JPH0275979A - Ｌｓｉ故障解析装置 - Google Patents
Ｌｓｉ故障解析装置Info
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- JPH0275979A JPH0275979A JP63227705A JP22770588A JPH0275979A JP H0275979 A JPH0275979 A JP H0275979A JP 63227705 A JP63227705 A JP 63227705A JP 22770588 A JP22770588 A JP 22770588A JP H0275979 A JPH0275979 A JP H0275979A
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- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000010586 diagram Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 230000004397 blinking Effects 0.000 abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、ＬＳＩのテストで故障を発見した場合に、
故障情報から故障箇所を求めて表示するＬＳＩ故障解析
装置に関するものである。
故障情報から故障箇所を求めて表示するＬＳＩ故障解析
装置に関するものである。
従来、ＬＳＩの故障を解析する場合には、ＬＳＩをテス
トするためのテストパターンリストと、ＬＳＩ論理図面
と、故障情報とに基づき、人手で解析を行なっていた。
トするためのテストパターンリストと、ＬＳＩ論理図面
と、故障情報とに基づき、人手で解析を行なっていた。
すなわち、まずＬＳＩテスタ装置から出力される故障情
報から、故障を検出したテストパターン番号と、ＬＳＩ
ビン番号とを読取り、その後故障を検出したＬＳＩビン
番号から、関連する回路をＬＳＩ論理図上で捜す。次に
、故障を検出したテストパターン番号に基づき、ＬＳＩ
の入力ビンに印加したパターン系列をテストパターンリ
ストから捜す０次に、ＬＳＩ論理図上の故障に関連する
回路に上記の入カバターン系列をあてはめ、故障してい
る回路をＬＳＩ論理図上で求める。以上を人手で行なっ
ている。
報から、故障を検出したテストパターン番号と、ＬＳＩ
ビン番号とを読取り、その後故障を検出したＬＳＩビン
番号から、関連する回路をＬＳＩ論理図上で捜す。次に
、故障を検出したテストパターン番号に基づき、ＬＳＩ
の入力ビンに印加したパターン系列をテストパターンリ
ストから捜す０次に、ＬＳＩ論理図上の故障に関連する
回路に上記の入カバターン系列をあてはめ、故障してい
る回路をＬＳＩ論理図上で求める。以上を人手で行なっ
ている。
（発明が解決しようとする課題〕
上記のような従来のＬＳＩ故障解析の方法では、人手に
よりＬＳＩの故障解析を行なっているため、容易には故
障箇所の指摘をすることができず、ＬＳＩ論理図、テス
トパターンリスト等を必要とし、多大な時間と労力とが
必要で、またＬＳＩチップ上の故障位置を求めることが
できない等の問題があった。
よりＬＳＩの故障解析を行なっているため、容易には故
障箇所の指摘をすることができず、ＬＳＩ論理図、テス
トパターンリスト等を必要とし、多大な時間と労力とが
必要で、またＬＳＩチップ上の故障位置を求めることが
できない等の問題があった。
この発明は、かかる課題を解決するためになされたもの
で、ＬＳＩの故障解析を短時間で行なって高精度の結果
を得ることができるとともに、ＬＳＩチップ上の故障位
置も得ることができるＬＳＩ故障解析装置を得ることを
目的とする。
で、ＬＳＩの故障解析を短時間で行なって高精度の結果
を得ることができるとともに、ＬＳＩチップ上の故障位
置も得ることができるＬＳＩ故障解析装置を得ることを
目的とする。
この発明に係るＬＳＩ故障解析装置は、ＬＳＩの故障を
ＬＳＩテスタ装置にて発見して故障情報を出力し、故障
解析を行なうのに必要な情報を記憶装置に記憶し、上記
ＬＳＩテスト装置からの故障情報と上記記憶装置からの
情報とに基づき故障箇所を処理装置にて求め、故障解析
によって指摘された故障箇所をＬＳＩ論理図又はＬＳＩ
チップレイアウト図上に表示装置により表示するように
したものである。
ＬＳＩテスタ装置にて発見して故障情報を出力し、故障
解析を行なうのに必要な情報を記憶装置に記憶し、上記
ＬＳＩテスト装置からの故障情報と上記記憶装置からの
情報とに基づき故障箇所を処理装置にて求め、故障解析
によって指摘された故障箇所をＬＳＩ論理図又はＬＳＩ
チップレイアウト図上に表示装置により表示するように
したものである。
この発明においては、ＬＳＩテスタ装置によりＬＳＩの
故障の発見がなされて故障情報が出力される。処理装置
は、この故障情報と記憶装置に記ｆ、＠されている故障
解析を行なうのに必要な情報とに基づき、故障箇所を求
め、この故障箇所を表示装置によりＬＳＩ論理図又はＬ
ＳＩチップレイアウト図上に表示する。このため、人手
作業が削減されて短時間で精度よく故障箇所を知ること
ができ、また故障位置を容易に理解することができる。
故障の発見がなされて故障情報が出力される。処理装置
は、この故障情報と記憶装置に記ｆ、＠されている故障
解析を行なうのに必要な情報とに基づき、故障箇所を求
め、この故障箇所を表示装置によりＬＳＩ論理図又はＬ
ＳＩチップレイアウト図上に表示する。このため、人手
作業が削減されて短時間で精度よく故障箇所を知ること
ができ、また故障位置を容易に理解することができる。
（実施例〕
以下、この発明の一実施例を第１図に基づいて説明する
。この第１図はこの発明の一実施例を示すＬＳＩ故障解
析装置の構成図であり、図中、（１）はＬＳＩをテスト
して故障を発見した場合に故障情報を出力するＬＳＩテ
スタ装置としてのＬＳＩテストシステム、（２）は上記
故障情報から故障箇所を指摘するための故障解析プログ
ラムを有する処理装置としての中央演算処理部、（３）
は上記ＬＳＩテストシステム（１）で得られた故障情報
を中央演算処理部（２）に伝達するためのインタフェー
ス、（４）は中央演算処理部（２）の動作を制御するコ
ンソール、（５）は故障解析を行なうのに必要な情報を
記憶する記憶装置としての磁気ディスク装置、（６）は
故障箇所をリスト形式で表示するプリンタ、（７）は故
障箇所を論理図面上又はチップレイアウト図面上に表示
するための表示装置としてのグラフィックデイスプレー
である。
。この第１図はこの発明の一実施例を示すＬＳＩ故障解
析装置の構成図であり、図中、（１）はＬＳＩをテスト
して故障を発見した場合に故障情報を出力するＬＳＩテ
スタ装置としてのＬＳＩテストシステム、（２）は上記
故障情報から故障箇所を指摘するための故障解析プログ
ラムを有する処理装置としての中央演算処理部、（３）
は上記ＬＳＩテストシステム（１）で得られた故障情報
を中央演算処理部（２）に伝達するためのインタフェー
ス、（４）は中央演算処理部（２）の動作を制御するコ
ンソール、（５）は故障解析を行なうのに必要な情報を
記憶する記憶装置としての磁気ディスク装置、（６）は
故障箇所をリスト形式で表示するプリンタ、（７）は故
障箇所を論理図面上又はチップレイアウト図面上に表示
するための表示装置としてのグラフィックデイスプレー
である。
第２図は、第１図の磁気ディスク装置（５）に記録され
ている故障解析のための情報の一部を示すもので、図中
、（８）は故障情報と故障番号との対応を示す故障の情
報一番号データ、（９）は故障番号と故障箇所との対応
を示す故障の番号一箇所データで、これらの各データ（
８） 、 （９）はテストパターン生成時に作成される
。
ている故障解析のための情報の一部を示すもので、図中
、（８）は故障情報と故障番号との対応を示す故障の情
報一番号データ、（９）は故障番号と故障箇所との対応
を示す故障の番号一箇所データで、これらの各データ（
８） 、 （９）はテストパターン生成時に作成される
。
上記故障の情報一番号データ（８）は、故障検出パター
ン番号（８１）、故障検出ピン番号（８２）、故障番号
（８３）の対応付けにて構成され、また故障の番号一箇
所データ（９）は故障番号（９１）、論理図面番号（９
２）、論理図上の位置（９３）、チップレイアウト図面
番号（９４）、チップレイアウト図上の位置（９５）と
の対応付けにて構成される。
ン番号（８１）、故障検出ピン番号（８２）、故障番号
（８３）の対応付けにて構成され、また故障の番号一箇
所データ（９）は故障番号（９１）、論理図面番号（９
２）、論理図上の位置（９３）、チップレイアウト図面
番号（９４）、チップレイアウト図上の位置（９５）と
の対応付けにて構成される。
上記のように構成されたＬＳＩ故障解析装置において、
ＬＳテストシステム（１）から出力された故障情報が、
インタフェース（３）を介して中央演算処理部（２）に
人力される。すると、中央演算処理部（２）は、内蔵し
ている故障解析プログラムにより、磁気ディスク装置（
５）が記憶する故障解析を行なうために必要なデータ（
８） 、 （９）を参照して故障箇所を求める。その後
、中央演算処理部（２）は、上記で得られた故障箇所の
リストをプリンタ（６）に表示する。中央演算処理部（
２）はまた、磁気ディスク装置（５）に記録しである論
理図面をグラフィックデイスプレー（７）に表示すると
ともに、故障箇所を点滅させることによって論理図面上
で故障箇所を指摘する。また中央演算処理部（２）は、
磁気ディスク装置（５）に記録しであるＬＳＩチップレ
イアウト図面をグラフィックデイスプレー（７）に表示
するとともに、故障箇所を点滅させることによってＬＳ
Ｉチップレイアウト図面上で故障箇所を指摘する。
ＬＳテストシステム（１）から出力された故障情報が、
インタフェース（３）を介して中央演算処理部（２）に
人力される。すると、中央演算処理部（２）は、内蔵し
ている故障解析プログラムにより、磁気ディスク装置（
５）が記憶する故障解析を行なうために必要なデータ（
８） 、 （９）を参照して故障箇所を求める。その後
、中央演算処理部（２）は、上記で得られた故障箇所の
リストをプリンタ（６）に表示する。中央演算処理部（
２）はまた、磁気ディスク装置（５）に記録しである論
理図面をグラフィックデイスプレー（７）に表示すると
ともに、故障箇所を点滅させることによって論理図面上
で故障箇所を指摘する。また中央演算処理部（２）は、
磁気ディスク装置（５）に記録しであるＬＳＩチップレ
イアウト図面をグラフィックデイスプレー（７）に表示
するとともに、故障箇所を点滅させることによってＬＳ
Ｉチップレイアウト図面上で故障箇所を指摘する。
しかして、短時間で高精度に故障箇所を指摘でき、故障
位置の確認も容易である。
位置の確認も容易である。
なお、上記実施例では故障箇所をグラフィックデイスプ
レー（７）に表示する場合、故障箇所を点滅させる方式
について示したが、正常な部分と色を変えて表示する等
、他の表示方式を用いるようにしてもよい。
レー（７）に表示する場合、故障箇所を点滅させる方式
について示したが、正常な部分と色を変えて表示する等
、他の表示方式を用いるようにしてもよい。
この発明は以上説明したとおり、ＬＳＩテスタ装置から
の故障情報と、記憶装置からの故障解析を行なうのに必
要な情報とに基づき、処理装置で故障箇所を求め、かつ
故障解析によって指摘された故障箇所を、表示装置によ
りＬＳＩ論理図又は１、Ｓｒチップレイアウト図上に表
示するようにしているので、短時間で精度の高い故障解
析結果が得られ、また故障箇所の確認も極めて容易であ
る等の効果がある。
の故障情報と、記憶装置からの故障解析を行なうのに必
要な情報とに基づき、処理装置で故障箇所を求め、かつ
故障解析によって指摘された故障箇所を、表示装置によ
りＬＳＩ論理図又は１、Ｓｒチップレイアウト図上に表
示するようにしているので、短時間で精度の高い故障解
析結果が得られ、また故障箇所の確認も極めて容易であ
る等の効果がある。
第１図はこの発明の一実施例を示すＬＳＩ故障解析装置
の構成図、第２図は故障解析を行なうのに必要な情報の
一例を示す説明図、第３図はグラフィックデイスプレー
の表示例を示す説明図である。 （１） ・・・ＬＳＩテストシステム、（２）・・・中
央演算処理部、（５）・・・磁気ディスク装置、（７）
・・・グラフィックデイスプレー。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示すもの
とする。
の構成図、第２図は故障解析を行なうのに必要な情報の
一例を示す説明図、第３図はグラフィックデイスプレー
の表示例を示す説明図である。 （１） ・・・ＬＳＩテストシステム、（２）・・・中
央演算処理部、（５）・・・磁気ディスク装置、（７）
・・・グラフィックデイスプレー。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示すもの
とする。
Claims (1)
- ＬＳＩのテストを行ない、ＬＳＩに故障を発見した場合
にＬＳＩ内の故障箇所を指摘するＬＳＩ故障解析装置に
おいて、ＬＳＩの故障を発見して故障情報を出力するＬ
ＳＩテスタ装置と、故障解析を行なうのに必要な情報を
記憶する記憶装置と、上記ＬＳＩテスタ装置からの故障
情報と上記記憶装置からの情報とに基づき故障箇所を求
める処理装置と、故障解析によって指摘された故障箇所
をＬＳＩ論理図又はＬＳＩチップレイアウト図上に表示
する表示装置とを備えたことを特徴とするＬＳＩ故障解
析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63227705A JPH0275979A (ja) | 1988-09-12 | 1988-09-12 | Ｌｓｉ故障解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63227705A JPH0275979A (ja) | 1988-09-12 | 1988-09-12 | Ｌｓｉ故障解析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0275979A true JPH0275979A (ja) | 1990-03-15 |
Family
ID=16865058
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63227705A Pending JPH0275979A (ja) | 1988-09-12 | 1988-09-12 | Ｌｓｉ故障解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0275979A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0545426A (ja) * | 1991-08-15 | 1993-02-23 | Fujitsu Ltd | Ｌｓｉ故障位置特定装置及びｌｓｉ故障位置特定方法 |
-
1988
- 1988-09-12 JP JP63227705A patent/JPH0275979A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0545426A (ja) * | 1991-08-15 | 1993-02-23 | Fujitsu Ltd | Ｌｓｉ故障位置特定装置及びｌｓｉ故障位置特定方法 |
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