JPS62159243A - 電子計算機の自動試験装置 - Google Patents
電子計算機の自動試験装置Info
- Publication number
- JPS62159243A JPS62159243A JP61000906A JP90686A JPS62159243A JP S62159243 A JPS62159243 A JP S62159243A JP 61000906 A JP61000906 A JP 61000906A JP 90686 A JP90686 A JP 90686A JP S62159243 A JPS62159243 A JP S62159243A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- computer
- tested
- interface
- program
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、電子計算機の自動試験装置に関するもので
ある。
ある。
従来、電子計算機の機能を検査する場合には、まず被試
験計算機システムを構築し、人手作業によるテストプロ
グラムのローディングおよびテストパラメータの設定を
コンソールディスプレイ装置又はタイプライタ装置によ
って行ない、その試験結果から人手により不具合箇所、
不具合内容を調べ、それに対する処置を行なっている。
験計算機システムを構築し、人手作業によるテストプロ
グラムのローディングおよびテストパラメータの設定を
コンソールディスプレイ装置又はタイプライタ装置によ
って行ない、その試験結果から人手により不具合箇所、
不具合内容を調べ、それに対する処置を行なっている。
第３図は従来の被試験計算機システムの構成を示すもの
で、図中、（抑は主記憶装置、０８）は中央処理装置、
（ｌ→はコンソールディスプレイ装置、□□□）はフロ
ッピーディスク装置で、システムによってプリンタ装置
ｑ７）、磁気テープ装量、あるいは固定ディスク装置Ｃ
１６）が選択的に接続されて異なるシステム構成となっ
ている。
で、図中、（抑は主記憶装置、０８）は中央処理装置、
（ｌ→はコンソールディスプレイ装置、□□□）はフロ
ッピーディスク装置で、システムによってプリンタ装置
ｑ７）、磁気テープ装量、あるいは固定ディスク装置Ｃ
１６）が選択的に接続されて異なるシステム構成となっ
ている。
従来の被試験計算機システムは上記のように構成され、
その試験は、第４図に示すフローチャートによって行な
われる。
その試験は、第４図に示すフローチャートによって行な
われる。
すなわち、まず操作員は、システム構成によりテストプ
ログラムを選び、主記憶装置−に格納する。次に、操作
員は各種チェックシートや手順書を参照しながらキー人
力によるパラメータ設定を行ない、テストプログラムを
実行させる。テスト結果より操作員はエラー内容を解析
して不具合箇所を発見し、修理及び部品交換等の処置を
行なう。
ログラムを選び、主記憶装置−に格納する。次に、操作
員は各種チェックシートや手順書を参照しながらキー人
力によるパラメータ設定を行ない、テストプログラムを
実行させる。テスト結果より操作員はエラー内容を解析
して不具合箇所を発見し、修理及び部品交換等の処置を
行なう。
エラーが検出されなければ、システム構成に従い次のテ
ストプログラムを選び、以下同様の手順で全ての試験が
終わるまで繰り返す。これらの動作を１人の操作員が複
数のシステムについて行なうか、あるいは複数の操作員
により実施している。
ストプログラムを選び、以下同様の手順で全ての試験が
終わるまで繰り返す。これらの動作を１人の操作員が複
数のシステムについて行なうか、あるいは複数の操作員
により実施している。
上記のような従来の試験においては、被試験用計算機に
対し、操作員がその都度テスト条件等の情報を与える必
要があり、操作員の介入は必至であつ友。またテストプ
ログラム操作においては、テストプログラムの種類が多
く、個々のテストプログラムの汎用性のために１つのテ
ストプログラムのキーイン指定項目も少なくない。実際
の試験り業にはチェックシートや試験手順書を参照しな
がら操作員がキーイン指定を行なっているが、キーイン
指定のミスによるテスト忘れ等の問題が生じている。
対し、操作員がその都度テスト条件等の情報を与える必
要があり、操作員の介入は必至であつ友。またテストプ
ログラム操作においては、テストプログラムの種類が多
く、個々のテストプログラムの汎用性のために１つのテ
ストプログラムのキーイン指定項目も少なくない。実際
の試験り業にはチェックシートや試験手順書を参照しな
がら操作員がキーイン指定を行なっているが、キーイン
指定のミスによるテスト忘れ等の問題が生じている。
まｔ１テスト実行結果においてエラーの生じ之場合、不
具合箇所の発見や不具合内容の解析には操作員の経験、
知識による所が大きく、試験工程が操作員により右左す
ることにもなる等の問題もある。
具合箇所の発見や不具合内容の解析には操作員の経験、
知識による所が大きく、試験工程が操作員により右左す
ることにもなる等の問題もある。
この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、操作員の介入を極力少なくして、試験工程が操作
員の知識や経験に影響されない試験設備を実現し、電子
計算機の試験の標準化、自動化を図ることができる電子
計算機の自動試験装置を得ることを目的とする。
ので、操作員の介入を極力少なくして、試験工程が操作
員の知識や経験に影響されない試験設備を実現し、電子
計算機の試験の標準化、自動化を図ることができる電子
計算機の自動試験装置を得ることを目的とする。
この発明に係る電子計算機の自動試験装置は、被試験計
算機にその操作を行なうシステムコンソールに置き換え
て接続可能な試験用インターフェース、中央処理装置、
記憶装置、端末装置、および外部記憶装置を有し機能保
証された試験用計算機に、上記試験用インターフェース
を介し複数台の構成を異にする被試験計算機をそれぞれ
接続しこの試験用計算機により、各被試験計算機の試験
状態の管理および試験結果の集計、解析をそれぞれ行な
うようにしたものである。
算機にその操作を行なうシステムコンソールに置き換え
て接続可能な試験用インターフェース、中央処理装置、
記憶装置、端末装置、および外部記憶装置を有し機能保
証された試験用計算機に、上記試験用インターフェース
を介し複数台の構成を異にする被試験計算機をそれぞれ
接続しこの試験用計算機により、各被試験計算機の試験
状態の管理および試験結果の集計、解析をそれぞれ行な
うようにしたものである。
この発明においては、試験用計算機によシ、各被試験計
算機の試験状態の管理および試験結果の集計、解析をそ
れぞれ行なうようにしているので、操作員の介入を極力
少なくすることが可能となる。
算機の試験状態の管理および試験結果の集計、解析をそ
れぞれ行なうようにしているので、操作員の介入を極力
少なくすることが可能となる。
第１図はこの発明の一実施例を示すもので、図中、第３
図と同一符号は同−又は相当部分を示す。
図と同一符号は同−又は相当部分を示す。
（１）は機能保証された試験用計算機システム、（２）
はその主記憶装置、（８）は中央処理装置、（４）は上
記試験用計算機システム（１）を操作するためのコンソ
ールディスプレイ装置、（６）はフロッピーディスク装
置、（６）は固定ディスク装置で、試験制御用プログラ
ムおよび試験結果データを格納する外部記憶装置である
。（γ）は試験結果データの出力や各種メツセージの出
力に使用されるプリンタ装置。（８）は各被試験計算機
のコンソールディスプレイの制御装置に接続されて各種
試験情報の授受を行なう試験用インターフェースで、各
被試験計算機のコンソールディスプレイ装置０荀に置き
換えて接続されるようになっている。すなわち、各被試
験計算機にはコンノールディスプレイ装置０４）を接続
しない。
はその主記憶装置、（８）は中央処理装置、（４）は上
記試験用計算機システム（１）を操作するためのコンソ
ールディスプレイ装置、（６）はフロッピーディスク装
置、（６）は固定ディスク装置で、試験制御用プログラ
ムおよび試験結果データを格納する外部記憶装置である
。（γ）は試験結果データの出力や各種メツセージの出
力に使用されるプリンタ装置。（８）は各被試験計算機
のコンソールディスプレイの制御装置に接続されて各種
試験情報の授受を行なう試験用インターフェースで、各
被試験計算機のコンソールディスプレイ装置０荀に置き
換えて接続されるようになっている。すなわち、各被試
験計算機にはコンノールディスプレイ装置０４）を接続
しない。
第２図は試験手順を示すフローチャートで、図中、可）
は試験用計算機システムの千１−１國は一つの被試験計
算機の手順を示し、以下第２図を参照して本実施例の作
用を説明する。
は試験用計算機システムの千１−１國は一つの被試験計
算機の手順を示し、以下第２図を参照して本実施例の作
用を説明する。
試験用計算機に制御用プログラムとローディング後、操
作員はコンソールディスプレイ装置（４）を操作し、シ
ステム構成、システム数を指定する。
作員はコンソールディスプレイ装置（４）を操作し、シ
ステム構成、システム数を指定する。
この指定により、外部記憶装置（６）に格納されている
システム構成データを参照して被試験計算機のテストプ
ログラム起動に必要な起動情報を作成し、各被試験計算
機に試験用インターフェース（８）を経由して、起動情
報を送出する。被試験−計算機は、この起動情報をあた
かもコンソールディスプレイ装！（１→からキー人力し
たかのように、試験用インターフエース（８）と接続さ
れ比コンソールディスプレイ制御装置に取込み、キー人
力時と同様に必要なテストプログラムとフロッピーディ
スク装置（至））から読み込み、起動情報に従い、テス
トプログラムを実行する。テスト終了後、テスト結果の
データをコンソールディスプレイ装置（４）に表示する
様に試験用インターフェース（８）を経由して試験用計
算機に送出される。その後、被試験計算機は試験用計算
機からテスト続行か、中止か、終了かのいずれかの指示
があるまで処理を中断する。その間、試験用計算機はテ
スト結果を取り込み解析を行なう。
システム構成データを参照して被試験計算機のテストプ
ログラム起動に必要な起動情報を作成し、各被試験計算
機に試験用インターフェース（８）を経由して、起動情
報を送出する。被試験−計算機は、この起動情報をあた
かもコンソールディスプレイ装！（１→からキー人力し
たかのように、試験用インターフエース（８）と接続さ
れ比コンソールディスプレイ制御装置に取込み、キー人
力時と同様に必要なテストプログラムとフロッピーディ
スク装置（至））から読み込み、起動情報に従い、テス
トプログラムを実行する。テスト終了後、テスト結果の
データをコンソールディスプレイ装置（４）に表示する
様に試験用インターフェース（８）を経由して試験用計
算機に送出される。その後、被試験計算機は試験用計算
機からテスト続行か、中止か、終了かのいずれかの指示
があるまで処理を中断する。その間、試験用計算機はテ
スト結果を取り込み解析を行なう。
解析結果によって正常終了であれば、被試験計算機に対
してテスト続行の指示と次のテストプログラムの起動情
報を送出し、被試験計算機は起動情報により次のテスト
を実行する。システムの一部分にエラーが発生した場合
、例えば磁気テープ装！（糟に不具合が発生し几時は、
エラー内容及び不具合箇所とその処置方法をコンソール
ディスプレイ装置（４）あるいはプリンタ装置１１（γ
）に出力し、次の起動情報を送出し、テストを続行する
。これは磁気テープ装置（旧に不具合が発生しても他の
＋Ｉｋ器の試験には影響がないｔめである。しかし、テ
スト続行不可能な不具合が発生した場合、ただちにテス
ト中止指示を被試験計算機に送出してテストを中止する
。例えば中央処理装置α３）、主記憶装置（２）や、プ
ログラムローディングに使用するフロッピーディスク装
＃（１５）に不具合が発生しｔ場合は他のＦＩ＆器の試
験はできないので、エラー内容および不具合箇所とその
処置方法を出力し、以後そのシステムのテストを中止す
る。
してテスト続行の指示と次のテストプログラムの起動情
報を送出し、被試験計算機は起動情報により次のテスト
を実行する。システムの一部分にエラーが発生した場合
、例えば磁気テープ装！（糟に不具合が発生し几時は、
エラー内容及び不具合箇所とその処置方法をコンソール
ディスプレイ装置（４）あるいはプリンタ装置１１（γ
）に出力し、次の起動情報を送出し、テストを続行する
。これは磁気テープ装置（旧に不具合が発生しても他の
＋Ｉｋ器の試験には影響がないｔめである。しかし、テ
スト続行不可能な不具合が発生した場合、ただちにテス
ト中止指示を被試験計算機に送出してテストを中止する
。例えば中央処理装置α３）、主記憶装置（２）や、プ
ログラムローディングに使用するフロッピーディスク装
＃（１５）に不具合が発生しｔ場合は他のＦＩ＆器の試
験はできないので、エラー内容および不具合箇所とその
処置方法を出力し、以後そのシステムのテストを中止す
る。
試験用インターフェース（８）は、上述のように被試験
計算機のコンソールディスプレイ装置α→のかわりに接
続され、キー人力と同様のデータを送出し、また、ディ
スプレイ表示と同様のデータを受信する。したがって、
被試験計算機側から見れば通常のコンソールディスプレ
イ装置ｏ薊を接続した状態と同様の処理形態でテスト可
能で、特別なインターフェースやテストプログラムは必
要ではなく、従来のシステム構成とテストプログラムで
実現できる。
計算機のコンソールディスプレイ装置α→のかわりに接
続され、キー人力と同様のデータを送出し、また、ディ
スプレイ表示と同様のデータを受信する。したがって、
被試験計算機側から見れば通常のコンソールディスプレ
イ装置ｏ薊を接続した状態と同様の処理形態でテスト可
能で、特別なインターフェースやテストプログラムは必
要ではなく、従来のシステム構成とテストプログラムで
実現できる。
このように被試験計算機の構成やテストプログラムは従
来のままで試験用計算機を接続することにより、複数の
被試験計算機の自動試験を行なうことが可能である。ま
たエラー発生時は、その状況により試験の続行、中止を
判断して必要な処置を操作員に指示するため、操作員は
試験開始時のキーイン指定と、エラー発生時の部品交換
等の処置とを行なうだけでよい。
来のままで試験用計算機を接続することにより、複数の
被試験計算機の自動試験を行なうことが可能である。ま
たエラー発生時は、その状況により試験の続行、中止を
判断して必要な処置を操作員に指示するため、操作員は
試験開始時のキーイン指定と、エラー発生時の部品交換
等の処置とを行なうだけでよい。
なお上記実施例では、機能試験を試験用計算機システム
で行なうものを示し友が、この試験用計算機部分に、試
験に関する知識データベースおよび知識情報処理可能な
システムを置き換えることで、より詳細な試験結果の解
析が可能となり、さらに、電圧マージン試験やノイズ試
験、温度試験等の試験装置およびそれらと試験用計算機
とを接続するインターフェース装置を付加することで、
機能試験のみでなく環境試験における自動化も可能とな
る。
で行なうものを示し友が、この試験用計算機部分に、試
験に関する知識データベースおよび知識情報処理可能な
システムを置き換えることで、より詳細な試験結果の解
析が可能となり、さらに、電圧マージン試験やノイズ試
験、温度試験等の試験装置およびそれらと試験用計算機
とを接続するインターフェース装置を付加することで、
機能試験のみでなく環境試験における自動化も可能とな
る。
この発明は以上説明したとおり、被試験計算機にその操
作を行なうシステムコンソールに置き換えて接続可能な
試験用インターフェース、中央処理装置、記憶装置、端
末装置、および外部記憶装置を有し機能保証された試験
用計算機に、上記試験用インターフェースを介し複数台
の構成を異にする被試験計算機をそれぞれ接続し、この
試験用計算機により、各被試験計算機の試験状態の管理
および試験結果の集計、解析をそれぞれ行なうようにし
ているので、操作員の介入′ｆ、極力少なくし、操作員
の知識、経験の有無に関係なく標準的な試験による安定
した品質が得られる等の効果がある。
作を行なうシステムコンソールに置き換えて接続可能な
試験用インターフェース、中央処理装置、記憶装置、端
末装置、および外部記憶装置を有し機能保証された試験
用計算機に、上記試験用インターフェースを介し複数台
の構成を異にする被試験計算機をそれぞれ接続し、この
試験用計算機により、各被試験計算機の試験状態の管理
および試験結果の集計、解析をそれぞれ行なうようにし
ているので、操作員の介入′ｆ、極力少なくし、操作員
の知識、経験の有無に関係なく標準的な試験による安定
した品質が得られる等の効果がある。
第１図はこの発明の一実施例を示す電子計算機の自動試
験装置のシステム構成図、第２図はその処理手順を示す
フローチャート、第６図は従来の試験方法によるシステ
ム構成図、第４図はその試験の処理手順を示すフローチ
ャートである。 （１）・・試験用計算機システム （２）、−・・記憶装置 （８１、Ｑｌ）・Ｏ中央処理
装置（４）、α薊・拳コンソールディスプレイ装置（５
）・−フロッピーディスク装置 （６）・・固定ディスク装置 （８）・−Ｅ装用インターフェース なお各図中、同一符号は同−又は相当部分を示すものと
する。
験装置のシステム構成図、第２図はその処理手順を示す
フローチャート、第６図は従来の試験方法によるシステ
ム構成図、第４図はその試験の処理手順を示すフローチ
ャートである。 （１）・・試験用計算機システム （２）、−・・記憶装置 （８１、Ｑｌ）・Ｏ中央処理
装置（４）、α薊・拳コンソールディスプレイ装置（５
）・−フロッピーディスク装置 （６）・・固定ディスク装置 （８）・−Ｅ装用インターフェース なお各図中、同一符号は同−又は相当部分を示すものと
する。
Claims (1)
- 電子計算機の試験において、被試験計算機にその操作を
行なうシステムコンソールに置き換えて接続可能な試験
用インターフェース、中央処理装置、記憶装置、端末装
置、および外部記憶装置を有し機能保証された試験用計
算機に、上記試験用インターフェースを介し複数台の構
成を異にする被試験計算機をそれぞれ接続し、この試験
用計算機により、上記各被試験計算機にその構成に合わ
せテストプログラムを読込ませて所望のテストプログラ
ムを実行させるとともに、実行結果の集計、解析を行な
うことを特徴とする電子計算機の自動試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61000906A JPS62159243A (ja) | 1986-01-07 | 1986-01-07 | 電子計算機の自動試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61000906A JPS62159243A (ja) | 1986-01-07 | 1986-01-07 | 電子計算機の自動試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62159243A true JPS62159243A (ja) | 1987-07-15 |
Family
ID=11486721
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61000906A Pending JPS62159243A (ja) | 1986-01-07 | 1986-01-07 | 電子計算機の自動試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62159243A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6428746A (en) * | 1987-07-24 | 1989-01-31 | Hitachi Ltd | Automatic diagnosing system |
| JPH01216437A (ja) * | 1988-02-24 | 1989-08-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報処理装置の試験方法 |
| JPH01318122A (ja) * | 1988-06-20 | 1989-12-22 | Fujitsu Ltd | 電子計算機のテスト方法 |
-
1986
- 1986-01-07 JP JP61000906A patent/JPS62159243A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6428746A (en) * | 1987-07-24 | 1989-01-31 | Hitachi Ltd | Automatic diagnosing system |
| JPH01216437A (ja) * | 1988-02-24 | 1989-08-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報処理装置の試験方法 |
| JPH01318122A (ja) * | 1988-06-20 | 1989-12-22 | Fujitsu Ltd | 電子計算機のテスト方法 |
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