JP2008046074A - 試験装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスを試験する複数の試験ユニットと、複数の試験ユニットのそれぞれに対してコマンドを送信して、複数の試験ユニットのそれぞれの動作を制御する制御装置と、制御装置から複数の試験ユニットのそれぞれに対して送信されたコマンドを順次受信して記憶するトレースメモリとを備える試験装置を提供する。
【選択図】図2
Description
また、制御装置と複数の試験ユニットとを接続するインターフェイス部を更に備え、インターフェイス部は、制御装置に接続され、制御装置から複数の試験ユニットのそれぞれに対して送信されたコマンドを制御装置から受信する第1インターフェイスと、複数の試験ユニットに接続され、第1インターフェイスが受信したコマンドを宛先の試験ユニットへ送信する第2インターフェイスとを有し、トレースメモリは、インターフェイス部の内部に設けられ、第1インターフェイスが順次受信したコマンドを順次記憶してもよい。
また、トレースメモリは、制御装置から複数の試験ユニットのそれぞれに対して発行されたコマンドおよびコマンドに付随するパラメータを対応付けて記憶し、制御装置は、複数の試験ユニットの少なくとも1つに対して異なる設定をすべくトレースメモリに記憶されたパラメータを変更した後に出力指示をインターフェイス部へ送信し、インターフェイス制御部は、制御装置からの出力指示を受けて、トレースメモリに順次記憶された複数のコマンドのそれぞれと、それぞれのコマンドに付随する、制御装置による変更を受けたパラメータとを宛先の試験ユニットに対して送信してもよい。
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
図5は、インターフェイス部24を利用した第3の処理のフローチャートを示す。制御装置22は、宛先の試験ユニット内のレジスタの内容を読み出す読出コマンドを発行する(S500)。トレースメモリ220は、発行されたその読出コマンドと、その読出コマンドに応答して宛先の試験ユニットから返信された新たな返信データとを対応付けて記憶する(S510)。
図6は、インターフェイス部24を利用した第4の処理のフローチャートを示す。制御装置22およびインターフェイス部24は、以下の処理を繰り返す(S600)。インターフェイス制御部230は、トレースメモリ220に記憶されたコマンドにおける、第2インターフェイス210と複数の試験ユニットとを接続する通信路の動作クロックの各サイクルに対応するサイクルデータを送信する(S610)。マージン検出部250は、このサイクルデータが宛先の試験ユニットにおいて正常に受信されたかを判断する(S620)。これは、宛先の試験ユニットからエラーが通知されるかどうかを判断することで実現できる。
20 制御ユニット
22 制御装置
24 インターフェイス部
30 タイミング発生器
40 パターン発生器
50 テストヘッド
60 電源ユニット
100 被試験デバイス
200 第1インターフェイス
210 第2インターフェイス
220 トレースメモリ
230 インターフェイス制御部
240 障害検出部
250 マージン検出部
500 リソース
Claims (7)
- 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスを試験する複数の試験ユニットと、
前記複数の試験ユニットのそれぞれに対してコマンドを送信して、前記複数の試験ユニットのそれぞれの動作を制御する制御装置と、
前記制御装置から前記複数の試験ユニットのそれぞれに対して送信された前記コマンドを順次受信して記憶するトレースメモリと
を備える試験装置。 - 前記制御装置と前記複数の試験ユニットとを接続するインターフェイス部を更に備え、
前記インターフェイス部は、
前記制御装置に接続され、前記制御装置から前記複数の試験ユニットのそれぞれに対して送信された前記コマンドを前記制御装置から受信する第1インターフェイスと、
前記複数の試験ユニットに接続され、前記第1インターフェイスが受信した前記コマンドを宛先の前記試験ユニットへ送信する第2インターフェイスと
を有し、
前記トレースメモリは、前記インターフェイス部の内部に設けられ、前記第1インターフェイスが順次受信した前記コマンドを順次記憶する
請求項1に記載の試験装置。 - 前記インターフェイス部は、前記制御装置からの出力指示を受けて、前記トレースメモリに順次記憶された複数の前記コマンドのそれぞれを宛先の前記試験ユニットに対して送信するインターフェイス制御部を更に有する請求項2に記載の試験装置。
- 前記トレースメモリは、前記制御装置から前記複数の試験ユニットのそれぞれに対して発行された前記コマンドおよび前記コマンドに付随するパラメータを対応付けて記憶し、
前記制御装置は、前記複数の試験ユニットの少なくとも1つに対して異なる設定をすべく前記トレースメモリに記憶された前記パラメータを変更した後に前記出力指示を前記インターフェイス部へ送信し、
前記インターフェイス制御部は、前記制御装置からの前記出力指示を受けて、前記トレースメモリに順次記憶された前記複数のコマンドのそれぞれと、それぞれの前記コマンドに付随する、前記制御装置による変更を受けた前記パラメータとを宛先の前記試験ユニットに対して送信する
請求項3に記載の試験装置。 - 少なくとも1つの前記試験ユニットは、前記被試験デバイスが備える複数の端子に対応して複数の端子対応リソースを有し、
前記トレースメモリは、前記少なくとも1つの試験ユニットにおける、一の前記端子に対応する第1の前記端子対応リソースを設定すべく前記制御装置から送信された前記複数のコマンドを順次記憶し、
前記インターフェイス制御部は、前記制御装置の前記出力指示を受けて、前記トレースメモリに記憶された前記複数のコマンドを、第2の前記端子対応リソースを設定すべく前記少なくとも1つの試験ユニットに対して送信する
請求項3に記載の試験装置。 - 宛先の前記試験ユニット内のレジスタの内容を読み出す読出コマンドが前記制御装置から発行されたことに応じて、前記トレースメモリは、当該読出コマンドと、当該読出コマンドに応答して宛先の前記試験ユニットから返信された、前記レジスタの内容を示す返信データとを対応付けて記憶し、
前記トレースメモリに記憶された前記読出コマンドを宛先の前記試験ユニットへ送信した場合に、当該読出コマンドに応じて宛先の前記試験ユニットから返信された新たな返信データと、前記読出コマンドに対応付けて前記トレースメモリに記憶されている過去の返信データとが不一致であった場合に異常を検出する障害検出部を更に備える
請求項3に記載の試験装置。 - 前記インターフェイス制御部は、前記トレースメモリに記憶された前記コマンドにおける、前記第2インターフェイスと前記複数の試験ユニットとを接続する通信路の動作クロックの各サイクルに対応するサイクルデータを、前記第2インターフェイスから前記通信路へと送信する位相を変化させながら複数回送信し、
前記コマンドが宛先の前記試験ユニットにより正常に受信される前記位相の範囲を検出するマージン検出部を更に備える
請求項3に記載の試験装置。
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2006
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