JPS6166171A - インサ−キツトｉｃ試験機 - Google Patents
インサ−キツトｉｃ試験機Info
- Publication number
- JPS6166171A JPS6166171A JP59187639A JP18763984A JPS6166171A JP S6166171 A JPS6166171 A JP S6166171A JP 59187639 A JP59187639 A JP 59187639A JP 18763984 A JP18763984 A JP 18763984A JP S6166171 A JPS6166171 A JP S6166171A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- pin
- test data
- driver
- digital
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G06F11/2733—Test interface between tester and unit under test
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子回路パッケージに搭載されたＩＣ［二２パ
＼−１− を試験するインサーキラ）ＩＣ試験機に関する。
＼−１− を試験するインサーキラ）ＩＣ試験機に関する。
従来、この種のインサーキッｌ：ｃ９験機は、電子回路
パッケージに搭載されている被試験ＩＣがどの様に接続
されているかによって標準試験データを変更する必要が
あった。したがって、操作者は被試験ＩＣの接続状態を
回路図から睨みとりその状況に応じて標準試験データを
１ｊ正すると尽った煩雑な手順をとらねばならないと云
った欠点があった。
パッケージに搭載されている被試験ＩＣがどの様に接続
されているかによって標準試験データを変更する必要が
あった。したがって、操作者は被試験ＩＣの接続状態を
回路図から睨みとりその状況に応じて標準試験データを
１ｊ正すると尽った煩雑な手順をとらねばならないと云
った欠点があった。
本発明の目的は被試験ＩＣに試験プローブを接続した時
に、試験に先立って該ＩＣの電子回路パッケージ内での
接続情報を抽出し、その珀来からあらかじめ用意した接
続に対応した試験データを選択することによって、自動
的に試験データの作成が出来る様にしたインサーキラ）
ＩＣ試験機を提供することにある。
に、試験に先立って該ＩＣの電子回路パッケージ内での
接続情報を抽出し、その珀来からあらかじめ用意した接
続に対応した試験データを選択することによって、自動
的に試験データの作成が出来る様にしたインサーキラ）
ＩＣ試験機を提供することにある。
本発明によれば％電子回路パッケージに実装されたディ
ジタルＩＣの動作を試験する試験機において、ディジタ
ルＩＣ種別毎に考えられるＩＣのすべての接続状況に対
応する試験データを荀納する記憶手段と、前記試験デー
タに基づいて前記ディジタルＩＣを動作させ前記ディジ
タルＩＣのピン状態を監視するドライバ・レシーバ部と
、前記ドライバ・レシーバ部より前記ディジタルＩＣの
接続状況の判明を行い、この結果により前記記憶手段か
ら前記接続状況に応じた前記試験データを検索する制御
手段とを含むＩＣ試験機が得られる。
ジタルＩＣの動作を試験する試験機において、ディジタ
ルＩＣ種別毎に考えられるＩＣのすべての接続状況に対
応する試験データを荀納する記憶手段と、前記試験デー
タに基づいて前記ディジタルＩＣを動作させ前記ディジ
タルＩＣのピン状態を監視するドライバ・レシーバ部と
、前記ドライバ・レシーバ部より前記ディジタルＩＣの
接続状況の判明を行い、この結果により前記記憶手段か
ら前記接続状況に応じた前記試験データを検索する制御
手段とを含むＩＣ試験機が得られる。
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
図面は本発明の一実施例を示すブロック図である。図に
おいて、ＩＣ試験機は試験プローブ１と、これに接続さ
れたドライバ２ａとレシーバ２ｂを有するドライバ・レ
シーバ部２と、トライバ２ａにＣＰＵ３からの信号を供
給したり、又はレシーバ２ｂからの信号をＣＰＵ３に伝
達するための信号分配部４と、制御プログラムや試験デ
ータを収納するフロッピーディスク５およびメモリ一部
６とを含む。
おいて、ＩＣ試験機は試験プローブ１と、これに接続さ
れたドライバ２ａとレシーバ２ｂを有するドライバ・レ
シーバ部２と、トライバ２ａにＣＰＵ３からの信号を供
給したり、又はレシーバ２ｂからの信号をＣＰＵ３に伝
達するための信号分配部４と、制御プログラムや試験デ
ータを収納するフロッピーディスク５およびメモリ一部
６とを含む。
ディジタルＩＣは単独で動作する場合は標準的な真理値
表に従った動作をするが、実際に回路上で使用されると
、接続状況に従って標準とは異なった動作をする。この
劇作の違いは接続状況がわかれば決定することが出来る
。
表に従った動作をするが、実際に回路上で使用されると
、接続状況に従って標準とは異なった動作をする。この
劇作の違いは接続状況がわかれば決定することが出来る
。
本実施例はＩＣの各ピンの接続状況を検出し、その接続
状況に応じてＩＣが動作するような試験データを検索し
そのデータに基づいてＩＣを動作させた結果と正常な動
作と比較して試験するものである。
状況に応じてＩＣが動作するような試験データを検索し
そのデータに基づいてＩＣを動作させた結果と正常な動
作と比較して試験するものである。
最初、フロッピーディスク５には、ＩＣ種別毎に考えら
れる各ＩＣのすべての接続状況に対応する試験データが
格納されているものとする。ＩＣ試験を行うには、まず
被試験パッケージ７に実装されているディジタルＩＣ８
のすべてのピンに試験プローグ１を接続してＩＣの全ピ
ンをドライバ・レシーバ部２に引き込む。次にキーボー
ド１０からＩＣ８の品名を入力する。これによりＩＣ８
に関する試験データがフロッピーディスク５からメモリ
一部６ヘロードされる。またＣＰＬ７３ はＩＣ８の
１番ピンに接続されたドライバをＯＮしてドライブ電圧
を１番ピンに加える。そして他のピンの状態（”Ｈ″力
げＬ”）を各々に接続されたレシーバで監視する。
れる各ＩＣのすべての接続状況に対応する試験データが
格納されているものとする。ＩＣ試験を行うには、まず
被試験パッケージ７に実装されているディジタルＩＣ８
のすべてのピンに試験プローグ１を接続してＩＣの全ピ
ンをドライバ・レシーバ部２に引き込む。次にキーボー
ド１０からＩＣ８の品名を入力する。これによりＩＣ８
に関する試験データがフロッピーディスク５からメモリ
一部６ヘロードされる。またＣＰＬ７３ はＩＣ８の
１番ピンに接続されたドライバをＯＮしてドライブ電圧
を１番ピンに加える。そして他のピンの状態（”Ｈ″力
げＬ”）を各々に接続されたレシーバで監視する。
このようなドライブ電圧の印加とレシーバでのピン状態
監視とを順次最終ピンまで行い、その結果からＣＰＵ３
は、相互接続されているピン、電源にＰＵＬＬ ＵＰ
されているピン、アース接続されているピンの有無
を判断する。この結果から被試験ＩＣ８の接続状況が判
明すると、判明した接続状況に対応するＩＣ８の試験デ
ータがメモリ一部６から読出される。この試験データは
ＩＣ８の入力が１Ｈ″力げＬ″かを指定し、出力に対し
ては各入力に対する正常な出力レベルを示す期待値を規
定している。このデータはＣＰＵ３を介して信号分配部
４に送られ、ＩＣ８の入力ピンに対してはドライバー２
８により試験プローブを介して”Ｈ″又はＬ″にドライ
ブする。また出力ピンからの信号は試験プローブを介し
てレシーバ２ｂで受信し期待値と比較される。受信値が
期待値と等しければＩＣは正常であり、このことがＣＲ
Ｔ９で表示される。
監視とを順次最終ピンまで行い、その結果からＣＰＵ３
は、相互接続されているピン、電源にＰＵＬＬ ＵＰ
されているピン、アース接続されているピンの有無
を判断する。この結果から被試験ＩＣ８の接続状況が判
明すると、判明した接続状況に対応するＩＣ８の試験デ
ータがメモリ一部６から読出される。この試験データは
ＩＣ８の入力が１Ｈ″力げＬ″かを指定し、出力に対し
ては各入力に対する正常な出力レベルを示す期待値を規
定している。このデータはＣＰＵ３を介して信号分配部
４に送られ、ＩＣ８の入力ピンに対してはドライバー２
８により試験プローブを介して”Ｈ″又はＬ″にドライ
ブする。また出力ピンからの信号は試験プローブを介し
てレシーバ２ｂで受信し期待値と比較される。受信値が
期待値と等しければＩＣは正常であり、このことがＣＲ
Ｔ９で表示される。
この株に操作者が被試験パッケージの回路図を帖べてＩ
Ｃの動作パターンを判断して試験データを作成すると云
う手段をとることなく、ＩＣに試験プローブを接続して
キーボード１０からＩＣ品名を入力するだけで、自動的
に試験プログラムを選定して試験を実行しその結果をＣ
ＲＴ９に表示する。従って回路図を読めない人やＩＣの
動作についての知識のない人でも簡単に試験の実行が出
来る。
Ｃの動作パターンを判断して試験データを作成すると云
う手段をとることなく、ＩＣに試験プローブを接続して
キーボード１０からＩＣ品名を入力するだけで、自動的
に試験プログラムを選定して試験を実行しその結果をＣ
ＲＴ９に表示する。従って回路図を読めない人やＩＣの
動作についての知識のない人でも簡単に試験の実行が出
来る。
本発明は以上説明したように、被試験ＩＣの接続情報に
よって自動的に試験データを作成する方法なので、ＩＣ
の接続状況を回路図からｍみ取らなくても、きわめて容
易にＩＣの試験ができる。
よって自動的に試験データを作成する方法なので、ＩＣ
の接続状況を回路図からｍみ取らなくても、きわめて容
易にＩＣの試験ができる。
図面は本発明の一実施例を示すブロック図である。
１・・・・・・試験プローブ、２・・・・・・ドライバ
・レシーバ部、３・・・・・・ＣＰＵ、４・・・・・・
信号分配部、訃旧りフロッピーディスク、６・・・・・
・メモリ一部、７・・・・・・板試験パッケージ、８・
・・・・・デジタルＩｃ０代理人 弁理士 内 原
晋 １＋
・レシーバ部、３・・・・・・ＣＰＵ、４・・・・・・
信号分配部、訃旧りフロッピーディスク、６・・・・・
・メモリ一部、７・・・・・・板試験パッケージ、８・
・・・・・デジタルＩｃ０代理人 弁理士 内 原
晋 １＋
Claims (1)
- 電子回路パッケージに実装されたディジタルＩＣの試験
機において、ディジタルＩＣ種別毎に考えられるＩＣの
すべての接続状況に対応する試験データを格納する記憶
手段と、前記試験データに基づいて前記ディジタルＩＣ
を動作させ前記ディジタルＩＣのピン状態を監視するド
ライバ・レシーバ部と、前記ドライバ・レシーバ部より
前記ディジタルＩＣの接続状況の判明を行い、この結果
により前記記憶手段から前記接続状況に応じた前記試験
データを検索する制御手段とを含むＩＣ試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59187639A JPS6166171A (ja) | 1984-09-07 | 1984-09-07 | インサ−キツトｉｃ試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59187639A JPS6166171A (ja) | 1984-09-07 | 1984-09-07 | インサ−キツトｉｃ試験機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6166171A true JPS6166171A (ja) | 1986-04-04 |
Family
ID=16209631
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59187639A Pending JPS6166171A (ja) | 1984-09-07 | 1984-09-07 | インサ−キツトｉｃ試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6166171A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0763820A (ja) * | 1993-08-26 | 1995-03-10 | Nec Corp | インサーキット方式カード試験方法とその装置 |
-
1984
- 1984-09-07 JP JP59187639A patent/JPS6166171A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0763820A (ja) * | 1993-08-26 | 1995-03-10 | Nec Corp | インサーキット方式カード試験方法とその装置 |
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