JPS6232512B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6232512B2 JPS6232512B2 JP56102925A JP10292581A JPS6232512B2 JP S6232512 B2 JPS6232512 B2 JP S6232512B2 JP 56102925 A JP56102925 A JP 56102925A JP 10292581 A JP10292581 A JP 10292581A JP S6232512 B2 JPS6232512 B2 JP S6232512B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- bus
- under test
- control unit
- system under
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 65
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はマイクロコンピユータを使用し、マイ
クロプログラム制御システムを構成する際のシス
テム試験方式に関するものである。
クロプログラム制御システムを構成する際のシス
テム試験方式に関するものである。
一般にマイクロピユータを使用したマイクロプ
ログラム制御システムは、ハードウエア部とソフ
トウエア部の２つに分ける事ができる。このよう
な制御システムを試験する場合、ソフトウエア部
分は、プログラムの走行試験等によりプログラム
デバツク完了時点でバグ（プログラムミス等）を
なくすることができ、またデータ照合により正常
性をチエツクすることにより行なわれる。一方ハ
ードウエア部分は、製造上の障害、部分障害やシ
ステムを構成することによるインターフエイスの
ミス等による障害等の発生が考えられ、詳細な試
験を必要とされる。特にシステムを構成して、全
体の動作インターフエイス等も含めたハードウエ
ア上の試験方法としては、実際の制御動作を行な
わせる本物のマイクロプログラムによりシステム
の稼動時の動作と同じシーケンスで動作を行い確
認する方法と、試験専用のプログラム（テストプ
ログラム）を入れて試験をする方法とがある。そ
の本物のプログラムによりシステムを動作させる
方法の場合には、システム動作は正規のものと同
じ手順で動かす必要があり、またその動作が複雑
で障害発生時の障害箇所の割出しも難しいといつ
た問題がある。一方試験専用のプログラムによる
試験方法は、システムを機能単位での動作させる
ことが可能となり、障害発生時のその割出しも早
くでき、試験をより確実なものとすることができ
る。
ログラム制御システムは、ハードウエア部とソフ
トウエア部の２つに分ける事ができる。このよう
な制御システムを試験する場合、ソフトウエア部
分は、プログラムの走行試験等によりプログラム
デバツク完了時点でバグ（プログラムミス等）を
なくすることができ、またデータ照合により正常
性をチエツクすることにより行なわれる。一方ハ
ードウエア部分は、製造上の障害、部分障害やシ
ステムを構成することによるインターフエイスの
ミス等による障害等の発生が考えられ、詳細な試
験を必要とされる。特にシステムを構成して、全
体の動作インターフエイス等も含めたハードウエ
ア上の試験方法としては、実際の制御動作を行な
わせる本物のマイクロプログラムによりシステム
の稼動時の動作と同じシーケンスで動作を行い確
認する方法と、試験専用のプログラム（テストプ
ログラム）を入れて試験をする方法とがある。そ
の本物のプログラムによりシステムを動作させる
方法の場合には、システム動作は正規のものと同
じ手順で動かす必要があり、またその動作が複雑
で障害発生時の障害箇所の割出しも難しいといつ
た問題がある。一方試験専用のプログラムによる
試験方法は、システムを機能単位での動作させる
ことが可能となり、障害発生時のその割出しも早
くでき、試験をより確実なものとすることができ
る。
しかし、一般にマイクロプログラム制御システ
ムで小規模のものは、読出し専用メモリROMに
プログラムが格納されるため、試験専用のプログ
ラムによりシステム試験を行なうにはROMを読
出し書込み可能なメモリRAMに置替え、プログ
ラムのローデイング回路（IPL機能など）等を必
要とし、ハードウエア上の改造をともなうことに
なる。
ムで小規模のものは、読出し専用メモリROMに
プログラムが格納されるため、試験専用のプログ
ラムによりシステム試験を行なうにはROMを読
出し書込み可能なメモリRAMに置替え、プログ
ラムのローデイング回路（IPL機能など）等を必
要とし、ハードウエア上の改造をともなうことに
なる。
本発明は、かかる欠点を解決するものであり、
システム構成に改造を加えることなく、外部より
試験用システムを接続することにより各試験用プ
ログラムにより、被試験システムを機能単位で試
験可能とする試験方式を提供することを目的とし
ている。
システム構成に改造を加えることなく、外部より
試験用システムを接続することにより各試験用プ
ログラムにより、被試験システムを機能単位で試
験可能とする試験方式を提供することを目的とし
ている。
上記目的を達成するために、本発明はマイクロ
コンピユータを使用したマイクロプログラム制御
システムの試験において、前記マイクロコンピユ
ータと同機能を有する制御部及びメモリ等がら成
る試験システムを前記試験対象となる被試験シス
テムに外部バスにより接続し、前記試験システム
内の制御部の命令が実行される際に前記外部バス
を有効として、前記被試験システムを動作させ、
前記被試験システムの制御部を使用することなく
システムの試験を可能とすることを特徴とする。
コンピユータを使用したマイクロプログラム制御
システムの試験において、前記マイクロコンピユ
ータと同機能を有する制御部及びメモリ等がら成
る試験システムを前記試験対象となる被試験シス
テムに外部バスにより接続し、前記試験システム
内の制御部の命令が実行される際に前記外部バス
を有効として、前記被試験システムを動作させ、
前記被試験システムの制御部を使用することなく
システムの試験を可能とすることを特徴とする。
以下本発明を実施例により詳細に説明する。第
１図は本発明のシステム試験方式の構成図であ
る。図において、Ｕは被試験システム、Ｔは試験
システム、CABは被試験システムＵと試験シス
テムＴを接続するバスケーブル、試験システムＴ
内のCPU１は制御部（マイクロコンピユータ）、
BCTLはバス制御部、RAMはメモリ（本例では
読出し、書込み可能なメモリ）、IOCは入出力装
置制御部（例えばコンソール等が接続される）、
Ｓはバス切替え信号、DV1，DV2はバスドライバ
回路ABUSは内部共通バス、被試験システムＵ内
のCPU２は被試験システムの制御部（マイクロ
コンピユータ）、ROMはメモリ（本例は読出し専
用メモリ）、CNTo〜CNTnは例えばデータ回線等
の制御装置である。尚Ｃは外部制御端子である。
被試験システムＵとは独立の試験システムＴを備
え、各制御部CPU1とCPU2は同種のマイクロコン
ピユータで構成し、即ち置換可能としている。そ
して、システム試験において、被試験システムＵ
の制御部CPU２の電源（通常＋5Vが使用されて
いる）を切り、その動作を不動作とし、例えば、
CPU２の端子よりICクリツプ等により各信号線
を外部に取り出し、試験システムＴの外部制御端
子ＣのケーブルCAB等で接続する。試験システ
ムＴ内部は制御部CPU1の制御信号、データ信号
等を外部制御端子Ｃに対し、アクセス可能とする
ためのバスドライバ回路DV1と内部共通バス
ABUSに対してアクセスする為のバスドライブ回
路DV2を備え、バス制御部BCTLからのバス切替
え信号によりDV1，DV2を駆動する。その他プロ
グラムのローデイング及び実行に必要なIOC，
RAM等が接続されている。かかる構成のもと本
発明の試験方式を第２図の命令実行サイクルのタ
イムチヤートとともに説明する。
１図は本発明のシステム試験方式の構成図であ
る。図において、Ｕは被試験システム、Ｔは試験
システム、CABは被試験システムＵと試験シス
テムＴを接続するバスケーブル、試験システムＴ
内のCPU１は制御部（マイクロコンピユータ）、
BCTLはバス制御部、RAMはメモリ（本例では
読出し、書込み可能なメモリ）、IOCは入出力装
置制御部（例えばコンソール等が接続される）、
Ｓはバス切替え信号、DV1，DV2はバスドライバ
回路ABUSは内部共通バス、被試験システムＵ内
のCPU２は被試験システムの制御部（マイクロ
コンピユータ）、ROMはメモリ（本例は読出し専
用メモリ）、CNTo〜CNTnは例えばデータ回線等
の制御装置である。尚Ｃは外部制御端子である。
被試験システムＵとは独立の試験システムＴを備
え、各制御部CPU1とCPU2は同種のマイクロコン
ピユータで構成し、即ち置換可能としている。そ
して、システム試験において、被試験システムＵ
の制御部CPU２の電源（通常＋5Vが使用されて
いる）を切り、その動作を不動作とし、例えば、
CPU２の端子よりICクリツプ等により各信号線
を外部に取り出し、試験システムＴの外部制御端
子ＣのケーブルCAB等で接続する。試験システ
ムＴ内部は制御部CPU1の制御信号、データ信号
等を外部制御端子Ｃに対し、アクセス可能とする
ためのバスドライバ回路DV1と内部共通バス
ABUSに対してアクセスする為のバスドライブ回
路DV2を備え、バス制御部BCTLからのバス切替
え信号によりDV1，DV2を駆動する。その他プロ
グラムのローデイング及び実行に必要なIOC，
RAM等が接続されている。かかる構成のもと本
発明の試験方式を第２図の命令実行サイクルのタ
イムチヤートとともに説明する。
試験用プログラムは試験システムのIOCより試
験システムＴ内のメモリRAMにローデイングさ
れる。即ち試験システムＴはメモリRAMの試験
用プログラムにより動作し、被試験システムＵ側
のメモリROMは使用されない。そして試験用プ
ログラムが実行中に被試験システムＵの制御装置
CTLo〜CTLnを駆動・監視等行なう必要がある
ときに、バス制御部BCTLへバス切換要求を出
す。第２図のBREQはこのバス切替要求信号でａ
が要求信号の出ている区間である。そこで制御部
CPU１の命令が命令フエツチ部Ｉとオペランド
実行部Ｏのくり返しサイクルで実行されイの命令
フエツチ部が、被試験システムへのアクセス命令
であると、ロのオペランド実行部Ｏはバスが切替
わり、被試験システムの制御等を行うことにな
る。
験システムＴ内のメモリRAMにローデイングさ
れる。即ち試験システムＴはメモリRAMの試験
用プログラムにより動作し、被試験システムＵ側
のメモリROMは使用されない。そして試験用プ
ログラムが実行中に被試験システムＵの制御装置
CTLo〜CTLnを駆動・監視等行なう必要がある
ときに、バス制御部BCTLへバス切換要求を出
す。第２図のBREQはこのバス切替要求信号でａ
が要求信号の出ている区間である。そこで制御部
CPU１の命令が命令フエツチ部Ｉとオペランド
実行部Ｏのくり返しサイクルで実行されイの命令
フエツチ部が、被試験システムへのアクセス命令
であると、ロのオペランド実行部Ｏはバスが切替
わり、被試験システムの制御等を行うことにな
る。
即ち、バス制御回路BCTLは、切替え要求があ
ると決められた命令（ロード、ストア命令）が実
行されると、その命令のオペランドアドレスのア
クセス時間のみバスを外部制御端子側に切り替
え、被試験システムへアクセスを行い、アクセス
が終ると再びバスを内部共通バスABUS側に戻し
次の命令ロの実行を行う。斯して、プログラム自
身は試験システム側Ｔで実行し、被試験システム
アクセス時のみバスを切替え被試験システムの動
作を行わしめ、被試験システムの試験を行う。
ると決められた命令（ロード、ストア命令）が実
行されると、その命令のオペランドアドレスのア
クセス時間のみバスを外部制御端子側に切り替
え、被試験システムへアクセスを行い、アクセス
が終ると再びバスを内部共通バスABUS側に戻し
次の命令ロの実行を行う。斯して、プログラム自
身は試験システム側Ｔで実行し、被試験システム
アクセス時のみバスを切替え被試験システムの動
作を行わしめ、被試験システムの試験を行う。
以上説明したように、本発明によれば、被試験
システムに外部の試験システムを接続し、被試験
システム制御部CPUのかわりに、試験システム
の制御部CPUを使用して、システム試験を可能
とするので、 (1) 被試験システムがROMメモリのみで構成
し、新たなプログラム入力ができない場合にも
試験用プログラム（テストプログラム）による
試験が可能である。
システムに外部の試験システムを接続し、被試験
システム制御部CPUのかわりに、試験システム
の制御部CPUを使用して、システム試験を可能
とするので、 (1) 被試験システムがROMメモリのみで構成
し、新たなプログラム入力ができない場合にも
試験用プログラム（テストプログラム）による
試験が可能である。
(2) システムの稼動時の複雑な動作手順に対して
も機能毎に試験を可能とし、障害探索時間が短
縮できる。
も機能毎に試験を可能とし、障害探索時間が短
縮できる。
(3) 被試験システムに接続される周辺装置、外部
装置等に対するインターフエス等の制御手順を
ハード的な手順のみに擬似可能とするため、被
試験システムの外部に接続し、その擬似動作を
する試験機等が複雑なソフト手順を含まない簡
単な構成となる。
装置等に対するインターフエス等の制御手順を
ハード的な手順のみに擬似可能とするため、被
試験システムの外部に接続し、その擬似動作を
する試験機等が複雑なソフト手順を含まない簡
単な構成となる。
等優れた効果を有する。
第１図は本発明のシステム試験方式の一実施例
としての構成図、第２図は命令実行サイクルのタ
イムチヤートである。 Ｔ：試験システム、Ｕ：被試験システム、
CPU１，CPU２：制御部、BCTL：バス制御
部、RAM，ROM：メモリ、DV1，DV2：バスド
ライブ回路、CNTo〜CNTn：制御装置。
としての構成図、第２図は命令実行サイクルのタ
イムチヤートである。 Ｔ：試験システム、Ｕ：被試験システム、
CPU１，CPU２：制御部、BCTL：バス制御
部、RAM，ROM：メモリ、DV1，DV2：バスド
ライブ回路、CNTo〜CNTn：制御装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ マイクロコンピユータを使用したマイクロプ
ログラム制御システムＵの試験において、 前記マイクロコンピユータCPU１と同機能を
有する制御部CPU２とメモリ等RAM，IOCを内
部バス接続用のバスドライバDV２を介して内部
バスABUSと接続して成る試験システムＴを、前
記試験対象となる被試験システムに外部バス接続
用のバスドライバDV２を介して外部バスCBUS
に接続し、 前記制御部が、命令フエツチ部とオペランド実
行部からなる命令を繰り返し実行する際に、前記
内部バスを監視するバス制御部BCTLにて、命令
フエツチ部が、被試験システムへのアクセス命令
であるときに、前記内部バス接続用のバスドライ
バと前記外部バス接続用のバスドライバとを該命
令のオペランド部実行の間、切替え制御し、 前記外部バスを有効として、前記被試験システ
ムを動作させ、 前記被試験システムの制御部を使用することな
く、システムの試験を可能とする ことを特徴とするシステム試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56102925A JPS584458A (ja) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | システム試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56102925A JPS584458A (ja) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | システム試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS584458A JPS584458A (ja) | 1983-01-11 |
| JPS6232512B2 true JPS6232512B2 (ja) | 1987-07-15 |
Family
ID=14340423
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56102925A Granted JPS584458A (ja) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | システム試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS584458A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11499819B2 (en) | 2020-03-16 | 2022-11-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Shape measurement method and shape measuring device |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59208750A (ja) * | 1983-05-12 | 1984-11-27 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置の配線構造 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5247343A (en) * | 1975-10-14 | 1977-04-15 | Mitsubishi Electric Corp | Test equipment for program control apparatus |
| JPS5419630B2 (ja) * | 1975-07-22 | 1979-07-17 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5419630U (ja) * | 1977-07-11 | 1979-02-08 | ||
| JPS54152633U (ja) * | 1978-04-17 | 1979-10-24 |
-
1981
- 1981-06-30 JP JP56102925A patent/JPS584458A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5419630B2 (ja) * | 1975-07-22 | 1979-07-17 | ||
| JPS5247343A (en) * | 1975-10-14 | 1977-04-15 | Mitsubishi Electric Corp | Test equipment for program control apparatus |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11499819B2 (en) | 2020-03-16 | 2022-11-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Shape measurement method and shape measuring device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS584458A (ja) | 1983-01-11 |
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