JP2909685B2 - 測定装置 - Google Patents

測定装置

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JP2909685B2
JP2909685B2 JP4126907A JP12690792A JP2909685B2 JP 2909685 B2 JP2909685 B2 JP 2909685B2 JP 4126907 A JP4126907 A JP 4126907A JP 12690792 A JP12690792 A JP 12690792A JP 2909685 B2 JP2909685 B2 JP 2909685B2
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  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マイクロコンピュータ
によって測定部を制御する測定装置に関する。さらに詳
述すれば、汎用インターフェース(GP−IB等)を介
して外部からコマンドを受領し、マイクロコンピュータ
がそのコマンドに従って測定部を制御する測定装置にお
いて、本来の測定用コマンドの他に、測定装置を試験す
るためのデバッグ用コマンドの受け付けと、その処理を
可能にしたデバッグモニタを備えた測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、例えば信号発生器やスペクトラム
アナライザ等の各種の測定装置では、測定機能の多様化
や自動化に対応するために、マイクロコンピュータ構成
の制御部によって測定部を制御している。また、各種の
測定装置を組み合わせて測定の自動化を達成するため
に、例えばGP−IBのような汎用インターフェースを
介して各種測定装置が外部制御装置(コントローラ)に
接続される。各測定装置は、外部制御装置から送出され
る測定用コマンドに従って測定を実行し、測定結果を外
部制御装置に送り返すようにしている。
【0003】図9は、マイクロコンピュータ構成の制御
部2によって測定部8が制御される測定装置1の構成を
示すブロック図である。同図を用いて従来例の構成を説
明する。
【0004】制御部2は、CPU3、ROM4及びRA
M5から構成されており、ROM4内には、操作部6又
は外部制御装置50から入力される測定用コマンドに対
応した測定制御を行うためのプログラムが予め記憶され
ている。また、RAM5は、測定プログラム、測定結
果、演算処理結果等が一時的に格納される。
【0005】操作部6は、キーボードや装置のパネルに
用意されたキースイッチ等であり、操作者が測定項目や
測定条件等のパラメータの入力を行うものである。
【0006】表示部7は、測定部のために設定された測
定条件や、測定部8において得られた測定結果等を表示
する。
【0007】測定部8は、制御部2にバス接続された複
数の入出力制御回路9a〜9nと、測定対象15に接続
される測定回路10とからなり、測定回路10に対する
各種の測定条件の設定や、測定回路10からの測定結果
の出力がそれぞれ入出力制御回路9a〜9nを介してな
される。
【0008】汎用インターフェース11は、インターフ
ェース・コネクタ12を介して、測定装置1を外部制御
装置50に接続するために用意される。
【0009】次に、以上のように構成された従来装置の
作用を説明する。
【0010】操作部6から、所定の測定条件を設定する
ためのコマンドと、その測定条件での測定を実行させる
コマンドが入力されると、CPU3はこのコマンドに対
応するプログラムを実行し、各入出力制御回路9a〜9
nを介して所定の測定条件に対応するデータを測定回路
10へ設定し、測定を開始させる。測定回路10で得ら
れた測定結果のデータ等は、RAM5へ記憶され、表示
部7に表示される。なお、前記コマンドは、汎用インタ
ーフェース11を介して外部制御装置50から入力され
ることもある。
【0011】このようなマイクロコンピュータ構成の制
御部によって測定部を制御する測定装置では、測定部8
に障害が発生したとき、その原因を外部から判定するこ
とは困難である。また、この種の測定装置では、プログ
ラム演算等によって、測定値を補正することが多い。こ
のため、測定装置の開発段階では、初めに測定部を完成
させ、その後にその測定部に合致した制御プログラムを
作成するようにしており、開発の初期段階では、制御部
内のROMに格納すべきプログラムが未完成なので、制
御部によって測定部をチェックすることができない。
【0012】このため、従来の測定装置では、CPU3
を予めICソケットを介して取り付けるようにしてお
き、測定部の動作チェック、障害の原因探索、或いは測
定部に合致した測定用プログラム作成のときには、CP
U3をICソケットから外し、このICソケットと、イ
ンサーキット・エミュレータ等のデバッグ装置とをケー
ブル接続し、デバッグ装置側から測定部や測定用プログ
ラムの動作チェックを行うようにしている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、装置の
開発の初期段階で測定部の動作チェックをしたり、完成
した製品の測定部に障害が発生した場合にその原因を調
べるために、CPUを外してデバッグ装置をケーブル接
続したり、また、そのために測定装置を分解しなければ
ならず、作業が非常に煩わしい。
【0014】さらに、ケーブルを介してデバッグ装置に
接続された制御部の動作環境は、制御部に直接実装され
たCPUで制御される状態と異なることが多く、信頼性
に欠けるという問題もあった。
【0015】本発明は、この課題を解決した測定装置を
提供することを目的としている。
【0016】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明の測定装置は、被測定対象に接続される測定
部(40)と、外部装置と信号の授受を行う汎用インタ
ーフェース(21)と、前記汎用インターフェースを介
して入力されるコマンド信号が測定用コマンドであるか
デバッグ用コマンドであるかを判別するコマンド判別手
段(26)と、コマンド信号が前記測定用コマンドに対
応するコマンドであるときは、測定用のプログラムを実
行し、前記デバッグ用コマンドであるときはデバッグ用
のプログラムを実行するための実行管理手段(27)と
を具備している。
【0017】
【作用】このように構成したため、本発明の測定装置で
は、汎用インターフェースを介してコマンド信号が入力
されると、このコマンド信号はコマンド判別手段におい
て、測定用コマンドであるかデバッグ用コマンドである
かが判別され、実行管理手段からデバッグ実行手段又は
測定制御実行手段へ送られる。デバッグ実行手段は、デ
バッグ用コマンドに対応したデバッグ・プログラムを実
行する。
【0018】
【実施例】
1.第1の実施例(測定装置が信号発生器の例) 図1は、測定部40として信号を発生する機能を有した
測定装置の一実施例、すなわち信号発生器20の機能ブ
ロック図である。以下、図1を用いて本発明の実施例を
説明する。なお、信号発生器20のハードウェア構成は
図9と同様であり、特に図1における制御部25のハー
ドウェア構成は、図9における制御部2と同じくCP
U、ROM及びRAMとで構成される。
【0019】[構成の説明] (1) 信号発生器20は、パーソナル・コンピュータ
等の外部制御装置50との間でコマンドやデータの授受
を行う汎用インターフェース21及びインターフェース
・コネクタ24、信号発生器20内の各部を制御する制
御部25、マンマシン・インターフェースを受け持つ操
作部38、並びに表示器39、主にアナログ信号の発生
や処理を行う測定部40及び測定対象へ信号を送出する
出力端子45で構成される。
【0020】(2) 汎用インターフェース21は汎用
インターフェース回路22とインターフェースコントロ
ーラ23で構成され、外部制御装置50から送出される
コマンドを制御部25へ導き、また、制御部25から送
出されるデータを外部制御装置50に導く。汎用インタ
ーフェースの規格としては、例えば、GP−IBやRS
232C等があるが、測定装置の制御の分野では、複数
の測定装置を容易に接続できることからGP−IBが一
般的である。以下、GP−IBを汎用インターフェース
として採用した例で説明する。
【0021】(3) 制御部25は、コマンド判別手段
26、実行管理手段27、測定制御実行手段28、デー
タ出力手段29、デバッグ実行手段30、ワークエリア
35、レジスタ(R0 〜Rm )退避エリア36、及び表
示制御手段37で構成される。これらの構成要素のう
ち、コマンド判別手段26、実行管理手段27、測定制
御実行手段28、データ出力手段29、及びデバッグ実
行手段30は、CPU、ROM及びRAMで構成されて
いる。また、ワークエリア35は、測定プログラム、測
定結果、演算処理結果等が一時的に格納される。このワ
ークエリア35には7000〜7EFFの番地が割り当
てられているものとする。レジスタ(R0 〜Rm )退避
エリア36は、CPUのレジスタR0 〜Rm の内容を保
存するためのメモリで、7F00〜7F3Fの番地が割
り当てられているものとする。
【0022】(4) コマンド判別手段26は、汎用イ
ンターフェース21を介して外部制御装置50から送出
されるコマンド信号を受領したとき、そのコマンド信号
が、 (イ)予め信号発生器20のために定義されているもの
か否かの判別 (ロ)測定用コマンドかデバッグ用コマンドかの判別 を行い、そのコマンド信号を内部コマンドに変換して実
行管理手段27へ送出する。このコマンド判別手段26
は、信号発生器20のために定義されているコマンド
と、そのコマンドが測定用であるかデバッグ用であるか
を、参照テーブルとして予め格納しておき、入力された
コマンドを参照テーブルと比較してコマンドの判別を行
う。コマンド判別手段26が出力する内部コマンドは、
入力されたコマンド信号がデバッグ用コマンドであるか
測定用コマンドであるかの判別結果を含んでいる。な
お、測定用コマンドとデバッグ用コマンドの詳細は後述
する。
【0023】(5) 実行管理手段27は、受領した判
別結果が、測定用コマンドの場合は測定用コマンドを測
定制御実行手段28へ送出し、デバッグ用コマンドの場
合はデバッグ用コマンドをデバッグ実行手段30へ送出
する。
【0024】図2は、実行管理手段27がコマンド判別
手段26からの内部コマンドを受領して実行する手順を
示したフローチャートである。図3は、内部コマンドの
形式を示す図である。内部コマンドは、受け入れ可能な
コマンド(予め定義されたコマンド)をコマンドコード
及び引数に変換したものである。コマンドコードは、測
定用コマンドであるか、デバッグ用コマンドであるかの
種別と、コマンドの種類を表す部分で、その値によっ
て、例えば、 0000〜EFFFの範囲は測定用コマンド F000〜FFFFの範囲はデバッグ用コマンド のように、コマンドの種別が示されている(コマンドコ
ードの値は16進数で表現してある)。
【0025】実行管理手段27は、図2のフローチャー
トに示す手順に従って内部コマンドの種別を調べて、受
領したコマンドの処理をデバッグ実行手段30又は測定
制御実行手段28で実行させる。また、信号発生器20
のユーザーが操作部38を操作する場合には、操作情報
がコマンド判別手段26に入力される。
【0026】(6) 測定制御実行手段28は、実行管
理手段27から導かれた測定用コマンドに対応して、後
述する測定部40に対する測定条件の設定や測定結果の
読み出しを行う。
【0027】(7) データ出力手段29は、汎用イン
ターフェース21を介して与えられる読出コマンドに基
づいて、測定制御実行手段28又は後述するデバッグ実
行手段30から読み出したデータを汎用インターフェー
ス21を介して外部制御装置50へ送出する。
【0028】(8) デバッグ実行手段30は、デバッ
グ機能制御手段31、メモリアクセス手段32、及びプ
ログラム実行手段33で構成される。デバッグ用コマン
ドは、メモリアクセス情報とプログラム情報とに分類さ
れる。指定されたアドレスにデータを書き込む場合、メ
モリアクセス情報はアドレスとそのアドレスに対応した
メモリに書き込むべきデータを含んでいる。デバッグ機
能制御手段31は、受領したデバッグ用コマンドに従っ
て、メモリアクセス情報をメモリアクセス手段32へ、
また、プログラム情報をプログラム実行手段33へそれ
ぞれ振り分ける。メモリアクセス手段32は、受領した
メモリアクセス情報に従って、ワークエリア35、及び
測定部40内の入出力制御回路41a〜41fに対して
データの読み書きを行う。
【0029】(9) プログラム実行手段33は、ワー
クエリア35に予め格納されたサブルーチンプログラ
ム、又は、測定制御実行手段を構成するプログラム内の
サブルーチンプログラムを実行する。プログラム実行手
段33の機能には、レジスタ(R0 〜Rm )退避エリア
36にデータを書き込む機能、指定アドレスのサブルー
チンプログラムを実行する機能、及び、レジスタ(R0
〜Rm )退避エリア36からデータを読み出す機能の3
つがある。
【0030】レジスタ(R0 〜Rm )退避エリア36の
内容は、プログラム実行手段33がサブルーチンプログ
ラムの実行を開始する直前にCPUのレジスタR0 〜R
m に格納される。そして、サブルーチンプログラムの実
行が終了したとき、プログラム実行手段33は、その時
点のCPUのレジスタR0 〜Rm の内容をレジスタ(R
0 〜Rm )退避エリア36に格納して保存する。
【0031】ワークエリア35にサブルーチンプログラ
ムを格納するためには、外部制御装置50からメモリア
クセス情報を含むデバッグ用コマンドを送出して、前記
(8)に示したメモリアクセス手段32の動作によって
ワークエリア35の指定アドレスにサブルーチンプログ
ラムを格納する。すなわち、指定アドレスにサブルーチ
ンプログラムのオブジェクトコードをデータとして順次
書き込む。
【0032】(10) 表示制御手段37は、汎用イン
ターフェース21又は操作部38から与えられるコマン
ドやそのコマンドに基づく処理の結果等を、表示器39
に表示させるための制御を行う。
【0033】(11) 表示器39は、表示制御手段3
7から与えられる情報に従って各種の表示を行う。
【0034】(12) 測定装置(本実施例では信号発
生器)の使用形態は、 (イ)「REMOTE」:測定用コマンド及びデバッグ
用コマンドを外部制御装置50から与える。 (ロ)「LOCAL」:測定用コマンド及びデバッグ用
コマンドを操作者が操作部38から入力する。 とがある。操作部38は、前記「LOCAL」状態で、
測定用コマンド(測定部40の測定条件等)やデバッグ
用コマンドを入力するために用意されるもので、入力さ
れたコマンドはコマンド判別手段26へ導かれる。
【0035】(13) 測定部40は、制御部25のバ
スラインに接続され、それぞれに番地割当てされた入出
力制御回路41a〜41fと、発振回路42、波形選択
回路43及び出力回路44で構成されている。この入出
力制御回路41a〜41fには、それぞれ8010、8
020、…、8060の6個の番地が割り当てられてい
るものとする。
【0036】(14) 発振回路42は、入出力制御回
路41aを介して設定された周波数データに対応した発
振周波数の信号を出力し、その設定済みの周波数データ
を入出力制御回路41bを介してバスラインに出力す
る。
【0037】(15) 波形選択回路43は、入出力制
御回路41cを介して設定された波形選択データに対応
した波形の信号を選択出力し、その設定済みの波形選択
データを入出力制御回路41dを介してバスラインに出
力する。
【0038】(16) 出力回路44は、入出力制御回
路41eを介して設定されたオン・オフ・データに応じ
て信号を出力端子45から出力したり、その出力を停止
させ、設定済みのオン・オフ・データを入出力制御回路
41fを介してバスラインに出力する。また、出力回路
44が減衰器や増幅器を含む場合、出力レベルを設定す
るためのデータが入出力制御回路を介して授受される。
【0039】(17) 図4は、この信号発生器20の
制御部25を外部から制御するための外部制御装置50
の構成を示す。外部制御装置50は、パーソナル・コン
ピュータ等によって構成されており、信号発生器20の
汎用インターフェース21と同一機能のインターフェー
ス部51を有している。インターフェース部51は、汎
用インターフェース回路52とインターフェース・コン
トローラ53とで構成され、マイクロコンピュータ構成
の処理部54に接続されている。
【0040】(18) 処理部54は、キーボード等の
入力部57から入力されるデータを、信号発生器20側
で定義されているコマンド形式にして出力するコマンド
処理部55と、インターフェース部51から入力される
データをそのまま、あるいは加工して表示器やプリンタ
等の出力部58へ出力するデータ処理部56とから構成
されている。
【0041】[測定用コマンドとデバッグ用コマンドの
説明] (1)測定用コマンド 表1は、この信号発生器20のために定義された測定用
コマンドと、その測定用コマンドを受領した測定制御実
行手段28が、測定部40に対して実行する内容の一例
を示している。
【0042】例えば、”A10000”というコマンド
を測定制御実行手段28が受領すると、発振器42の発
振周波数を10000kHzに設定する。
【0043】
【表1】
【0044】(2)デバッグ用コマンド 表2は、デバッグ用コマンドと、そのデバッグ用コマン
ドを受領したデバッグ実行手段30が実行する内容の一
例を示している。”MAC○○○”,”MWR○○”及
び”MRD○○”はメモリアクセス情報であり、これら
のコマンドの実行はメモリアクセス手段32によって行
われる。”MRUN○○○”,”RCH○○,△△”及
び”RRD”はプログラム情報であり、これらのコマン
ドの実行は、プログラム実行手段33によって行われ
る。
【0045】
【表2】
【0046】[動作の説明]図5は、この第1の実施例
の動作を示すフローチャート図である。図5を参照し
て、この信号発生器20の動作を説明する。
【0047】(1)測定動作 (Step 1)汎用インターフェース21及び51を
介して接続された外部制御装置50又は操作部38か
ら、測定用コマンドとして、例えば、 ”A 10000”・・・(発振周波数を10000kHZに設
定) ”B 00”・・・・・・(出力波形をコード00に対応
した波形に設定) ”C 01”・・・・・・(出力信号をオン) なるコマンドを続けて入力する。
【0048】(Step 2)それらのコマンドが信号
発生器20に定義されたものか否か、コマンド判別手段
26において、参照テーブルを用いて判別される。コマ
ンドが定義されたものでないときには、エラー処理ルー
チンへ分岐する。図示していないが、例えば、エラー・
メッセージを表示器39に表示させたり或いは外部制御
装置50へ送出したりする。本例では、コマンドが定義
されたものであるからStep3へ分岐する。
【0049】(Step 3)さらに、コマンド判別手
段26において、測定用コマンドかデバッグ用コマンド
かの判別が参照テーブルを用いて行われる。判別結果、
すなわち、測定用コマンドかデバッグ用コマンドかの種
別とコマンドの種類を表すコマンドコードと引数とが組
み合わされた内部コマンドが、コマンド判別手段26に
おいて生成され、実行管理手段27へ送出される。
【0050】(Step 4)実行管理手段27は、与
えられた内部コマンドが測定用コマンドであるとき、そ
のコマンドを測定制御実行手段28へ送出する。処理は
Step5へ分岐する。また、内部コマンドがデバッグ
用コマンドであれば、そのコマンドをデバッグ実行手段
30へ送出する。処理はStep8へ分岐する。本例で
は、測定用コマンドであるからStep5へ分岐する。
【0051】(Step 5)測定制御実行手段28
は、実行管理手段27から導かれた測定用コマンドに対
応した測定処理を実行する。Step1で例示したコマ
ンドが与えられたとき、 (イ)発振回路42の発振周波数を10000(kH
z)にするための周波数設定データを入出力制御回路4
1aへ出力する。 (ロ)波形をコード00に対応する波形(例えば、正弦
波)に設定するための波形選択データを入出力制御回路
41cへ出力する。 (ハ)出力回路44をオン状態に設定するためのオン・
データを入出力制御回路41eへ出力する。
【0052】(Step 6)以上のステップを経て、
測定部40の出力端子45から、周波数10000kH
zの正弦波が測定用信号として出力される。
【0053】(Step 7)測定制御実行手段28
は、測定プログラムの実行が終了したことを、実行管理
手段27へ通知する。
【0054】(2)デバッグ動作 次にデバッグ動作について説明する。例えば、測定制御
実行手段28が未完成のために測定用コマンドが使用で
きない状態で、測定部40のチェックをする場合、図6
に示すように、測定部40の出力端子45に、オシロス
コープ60と周波数カウンタ61とを接続する。
【0055】(Step 1)汎用インターフェース2
1及び51を介して接続された外部制御装置50又は操
作部38から、デバッグ用コマンドとして、例えば、 (イ)”MAC8010,MWR10000”(アドレ
ス8010を指定し、そのアドレスにデータ”1000
0”を書込み、アドレスをデータ・サイズだけ歩進す
る) (ロ)”MAC8020,MRD1”(アドレス802
0を指定し、そのアドレスからデータを1個読出す) (ハ)”MAC8030,MWR0”(アドレス803
0を指定し、そのアドレスにデータ”0”を書込み、ア
ドレスをデータ・サイズだけ歩進する) (ニ)”MAC8040,MRD1”(アドレス804
0を指定し、そのアドレスからデータを1個読出す) (ホ)”MAC8050,MWR1”(アドレス805
0を指定し、そのアドレスにデータ”1”を書込み、ア
アドレスをデータ・サイズだけ歩進する) なるコマンドを続けて入力する。
【0056】(Step 2)それらのコマンドが信号
発生器20に定義されたものか否か、コマンド判別手段
26において、参照テーブルを用いて判別される。コマ
ンドが定義されたものでないときには、エラー処理ルー
チンへ分岐する。このエラー処理は、図示していない
が、例えば、エラー・メッセージを表示器39に表示さ
せたり或いは外部制御装置50へ送出したりする。本例
では、コマンドが定義されたものであるからStep3
へ分岐する。
【0057】(Step 3)さらに、コマンド判別手
段26において、測定用コマンドかデバッグ用コマンド
かの判別が参照テーブルを用いて行われ、その判別結
果、すなわち、測定用コマンドかデバッグ用コマンドか
の種別とコマンドの種類を表すコマンドコードと引数と
が組み合わされた内部コマンドが生成されて、実行管理
手段27へ送出される。
【0058】(Step 4)実行管理手段27は、与
えられた内部コマンドが測定用コマンドであるとき、そ
のコマンドを測定制御実行手段28へ送出する。処理は
Step5へ分岐する。また、内部コマンドがデバッグ
用コマンドであれば、そのコマンドをデバッグ実行手段
30へ送出する。処理はStep8へ分岐する。本例で
は、デバッグコマンドであるからStep8へ分岐す
る。
【0059】(Step 8)デバッグ機能制御手段3
1は、実行管理手段27から導かれたコマンド信号をメ
モリアクセス情報とプログラム情報に振り分ける。前述
のコマンド信号(イ)〜(ホ)はメモリアクセス情報で
ある。メモリアクセス情報はメモリアクセス手段32
へ、また、プログラム情報はプログラム実行手段33へ
導かれる。
【0060】(Step 9)メモリアクセス手段32
は、デバッグ機能制御手段31から導かれたメモリアク
セス情報に従って、アドレスを指定する。
【0061】(Step 10)メモリアクセス手段3
2は、デバッグ機能制御手段31から導かれたプログラ
ム情報に従って指定されたアドレスにデータを読書きす
る。
【0062】(Step 11)読み出したデータを外
部制御装置50に送出する。上記(イ)〜(ホ)のコマ
ンドと対応付けてStep9〜Step11の動作をさ
らに詳述する。
【0063】(イ)コマンド”MAC8010,MWR
10000”を受領する。メモリアクセス手段32は、
8010番地(入出力制御回路41a)を指定し、その
番地に発振周波数を10000kHzにするためのデー
タ”10000”を書き込む。
【0064】(ロ)コマンド”MAC8020,MRD
1”を受領する。メモリアクセス手段32は、8020
番地(入出力制御回路41b)を指定し、その番地のデ
ータを1個読出す。この読み出したデータを外部制御装
置50内の出力部58に表示する。表示されたデータ
が”10000”であれば、入出力制御回路41a、4
1b及び発振回路42の周波数設定部は正常であること
が確認できる。
【0065】(ハ)コマンド”MAC8030,MWR
0”を受領する。メモリアクセス手段32は、8030
番地(入出力制御回路41c)を指定し、その番地にデ
ータ”0”(正弦波形を指定)を書き込む。
【0066】(ニ)コマンド”MAC8040,MRD
1”を受領する。メモリアクセス手段32は、8040
番地(入出力制御回路41d)を指定し、その番地のデ
ータを1個読出す。この読み出したデータを外部制御装
置50内の出力部58に表示する。表示されたデータ
が”0”であれば、入出力制御回路41c、41d及び
波形選択回路43の選択データ設定部は正常であること
が確認できる。
【0067】(ホ)コマンド”MAC8050,MWR
1”を受領する。メモリアクセス手段32は、8050
番地(入出力制御回路41e)を指定し、その番地に出
力をオンさせるためのデータ”1”を書き込む。
【0068】この結果、出力回路44からの信号波形は
オシロスコープ60に表示され、また、その周波数は周
波数カウンタ61に表示される。オシロスコープ60に
表示された波形が正弦波で、周波数カウンタ61の表示
周波数が10000kHzであれば、この測定部40全
体の動作は正常であると確認できる。
【0069】なお、このデバッグ動作は、外部制御装置
50から順番に入力されるデバッグ用コマンドに従って
メモリアクセス手段32によるデバッグ動作を1つずつ
行っていたが、デバッグ実行手段30のプログラム実行
手段33を用いてデバッグを実行させることもできる。
この場合、例えば次のような一連のサブルーチンプログ
ラムのオブジェクトコードを外部制御装置50側で作成
する。
【0070】 8010番地にレジスタR0 の内容をWRITEする 8030番地にレジスタR1 の内容をWRITEする 8050番地にデータ1をWRITEする 所定時間待つ 8020番地の内容をREADし、レジスタR1に格納
する 8050番地にデータ0をWRITEする RETURN(サブルーチンからリターンする)
【0071】次に、サブルーチンプログラムのオブジェ
クトコードを所定長のデータD1 、D2 、…として、M
AC7600、MWR D1 、MWR D2 、…という
デバッグ用コマンドを、外部制御装置50から入力し
て、この一連のサブルーチンプログラムをワークエリア
35の7600番地以降に書き込む。
【0072】次に、外部制御装置50側から、 RCH R0,10000 RCH R1,0 MRUN 7600 なるコマンドを入力する。これらのコマンドを入力する
と、プログラム実行手段33は、レジスタ(R0
m )退避エリア36内のレジスタR0 及びR1 のエリ
アにそれぞれデータ10000及び0を書き込み、さら
に、ワークエリア35の7600番地からサブルーチン
プログラムを実行する。サブルーチン実行開始時には、
レジスタ(R0 〜Rm )退避エリア36の内容がCPU
のレジスタR0〜Rm に移される。このため、入出力制
御回路41aには周波数データ10000が設定され、
入出力制御回路41cには正弦波形に対応するデータ0
が設定され、入出力制御回路41eには、信号を出力さ
せるためのデータ1が設定され、信号が所定の時間出力
される。この所定時間中にオシロスコープ60と周波数
カウンタ61によって、出力波形と周波数の確認が行え
る。
【0073】所定時間が経過すると、入出力制御回路4
1bからデータがレジスタR1 に転送され、入出力制御
回路41eに対して、信号出力を停止させるためのデー
タ0が設定されてサブルーチンプログラムの実行が終了
する。サブルーチン実行終了時には、レジスタ(R0
m )退避エリア36にCPUのレジスタR0 〜Rm
内容が格納される。ここで、外部制御装置50からコマ
ンドRRDを入力すれば、各レジスタR0 〜Rm のサブ
ルーチン実行終了時の内容がプログラム実行手段33に
よって読出され、外部制御装置50の出力部58に表示
される。この出力部58に表示されたレジスタR0 〜R
m の内容のうち、レジスタR1 の内容が10000であ
れば、入出力制御回路41a、41b及び発振回路42
の周波数設定動作については、正常であることが確認で
きる。
【0074】このようなデバッグの実行は、測定用コマ
ンドを用いずに行うことができるため、この測定装置の
開発初期段階に測定用のプログラムが未完成の状態であ
っても、測定部に関する動作チェックを外部制御装置5
0からデバッグ用コマンドを入力することによって簡単
に行える。また、完成した測定装置が製品として出荷さ
れた後に測定部が故障した場合にも、同様の手順で測定
部に関する動作チェックを行うことにより故障箇所を調
べることができる。
【0075】本実施例の測定装置は信号発生器であり、
表1に示した測定用コマンドは信号発生器に特有のもの
であるが、表2に示したデバッグ用コマンドは、他の測
定装置であっても共通に用いられる。図1に示した信号
発生器20の構成において、制御部25を構成する要素
のうち、コマンド判別手段26と測定制御実行手段28
を除く他の要素は、信号発生器以外の他の測定装置に対
しても共通に利用可能である。また、コマンド判別手段
26は、受け入れ可能な測定用コマンドが測定装置ごと
に異なるため、受け入れ可能な測定用コマンドの形式の
定義部分(通常はプログラムとは独立したデータを用い
て定義する)だけは、測定装置ごとに作成されるが、他
の部分は信号発生器以外の他の測定装置に対しても共通
に利用可能である。
【0076】従って、各種の測定装置に対して制御部2
5をその構成要素の大部分を再利用して容易に組み込む
ことができ、共通のデバッグ用コマンドを用いて測定部
の動作チェックを行うことができる。
【0077】2.第2の実施例(測定装置がスペクトラ
ムアナライザの例) 図7は、測定部73として被測定信号のスペクトル分析
表示する機能を有した測定装置、即ちスペクトラムアナ
ライザ70の機能ブロック図である。このスペクトラム
アナライザ70のハードウェア構成も、前記従来装置
(図9)と同一であり、CPU、ROMおよびRAMで
構成された制御部71によって測定部73を制御してい
る。以下、図7に基づいて本発明の第2の実施例を説明
する。なお、第1の実施例と同一機能の要素については
同一符号を付して、説明の重複をさける。
【0078】〔構成の説明〕 (1) このスペクトラムアナライザ70の制御部71
には、第1の実施例の制御部25の構成要素の他に、ス
ペクトラム表示データを記憶するためのV−RAM72
が設けられている。V−RAM72のアドレスは、例え
ば9000番地以降に割当られていて、測定部73から
ワークエリア35の所定アドレス(例えば7500番地
から7999番地)に記憶される測定データは、表示制
御手段37によってスペクトラム表示データに変換され
て、V−RAM72に記憶され、その記憶データが一連
のスペクトラムデータとして、表示器39の画面上に表
示される。なお、このスペクトラム表示動作は、測定制
御実行手段28の測定プログラムの実行とは独立して行
われる。
【0079】(2) 測定部73は、入力端子74から
入力される被測定信号と、局発回路75から掃引出力さ
れる局発信号とをミキサ76で混合し、その混合出力の
うち、中間周波フィルタ77を通過する信号のみを検波
回路78で検波し、その検波レベルをA/D変換器79
によってディジタル出力するように構成されている。
【0080】(3) 局発回路75に対する制御部71
からの中心周波数およびスパンの設定および確認は、バ
スラインに接続された入出力制御回路41a〜41dを
介してなされ、局発回路75は、制御部71から設定さ
れる中心周波数データおよびスパンデータに対応した周
波数範囲の局発信号を掃引出力する。
【0081】A/D変換器79に対するサンプリング制
御および測定データの出力制御は、入出力制御回路41
e、41fを介してなされる。なお、各入出力制御回路
41a〜41fには、前記実施例と同様に8010、8
020、…、8060のアドレスが割当られている。
【0082】〔測定用コマンドとデバッグ用コマンドの
説明〕表3は、このスペクトラムアナライザ70のため
に定義された測定用コマンドと、その測定用コマンドを
受領した測定制御実行手段28が測定部73に対して実
行する内容の一例を示している。
【0083】
【表3】
【0084】例えば、”B○○○”というコマンドを測
定制御実行手段28が受領すると、測定実行制御手段2
8は、分析中心周波数が○○○となるための中心周波数
データを局発回路75に設定する。
【0085】なお、デバッグ用コマンドと、そのデバッ
グ用コマンドを受けたデバッグ実行手段30が実行する
内容は、前記実施例と同一、即ち、表2に記載したもの
と同一であるので、説明を省略する。
【0086】〔動作の説明〕 (1)測定動作 このスペクトラムアナライザ70の制御部71の処理手
順は、基本的に第1の実施例の制御部25と同一であ
り、図5に示したフローチャートに従っている。以下、
次のコマンドが操作部38あるいは外部制御装置50か
ら入力された場合の測定動作について説明する。
【0087】 ”A” ”B 20000” ”C 1000” ”D”
【0088】これらのコマンドが、コマンド判別手段2
6によって、スペクトラムアナライザ70に定義されて
いるものであると判定され、測定用コマンドであると判
定されると、これらに対応する内部コマンドが、実行管
理手段27へ出力される。
【0089】実行管理手段27は、これらの測定用の内
部コマンドを測定制御実行手段28へ出力する。
【0090】測定制御実行手段28は、上記のコマンド
に対して、 (イ)測定条件を自動設定する (ロ)分析中心周波数を20000kHzにするための
中心周波数データを、アドレス8010の入出力制御回
路41aに送出して、測定部73の局発回路75に設定
する (ハ)スパンを1000kHzにするためのスパンデー
タを、アドレス8030の入出力制御回路41cに送出
して局発回路75に設定する、 (ニ)測定を開始させて、A/D変換器79からの測定
データの取り込みを開始させる という一連の処理を行なう。
【0091】この測定制御処理によって、測定データが
ワークエリヤ35に記憶され、この測定データがスペク
トラム表示データに変換され、表示器39には、200
00kHzを中心とする一連のスペクトラム波形が表示
される。
【0092】(2)デバッグ動作(ハードウェアの診
断) 次にデバッグ動作によってハードウェアを診断する場合
について説明する。
【0093】例えば、故障により表示器39に正常な波
形が表示されない状態で、測定制御実行手段28による
測定が正常に行なわれているかをチェックするために、
外部制御装置50側から次のようなコマンドを入力す
る。
【0094】(イ)”A” (ロ)”B 2000” (ハ)”MAC 8020,MRD 1” (ニ)”D” (ホ)”F” (ヘ)”MAC 9000,MRD 32,MRD 3
2,…”
【0095】(イ)、(ロ)のコマンドは、コマンド判
定手段26によって、測定用コマンドと判定されて、測
定用の内部コマンドに変換され、実行管理手段27を介
して、測定実行制御手段28へ送られる。このため、測
定部73の測定条件が自動設定された後、分析中心周波
数を2000kHzにするためのデータが局発回路75
に設定される。
【0096】(ハ)のコマンドは、コマンド判別手段2
6によって、デバッグ用コマンドと判定されて、デバッ
グ用の内部コマンドに変換され、デバッグ実行手段30
に送られる。(ハ)のコマンドは、メモリアクセス情報
であるため、メモリアクセス手段32に送られる。この
ため、アドレス8020の入出力制御回路41bからデ
ータが読みだされる。このデータは、データ出力手段2
9および汎用インターフェース21を介して外部制御装
置50へ送られ、その出力部58に表示される。表示さ
れたデータが2000であれば、測定用コマンド(ロ)
による中心周波数の設定に関する動作は正常であること
が確認できる。
【0097】(ニ)の測定用コマンドの実行によって、
測定が開始され、そのときの測定データがワークエリア
35に記憶され、そのスペクトラム表示データがV−R
AM72に記憶される。(ホ)の測定コマンドが実行さ
れると、ワークエリア35の測定データが外部制御装置
50に送られる。
【0098】(ヘ)のデバッグ用コマンドは、デバッグ
実行手段30によって実行され、9000番地以降のデ
ータ、即ちV−RAM72に記憶されたスペクトラム表
示データが32個ずつ読みだされて、外部制御装置50
へ送られる。
【0099】したがって、最初に読出された測定データ
と、V−RAM72からのスペクトラム表示データを、
外部制御装置50の出力部58にともに表示させれば、
測定部73の動作や測定制御実行手段28および表示制
御手段37の動作等が正しく行なわれているかを確認で
きる。
【0100】(3)デバッグ動作(未完成プログラムが
ある状態でのデバッグ動作) 例えば、測定データをスペクトラム表示データに加工し
てV−RAM72へ記憶させるためのプログラムに異常
があるか、またはそのプログラムが未完成状態で、他の
部分のデバッグを行なう場合には、所定の測定条件で測
定を開始させて、ワークエリア35に測定データを記憶
させた後、この記憶データを、デバッグ実行手段30に
よって外部制御装置50側に読出し、外部制御装置50
側でこの記憶データを表示データに変換処理して、V−
RAM72の9000番地以降へ記憶させる。
【0101】そして、この表示データを測定用コマンド
によってスペクトラムアナライザ70の表示器39に表
示させれば、表示データへの加工動作を除く動作のチェ
ックが行なえる。
【0102】本実施例では、測定用コマンドとデバッグ
用コマンドを組み合わせて用いてハードウェアの診断や
ソフトウェアのデバッグを行う方法を説明した。このよ
うに、測定装置本来の測定用コマンドを活用しながら、
これと組み合せてデバッグ用コマンドを実行してデバッ
グを行うことにより、測定部のハードウェアの診断や開
発中の測定装置におけるプログラムのデバッグを効率的
に行なうことができる。
【0103】3.第3の実施例 前記2つの実施例では、測定部を1つの制御部(CP
U)で制御する測定装置について説明したが、複数の制
御部によって複数の測定部を制御する測定装置について
も、本発明を適用することができる。図8は、複数の制
御部を有する一実施例の測定装置80の機能ブロック図
である。以下、図8に基づいて第3の実施例を説明す
る。なお、図8では、操作部、表示器を省略している。
【0104】〔構成の説明〕この測定装置80は、主C
PU(図示せず)で構成される主制御部81と、副CP
U(図示せず)で構成される複数の副制御部911 、9
2 、…、91nを有しており、各制御部によってそれ
ぞれの測定部89、991 、992 、…99nを制御し
ている。
【0105】(1) 主制御部81は、制御部間通信手
段82と、デバッグ実行手段83の副制御部アクセス手
段84を有している以外は、前記した2つの実施例の制
御部と同様に構成されている。
【0106】測定制御実行手段28は、実行管理手段2
7からの測定用コマンドを受け、この測定用コマンドが
主制御部81に対するコマンドの場合には、その測定用
コマンドに対応する測定プログラムを実行し、他の副制
御部911 、912 、…91nに対するコマンドの場合
には、割込み回路等で構成される制御部間通信手段82
へ、そのコマンドを送出する。
【0107】また、デバッグ実行手段83のデバッグ機
能制御手段31は、実行管理手段27からのデバッグ用
コマンドが、この主制御部81および測定部89に対す
るデバッグ用コマンドの場合には、その属性に応じてメ
モリアクセス手段32とプログラム実行手段32に振り
分け、受領したデバッグ用コマンドが副制御部911
912 、…、91nに対するコマンドの場合には、その
デバッグ用コマンドを副制御部アクセス手段84へ出力
する。副制御部アクセス手段84は、受領したコマンド
を制御部間通信手段82へ送る。
【0108】制御部間通信手段82は、測定制御実行手
段28または副制御部アクセス手段84からのコマンド
を、共有メモリ85に記憶させた状態で、コマンドの送
り先の副制御部に割り込み制御を行う。
【0109】(2) 副制御部911 、912 、…、9
1nは、全て同一に構成されているため、その1つの副
制御部911 についてのみ説明する。
【0110】副制御部911 の制御部間通信手段92
は、主制御部81からの割り込みを受けて、共有メモリ
85に記憶されているコマンドを実行管理手段94へ送
出する。実行管理手段94は、受けたコマンドが測定用
コマンドのときには、測定制御実行手段95に送り、デ
バッグ用コマンドのときには、デバッグ実行手段93に
送出する。
【0111】測定制御実行手段95は、受領した測定用
コマンドに対応する測定用プログラムを実行して、測定
部991 を制御し、その測定データ等を制御部間通信手
段92を介して主制御部81へ送出する。
【0112】デバッグ実行手段93は、受領したデバッ
グ用コマンドの種類をデバッグ機能制御手段31によっ
て分類し、対応するデバッグをメモリアクセス手段32
とプログラム実行手段33によって実行し、読出しデー
タ等のデバッグ結果を主制御部アクセス手段96によっ
て制御部間通信手段92から主制御部81へ送出する。
次段以降の副制御部912 、913 、…、91nの構成
も全く同一なので、説明を省略する。
【0113】〔動作の説明〕次に、この測定装置80の
動作について説明する。
【0114】(1) 外部制御装置50側からあるコマ
ンドが、汎用インターフェース21を介して入力される
と、このコマンドが、この測定装置80に対して定義さ
れているコマンドか否かがコマンド判別手段26で判定
される。
【0115】入力されたコマンドがこの主制御部81で
定義されている測定用コマンドまたはデバッグ用コマン
ドのときには、そのコマンドは、測定制御実行手段28
またはデバッグ実行手段83で実行される。入力された
コマンドが、例えば副制御部911 に対する測定用コマ
ンドまたはデバッグ用コマンドのときには、このコマン
ドは、測定制御実行手段28または副制御部アクセス手
段84から制御部間通信手段82へ出力される。
【0116】制御部間通信手段82は、このコマンドを
共有メモリ85に記憶した状態で、コマンドの送り先の
副制御部911 の制御部間通信手段92に割込み制御を
行なう。
【0117】(2) 割込みを受けた副制御部91
1 は、制御部間通信手段92によって、共有メモリ85
に記憶されているコマンドを受け、実行管理手段94へ
送出する。実行管理手段94は、このコマンドが測定用
コマンドかデバッグ用コマンドかを判断して、その属性
に応じた制御を測定制御実行手段95またはデバッグ実
行手段93に実行させる。
【0118】このコマンドが読出しコマンドであれば、
その測定あるいはデバッグによって読出されたデータ
が、測定制御実行手段95または主制御部アクセス手段
96から、制御部間通信手段92を介して、共有メモリ
85に記憶され、主制御部81に対して割込み制御がな
される。
【0119】(3)主制御部81が割込み可能な状態に
なると、共有メモリ85に記憶されたデータは、測定制
御実行手段28またはデバッグ実行手段83から、実行
管理手段27、およびデータ出力手段29を介して汎用
インターフェース21へ出力され、外部制御装置50へ
送られる。
【0120】(4)このように、複数の制御部を有する
測定装置80の場合でも、デバッグ用コマンドをその送
り先を指定するコードとともに入力すれば、前記2つの
実施例と同様に、各測定部89、991 、992 、…、
99nや各測定制御実行手段28、95に対するデバッ
グが可能である。なお、デバッグ用コマンドの受渡し先
の指定方法として、前記のようにコマンドに送り先を指
定するコードをつけ付け加える方法以外に、送り先の制
御部がどれに指定されているかを示すデバッグモードを
設定し、デバッグ機能制御手段31において、デバッグ
モードが副制御部911 、912 、…、91nのうちの
いずれかを示していれば、受領したデバッグ用コマンド
を副制御部アクセス手段84に渡すという方法を用いる
こともできる。
【0121】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の測定装置
は、汎用インターフェースを介して入力されたコマンド
が測定用コマンドかデバッグ用コマンドかを判定するコ
マンド判別手段と、入力されたコマンドが測定用コマン
ドのときはこの測定用コマンドに従って測定用のプログ
ラムを実行させ、デバッグ用コマンドのときは、このデ
バッグ用コマンドに従ってデバッグ用のプログラムを実
行させる実行管理手段を備えている。
【0122】このため、測定用コマンドだけでなく、デ
バッグ用コマンドによっても測定部の制御およびチェッ
クが可能となり、以下に述べる効果がある。
【0123】(1)測定装置の開発初期段階に、測定用
のプログラムが未完成の状態であっても、測定部のハー
ドウェアに関する動作チェックができる。また、測定用
のプログラムの未完成部分のかわりにデバッグ用コマン
ドを実行して不足の機能を補うことにより、測定用のプ
ログラムのその他の部分に関する動作チェックができ
る。
【0124】(2)測定装置を製品として出荷した後に
測定部のハードウェアが故障した場合に、測定部のハー
ドウェアに関する動作チェックを行うことにより故障箇
所を調べることができる。
【0125】(3)上記(1)、(2)の動作チェック
が汎用インターフェースを介してデバッグ用コマンドを
測定装置に送るだけで実行でき、従来のインサーキット
エミュレータ等のデバッグ装置を用いる場合のようにC
PUをICコネクタからはずし、このICソケットとデ
バッグ装置を接続するという煩わしい作業が不要であ
る。また、実装されたCPUをそのまま動作させてデバ
ッグ作業を行うので、デバッグ装置をCPUのかわりに
接続した場合に発生する動作条件の不一致や接続状態の
不安定さという問題も避けられる。
【0126】(4)上記(1)、(2)の動作チェック
をデバッグ用コマンドを用いて実行するために測定装置
に組み込まれる制御部は、その大部分が各種の測定器に
対して再利用可能である。そのため、本発明を各種の測
定器に対して容易に実施し、共通のデバッグ用コマンド
を用いて上記(1)、(2)の動作チェックを行うこと
ができる。
【0127】(5)本発明によるデバッグ用コマンド
は、測定装置が持つ本来の測定用コマンドと組み合わせ
て用いることができる。そのため、測定用コマンドの機
能を活用して効率的に測定部のハードウェアの動作チェ
ックを行なうことができる。また、開発中の測定装置に
おけるプログラムのデバッグも効率的に行なうことがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の機能ブロック図であ
る。
【図2】第1の実施例の要部の処理手順を示すフローチ
ャート図である。
【図3】第1の実施例の内部コマンドの形式を示す図で
ある。
【図4】外部制御装置の機能ブロック図である。
【図5】第1の実施例の制御部の処理手順を示すフロー
チャート図である。
【図6】第1の実施例のデバッグ時における各装置の接
続図である。
【図7】本発明の第2の実施例の機能ブロック図であ
る。
【図8】本発明の第3の実施例の機能ブロック図であ
る。
【図9】従来装置の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
20 信号発生器 21 汎用インターフェース 25 制御部 26 コマンド判別手段 27 実行管理手段 28 測定制御実行手段 29 データ出力手段 30 デバッグ実行手段 31 デバッグ機能制御手段 32 メモリアクセス手段 33 プログラム実行手段 35 ワークエリア 37 表示制御手段 38 操作部 39 表示器 40 測定部 41a〜41f 入出力制御回路 42 発振回路 43 波形選択回路 44 出力回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI // G01R 13/22 G01R 13/22 J (72)発明者 矢澤 健一 東京都港区南麻布五丁目10番27号 アン リツ株式会社内 (72)発明者 勝野 良彦 神奈川県厚木市中町4丁目16番21号 ア ンリツエンジニアリング株式会社内 (56)参考文献 特開 平3−35125(JP,A) 特開 平2−90022(JP,A) 特開 平1−92848(JP,A) 実開 昭63−81213(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01D 21/00 G06F 11/22

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被測定対象に接続される測定部(40)
    と、 外部装置と信号の授受を行う汎用インターフェース(2
    1)と、 前記汎用インターフェースを介して入力されるコマンド
    信号が測定用コマンドであるかデバッグ用コマンドであ
    るかを判別するコマンド判別手段(26)と、 コマンド信号が前記測定用コマンドに対応するコマンド
    であるときは、測定用のプログラムを実行し、前記デバ
    ッグ用コマンドであるときはデバッグ用のプログラムを
    実行するための実行管理手段(27)とを具備した測定
    装置。
  2. 【請求項2】被測定対象に接続される測定部(40)
    と、 外部装置と信号の授受を行う汎用インターフェース(2
    1)と、 前記測定部とバスラインで接続され、前記汎用インター
    フェースを介して受領したコマンド信号に応じて、予め
    記憶された測定用のプログラムを実行し、前記測定部を
    制御する測定制御実行手段(28)を有する制御部(2
    5)とを有する測定装置であって、 前記制御部は、前記測定部と前記バスラインで接続さ
    れ、デバッグ用コマンドに対応するプログラムを実行し
    て前記測定制御実行手段に記憶された測定用のプログラ
    ム及び前記測定部をデバッグするデバッグ実行手段(3
    0)と、前記汎用インターフェースを介して入力される
    コマンド信号が測定用コマンドであるかデバッグ用コマ
    ンドであるかを判別するコマンド判別手段(26)を具
    備し、 その判別結果を受領して汎用インターフェースを介して
    入力したコマンド信号を測定用コマンドとデバッグ用コ
    マンドに振り分け、コマンド信号が測定用コマンドであ
    るときは、前記測定制御実行手段へ送出して前記測定部
    を制御せしめ、 前記コマンド信号がデバッグ用コマンドであるときは前
    記デバッグ実行手段へ送出して、デバッグ用コマンドに
    対応するプログラムを実行せしめる実行管理手段(2
    7)とを備えていることを特徴とする測定装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP5241570B2 (ja) * 2009-03-05 2013-07-17 アンリツ株式会社 測定装置
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