CN117907801A - 一种自动测试芯片的方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例提供一种自动测试芯片的方法及装置,所述方法包括:自动生成不同引脚的测试例程,并将所述测试例程编译为可执行ELF文件,其中,所述可执行ELF文件包括所有待测试代码和数据;将所述可执行ELF文件放入指定位置;接收输入的芯片型号和引脚信息,得到测试参数,其中,所述测试参数用于建立联合测试工作组JTAG连接;根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试。采用本申请实施例的技术方案显著降低了技术门槛,减少了人为操作错误的风险,提高了测试效率,大幅降低了人力成本,为芯片生产和筛选过程带来显著的加速效果。
Description
技术领域
本申请涉及芯片测试领域,具体而言本申请实施例涉及一种自动测试芯片的方法及装置。
背景技术
在芯片测试领域,存在着多项技术问题,其中主要围绕着测试流程的复杂性、耗时性和人力成本等方面。传统的芯片测试过程需要在测试每个例程时单独连接仿真器、下载编译和运行,这导致测试耗时且操作复杂。这样的测试方法对于大规模测试以及缺乏测试设备的环境下,会导致巨大的人力资源投入和成本支出。
现有技术问题主要包括:
1.测试流程繁琐:传统的芯片测试流程要求每个例程单独进行连接仿真器、下载、编译和运行操作,这增加了操作步骤和耗时,严重影响了测试效率。
2.人工干预多:手动操作每个例程的测试,需要测试人员在每个步骤中介入,这样容易引入操作错误,增加了人工干预的风险。
3.技术门槛高:传统测试方法需要测试人员熟悉各种测试原理和操作步骤,这对于缺乏专业技能或了解测试设备操作的人员来说是一项挑战。
4.测试时间长:因为每个例程需要单独操作,所以一个芯片的完整测试需要大量的时间,这在大数量测试中是不可接受的。
5.成本高:由于需要大量人力投入和操作耗时,传统测试方法带来了显著的人力成本和运营成本。
以上问题阻碍了芯片测试过程的高效性和自动化程度,增加了生产成本和时间投入。因此,如何提升芯片测试效率成了亟待解决的技术问题。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种自动测试芯片的方法及装置,采用本申请实施例可自动生成不同引脚(引脚,又叫管脚,英文叫Pin)的测试例程,并将它们编译成相应的elf文件,用户只需将这些elf文件放入指定位置,连接带座开发板或者核心板,连接仿真器和电源线,系统支持多种芯片型号和引脚数量,自动通过JTAG接口连接到目标芯片并执行测试,采用本申请实施例的技术方案显著降低了技术门槛,减少了人为操作错误的风险,提高了测试效率,大幅降低了人力成本,为芯片生产和筛选过程带来显著的加速效果。
第一方面,本申请实施例提供一种自动测试芯片的方法,所述方法包括:自动生成不同引脚的测试例程,并将所述测试例程编译为可执行ELF文件,其中,所述可执行ELF文件包括所有待测试代码和数据;将所述可执行ELF文件放入指定位置;接收输入的芯片型号和引脚信息,得到测试参数,其中,所述测试参数用于建立联合测试工作组JTAG连接;根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试。
在一些实施例中,所述根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试,包括:根据预设的测试顺序自动加载并执行所述可执行ELF文件中的测试例程。
在一些实施例中,所述根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试,还包括:若确认第一测试例程被设置为输出打印信息,则执行所述第一测试例程时则在命令行界面上显示相应的打印信息。
在一些实施例中,在所述根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试之前,所述方法还包括:接收输入的针对第二测试例程的硬件连线的连线信息;所述根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试,包括:若确认测试至所述第二测试例程,则提供针对所述连线信息的连接提示并等待输入连接完成继续测试的指令。
在一些实施例中,通过命令行提供所述连接提示,所述指令通过回车键触发。
在一些实施例中,所述根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试,还包括:在每个测试例程完成后,通过命令行提供测试结果,其中,所述测试结果包括测试通过或者测试失败。
在一些实施例中,所述根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试,还包括:在所有测试例程均测试完成后,通过命令行提供汇总测试结果,其中,所述汇总测试结果包括各测试例程的名称以及相应的测试结果。
在一些实施例中,在所述将所述测试例程编译为可执行ELF文件之前,所述方法还包括:通过编译参数配置界面接收不同硬件所需的引脚配置参数,以使各可执行ELF文件适配不同硬件需求。
在一些实施例中,所述将所述测试例程编译为可执行ELF文件,包括:在编译过程中,通过界面实时反馈编译状态。
第二方面,本申请的一些实施例提供一种自动测试芯片的装置,所述装置包括:编译生成可执行文件模块,被配置为自动生成不同引脚的测试例程,并将所述测试例程编译为可执行ELF文件,其中,所述可执行ELF文件包括所有待测试代码和数据;存放模块,被配置为将所述可执行ELF文件放入指定位置;自动连接信息输入模块,被配置为接收输入的芯片型号和引脚信息,得到测试参数,其中,所述测试参数用于建立联合测试工作组JTAG连接;连接及测试模块,被配置为根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案,下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本申请的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例提供的自动测试芯片的方法的流程图之一;
图2为本申请实施例提供的自动测试芯片的装置的组成框图之一。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行描述。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时,在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
本申请的一些实施例提供一种自动测试芯片的方法,该方法是基于JTAG接口的自动化芯片测试方法,该方法示例性包括:自动生成不同引脚的测试例程,并将它们编译成相应的elf文件,用户只需将这些elf文件放入指定位置,并插入带座开发板到芯片或核心板上,连接仿真器和电源线,本申请的芯片测试方法支持多种芯片型号和引脚数量,自动通过JTAG接口连接到目标芯片并执行测试。例如,在本申请的一些实施例中,如果需要特定连线设置,则本申请一些实施例的自动测试芯片的方法还提供清晰的指导界面,使用户能够轻松配置测试环境。本申请一些实施例提供的自动测试芯片的方法还包括测试完成后,用户将获得测试报告,其中,在测试报告中每个测试例程都以测试通过"pass"或测试失败"fail"标记,使问题快速可见。
采用本申请实施例的自动测试芯片的方法显著降低了技术门槛,减少了人为操作错误的风险,提高了测试效率,大幅降低了人力成本,为芯片生产和筛选过程带来显著的加速效果。这种创新的自动化测试系统为芯片测试提供了更加便捷和高效的解决方案,为整个行业带来了更高的生产力。
不难理解的是与传统技术相比,本申请的实施例能够自动化测试芯片,从编译测试例程到测试结束,减少了人工干预。本申请的实施例的自动测试芯片的方法提供了自动化的硬件连接准备,降低了操作风险。本申请一些实施例的自动测试芯片的方法解决了自动连接芯片的问题,用户只需输入芯片型号和引脚数量,系统会自动执行JTAG连接并开始测试。与传统测试结果通常需要用户手动分析,本申请的一些实施例还提供了清晰的测试结果报告,帮助用户快速筛选芯片。
请参看图1,图1为本申请实施例提供一种自动测试芯片的方法,该方法包括:S101,自动生成不同引脚的测试例程,并将所述测试例程编译为可执行ELF文件,其中,所述可执行ELF文件包括所有待测试代码和数据;S102,将所述可执行ELF文件放入指定位置;S103,接收输入的芯片型号和引脚信息,得到测试参数,其中,所述测试参数用于建立联合测试工作组JTAG连接;S104,根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试。
在本申请的一些实施例中,S104示例性包括:根据预设的测试顺序自动加载并执行所述可执行ELF文件中的测试例程。
在本申请的一些实施例中,S104还示例性包括:若确认第一测试例程被设置为输出打印信息,则执行所述第一测试例程时则在命令行界面上显示相应的打印信息。
在本申请的一些实施例中,在执行S104之前,所述方法还包括:接收输入的针对第二测试例程的硬件连线的连线信息;所述根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试,包括:若确认测试至所述第二测试例程,则提供针对所述连线信息的连接提示并等待输入连接完成继续测试的指令。例如,在本申请的一些实施例中,通过命令行提供所述连接提示,所述指令通过回车键触发。
在本申请的一些实施例中,S104还示例性包括:在每个测试例程完成后,通过命令行提供测试结果,其中,所述测试结果包括测试通过或者测试失败。
在本申请的一些实施例中,S104还示例性包括:在所有测试例程均测试完成后,通过命令行提供汇总测试结果,其中,所述汇总测试结果包括各测试例程的名称以及相应的测试结果。
在本申请的一些实施例中,在所述将所述测试例程编译为可执行ELF文件之前,所述方法还包括:通过编译参数配置界面接收不同硬件所需的引脚配置参数,以使各可执行ELF文件适配不同硬件需求。
在本申请的一些实施例中,所述将所述测试例程编译为可执行ELF文件,包括:在编译过程中,通过界面实时反馈编译状态。
下面结合图2示例性阐述本申请一些实施例的自动测试芯片的方法。
1.源代码准备与上传
1.1开发者首先需要根据自己的需求,编写相应的测试源代码。
1.2将编写好的源代码通过系统提供的上传功能,上传至系统指定的存放目录。
2.编译流程
2.1编译前的参数配置:开发者首先会进入编译系统的参数配置界面进行参数配置或者开发者直接通过命令行(例如,在.bat中)配置参数,在此环节中,本申请的一些实施例需要指定不同硬件所需的引脚配置参数。例如,可以选择配置64Pin(即64引脚)或128Pin(即128引脚)等规格的硬件参数。一旦配置完成,开发者便可启动编译流程。这一阶段的智能化设置极大地提高了灵活性,确保生成的可执行ELF文件能够精确适配不同的硬件需求。本申请的自动测试芯片的方法会根据开发者设定的引脚参数,自动将编译生成的ELF文件分别存放于以引脚数量命名的文件夹中,使得文件管理变得条理清晰,便于后续的测试与调试。编译过程中,界面会显示编译成功与否,如果没有成功,则会显示出代码的错误,方便修改。
2.2编译过程的实时反馈:在编译过程中,本申请实施例的自动测试芯片的方法包括:通过界面将实时反馈编译状态,编译成功的情况下,界面会给出明确的成功提示,若编译失败,系统则会精确显示出引起编译错误的代码行和具体错误信息。这种实时反馈机制不仅为开发者节省了查错的时间,也极大地简化了代码的调试过程。开发者可以直接在编译界面根据错误提示进行代码修正和优化,从而实现快速迭代和高效的错误解决策略。
3.硬件设备与接口连接
在硬件配置阶段,本申请的实施例需要将含底座的开发板或核心板通过JTAG接口与电脑连接,以便进行程序的烧写和调试工作。
4.开始自动测试
4.1准备测试环境
首先,开发人员需要将可执行ELF(Executable and Linkable Format)文件放置在系统预定的目录下,其中,ELF文件包含了所有待测试代码和数据,是后续自动化测试的核心。将测试例程的ELF文件放入特定位置是确保测试系统能正确识别并调用测试脚本的前提条件。
4.2配置测试参数
本申请的一些实施例在命令行环境中,通过接收相关人员输入具体的芯片型号和引脚信息来配置测试参数,这些参数对于建立JTAG连接至关重要,因为不同的芯片型号和不同的引脚分配将直接影响到测试脚本与芯片的通信方式。
JTAG(Joint Test Action Group)技术提供了一种在芯片不运行常规应用程序时对其进行测试和调试的机制。本申请的一些实施例通过JTAG接口,测试系统能够访问芯片内部的测试访问端口(TAP),并且可以在不干扰芯片正常操作的情况下进行测试。
4.3自动测试过程
输入了正确的芯片型号和pin信息后,本申请实施例的自动测试芯片的方法开始通过JTAG自动连接到芯片,一旦成功建立连接,便按照预设的测试顺序自动加载并执行ELF文件中的测试例程。
测试过程中,如果测试例程被编写为输出打印信息,那么当执行到这些特定的例程时,这些打印信息将直接显示在命令行界面上。这为开发人员提供了即时的反馈,有助于监控测试进度和识别问题。
对于那些需要特定硬件连线的测试,本申请提供的自动测试芯片的方法允许开发人员在测试开始之前输入必要的连线信息,一旦到达这些需要特定硬件设置的测试阶段,系统会在命令行中提示,等待开发人员确认连线完成。此时,开发人员需确保所有必要的硬件连接都已经设置好,并在命令行中按下回车键继续测试。
4.4结果反馈与记录
本申请的一些实施例在每个测试例程完成后,系统都会在命令行中输出该例程的测试结果,显示为通过(Pass)或失败(Fail)。对于失败的例程,系统会尽可能提供额外的错误信息,帮助开发人员诊断问题所在。
本申请的一些实施例当所有测试例程执行完毕,系统会在命令行中提供一个汇总结果,这通常包括了每一个测试例程的名称和其对应的通过或失败状态。这样的汇总结果对于开发人员来说非常重要,它提供了一个全面的测试概览,允许他们迅速识别出需要进一步调查的问题区域。
本申请提供的自动测试芯片的方法是以脚本化和监控为核心,为软件质量提供高效保障,无需复杂用户界面,操作简单,操作人员的技术水平不受限制。
如图2所示,该图是本申请的一些实施例提供的一种自动测试芯片的装置,所述装置包括:编译生成可执行文件模块101、存放模块102、自动连接信息输入模块103以及连接及测试模块104。
编译生成可执行文件模块,被配置为自动生成不同引脚的测试例程,并将所述测试例程编译为可执行ELF文件,其中,所述可执行ELF文件包括所有待测试代码和数据。
存放模块,被配置为将所述可执行ELF文件放入指定位置。
自动连接信息输入模块,被配置为接收输入的芯片型号和引脚信息,得到测试参数,其中,所述测试参数用于建立联合测试工作组JTAG连接。
连接及测试模块,被配置为根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试。
针对该装置中相应模块的实现细节具体可参考前文中对于方法的描述,为避免重复在此不做过多赘述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的装置和方法,也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,附图中的流程图和框图显示了根据本申请的多个实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上,流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分,所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意,在有些作为替换的实现方式中,方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如,两个连续的方框实际上可以基本并行地执行,它们有时也可以按相反的顺序执行,这依所涉及的功能而定。也要注意的是,框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合,可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现,或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
另外,在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分,也可以是各个模块单独存在,也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。
所述功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述仅为本申请的实施例而已,并不用于限制本申请的保护范围,对于本领域的技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
以上所述,仅为本申请的具体实施方式,但本申请的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此,本申请的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
Claims (10)
1.一种自动测试芯片的方法,其特征在于,所述方法包括:
自动生成不同引脚的测试例程,并将所述测试例程编译为可执行ELF文件,其中,所述可执行ELF文件包括所有待测试代码和数据;
将所述可执行ELF文件放入指定位置;
接收输入的芯片型号和引脚信息,得到测试参数,其中,所述测试参数用于建立联合测试工作组JTAG连接;
根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试,包括:
根据预设的测试顺序自动加载并执行所述可执行ELF文件中的测试例程。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试,还包括:
若确认第一测试例程被设置为输出打印信息,则执行所述第一测试例程时则在命令行界面上显示相应的打印信息。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,在所述根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试之前,所述方法还包括:
接收输入的针对第二测试例程的硬件连线的连线信息;
所述根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试,包括:
若确认测试至所述第二测试例程,则提供针对所述连线信息的连接提示并等待输入连接完成继续测试的指令。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,通过命令行提供所述连接提示,所述指令通过回车键触发。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试,还包括:
在每个测试例程完成后,通过命令行提供测试结果,其中,所述测试结果包括测试通过或者测试失败。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试,还包括:
在所有测试例程均测试完成后,通过命令行提供汇总测试结果,其中,所述汇总测试结果包括各测试例程的名称以及相应的测试结果。
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述将所述测试例程编译为可执行ELF文件之前,所述方法还包括:
通过编译参数配置界面接收不同硬件所需的引脚配置参数,以使各可执行ELF文件适配不同硬件需求。
9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,所述将所述测试例程编译为可执行ELF文件,包括:
在编译过程中,通过界面实时反馈编译状态。
10.一种自动测试芯片的装置,其特征在于,所述装置包括:
编译生成可执行文件模块,被配置为自动生成不同引脚的测试例程,并将所述测试例程编译为可执行ELF文件,其中,所述可执行ELF文件包括所有待测试代码和数据;
存放模块,被配置为将所述可执行ELF文件放入指定位置;
自动连接信息输入模块,被配置为接收输入的芯片型号和引脚信息,得到测试参数,其中,所述测试参数用于建立联合测试工作组JTAG连接;
连接及测试模块,被配置为根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试。
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