JP2001101022A - 自動診断装置 - Google Patents
自動診断装置Info
- Publication number
- JP2001101022A JP2001101022A JP28200799A JP28200799A JP2001101022A JP 2001101022 A JP2001101022 A JP 2001101022A JP 28200799 A JP28200799 A JP 28200799A JP 28200799 A JP28200799 A JP 28200799A JP 2001101022 A JP2001101022 A JP 2001101022A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- program
- diagnosis
- automatic
- diagnostic
- checker
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 診断が容易に連続的に実行でき、診断の実行
漏れ等の不都合が発生することのない自動診断装置の実
現を課題とする。 【解決手段】 ホストコンピュータ１に電気的特性測定
装置２を駆動する機能別診断プログラムをロードして起
動するコマンドファイルを作成するコマンドファイル作
成プログラムを設ける。
漏れ等の不都合が発生することのない自動診断装置の実
現を課題とする。 【解決手段】 ホストコンピュータ１に電気的特性測定
装置２を駆動する機能別診断プログラムをロードして起
動するコマンドファイルを作成するコマンドファイル作
成プログラムを設ける。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、自動診断装置に関
し、特に半導体装置などの連続して複数の診断を実行す
る自動診断装置に関する。
し、特に半導体装置などの連続して複数の診断を実行す
る自動診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】半導体装置の試験は、半導体装置の各機
能を試験する電気特性測定装置を半導体装置に用いて、
それぞれの機能に応じた複数の診断プログラムを実行し
て、診断、動作確認を行うことによって実行されてい
る。ここで用いられる電気特性測定装置を以下ではテス
ターと呼び、診断プログラムを以下ではチェッカーと呼
ぶことにする。そうしてテスターを制御するホストコン
ピュータとチェッカーを含むテスターとの組み合わせで
自動診断装置が形成される。
能を試験する電気特性測定装置を半導体装置に用いて、
それぞれの機能に応じた複数の診断プログラムを実行し
て、診断、動作確認を行うことによって実行されてい
る。ここで用いられる電気特性測定装置を以下ではテス
ターと呼び、診断プログラムを以下ではチェッカーと呼
ぶことにする。そうしてテスターを制御するホストコン
ピュータとチェッカーを含むテスターとの組み合わせで
自動診断装置が形成される。
【０００３】ところで、従来の自動診断装置の方法で
は、各機能別のチェッカーを、テスターに順次人手によ
って入力して実行するようにしていた。この方法を簡単
にフローチャートで示すと図５のようになる。ところ
で、この方法ではフローチャートから分かるように、同
一の作業を複数回（ｎ回）繰り返す必要が生じる。通
常、テスターは１つとは限らず、それに用いられるチェ
ッカーの形式、記述方法、記述言語も異なることが多
い。このようなチェッカーを１つずつ、対象テスターに
読み込ませて実行させる作業は煩雑であり、ややもする
と読み込ませ漏れが発生し、このためにチェッカーの実
行漏れ、すなわちチェックすべき機能の動作確認漏れが
発生する虞があった。さらに、１つのチェッカーの動作
終了を待って次のチェッカーを読み込ませなければなら
ないために、動作終了まで作業者が待機して手を煩わせ
なければならないという問題もあった。
は、各機能別のチェッカーを、テスターに順次人手によ
って入力して実行するようにしていた。この方法を簡単
にフローチャートで示すと図５のようになる。ところ
で、この方法ではフローチャートから分かるように、同
一の作業を複数回（ｎ回）繰り返す必要が生じる。通
常、テスターは１つとは限らず、それに用いられるチェ
ッカーの形式、記述方法、記述言語も異なることが多
い。このようなチェッカーを１つずつ、対象テスターに
読み込ませて実行させる作業は煩雑であり、ややもする
と読み込ませ漏れが発生し、このためにチェッカーの実
行漏れ、すなわちチェックすべき機能の動作確認漏れが
発生する虞があった。さらに、１つのチェッカーの動作
終了を待って次のチェッカーを読み込ませなければなら
ないために、動作終了まで作業者が待機して手を煩わせ
なければならないという問題もあった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述のごとく、従来の
自動診断装置においては被検査対象の機能別の診断を行
う際に、その都度、診断プログラムを電気特性測定装置
にロードし、順次起動させて診断を行っていた。このた
め、作業者に手間がかかり、ややもすると診断プログラ
ムの読み込ませ漏れによる診断の実行漏れが発生する虞
があった。本発明は比較的簡単な方法でこの点を解決し
て、診断が容易に連続的に実行でき、診断の実行漏れ等
の不都合が発生することのない自動診断装置の実現を課
題とする。
自動診断装置においては被検査対象の機能別の診断を行
う際に、その都度、診断プログラムを電気特性測定装置
にロードし、順次起動させて診断を行っていた。このた
め、作業者に手間がかかり、ややもすると診断プログラ
ムの読み込ませ漏れによる診断の実行漏れが発生する虞
があった。本発明は比較的簡単な方法でこの点を解決し
て、診断が容易に連続的に実行でき、診断の実行漏れ等
の不都合が発生することのない自動診断装置の実現を課
題とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記課題を達成するた
め、本発明は、制御手段と、この制御手段によって制御
される１または複数の特性測定手段とを有する自動診断
装置において、前記制御手段は前記特性測定手段を駆動
する機能別診断プログラムをロードして起動する起動命
令群を作成する起動命令作成手段を具備することを特徴
とする。これにより、診断プログラムのロードと起動を
行う起動命令群を作成して、診断を連続して自動的に行
うことができる。
め、本発明は、制御手段と、この制御手段によって制御
される１または複数の特性測定手段とを有する自動診断
装置において、前記制御手段は前記特性測定手段を駆動
する機能別診断プログラムをロードして起動する起動命
令群を作成する起動命令作成手段を具備することを特徴
とする。これにより、診断プログラムのロードと起動を
行う起動命令群を作成して、診断を連続して自動的に行
うことができる。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下、本発明にかかる自動診断装
置を添付図面を参照にして詳細に説明することにする。
置を添付図面を参照にして詳細に説明することにする。
【０００７】図１は、本発明の半導体装置の検査に用い
られる自動診断装置の一実施の形態の構成を示すブロッ
ク図である。図１において、符号１はホストコンピュー
タ、符号２は電気的特性測定装置（テスター）、符号３
はＬＡＮなどの回線、符号２１はテスター２に含まれる
ハードディスクである。
られる自動診断装置の一実施の形態の構成を示すブロッ
ク図である。図１において、符号１はホストコンピュー
タ、符号２は電気的特性測定装置（テスター）、符号３
はＬＡＮなどの回線、符号２１はテスター２に含まれる
ハードディスクである。
【０００８】図１に示すように、ハードディスク２１を
有する複数のテスター２は、回線３を介してホストコン
ピュータ１によって管理されている。テスター２は、用
途や機種によって、その構成は様々であり、かつ使用さ
れる診断プログラム（チェッカー）の言語もそれぞれ異
なっている。従来は、ホストコンピュータ１から対象テ
スター２のハードディスク２１に対して、その都度、チ
ェッカーを読み込ませて診断計測を実行するようにして
いた。本発明では、テスター２内のハードディスク２１
にファンクションキーで実行可能なコマンドファイルを
生成して、複数のチェッカーを連続して容易に実行でき
るようにする。
有する複数のテスター２は、回線３を介してホストコン
ピュータ１によって管理されている。テスター２は、用
途や機種によって、その構成は様々であり、かつ使用さ
れる診断プログラム（チェッカー）の言語もそれぞれ異
なっている。従来は、ホストコンピュータ１から対象テ
スター２のハードディスク２１に対して、その都度、チ
ェッカーを読み込ませて診断計測を実行するようにして
いた。本発明では、テスター２内のハードディスク２１
にファンクションキーで実行可能なコマンドファイルを
生成して、複数のチェッカーを連続して容易に実行でき
るようにする。
【０００９】図２に、本発明の自動診断装置に用いられ
るプログラムの例を示す。このプログラム例の各部を説
明することで、本発明の自動診断装置の動作を説明す
る。このプログラムはホストコンピュータ１のファンク
ションキーなどによって実行可能なコマンドファイルを
生成するプログラムであり、一旦コマンドファイルを生
成すると、このコマンドファイルを起動することによっ
て、チェッカー読み込み、実行を連続して実行すること
ができる。
るプログラムの例を示す。このプログラム例の各部を説
明することで、本発明の自動診断装置の動作を説明す
る。このプログラムはホストコンピュータ１のファンク
ションキーなどによって実行可能なコマンドファイルを
生成するプログラムであり、一旦コマンドファイルを生
成すると、このコマンドファイルを起動することによっ
て、チェッカー読み込み、実行を連続して実行すること
ができる。
【００１０】プログラム例−の部分は、定義文であ
る。プログラム例−の部分は、ディスプレイへの表示
文で、“ｈｅａｄ１〜ｈｅａｄ４”のいずれかを数字で
選択できるようにし、ここで選択された数値を以下でＬ
８という変数に置き換える。以下の説明では“ｈｅａｄ
１”を選択した場合を例にして説明する。この“ｈｅａ
ｄ１〜ｈｅａｄ４”は、診断の種別に対応するものであ
る。プログラム例−の部分は、ファイル名を決定する
部分で、の部分で数値“１”を選択した場合、“ＦＩ
ＬＥＭＥＩ．０１”という名前でファイルが決定され
る。
る。プログラム例−の部分は、ディスプレイへの表示
文で、“ｈｅａｄ１〜ｈｅａｄ４”のいずれかを数字で
選択できるようにし、ここで選択された数値を以下でＬ
８という変数に置き換える。以下の説明では“ｈｅａｄ
１”を選択した場合を例にして説明する。この“ｈｅａ
ｄ１〜ｈｅａｄ４”は、診断の種別に対応するものであ
る。プログラム例−の部分は、ファイル名を決定する
部分で、の部分で数値“１”を選択した場合、“ＦＩ
ＬＥＭＥＩ．０１”という名前でファイルが決定され
る。
【００１１】プログラム例−の部分は、判定文で、同
一ファイルが既にある場合は、プログラム例−の部分
にジャンプする。プログラム例−の部分は、実際のチ
ェッカー名を指定する部分である。ここでは“チェッカ
ー１”〜“チェッカーｎ”がチェッカー名であるが、こ
のチェッカー名を選択することによってテスター２別の
対応が可能になる。プログラム例−の部分は、ファイ
ルが形成されたことをディスプレイへ表示する。
一ファイルが既にある場合は、プログラム例−の部分
にジャンプする。プログラム例−の部分は、実際のチ
ェッカー名を指定する部分である。ここでは“チェッカ
ー１”〜“チェッカーｎ”がチェッカー名であるが、こ
のチェッカー名を選択することによってテスター２別の
対応が可能になる。プログラム例−の部分は、ファイ
ルが形成されたことをディスプレイへ表示する。
【００１２】プログラム例−の部分は、プログラム例
−の部分で指定したファイル名がすでに存在した場合
に、その旨をディスプレイへ表示する。プログラム例−
の部分は、ＮＧ時のデータをプリンタに出力する。ま
た、プログラム実行回数の決定も行っている。プログラ
ム例−の部分は、診断結果のサマリーをプリンタに出
力する。
−の部分で指定したファイル名がすでに存在した場合
に、その旨をディスプレイへ表示する。プログラム例−
の部分は、ＮＧ時のデータをプリンタに出力する。ま
た、プログラム実行回数の決定も行っている。プログラ
ム例−の部分は、診断結果のサマリーをプリンタに出
力する。
【００１３】このプログラム例を、ホストコンピュータ
１に登録してテスター２に読み込ませて実行すると、図
３のフローチャートに示したように、“ＦＩＬＥＭＥ
Ｉ．０１”というコマンドファイルを瞬時に生成するこ
とができる。コマンドファイルは複数のチェッカーを連
続起動するキースイッチの役割を果たし、ここまでの操
作を行ったあと、図３のフローチャートで生成されたコ
マンドファイル“ＦＩＬＥＭＥＩ．０１”を起動するこ
とで、図４のフローチャートに示したように複数のチェ
ッカーを自動的に実行することができる。
１に登録してテスター２に読み込ませて実行すると、図
３のフローチャートに示したように、“ＦＩＬＥＭＥ
Ｉ．０１”というコマンドファイルを瞬時に生成するこ
とができる。コマンドファイルは複数のチェッカーを連
続起動するキースイッチの役割を果たし、ここまでの操
作を行ったあと、図３のフローチャートで生成されたコ
マンドファイル“ＦＩＬＥＭＥＩ．０１”を起動するこ
とで、図４のフローチャートに示したように複数のチェ
ッカーを自動的に実行することができる。
【００１４】このように、本発明の自動診断装置は、チ
ェッカーのロードと駆動を連続して行うコマンドファイ
ルをプログラムで生成し、このコマンドファイルを起動
することで、複数のチェッカーを１つの操作で連続して
実行することができる。したがって、１つのチェッカー
が終了するごとにプログラムロードを行わなくても良く
なる。また、チェッカー名をいったん入力しておけばチ
ェッカー名を覚えてなくても操作を実行することができ
る。また、チェッカー実行時の動作確認漏れがなくな
る。コマンドファイル生成をプログラムで行っているた
め、コマンドファイルが消去されても、すぐに復元する
ことができる。また、複数のテスターに対するコマンド
ファイルを同一のプログラムで生成しているため、複数
のテスターに対するコマンドファイルに統一性を持たす
ことができる。これにより、複数台のテスターを有して
いても同じコマンドファイル名で、同じ内容のファイル
を瞬時に作成することができ、また複数台のテスターを
連続動作することも可能になる。以上の説明では、半導
体装置の各機能を試験する自動診断装置として説明を行
ってきたが、半導体装置に限らず、各種の電子部品や機
能素子の自動診断装置にも本発明が適用できることはい
うまでもない。
ェッカーのロードと駆動を連続して行うコマンドファイ
ルをプログラムで生成し、このコマンドファイルを起動
することで、複数のチェッカーを１つの操作で連続して
実行することができる。したがって、１つのチェッカー
が終了するごとにプログラムロードを行わなくても良く
なる。また、チェッカー名をいったん入力しておけばチ
ェッカー名を覚えてなくても操作を実行することができ
る。また、チェッカー実行時の動作確認漏れがなくな
る。コマンドファイル生成をプログラムで行っているた
め、コマンドファイルが消去されても、すぐに復元する
ことができる。また、複数のテスターに対するコマンド
ファイルを同一のプログラムで生成しているため、複数
のテスターに対するコマンドファイルに統一性を持たす
ことができる。これにより、複数台のテスターを有して
いても同じコマンドファイル名で、同じ内容のファイル
を瞬時に作成することができ、また複数台のテスターを
連続動作することも可能になる。以上の説明では、半導
体装置の各機能を試験する自動診断装置として説明を行
ってきたが、半導体装置に限らず、各種の電子部品や機
能素子の自動診断装置にも本発明が適用できることはい
うまでもない。
【００１５】
【発明の効果】以上説明したように本発明の請求項１の
発明は、制御手段と、この制御手段によって制御される
１または複数の特性測定手段とを有する自動診断装置に
おいて、制御手段は特性測定手段を駆動する機能別診断
プログラムをロードして起動する起動命令群を作成する
起動命令作成手段を具備することを特徴とする。これに
より、診断プログラムのロードと起動を行うコマンドフ
ァイルを自動的に作成することができ、したがって、診
断を自動的に誤りなく行うことが可能な自動診断装置を
実現することができる。
発明は、制御手段と、この制御手段によって制御される
１または複数の特性測定手段とを有する自動診断装置に
おいて、制御手段は特性測定手段を駆動する機能別診断
プログラムをロードして起動する起動命令群を作成する
起動命令作成手段を具備することを特徴とする。これに
より、診断プログラムのロードと起動を行うコマンドフ
ァイルを自動的に作成することができ、したがって、診
断を自動的に誤りなく行うことが可能な自動診断装置を
実現することができる。
【００１６】また、本発明の請求項２の発明は、起動命
令作成手段によって作成される起動命令群は、所定の順
序で機能別診断プログラムを順次ロードして起動するこ
とを特徴とする。これにより、コマンドファイルを自動
的に作成し、診断を自動的に所定の順序で誤りなく行う
ことが可能な自動診断装置を実現することができる。
令作成手段によって作成される起動命令群は、所定の順
序で機能別診断プログラムを順次ロードして起動するこ
とを特徴とする。これにより、コマンドファイルを自動
的に作成し、診断を自動的に所定の順序で誤りなく行う
ことが可能な自動診断装置を実現することができる。
【図１】本発明の自動診断装置の構成を示すブロック
図。
図。
【図２】本発明の自動診断装置に用いられるプログラム
の一例。
の一例。
【図３】図２に示すプログラムの機能フローチャート。
【図４】図２に示すプログラムによって作成されるコマ
ンドファイルの機能フローチャート。
ンドファイルの機能フローチャート。
【図５】従来の診断プログラムの機能フローチャート。
１…ホストコンピュータ、２…電気的特性測定装置（テ
スター）、３…回線、２１…ハードディスク。
スター）、３…回線、２１…ハードディスク。
Claims (2)
- 【請求項１】 制御手段と、この制御手段によって制御
される１または複数の特性測定手段とを有する自動診断
装置において、 前記制御手段は前記特性測定手段を駆動する機能別診断
プログラムをロードして起動する起動命令群を作成する
起動命令作成手段を具備することを特徴とする自動診断
装置。 - 【請求項２】 前記起動命令作成手段によって作成され
る起動命令群は、所定の順序で前記機能別診断プログラ
ムを順次ロードして起動することを特徴とする請求項１
に記載の自動診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28200799A JP2001101022A (ja) | 1999-10-01 | 1999-10-01 | 自動診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28200799A JP2001101022A (ja) | 1999-10-01 | 1999-10-01 | 自動診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001101022A true JP2001101022A (ja) | 2001-04-13 |
Family
ID=17646935
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28200799A Pending JP2001101022A (ja) | 1999-10-01 | 1999-10-01 | 自動診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001101022A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008046074A (ja) * | 2006-08-21 | 2008-02-28 | Advantest Corp | 試験装置 |
-
1999
- 1999-10-01 JP JP28200799A patent/JP2001101022A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008046074A (ja) * | 2006-08-21 | 2008-02-28 | Advantest Corp | 試験装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5991537A (en) | VXI test executive | |
| US7908518B2 (en) | Method, system and computer program product for failure analysis implementing automated comparison of multiple reference models | |
| JP2000122886A (ja) | 半導体試験装置のプログラム作成方式 | |
| KR20030076368A (ko) | 테스트 실행 시스템과 그의 작동 방법 및 테스트 실행시스템을 제공하는 제품 | |
| JP2016164727A (ja) | テストケース選択装置 | |
| JP2001101022A (ja) | 自動診断装置 | |
| JP2009104490A (ja) | プログラムのテスト装置 | |
| JP5481267B2 (ja) | 制御プログラム作成装置および制御プログラム作成装置の駆動方法 | |
| JPH05143395A (ja) | 診断プログラム実行方式およびそれに使用されるログ情報表示方式 | |
| JP5071072B2 (ja) | 開発支援装置及び半導体試験装置 | |
| JPH1115693A (ja) | ソフトウェアのテスト装置および記録媒体 | |
| JPS62159243A (ja) | 電子計算機の自動試験装置 | |
| JP4967861B2 (ja) | 出力データ制御装置および出力データ制御方法 | |
| JP2009128259A (ja) | Ｌｓｉテスタ | |
| JP2022174856A (ja) | プログラム開発装置及びプログラム開発システム | |
| JP2001273168A (ja) | ソフトウエア自動テストシステム | |
| JPH0362104A (ja) | 検査装置 | |
| CN116185822A (zh) | 软件测试bug的获取方法、装置、计算机设备及存储介质 | |
| JP2000029738A (ja) | デバッグ監視装置及びデバッグ監視方法 | |
| JPS6370178A (ja) | 試験装置 | |
| JPH11306042A (ja) | ソフトウェア開発支援装置及びデバッグ方法 | |
| JPH0844583A (ja) | 情報処理装置における診断システム | |
| JP2002312198A (ja) | プログラムテスト支援装置 | |
| JPH04283835A (ja) | 推論システム | |
| JPS62274438A (ja) | プログラム試験システム |