CN110907857B - 一种基于fpga的连接器自动检测方法 - Google Patents
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---|---|---|---|---|
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Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0547890A (ja) * | 1991-08-14 | 1993-02-26 | Matsushita Electric Works Ltd | 配線パターン検査装置 |
EP0578386A3 (zh) * | 1992-06-17 | 1994-03-09 | Texas Instruments Inc | |
JPH10115672A (ja) * | 1996-07-05 | 1998-05-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体回路システム,半導体集積回路の検査方法及びその検査系列の生成方法 |
CN1818912A (zh) * | 2005-02-11 | 2006-08-16 | 思尔芯(上海)信息科技有限公司 | 可扩展可重配置的原型系统及方法 |
CN101140311A (zh) * | 2007-02-15 | 2008-03-12 | 中兴通讯股份有限公司 | 连接器接触状态自动检测装置及方法 |
JP2008304393A (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-18 | Funai Electric Co Ltd | 電子機器 |
CN101349726A (zh) * | 2007-07-17 | 2009-01-21 | 大唐移动通信设备有限公司 | 一种通用输入输出接口的故障检测方法及装置 |
CN101446988A (zh) * | 2007-11-27 | 2009-06-03 | 上海摩波彼克半导体有限公司 | 基于软件对通用异步收发器进行自动化测试的装置及方法 |
CN101546285A (zh) * | 2008-03-25 | 2009-09-30 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | Usb接口i/o板测试装置 |
CN101769976A (zh) * | 2008-12-26 | 2010-07-07 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 连接器检测系统 |
CN105486999A (zh) * | 2015-11-27 | 2016-04-13 | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 | 基于pxi总线的边界扫描数字电路测试系统及其测试方法 |
CN108494533A (zh) * | 2018-05-18 | 2018-09-04 | 湖北理工学院 | 一种便携式远距离的多路通信器件误码率测试装置及方法 |
CN108804261A (zh) * | 2017-05-05 | 2018-11-13 | 中兴通讯股份有限公司 | 连接器的测试方法及装置 |
CN110261717A (zh) * | 2019-07-15 | 2019-09-20 | 立讯精密工业(滁州)有限公司 | 一种连接器组件测试电路及其测试方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101953117B1 (ko) * | 2012-09-05 | 2019-05-22 | 삼성전자 주식회사 | 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치 및 전자 장치의 자가 진단 방법 |
US9582366B2 (en) * | 2014-11-21 | 2017-02-28 | International Business Machines Corporation | Detecting and sparing of optical PCIE cable channel attached IO drawer |
CN107544883B (zh) * | 2017-08-24 | 2021-12-07 | 新华三信息技术有限公司 | 服务器的诊断装置、系统和方法 |
-
2019
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Patent Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0547890A (ja) * | 1991-08-14 | 1993-02-26 | Matsushita Electric Works Ltd | 配線パターン検査装置 |
EP0578386A3 (zh) * | 1992-06-17 | 1994-03-09 | Texas Instruments Inc | |
JPH10115672A (ja) * | 1996-07-05 | 1998-05-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体回路システム,半導体集積回路の検査方法及びその検査系列の生成方法 |
CN1818912A (zh) * | 2005-02-11 | 2006-08-16 | 思尔芯(上海)信息科技有限公司 | 可扩展可重配置的原型系统及方法 |
CN101140311A (zh) * | 2007-02-15 | 2008-03-12 | 中兴通讯股份有限公司 | 连接器接触状态自动检测装置及方法 |
JP2008304393A (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-18 | Funai Electric Co Ltd | 電子機器 |
CN101349726A (zh) * | 2007-07-17 | 2009-01-21 | 大唐移动通信设备有限公司 | 一种通用输入输出接口的故障检测方法及装置 |
CN101446988A (zh) * | 2007-11-27 | 2009-06-03 | 上海摩波彼克半导体有限公司 | 基于软件对通用异步收发器进行自动化测试的装置及方法 |
CN101546285A (zh) * | 2008-03-25 | 2009-09-30 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | Usb接口i/o板测试装置 |
CN101769976A (zh) * | 2008-12-26 | 2010-07-07 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 连接器检测系统 |
CN105486999A (zh) * | 2015-11-27 | 2016-04-13 | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 | 基于pxi总线的边界扫描数字电路测试系统及其测试方法 |
CN108804261A (zh) * | 2017-05-05 | 2018-11-13 | 中兴通讯股份有限公司 | 连接器的测试方法及装置 |
CN108494533A (zh) * | 2018-05-18 | 2018-09-04 | 湖北理工学院 | 一种便携式远距离的多路通信器件误码率测试装置及方法 |
CN110261717A (zh) * | 2019-07-15 | 2019-09-20 | 立讯精密工业(滁州)有限公司 | 一种连接器组件测试电路及其测试方法 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
航天电连接器及其组件的自动检测;杨奋为;《上海航天》;20031231(第3期);第52-56页 * |
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