CN115098332A - 一种测试样机温度获取方法、系统、设备以及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种测试样机温度获取方法，包括以下步骤：建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接；获取所述测试样机中TCM芯片的波形；根据所述TCM芯片的波形生成模拟波形并发送到所述测试样机的串口以屏蔽所述TCM芯片；获取串口日志；在所述串口日志中搜索温度。本发明还公开了一种系统、计算机设备以及可读存储介质。本发明提出的方案通过单片机模拟TCM芯片信号，屏蔽本机TCM芯片，对串口日志进行检索，从而能够实时获取BM机的温度。
Description
技术领域
本发明涉及测试领域，具体涉及一种测试样机温度获取方法、系统、设备以及存储介质。
背景技术
在SIT(System Integration Testing，系统集成测试)测试工作中，测试样机的温度是一个重要指标。各个部件的温度不仅可以反应当前机器的状态，还有可能因为过热导致诸如宕机，重启这些问题的产生(根据安培定律，机器过热的主要原因就是系统在长时间工作时电路放出的热量累积)。因此，能够及时读取温度信息不仅可以了解当前机器状态，避免过热出现问题，还可以根据观察温度变化确定当前操作产生了什么影响，从而更好的定位问题。而实时读取机器内部温度参数还可以通过与实际温度对比，确认机器的内部温度读数是否有误，从而寻找问题原因。
现有的观察温度方式各自存在如下缺点：
1、通过终端输入命令查看温度。缺点是无法实时显示温度信息，每次显示温度需要手动再次输入命令。此外，这种方式查看温度需要在系统下进行，而很多时候测试样机进入异常状态无法进入系统。
2、通过BMC WEB界面查看温度。这一方法只由SV可以使用，主要问题是BMC web需要连接网线才能查看，在实际工作中，部分场合受限于现场环境或现场要求(如产线，机关单位)不便于设置过长网线。且BMC web下信息存在一定的刷新延时，且不够直观。
3、在一些应用场合中，机器有自身的审计规则和安全红线。直接接入串口，无法打印出任何信息(比如全国产BM机)。一般这种情况下，需要安装对应的开发版系统和工厂版BIOS。这样的操作在测试样机和产线可以方便的地进行，但是在客户现场的机器，往往存在很多重要信息，这些操作是不被允许的，这时就需要直接读取串口信息的能力。
发明内容
有鉴于此，为了克服上述问题的至少一个方面，本发明实施例提出一种测试样机温度获取方法，包括以下步骤：
建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接；
获取所述测试样机中TCM芯片的波形；
根据所述TCM芯片的波形生成模拟波形并发送到所述测试样机的串口以屏蔽所述TCM芯片；
获取串口日志；
在所述串口日志中搜索温度。
在一些实施例中，建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接，进一步包括：
建立与所述测试样机的第一引脚、第二引脚、第三引脚以及第四引脚的连接。
在一些实施例中，获取所述测试样机中TCM芯片的波形，进一步包括：
利用所述第一引脚获取所述测试样机中TCM芯片的波形。
在一些实施例中，获取串口日志，进一步包括：
将所述第二引脚、所述第三引脚以及所述第四引脚设置为低电平输出并为所述单片机中的电容放电；
将所述第二引脚设置为高电平并将所述第三引脚和所述第四引脚设置为输入以接收串口日志。
基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，本发明的实施例还提供了一种测试样机温度获取系统，包括：
串口模块，配置为建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接；
第一获取模块，配置为获取所述测试样机中TCM芯片的波形；
发送模块，配置为根据所述TCM芯片的波形生成模拟波形并发送到所述测试样机的串口以屏蔽所述TCM芯片；
第二获取模块，配置为获取串口日志；
搜索模块，配置为在所述串口日志中搜索温度。
在一些实施例中，建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接，进一步包括：
建立与所述测试样机的第一引脚、第二引脚、第三引脚以及第四引脚的连接。
在一些实施例中，获取所述测试样机中TCM芯片的波形，进一步包括：
利用所述第一引脚获取所述测试样机中TCM芯片的波形。
在一些实施例中，获取串口日志，进一步包括：
将所述第二引脚、所述第三引脚以及所述第四引脚设置为低电平输出并为所述单片机中的电容放电；
将所述第二引脚设置为高电平并将所述第三引脚和所述第四引脚设置为输入以接收串口日志。
基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，本发明的实施例还提供了一种计算机设备，包括：
至少一个处理器；以及
存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时执行以下步骤：
建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接；
获取所述测试样机中TCM芯片的波形；
根据所述TCM芯片的波形生成模拟波形并发送到所述测试样机的串口以屏蔽所述TCM芯片；
获取串口日志；
在所述串口日志中搜索温度。
在一些实施例中，建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接，进一步包括：
建立与所述测试样机的第一引脚、第二引脚、第三引脚以及第四引脚的连接。
在一些实施例中，获取所述测试样机中TCM芯片的波形，进一步包括：
利用所述第一引脚获取所述测试样机中TCM芯片的波形。
在一些实施例中，获取串口日志，进一步包括：
将所述第二引脚、所述第三引脚以及所述第四引脚设置为低电平输出并为所述单片机中的电容放电；
将所述第二引脚设置为高电平并将所述第三引脚和所述第四引脚设置为输入以接收串口日志。
基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，本发明的实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时执行以下步骤：
建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接；
获取所述测试样机中TCM芯片的波形；
根据所述TCM芯片的波形生成模拟波形并发送到所述测试样机的串口以屏蔽所述TCM芯片；
获取串口日志；
在所述串口日志中搜索温度。
在一些实施例中，建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接，进一步包括：
建立与所述测试样机的第一引脚、第二引脚、第三引脚以及第四引脚的连接。
在一些实施例中，获取所述测试样机中TCM芯片的波形，进一步包括：
利用所述第一引脚获取所述测试样机中TCM芯片的波形。
在一些实施例中，获取串口日志，进一步包括：
将所述第二引脚、所述第三引脚以及所述第四引脚设置为低电平输出并为所述单片机中的电容放电；
将所述第二引脚设置为高电平并将所述第三引脚和所述第四引脚设置为输入以接收串口日志。
本发明具有以下有益技术效果之一：本发明提出的方案通过单片机模拟TCM芯片信号，屏蔽本机TCM芯片，对串口日志进行检索，从而能够实时获取BM机的温度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
图1为本发明的实施例提供的测试样机温度获取方法的流程示意图；
图2为本发明的实施例提供的测试样机温度获取系统的结构示意图；
图3为本发明的实施例提供的计算机设备的结构示意图；
图4为本发明的实施例提供的计算机可读存储介质的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明实施例进一步详细说明。
需要说明的是，本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本发明实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
根据本发明的一个方面，本发明的实施例提出一种测试样机温度获取方法，如图1所示，其可以包括步骤：
S1，建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接；
S2，获取所述测试样机中TCM芯片的波形；
S3，根据所述TCM芯片的波形生成模拟波形并发送到所述测试样机的串口以屏蔽所述TCM芯片；
S4，获取串口日志；
S5，在所述串口日志中搜索温度。
本发明提出的方案通过单片机模拟TCM芯片信号，屏蔽本机TCM芯片，对串口日志进行检索，从而能够实时获取BM机的温度。
在一些实施例中，建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接，进一步包括：
建立与所述测试样机的第一引脚、第二引脚、第三引脚以及第四引脚的连接。
在一些实施例中，获取所述测试样机中TCM芯片的波形，进一步包括：
利用所述第一引脚获取所述测试样机中TCM芯片的波形。
在一些实施例中，获取串口日志，进一步包括：
将所述第二引脚、所述第三引脚以及所述第四引脚设置为低电平输出并为所述单片机中的电容放电；
将所述第二引脚设置为高电平并将所述第三引脚和所述第四引脚设置为输入以接收串口日志。
具体的，可以采用STC89C52RC单片机，然后一路串口与测试样机主板调试串口相连，可以采用四线连接串口，即测试样机的9针串口只连接其中的4根线：用于发送模拟波形的引脚(第一引脚)、第5脚的GND(第二引脚)、第2脚的RXD(第三引脚)、第3脚的TXD(第四引脚)。读取测试样机的串口日志，读取其中的温度信息。同时在位处理器中烧录程序，屏蔽TCM芯片安全基线，模拟工厂版BIOS信息，绕过极限，使得串口可以打印日志信息。
在采集串口日志的过程中，可以先将第二引脚、所述第三引脚以及所述第四引脚设置为低电平输出并为所述单片机中的电容放电，然后将所述第三引脚和所述第四引脚设置为输入，用单片机接受串口日志。检测第二引脚并当其为高电平的时候记录串口日志。将三个引脚设为低电平输出，再次使电容放电。接着将第二引脚和第四引脚设置为输入，通过测温电路对单片机读取到的串口日志进行检索，搜索TEMP相关条目。最后将温度实时通过数码管屏幕输出。
本发明提出的方案可以实现对待测机器的温度实时监控，精准显示温度，排除测试干扰提升了测试精度，简化了测试中控制变量的方法，同时还为DEBUG过程中观察现象变化提供了新的角度。
基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，本发明的实施例还提供了一种测试样机温度获取系统400，如图2所示，包括：
串口模块401，配置为建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接；
第一获取模块402，配置为获取所述测试样机中TCM芯片的波形；
发送模块403，配置为根据所述TCM芯片的波形生成模拟波形并发送到所述测试样机的串口以屏蔽所述TCM芯片；
第二获取模块404，配置为获取串口日志；
搜索模块405，配置为在所述串口日志中搜索温度。
在一些实施例中，建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接，进一步包括：
建立与所述测试样机的第一引脚、第二引脚、第三引脚以及第四引脚的连接。
在一些实施例中，获取所述测试样机中TCM芯片的波形，进一步包括：
利用所述第一引脚获取所述测试样机中TCM芯片的波形。
在一些实施例中，获取串口日志，进一步包括：
将所述第二引脚、所述第三引脚以及所述第四引脚设置为低电平输出并为所述单片机中的电容放电；
将所述第二引脚设置为高电平并将所述第三引脚和所述第四引脚设置为输入以接收串口日志。
基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，如图3所示，本发明的实施例还提供了一种计算机设备501，包括：
至少一个处理器520；以及
存储器510，存储器510存储有可在处理器上运行的计算机程序511，处理器520执行程序时执行以下步骤：
S1，建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接；
S2，获取所述测试样机中TCM芯片的波形；
S3，根据所述TCM芯片的波形生成模拟波形并发送到所述测试样机的串口以屏蔽所述TCM芯片；
S4，获取串口日志；
S5，在所述串口日志中搜索温度。
在一些实施例中，建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接，进一步包括：
建立与所述测试样机的第一引脚、第二引脚、第三引脚以及第四引脚的连接。
在一些实施例中，获取所述测试样机中TCM芯片的波形，进一步包括：
利用所述第一引脚获取所述测试样机中TCM芯片的波形。
在一些实施例中，获取串口日志，进一步包括：
将所述第二引脚、所述第三引脚以及所述第四引脚设置为低电平输出并为所述单片机中的电容放电；
将所述第二引脚设置为高电平并将所述第三引脚和所述第四引脚设置为输入以接收串口日志。
基于同一发明构思，根据本发明的另一个方面，如图4所示，本发明的实施例还提供了一种计算机可读存储介质601，计算机可读存储介质601存储有计算机程序610，计算机程序610被处理器执行时执行以下步骤：
S1，建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接；
S2，获取所述测试样机中TCM芯片的波形；
S3，根据所述TCM芯片的波形生成模拟波形并发送到所述测试样机的串口以屏蔽所述TCM芯片；
S4，获取串口日志；
S5，在所述串口日志中搜索温度。
在一些实施例中，建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接，进一步包括：
建立与所述测试样机的第一引脚、第二引脚、第三引脚以及第四引脚的连接。
在一些实施例中，获取所述测试样机中TCM芯片的波形，进一步包括：
利用所述第一引脚获取所述测试样机中TCM芯片的波形。
在一些实施例中，获取串口日志，进一步包括：
将所述第二引脚、所述第三引脚以及所述第四引脚设置为低电平输出并为所述单片机中的电容放电；
将所述第二引脚设置为高电平并将所述第三引脚和所述第四引脚设置为输入以接收串口日志。
最后需要说明的是，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关硬件来完成，程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。
此外，应该明白的是，本文的计算机可读存储介质(例如，存储器)可以是易失性存储器或非易失性存储器，或者可以包括易失性存储器和非易失性存储器两者。
本领域技术人员还将明白的是，结合这里的公开所描述的各种示例性逻辑块、模块、电路和算法步骤可以被实现为电子硬件、计算机软件或两者的组合。为了清楚地说明硬件和软件的这种可互换性，已经就各种示意性组件、方块、模块、电路和步骤的功能对其进行了一般性的描述。这种功能是被实现为软件还是被实现为硬件取决于具体应用以及施加给整个系统的设计约束。本领域技术人员可以针对每种具体应用以各种方式来实现的功能，但是这种实现决定不应被解释为导致脱离本发明实施例公开的范围。
以上是本发明公开的示例性实施例，但是应当注意，在不背离权利要求限定的本发明实施例公开的范围的前提下，可以进行多种改变和修改。根据这里描述的公开实施例的方法权利要求的功能、步骤和/或动作不需以任何特定顺序执行。此外，尽管本发明实施例公开的元素可以以个体形式描述或要求，但除非明确限制为单数，也可以理解为多个。
应当理解的是，在本文中使用的，除非上下文清楚地支持例外情况，单数形式“一个”旨在也包括复数形式。还应当理解的是，在本文中使用的“和/或”是指包括一个或者一个以上相关联地列出的项目的任意和所有可能组合。
上述本发明实施例公开实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本发明实施例公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明实施例的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上的本发明实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本发明实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明实施例的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种测试样机温度获取方法，其特征在于，基于单片机执行以下步骤：
建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接；
获取所述测试样机中TCM芯片的波形；
根据所述TCM芯片的波形生成模拟波形并发送到所述测试样机的串口以屏蔽所述TCM芯片；
获取串口日志；
在所述串口日志中搜索温度。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接，进一步包括：
建立与所述测试样机的第一引脚、第二引脚、第三引脚以及第四引脚的连接。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，获取所述测试样机中TCM芯片的波形，进一步包括：
利用所述第一引脚获取所述测试样机中TCM芯片的波形。
4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，获取串口日志，进一步包括：
将所述第二引脚、所述第三引脚以及所述第四引脚设置为低电平输出并为所述单片机中的电容放电；
将所述第二引脚设置为高电平并将所述第三引脚和所述第四引脚设置为输入以接收串口日志。
5.一种测试样机温度获取系统，其特征在于，包括：
串口模块，配置为建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接；
第一获取模块，配置为获取所述测试样机中TCM芯片的波形；
发送模块，配置为根据所述TCM芯片的波形生成模拟波形并发送到所述测试样机的串口以屏蔽所述TCM芯片；
第二获取模块，配置为获取串口日志；
搜索模块，配置为在所述串口日志中搜索温度。
6.如权利要求5所述的系统，其特征在于，建立单片机的串口建立与测试样机的串口的连接，进一步包括：
建立与所述测试样机的第一引脚、第二引脚、第三引脚以及第四引脚的连接。
7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，获取所述测试样机中TCM芯片的波形，进一步包括：
利用所述第一引脚获取所述测试样机中TCM芯片的波形。
8.如权利要求6所述的系统，其特征在于，获取串口日志，进一步包括：
将所述第二引脚、所述第三引脚以及所述第四引脚设置为低电平输出并为所述单片机中的电容放电；
将所述第二引脚设置为高电平并将所述第三引脚和所述第四引脚设置为输入以接收串口日志。
9.一种计算机设备，包括：
至少一个处理器；以及
存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时执行如权利要求1-4任意一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时执行如权利要求1-4任意一项所述的方法的步骤。
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| Date | Code | Title | Description |
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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