってもそのテスト以降
は実行せずテストを終了する。
った場合、何のテストモードで入ってもそのテスト以降
は実行せずテストを終了する。
【0067】(実施例特有の効果) 1.各テストプログラム実行毎に汎用部に制御が戻るの
で、パソコンの持っているタイマーを利用して、各テス
ト毎のテスト時間及びトータルのテスト時間を計測する
事が出来る。生産に使用している検査装置では、検査時
間の長さがコストを左右するが、この機能により、タク
ト短縮の効果を即知る事が出来るので、生産のコストダ
ウンに大きく寄与する。
で、パソコンの持っているタイマーを利用して、各テス
ト毎のテスト時間及びトータルのテスト時間を計測する
事が出来る。生産に使用している検査装置では、検査時
間の長さがコストを左右するが、この機能により、タク
ト短縮の効果を即知る事が出来るので、生産のコストダ
ウンに大きく寄与する。
【0068】2.各テスト結果及びそれに付随するチェ
ック数,パス数,稼働時間等のデータは汎用部ですべて
管理しており、パソコン付属のフロッピードライブを介
して、それらのデータをフロッピーへセーブ,ロードが
出来る為、各機器の稼働状況を別なパソコンで一時に把
握出来、又複数台ある同じ検査装置で直行率(良品率)
に差があるような場合、その機差の原因解析が容易に行
なえる。
ック数,パス数,稼働時間等のデータは汎用部ですべて
管理しており、パソコン付属のフロッピードライブを介
して、それらのデータをフロッピーへセーブ,ロードが
出来る為、各機器の稼働状況を別なパソコンで一時に把
握出来、又複数台ある同じ検査装置で直行率(良品率)
に差があるような場合、その機差の原因解析が容易に行
なえる。
【0069】3.24時間無人稼働の自動検査装置にお
いて、生産計画等により検査対象を別な機種に切り替え
るような場合、図2に示したFile2を、MS−DO
Sに制御を戻さずに次の検査対象用プログラムに入れ換
える事が出来る為、稼働状況等のデータが途切れる事な
く機種切替が短時間で容易に行なえる。
いて、生産計画等により検査対象を別な機種に切り替え
るような場合、図2に示したFile2を、MS−DO
Sに制御を戻さずに次の検査対象用プログラムに入れ換
える事が出来る為、稼働状況等のデータが途切れる事な
く機種切替が短時間で容易に行なえる。
【0070】4.モニターの中に、チャイルドプロセス
としてMS−DOSのCOMMAND.COMを起動す
る機能があるので、これを駆使する事でデバッグ効率の
向上が図れるとともに、ファイルのコピー,ディスク容
量の確認,不要ファイルの削除等ディスクハンドリング
が容易になる。
としてMS−DOSのCOMMAND.COMを起動す
る機能があるので、これを駆使する事でデバッグ効率の
向上が図れるとともに、ファイルのコピー,ディスク容
量の確認,不要ファイルの削除等ディスクハンドリング
が容易になる。
【0071】5.ファイルを、全体制御、モニター機能
を有するFile1とテスト実行を行なうFile2に
分離しており、モニター機能の追加,改善等File1
を変更しても、File2に対する変更は発生しないの
で、モニター機能の拡大,充実等バージョンアップが容
易であり、生産ラインで稼働中の検査装置でも簡単にソ
フトの入れ換えが行なえる。
を有するFile1とテスト実行を行なうFile2に
分離しており、モニター機能の追加,改善等File1
を変更しても、File2に対する変更は発生しないの
で、モニター機能の拡大,充実等バージョンアップが容
易であり、生産ラインで稼働中の検査装置でも簡単にソ
フトの入れ換えが行なえる。
【0072】(他の実施例)図6はプログラム部分をR
OM化し、機器組込型としてボードコンピューターを使
用した場合におけるハードウェア構成を示す。実施例の
CRTに代わる表示装置として、20X2文字の液晶デ
ィスプレイ、キーボードに代わる入力装置として4×5
配列のプッシュキーを使用している。機種切替機能が無
い為、汎用部はコンパクト化を図り、1つにまとめた。
OM化し、機器組込型としてボードコンピューターを使
用した場合におけるハードウェア構成を示す。実施例の
CRTに代わる表示装置として、20X2文字の液晶デ
ィスプレイ、キーボードに代わる入力装置として4×5
配列のプッシュキーを使用している。機種切替機能が無
い為、汎用部はコンパクト化を図り、1つにまとめた。
【0073】図10は図8の実施例におけるメインのフ
ローチャートを示す。この場合にはポインタは、テスト
アドレステーブル用TPOINT、リミットテーブル用
ROMADD,データエリア用RAMADDの3つのポ
インタでテスト実行制御を行なう。
ローチャートを示す。この場合にはポインタは、テスト
アドレステーブル用TPOINT、リミットテーブル用
ROMADD,データエリア用RAMADDの3つのポ
インタでテスト実行制御を行なう。
【0074】本実施例では次の効果がある。 1.最小のシステム構成により、安価に本汎用ソフトウ
ェアによる検査システムが構築出来る。 2.モニターに、ソフトウェアブレークポイント設定機
能を設ける事によりICE(インサーキットエミュレー
ター)を使用せずに、プログラムのデバッグが行なえ
る。 3.BUSボードシステム(STD−BUS etc)
を採用する事により、システム拡張も容易。
ェアによる検査システムが構築出来る。 2.モニターに、ソフトウェアブレークポイント設定機
能を設ける事によりICE(インサーキットエミュレー
ター)を使用せずに、プログラムのデバッグが行なえ
る。 3.BUSボードシステム(STD−BUS etc)
を採用する事により、システム拡張も容易。
【0075】
1.検査システムの立上げ時、各種テストモードを組み
合わせてテストを実行し、併せてモニター機能を駆使し
て装置内部からもテスト結果を検証する事により検査不
良内容の解析,原因の特定,システムの不具合の発見等
が迅速に行なえる為、装置の早期稼働が可能である。 2.デバッガを必要としない為、プログラムをROM化
し、機器組込型としても使用でき安価に検査システムが
構成出来る。 3.生産用検査システムとして稼働後に直行率が低下し
てきたような場合、モニターのデータ解析機能により原
因の特定が容易である為、品質の維持,向上が図れる。 4.システムの故障時には、モニター機能によりすぐに
故障診断作業に入れるので早い復旧が可能。 5.モニター機能及び汎用部の入出力に関る部分,さら
に使用言語をハードウェア構成に応じて書き替えれば、
どのようなマイコンシステムにも適用出来る。
合わせてテストを実行し、併せてモニター機能を駆使し
て装置内部からもテスト結果を検証する事により検査不
良内容の解析,原因の特定,システムの不具合の発見等
が迅速に行なえる為、装置の早期稼働が可能である。 2.デバッガを必要としない為、プログラムをROM化
し、機器組込型としても使用でき安価に検査システムが
構成出来る。 3.生産用検査システムとして稼働後に直行率が低下し
てきたような場合、モニターのデータ解析機能により原
因の特定が容易である為、品質の維持,向上が図れる。 4.システムの故障時には、モニター機能によりすぐに
故障診断作業に入れるので早い復旧が可能。 5.モニター機能及び汎用部の入出力に関る部分,さら
に使用言語をハードウェア構成に応じて書き替えれば、
どのようなマイコンシステムにも適用出来る。
【図1】本発明の1実施例を説明するブロック図
【図2】メモリマップを示す図
【図3】メモリマップを示す図
【図4】メインフローチャート
【図5】テスト実行フローチャート
【図6】P/Fフローチャート
【図7】モニタフローチャート
【図8】他の実施例を示すブロック図
【図9】メモリマップを示す図
【図10】メインフローチャート
I/F インタフェース T 被検査装置 CPU 処理部 MEM メモリ
Claims (1)
- 【請求項1】 被検査物の各検査項目を、任意の検査モ
ードでテスト実行、停止、終了の制御を行ない、停止を
指定した場合にはデバッグ機能、またはデータ解析機能
を有するモニターに入る事を特徴とする試験検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4147553A JPH05340983A (ja) | 1992-06-08 | 1992-06-08 | 試験検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4147553A JPH05340983A (ja) | 1992-06-08 | 1992-06-08 | 試験検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05340983A true JPH05340983A (ja) | 1993-12-24 |
Family
ID=15432938
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4147553A Pending JPH05340983A (ja) | 1992-06-08 | 1992-06-08 | 試験検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05340983A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0843053A (ja) * | 1994-07-26 | 1996-02-16 | Matsushita Electric Works Ltd | 外観検査装置 |
-
1992
- 1992-06-08 JP JP4147553A patent/JPH05340983A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0843053A (ja) * | 1994-07-26 | 1996-02-16 | Matsushita Electric Works Ltd | 外観検査装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20020521 |