JPH0362104A - 検査装置 - Google Patents
検査装置Info
- Publication number
- JPH0362104A JPH0362104A JP1197517A JP19751789A JPH0362104A JP H0362104 A JPH0362104 A JP H0362104A JP 1197517 A JP1197517 A JP 1197517A JP 19751789 A JP19751789 A JP 19751789A JP H0362104 A JPH0362104 A JP H0362104A
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- JP
- Japan
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- controller
- input
- program
- computer
- way memory
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- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 6
- 230000004044 response Effects 0.000 abstract description 4
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 9
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、装置制御用コントローラに内蔵されるプログ
ラムのデパック及び評価を行なう検査装置に関するもの
である。
ラムのデパック及び評価を行なう検査装置に関するもの
である。
装置制御用コントローラに内蔵されるプログラムのデバ
ッグ及び評価を行うためには、制御対象の装置をコント
ローラに実際に接続して行なうことができる。この方法
はデバッグや評価の目的に対しては最も直接的ではある
が、反面次のような問題点がある。
ッグ及び評価を行うためには、制御対象の装置をコント
ローラに実際に接続して行なうことができる。この方法
はデバッグや評価の目的に対しては最も直接的ではある
が、反面次のような問題点がある。
すなわち、(&)制御対象の装置が完成していなければ
ならない。(b) プログラムの設計誤シのため、制
御対象装置が暴走して装置を破損するかそれがある。
ならない。(b) プログラムの設計誤シのため、制
御対象装置が暴走して装置を破損するかそれがある。
このような問題点を避けるため、従来は、制御対象の装
置を模擬するスイッチボックスをコントローラに接続し
て、デバッグや評価を行なっていた。第3図はこのよう
なスイッチボックスを示す外観図であって、図にかいて
31は発光ダイオード(以下LEDと略記する)、32
はトグルスイッチ、33.34はそれぞれ7ラツトケー
ブル、35は電源ケーブルである。フラットケーブル3
3は信号入力用、フラットケーブル34は信号出力用に
使用される。
置を模擬するスイッチボックスをコントローラに接続し
て、デバッグや評価を行なっていた。第3図はこのよう
なスイッチボックスを示す外観図であって、図にかいて
31は発光ダイオード(以下LEDと略記する)、32
はトグルスイッチ、33.34はそれぞれ7ラツトケー
ブル、35は電源ケーブルである。フラットケーブル3
3は信号入力用、フラットケーブル34は信号出力用に
使用される。
そしてプログラムのデバッグ及び評価は、対象となるコ
ントローラの入出力とスイッチボックスとをフラットケ
ーブル33.34で接続し、オペレータがトグルスイッ
チ32t−操作し、LED31を観察して行なう。
ントローラの入出力とスイッチボックスとをフラットケ
ーブル33.34で接続し、オペレータがトグルスイッ
チ32t−操作し、LED31を観察して行なう。
すなわち、コントローラの出力信号がどのような状態に
なっているかはLED31のON(点)。
なっているかはLED31のON(点)。
OFF (滅)によって表示される。オペレータが操作
したトグルスイッチ32のON10 FF の変化はコ
ントローラに取う込まれ、コントローラはこれに対応す
る動作をして対応する信号を出力し、この出力によ、9
LED31のON10 F Fが変化するので、オペレ
ータはLED31のON10 F Fの変化を見て、プ
ログラムが正常か正常でないかをチエツクし、正常でな
い場合は、プログラム−を修正した上で再び同様の検査
を行なう。また、異常ケースを想定して、トグルスイッ
チ32t−正常でないパターンで0N10FF して異
常ケースの入力に対しプログラムが対応できるかをチエ
ツクするものとなっている。
したトグルスイッチ32のON10 FF の変化はコ
ントローラに取う込まれ、コントローラはこれに対応す
る動作をして対応する信号を出力し、この出力によ、9
LED31のON10 F Fが変化するので、オペレ
ータはLED31のON10 F Fの変化を見て、プ
ログラムが正常か正常でないかをチエツクし、正常でな
い場合は、プログラム−を修正した上で再び同様の検査
を行なう。また、異常ケースを想定して、トグルスイッ
チ32t−正常でないパターンで0N10FF して異
常ケースの入力に対しプログラムが対応できるかをチエ
ツクするものとなっている。
ところが、スイッチボックスを使用してのプログラムの
デバッグや評価は以上のように行なわれるので、次のよ
うな問題点がある。すなわち、(1)入出力点数が多く
なると、スイッチボックスが複雑になり1その正確な操
作が困難となる。(1) スイッチのON10 F
Fを何回も繰シ返すことによシブログラムが進行する場
合、スイッチの0N10F F操作を間違えるかそれが
ある。間違えた場合は最初からや)直さなければならな
い。(lit) プログラムがある程度進行した所に
バグが多く存在する場合、そのバグをデバッグした後で
、プログラムを次のバグがある所筐で進めるのに最初か
らやシ直して多くのスイッチ操作を必要とし、デバッグ
作業に多くの時間を必要とする。
デバッグや評価は以上のように行なわれるので、次のよ
うな問題点がある。すなわち、(1)入出力点数が多く
なると、スイッチボックスが複雑になり1その正確な操
作が困難となる。(1) スイッチのON10 F
Fを何回も繰シ返すことによシブログラムが進行する場
合、スイッチの0N10F F操作を間違えるかそれが
ある。間違えた場合は最初からや)直さなければならな
い。(lit) プログラムがある程度進行した所に
バグが多く存在する場合、そのバグをデバッグした後で
、プログラムを次のバグがある所筐で進めるのに最初か
らやシ直して多くのスイッチ操作を必要とし、デバッグ
作業に多くの時間を必要とする。
本発明は上記のような問題点を解消するためになされた
もので、デバッグ効率を向上しプログラム評価を容易に
することを目的とする。
もので、デバッグ効率を向上しプログラム評価を容易に
することを目的とする。
上記の目的を達成するために、本発明は、コントローラ
によシ装置を制御するため当該コントローラに内蔵する
装置制御用プログラムをデバッグし評価する検査装置に
おいて、上記コントローラに接続される検査用計算機を
具備し、該検査用計算機は、上記コントローラからの出
力に対する入力の応答を自動的に行う手段と、入出力信
号の状態表示手段と、上記検査用計算機と上記コントロ
ーラ間において入出力した信号をファイルする手段と、
当該ファイルを参照する手段とを備えることにより、こ
の検査用計算機のプログラム制御によってスイッチボッ
クスの入出力に代る動作を自動的に実行するようにした
ものである。
によシ装置を制御するため当該コントローラに内蔵する
装置制御用プログラムをデバッグし評価する検査装置に
おいて、上記コントローラに接続される検査用計算機を
具備し、該検査用計算機は、上記コントローラからの出
力に対する入力の応答を自動的に行う手段と、入出力信
号の状態表示手段と、上記検査用計算機と上記コントロ
ーラ間において入出力した信号をファイルする手段と、
当該ファイルを参照する手段とを備えることにより、こ
の検査用計算機のプログラム制御によってスイッチボッ
クスの入出力に代る動作を自動的に実行するようにした
ものである。
本発明にかいては、従来のスイッチボックスでオペレー
タが実行していた操作の大部分を計算機が自動的にかつ
高速に実行することになるので、プログラムのデバッグ
や評価を容易にし、その作業に要する時間を短縮させる
ことができる。
タが実行していた操作の大部分を計算機が自動的にかつ
高速に実行することになるので、プログラムのデバッグ
や評価を容易にし、その作業に要する時間を短縮させる
ことができる。
また、本発明にかいて使用する計算機は、ハーソナルコ
ンピュータと称せられる程度の小型の計算機でよい。
ンピュータと称せられる程度の小型の計算機でよい。
以下、本発明の実施例を図面について説明する。
第1図は本発明による検査装置の一実施例を示すブロッ
ク図であう1図にかいて1は検査用計算機である。2は
中央処理装置、3は主記憶装置、4は磁気ディスク装置
、5は表示装置、6は入力装置、Tは共通パス、8は双
方向メモリで、検査用計算機1つまシ検査装置本体と後
述するコントローラの両方から読み書き可能な双方向メ
モリである。筐た、9はコントローラ、10はそのコン
トローラ9の中央処理装置、11は主記憶装置、12は
デバッグや評価の対象となるプログラムを内蔵するプロ
グラムメモリ、13は共通バスである。
ク図であう1図にかいて1は検査用計算機である。2は
中央処理装置、3は主記憶装置、4は磁気ディスク装置
、5は表示装置、6は入力装置、Tは共通パス、8は双
方向メモリで、検査用計算機1つまシ検査装置本体と後
述するコントローラの両方から読み書き可能な双方向メ
モリである。筐た、9はコントローラ、10はそのコン
トローラ9の中央処理装置、11は主記憶装置、12は
デバッグや評価の対象となるプログラムを内蔵するプロ
グラムメモリ、13は共通バスである。
第1図に示す装置において、第3図のスイッチボックス
に代る動作t−実行するよう制御するプログラムは、磁
気ディスク装置4に格納されていて、計算機1の動作開
始に際しては主記憶装置3にロードされ、その主記憶装
置3から読出されて実行される。表示装f15は、第3
図のスイッチボックスにかけるLED31の役割をして
、コントローラ9からの出力を表示する。筐たそのCR
Tには其他に、検査用計算機1が自動的に返すコントロ
ーラ9からの出力に対する入力の応答を表示し、または
入力装置6からのデータや主記憶装置3に記憶されてい
るデータを表示させることもできる。
に代る動作t−実行するよう制御するプログラムは、磁
気ディスク装置4に格納されていて、計算機1の動作開
始に際しては主記憶装置3にロードされ、その主記憶装
置3から読出されて実行される。表示装f15は、第3
図のスイッチボックスにかけるLED31の役割をして
、コントローラ9からの出力を表示する。筐たそのCR
Tには其他に、検査用計算機1が自動的に返すコントロ
ーラ9からの出力に対する入力の応答を表示し、または
入力装置6からのデータや主記憶装置3に記憶されてい
るデータを表示させることもできる。
磁気ディスク装置4にはプログラムの外に実行結果等の
データが格納される。そして入力装置6は、表示装置5
と協働してオペレータとの対話形式によシコントローラ
9への入力信号を発生し、第3図のスイッチボックスに
かけるトグルスイッチ32の役割をするものである。ま
た、コントローラSへ入力すべき信号は検査用計算機1
内でのプログラム制御によって発生することもできる。
データが格納される。そして入力装置6は、表示装置5
と協働してオペレータとの対話形式によシコントローラ
9への入力信号を発生し、第3図のスイッチボックスに
かけるトグルスイッチ32の役割をするものである。ま
た、コントローラSへ入力すべき信号は検査用計算機1
内でのプログラム制御によって発生することもできる。
第1図に示す本実施例装置の特徴は、コントローラ9か
ら出力される信号を検査用計算機1が読取シ、それを処
理することによって自動的にコントローラ9への入力信
号を発生することである。
ら出力される信号を検査用計算機1が読取シ、それを処
理することによって自動的にコントローラ9への入力信
号を発生することである。
このことを利用するとコントローラSは内蔵プログラム
のシーケンスを進めることができ、オペレータがその過
程を表示装置5で参照することによシ、コントローラ9
に内蔵されているプログラムをデバッグ及び評価するこ
とができる。
のシーケンスを進めることができ、オペレータがその過
程を表示装置5で参照することによシ、コントローラ9
に内蔵されているプログラムをデバッグ及び評価するこ
とができる。
第2図は、第1図の装置の動作を示すフローチャートで
あう1図にかいて21〜28は各ステップを示す。すな
わち、筐ずステップ21にシいてあらかじめ検査用計算
機1内でのプログラムによって設定された初期入力信号
を双方向メモリ8に記憶する。次にステップ22でコン
トローラ9は、双方向メモリ80入力信号によシ出力信
号を発生し、該双方向メモリ8に記憶する。次いでステ
ップ23〜25にシいて、検査用計算機1はコントロー
ラ9からの出力信号を双方向メモリ8から読取シ、その
出力信号を表示装置5に表示すると共に磁気ディスク装
置4に記録する。また、出力信号に対する応答として入
力信号を自動的に発生し、双方向メモリ8に記憶すると
共に表示装置5に表示し、さらに磁気ディスク装置4へ
記録する。次にステップ26では、入力装置6からの入
力データが有るかを判定し、判定結果がNoの場合はス
テップ22に戻る。判定がYesの場合はステップ27
の判定を行い、その判定結果がNoであればステップ2
2に戻る。筐た、判定がY@sの場合はステップ2Bに
進み、入力装置6から入力されたデータによって入力信
号を発生して双方向メモリ8に記憶したのち、ステップ
22に戻る動作を繰り返し行うことになる。
あう1図にかいて21〜28は各ステップを示す。すな
わち、筐ずステップ21にシいてあらかじめ検査用計算
機1内でのプログラムによって設定された初期入力信号
を双方向メモリ8に記憶する。次にステップ22でコン
トローラ9は、双方向メモリ80入力信号によシ出力信
号を発生し、該双方向メモリ8に記憶する。次いでステ
ップ23〜25にシいて、検査用計算機1はコントロー
ラ9からの出力信号を双方向メモリ8から読取シ、その
出力信号を表示装置5に表示すると共に磁気ディスク装
置4に記録する。また、出力信号に対する応答として入
力信号を自動的に発生し、双方向メモリ8に記憶すると
共に表示装置5に表示し、さらに磁気ディスク装置4へ
記録する。次にステップ26では、入力装置6からの入
力データが有るかを判定し、判定結果がNoの場合はス
テップ22に戻る。判定がYesの場合はステップ27
の判定を行い、その判定結果がNoであればステップ2
2に戻る。筐た、判定がY@sの場合はステップ2Bに
進み、入力装置6から入力されたデータによって入力信
号を発生して双方向メモリ8に記憶したのち、ステップ
22に戻る動作を繰り返し行うことになる。
〔発明の効果〕
以上のように、本発明の検査装置によれば、計算機のプ
ログラム制御によってスイッチボックスの入出力に代る
動作を自動的に実行するようにしたので、装置制御用プ
ログラムのデバッグや評価に計算機を用いることによっ
て、プログラムのデバッグや評価を効率的に行なうこと
ができる。
ログラム制御によってスイッチボックスの入出力に代る
動作を自動的に実行するようにしたので、装置制御用プ
ログラムのデバッグや評価に計算機を用いることによっ
て、プログラムのデバッグや評価を効率的に行なうこと
ができる。
第1図は本発明の一実施例を示すプロンク図、Q42図
は第1図の装置の動作を示すフローチャート、第3図は
従来の装置を示す外観図である。 1・・・・検査用計算機、2・・・・中央処理装置、3
・・・・主記憶装置、4・・・・磁気ディスク装置、5
・・・・表示装置、6・・・・入力装置、7・・・・共
通パス、8・・・・双方向メモリ、9・・・・コントロ
ーラ。
は第1図の装置の動作を示すフローチャート、第3図は
従来の装置を示す外観図である。 1・・・・検査用計算機、2・・・・中央処理装置、3
・・・・主記憶装置、4・・・・磁気ディスク装置、5
・・・・表示装置、6・・・・入力装置、7・・・・共
通パス、8・・・・双方向メモリ、9・・・・コントロ
ーラ。
Claims (1)
- コントローラにより装置を制御するため当該コントロー
ラに内蔵する装置制御用プログラムをデバッグし評価す
る検査装置において、上記コントローラに接続される検
査用計算機を具備し、該検査用計算機は、上記コントロ
ーラからの出力に対する入力の応答を自動的に行う手段
と、入出力信号の状態表示手段と、上記検査用計算機と
上記コントローラ間において入出力した信号をファイル
する手段と、当該ファイルを参照する手段とを備えたこ
とを特徴とする検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1197517A JPH0362104A (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1197517A JPH0362104A (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 | 検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0362104A true JPH0362104A (ja) | 1991-03-18 |
Family
ID=16375782
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1197517A Pending JPH0362104A (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 | 検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0362104A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014026627A (ja) * | 2012-07-27 | 2014-02-06 | Kenichiro Oshikawa | 入出力装置用プログラム検証装置 |
US9548141B2 (en) | 2009-09-14 | 2017-01-17 | Dexerials Corporation | Light-reflective anisotropic conductive adhesive and light-emitting device |
-
1989
- 1989-07-28 JP JP1197517A patent/JPH0362104A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9548141B2 (en) | 2009-09-14 | 2017-01-17 | Dexerials Corporation | Light-reflective anisotropic conductive adhesive and light-emitting device |
JP2014026627A (ja) * | 2012-07-27 | 2014-02-06 | Kenichiro Oshikawa | 入出力装置用プログラム検証装置 |
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