JP2002131364A - フィクスチャレスインサーキットテスタ - Google Patents
フィクスチャレスインサーキットテスタInfo
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- JP2002131364A JP2002131364A JP2000329193A JP2000329193A JP2002131364A JP 2002131364 A JP2002131364 A JP 2002131364A JP 2000329193 A JP2000329193 A JP 2000329193A JP 2000329193 A JP2000329193 A JP 2000329193A JP 2002131364 A JP2002131364 A JP 2002131364A
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】特に基板の部品実装密度の高い部分について座
標データを自動的に作成することにより全体の検査工数
を削減すると共に検査精度を向上させる。 【解決手段】通常のテスタに対し点線で囲んだ特定部分
座標データ作成部１００を付加する。この特定部分座標
データ作成部１００は、基板上の特に改造などで実装密
度が高い特定部分２１について、この部分内の基板／部
品情報をあらかじめ入力しておき、座標データを自動時
に作成して制御／演算部７へ送出する。基板／部品情報
を入力し記憶する外部記憶装置１０と、測定指示情報を
入力した時に外部記憶装置１０から基板／部品情報を読
み出し測定指示情報から割り出された測定ポイントの座
標データを作成して出力する座標データ演算部１３と、
外部から入力される測定指示情報と基板／部品情報とを
それぞれインタフェースする外部情報入力部１１とから
構成されている。
標データを自動的に作成することにより全体の検査工数
を削減すると共に検査精度を向上させる。 【解決手段】通常のテスタに対し点線で囲んだ特定部分
座標データ作成部１００を付加する。この特定部分座標
データ作成部１００は、基板上の特に改造などで実装密
度が高い特定部分２１について、この部分内の基板／部
品情報をあらかじめ入力しておき、座標データを自動時
に作成して制御／演算部７へ送出する。基板／部品情報
を入力し記憶する外部記憶装置１０と、測定指示情報を
入力した時に外部記憶装置１０から基板／部品情報を読
み出し測定指示情報から割り出された測定ポイントの座
標データを作成して出力する座標データ演算部１３と、
外部から入力される測定指示情報と基板／部品情報とを
それぞれインタフェースする外部情報入力部１１とから
構成されている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はインサーキットテス
タに関し、特に基板上の多数の測定ポイントに対し多数
の固定したプローブで同時にアクセスする方法とは異な
り移動する２本のプローブで順次アクセスして行くフィ
クスチャレスのインサーキットテスタに関する。
タに関し、特に基板上の多数の測定ポイントに対し多数
の固定したプローブで同時にアクセスする方法とは異な
り移動する２本のプローブで順次アクセスして行くフィ
クスチャレスのインサーキットテスタに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のフィクスチャレスインサ
ーキットテスタの一般的な例を図４に示す。図４は従来
例を示す構成図である。載物台３に載せられた検査対象
の基板２に対し２つのプローブ１ａ、１ｂが移動し所定
の２箇所の測定ポイントに接触してこの間の抵抗値を測
定し、この抵抗値から測定区間の誤配線、断線あるいは
ショートを判定しその結果を表示器９に表示すると同時
に検査結果データとして出力する。
ーキットテスタの一般的な例を図４に示す。図４は従来
例を示す構成図である。載物台３に載せられた検査対象
の基板２に対し２つのプローブ１ａ、１ｂが移動し所定
の２箇所の測定ポイントに接触してこの間の抵抗値を測
定し、この抵抗値から測定区間の誤配線、断線あるいは
ショートを判定しその結果を表示器９に表示すると同時
に検査結果データとして出力する。
【０００３】図４において、プローブ１ａ、１ｂ、プロ
ーブ駆動部８、制御／演算部１４などは説明上ブロック
図で示したが、これらブロックは構造体とした一つの装
置を構成する。外部記憶部１５はテスタ全体を動作させ
るに必要なアプリケーションプログラム、判定基準デー
タ、計算プログラムなどが記憶されている。制御／演算
部１４は各部への制御信号の送出、また測定結果からの
抵抗値算出、判定などの演算を行う。抵抗検出部４は２
つのプローブ１ａ、１ｂに電圧を加えて流れる電流を測
定して、そのデータを出力する。プローブ駆動部８は制
御／演算部１４からの制御信号により２つのブローブ１
ａ、１ｂを所定の測定ポイント移動させる。制御スイッ
チ５はテスタの操作者が操作してスタートストップなど
の制御信号を出力するスイッチである。座標データ入力
部６はキーボードからテスタの操作者が入力する座標デ
ータをインタフェースする。表示器９は検査結果を表示
する。本テスタは以上の各部から構成される。
ーブ駆動部８、制御／演算部１４などは説明上ブロック
図で示したが、これらブロックは構造体とした一つの装
置を構成する。外部記憶部１５はテスタ全体を動作させ
るに必要なアプリケーションプログラム、判定基準デー
タ、計算プログラムなどが記憶されている。制御／演算
部１４は各部への制御信号の送出、また測定結果からの
抵抗値算出、判定などの演算を行う。抵抗検出部４は２
つのプローブ１ａ、１ｂに電圧を加えて流れる電流を測
定して、そのデータを出力する。プローブ駆動部８は制
御／演算部１４からの制御信号により２つのブローブ１
ａ、１ｂを所定の測定ポイント移動させる。制御スイッ
チ５はテスタの操作者が操作してスタートストップなど
の制御信号を出力するスイッチである。座標データ入力
部６はキーボードからテスタの操作者が入力する座標デ
ータをインタフェースする。表示器９は検査結果を表示
する。本テスタは以上の各部から構成される。
【０００４】次に本テスタの検査時における動作につい
て説明する。本テスタの操作者はあらかじめ検査対象の
基板２の検査項目と検査箇所とを決め、検査箇所につい
てはその全測定ポイントのＸＹ座標を図面上から求め、
これを測定順に並べて入力部６のキーボードから入力す
る。即ち座標データが入力される。尚、座標データは外
部のパソコンなどを用いて作成したものを直接入力する
場合もある。制御／演算部１４はこの座標データを入力
し、このデータに従って先ず最初の測定ポイントへプロ
ーブ１ａ、１ｂをプローブ駆動部８を介し移動させる。
て説明する。本テスタの操作者はあらかじめ検査対象の
基板２の検査項目と検査箇所とを決め、検査箇所につい
てはその全測定ポイントのＸＹ座標を図面上から求め、
これを測定順に並べて入力部６のキーボードから入力す
る。即ち座標データが入力される。尚、座標データは外
部のパソコンなどを用いて作成したものを直接入力する
場合もある。制御／演算部１４はこの座標データを入力
し、このデータに従って先ず最初の測定ポイントへプロ
ーブ１ａ、１ｂをプローブ駆動部８を介し移動させる。
【０００５】そして抵抗検出部４がプローブ１ａ、１ｂ
へ所定の電圧を印加し、この間に流れる電流を測定し、
この結果を抵抗値データとして制御／演算部１４へ送出
する。制御／演算部１４はこの抵抗値データから抵抗値
を計算し、この値と所定の基準値とを比較しオープンあ
るいはショートを判定する。また同時に指定特定項目か
ら誤配線、断線あるいはショートを判別し、この検査結
果をデータとして出力すると同時に表示器へ表示する。
へ所定の電圧を印加し、この間に流れる電流を測定し、
この結果を抵抗値データとして制御／演算部１４へ送出
する。制御／演算部１４はこの抵抗値データから抵抗値
を計算し、この値と所定の基準値とを比較しオープンあ
るいはショートを判定する。また同時に指定特定項目か
ら誤配線、断線あるいはショートを判別し、この検査結
果をデータとして出力すると同時に表示器へ表示する。
【０００６】そして次以降の検査ポイントについても同
様な動作を繰り返して行き全検査ポイントについて自動
的に検査を実行する。
様な動作を繰り返して行き全検査ポイントについて自動
的に検査を実行する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】このように従来のフィ
クスチャレスインサーキットテスタは、全検査箇所の座
標データを入力し、制御スイッチからの所定の操作によ
り自動的に全検査箇所の誤配線、断線あるいはショート
事故の検出が可能であり、極めて検査作業を効率化する
効果がある。
クスチャレスインサーキットテスタは、全検査箇所の座
標データを入力し、制御スイッチからの所定の操作によ
り自動的に全検査箇所の誤配線、断線あるいはショート
事故の検出が可能であり、極めて検査作業を効率化する
効果がある。
【０００８】しかしこの為には全検査箇所の座標データ
を作成し入力する必要がある。この座標データの作成
は、先ず基板のパターン図から決められた検査箇所の各
測定ポイントのＸＹ座標を図面上から読み取り、そして
データ化する必要がある。検査箇所は、大型基板では、
数百から１千本近くあり、測定ポイントは通常１検査箇
所当り２ポイントとなるのでこの２倍となる。
を作成し入力する必要がある。この座標データの作成
は、先ず基板のパターン図から決められた検査箇所の各
測定ポイントのＸＹ座標を図面上から読み取り、そして
データ化する必要がある。検査箇所は、大型基板では、
数百から１千本近くあり、測定ポイントは通常１検査箇
所当り２ポイントとなるのでこの２倍となる。
【０００９】このような多数の測定ポイントを座標デー
タ化するには人手と時間がかかるが、特に基板の部品実
装密度の高い部分は測定ポイントが多く、そして、ポイ
ント間が接近しているので人手と時間が余分にかかり、
かつ精度が悪くなるという問題がある。
タ化するには人手と時間がかかるが、特に基板の部品実
装密度の高い部分は測定ポイントが多く、そして、ポイ
ント間が接近しているので人手と時間が余分にかかり、
かつ精度が悪くなるという問題がある。
【００１０】尚、一般にはこのように全部の検査ポイン
トを対象とすることは大変なので主要な検査ポイントに
絞り座標データを作成する場合が多い。
トを対象とすることは大変なので主要な検査ポイントに
絞り座標データを作成する場合が多い。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明のフィクスチャレ
スインサーキットテスタは、あらかじめ図面上で求めた
各測定ポイントを示す座標データを入力しこの座標デー
タの指定するそれぞれの座標に移動する２本のプローブ
により２つの測定ポイント間の抵抗値を順次測定して行
きその抵抗値より配線の誤配線、断線あるいはショート
を判定して表示する基板用のフィクスチャレスインサー
キットにおいて、特に配線密度が高いなどの基板上の特
定部分に関し、この特定部分内に配置されている各部品
の位置座標などを示す基板情報とその各部品毎に部品の
端子の数位置などを示す部分情報とをあらかじめ入力し
て置き、前記特定部分の測定条件を示す測定指示情報を
入力をすることにより前記特定部分の座標データを自動
的に計算し出力する特定部分座標データ作成手段を備え
ている。
スインサーキットテスタは、あらかじめ図面上で求めた
各測定ポイントを示す座標データを入力しこの座標デー
タの指定するそれぞれの座標に移動する２本のプローブ
により２つの測定ポイント間の抵抗値を順次測定して行
きその抵抗値より配線の誤配線、断線あるいはショート
を判定して表示する基板用のフィクスチャレスインサー
キットにおいて、特に配線密度が高いなどの基板上の特
定部分に関し、この特定部分内に配置されている各部品
の位置座標などを示す基板情報とその各部品毎に部品の
端子の数位置などを示す部分情報とをあらかじめ入力し
て置き、前記特定部分の測定条件を示す測定指示情報を
入力をすることにより前記特定部分の座標データを自動
的に計算し出力する特定部分座標データ作成手段を備え
ている。
【００１２】そして、前記特定部分座標データ作成手段
は、前記基板情報と前記部品情報とを入力し記憶する記
憶部と、前記測定指示情報を入力した時に前記記憶部か
ら前記基板情報と前記部品情報とを読み出し、前記測定
指示情報に特定された測定ポイントの座標データを作成
して出力するデータ処理部とを備えるようにしても良
い。
は、前記基板情報と前記部品情報とを入力し記憶する記
憶部と、前記測定指示情報を入力した時に前記記憶部か
ら前記基板情報と前記部品情報とを読み出し、前記測定
指示情報に特定された測定ポイントの座標データを作成
して出力するデータ処理部とを備えるようにしても良
い。
【００１３】また、前記基板情報は、基板上の前記特定
部分に配置された各部品の中心座標、寸法、実装方向、
搭載面を示す情報を含むこととする。
部分に配置された各部品の中心座標、寸法、実装方向、
搭載面を示す情報を含むこととする。
【００１４】また、前記部品情報は、基板上の前記特定
部分に配置された各部品の端子の数、位置、パット形状
を示す情報を含むこととする。
部分に配置された各部品の端子の数、位置、パット形状
を示す情報を含むこととする。
【００１５】また、前記測定指示情報は、所定の部品端
子間を接続する配線情報を含むこととする。
子間を接続する配線情報を含むこととする。
【００１６】また、前記データ処理部は、前記部品情報
の部品が多端子である場合にこの部品の端子間（あるい
は端子パット間）の距離を計算しこの値が所定の基準値
以下の場合のみに隣接端子間のショート検査を行うよう
に指示することを特徴とする。
の部品が多端子である場合にこの部品の端子間（あるい
は端子パット間）の距離を計算しこの値が所定の基準値
以下の場合のみに隣接端子間のショート検査を行うよう
に指示することを特徴とする。
【００１７】更に、前記部品の隣接端子間のショート検
査を行う場合に一方の測定ポイントを一方の部品の配線
された端子とし、他方の測定ポイントをこの配線の他端
が配線された他方の部品の端子に隣接する端子の各々と
するようにしても良い。
査を行う場合に一方の測定ポイントを一方の部品の配線
された端子とし、他方の測定ポイントをこの配線の他端
が配線された他方の部品の端子に隣接する端子の各々と
するようにしても良い。
【００１８】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態について
図面を参照して説明する。図１は本発明の実施の形態例
を示す構成図、図２は図１における特定部分座標データ
作成部の動作を説明するフローチャート、図３は図１に
おける座標データ演算部１３の動作を説明するための基
板２の部分実装図である。
図面を参照して説明する。図１は本発明の実施の形態例
を示す構成図、図２は図１における特定部分座標データ
作成部の動作を説明するフローチャート、図３は図１に
おける座標データ演算部１３の動作を説明するための基
板２の部分実装図である。
【００１９】先ず、図１について構成を説明する。図中
図４で説明した従来例と同一記号の構成要素は同一機能
のものであり、図４との相違は図４に特定部分座標デー
タ作成部１００を付加した点である。
図４で説明した従来例と同一記号の構成要素は同一機能
のものであり、図４との相違は図４に特定部分座標デー
タ作成部１００を付加した点である。
【００２０】プローブ１ａ、１ｂ、プローブ駆動部８、
制御／演算部１４などは説明上ブロック図で示したが、
これらブロックは構造体として一つの装置を構成する。
外部記憶部１０は本テスタ全体を動作させるのに必要な
アプリケーションプログラム、判定基準データ、計算プ
ログラムおよび基板上の特定部分２１の基板／部品情報
などを記憶する。制御／演算部は各部への制御信号の送
出、また測定結果から抵抗値算出、判定などの演算を行
う。抵抗検出部４は２つのプローブ１ａ、１ｂに電圧を
加えて流れる電流を測定して、そのデータを出力する。
プローブ駆動部８は制御／演算部１４からの制御信号に
より２つのブローブ１ａ、１ｂを所定の測定ポイントへ
移動させる。制御スイッチ５はテスタの操作者が操作し
てスタート、ストップなどの制御信号を出力するスイッ
チである。外部情報入力部１１はテスタの操作者が入力
する各種情報をインタフェースする。表示器９は検査結
果を表示する。
制御／演算部１４などは説明上ブロック図で示したが、
これらブロックは構造体として一つの装置を構成する。
外部記憶部１０は本テスタ全体を動作させるのに必要な
アプリケーションプログラム、判定基準データ、計算プ
ログラムおよび基板上の特定部分２１の基板／部品情報
などを記憶する。制御／演算部は各部への制御信号の送
出、また測定結果から抵抗値算出、判定などの演算を行
う。抵抗検出部４は２つのプローブ１ａ、１ｂに電圧を
加えて流れる電流を測定して、そのデータを出力する。
プローブ駆動部８は制御／演算部１４からの制御信号に
より２つのブローブ１ａ、１ｂを所定の測定ポイントへ
移動させる。制御スイッチ５はテスタの操作者が操作し
てスタート、ストップなどの制御信号を出力するスイッ
チである。外部情報入力部１１はテスタの操作者が入力
する各種情報をインタフェースする。表示器９は検査結
果を表示する。
【００２１】点線で囲んだ特定部分座標データ作成部１
００は、基板上の特に改造などで実装密度が高い特定部
分２１について、この部分内の基板／部品情報からショ
ートテストなどに必要な座標データを自動的に作成して
制御／演算部７へ送出する。この特定部分座標データ作
成部１００は、基板／部品情報を入力し記憶する外部記
憶装置１０と、測定指示情報を入力した時に外部記憶装
置１０から基板／部品情報を読み出し測定指示情報に指
定された測定ポイントの座標データを作成して出力する
座標データ演算部１３と、外部から入力される測定指示
情報と基板／部品情報とをそれぞれ内部回路とインタフ
ェースする外部情報入力部１１とから構成されている。
００は、基板上の特に改造などで実装密度が高い特定部
分２１について、この部分内の基板／部品情報からショ
ートテストなどに必要な座標データを自動的に作成して
制御／演算部７へ送出する。この特定部分座標データ作
成部１００は、基板／部品情報を入力し記憶する外部記
憶装置１０と、測定指示情報を入力した時に外部記憶装
置１０から基板／部品情報を読み出し測定指示情報に指
定された測定ポイントの座標データを作成して出力する
座標データ演算部１３と、外部から入力される測定指示
情報と基板／部品情報とをそれぞれ内部回路とインタフ
ェースする外部情報入力部１１とから構成されている。
【００２２】基板／部品情報の基板情報は、基板上の特
定部分２１に配置された各部品の中心座標、寸法、実装
方向、搭載面を示すもので、部品情報は、基板上の特定
部分２１に配置された各部品の端子の数、位置、パット
形状を示すものである。
定部分２１に配置された各部品の中心座標、寸法、実装
方向、搭載面を示すもので、部品情報は、基板上の特定
部分２１に配置された各部品の端子の数、位置、パット
形状を示すものである。
【００２３】次に図１〜図３を参照して動作について説
明する。先ず通常使用時、即ち特定部分２１を除く部分
に対する検査時の動作について説明する。本テスタの操
作者はあらかじめ検査対象の基板２の特定部分２１を除
く部分の検査項目と検査箇所とを決め、検査箇所につい
てはその全測定ポイントのＸＹ座標を図面上から求めて
これを外部情報入力部１１のキーボードから入力し座標
データとする。制御／演算部７はこの座標データとを入
力し、このデータに従って先ず最初の測定ポイントへプ
ローブ１ａ、１ｂをプローブ駆動部８を介し移動させ
る。
明する。先ず通常使用時、即ち特定部分２１を除く部分
に対する検査時の動作について説明する。本テスタの操
作者はあらかじめ検査対象の基板２の特定部分２１を除
く部分の検査項目と検査箇所とを決め、検査箇所につい
てはその全測定ポイントのＸＹ座標を図面上から求めて
これを外部情報入力部１１のキーボードから入力し座標
データとする。制御／演算部７はこの座標データとを入
力し、このデータに従って先ず最初の測定ポイントへプ
ローブ１ａ、１ｂをプローブ駆動部８を介し移動させ
る。
【００２４】そして抵抗検出部４がプローブ１ａ、１ｂ
へ所定の電圧を印加し、この間に流れる電流を測定し、
この結果を抵抗値データとして制御／演算部１４へ送出
する。制御／演算部１４はこの抵抗値データから抵抗値
を計算し、この値と所定の基準値とを比較しオープンあ
るいはショートを判定する。また同時に指定測定項目か
ら誤配線、断線あるいはショートを判別し、この検査結
果をデータとして出力すると同時に表示器へ表示する。
そして次以降の検査ポイントについても同様な動作を繰
り返して行き全検査ポイントについて自動的に検査を実
行する。
へ所定の電圧を印加し、この間に流れる電流を測定し、
この結果を抵抗値データとして制御／演算部１４へ送出
する。制御／演算部１４はこの抵抗値データから抵抗値
を計算し、この値と所定の基準値とを比較しオープンあ
るいはショートを判定する。また同時に指定測定項目か
ら誤配線、断線あるいはショートを判別し、この検査結
果をデータとして出力すると同時に表示器へ表示する。
そして次以降の検査ポイントについても同様な動作を繰
り返して行き全検査ポイントについて自動的に検査を実
行する。
【００２５】次に特定部分２１に対する検査時の動作を
説明する。あらかじめ基板／部品情報を外部情報入力部
１１を介し外部記憶装置１０へ入力して置く。以下図２
を参照して説明する。測定指示情報（検査項目と特定部
分２１の配線情報）を外部情報入力部１１を介し座標デ
ータ演算部１３へ入力する（１０１）。尚、この場合は
検査項目はショート検査とする。座標データ演算部１３
はこの測定指示情報を一時保持し、測定指示情報から割
り出された各測定ポイントの最初の測定ポイントに関す
る基板情報と部品情報とを読み出し（１０２、１０
３）、この測定ポイントについて読み出した基板／部品
情報から隣接端子間の距離を算出し（１０４）、この値
が所定の基準値以下であるか否かを判断し（１０５）、
以下であれば検査を要するのでこの測定ポイントの座標
データを作成する（１０６）、また以上であれば検査を
要しないので座標データは作成せず、次の測定ポイント
に移行して同様に距離算出を繰り返す。そして最終検査
箇所の座標データが作成された時点（１０７）で座標デ
ータが制御/演算部７へ出力される。
説明する。あらかじめ基板／部品情報を外部情報入力部
１１を介し外部記憶装置１０へ入力して置く。以下図２
を参照して説明する。測定指示情報（検査項目と特定部
分２１の配線情報）を外部情報入力部１１を介し座標デ
ータ演算部１３へ入力する（１０１）。尚、この場合は
検査項目はショート検査とする。座標データ演算部１３
はこの測定指示情報を一時保持し、測定指示情報から割
り出された各測定ポイントの最初の測定ポイントに関す
る基板情報と部品情報とを読み出し（１０２、１０
３）、この測定ポイントについて読み出した基板／部品
情報から隣接端子間の距離を算出し（１０４）、この値
が所定の基準値以下であるか否かを判断し（１０５）、
以下であれば検査を要するのでこの測定ポイントの座標
データを作成する（１０６）、また以上であれば検査を
要しないので座標データは作成せず、次の測定ポイント
に移行して同様に距離算出を繰り返す。そして最終検査
箇所の座標データが作成された時点（１０７）で座標デ
ータが制御/演算部７へ出力される。
【００２６】尚、判断（１０５）の意味は、図３に示す
ように、例えば部品２０３で端子Ａに配線があった場
合、隣接端子Ａ′とは接近しているのでショートする心
配があるので検査を行い、隣接端子Ｂ′とは離れている
のでこの心配がないので検査を行わないと判断するもの
である。これにより不要な検査による時間のムダを省く
ことができる。
ように、例えば部品２０３で端子Ａに配線があった場
合、隣接端子Ａ′とは接近しているのでショートする心
配があるので検査を行い、隣接端子Ｂ′とは離れている
のでこの心配がないので検査を行わないと判断するもの
である。これにより不要な検査による時間のムダを省く
ことができる。
【００２７】また座標データを作成する段階（１０６）
で、ショート検査の時の測定ポイントは図３で示した例
示のように選定される、即ち部品２０１の端子Ａと部品
２０２の端子Ｂとの間に配線がなされており、端子Ａと
隣接端子Ａ′とのショート検査を行う時は、一方の測定
ポイントを一方の部品２０１の配線された端子Ａとし、
他方の測定ポイントをこの配線の他端が配線された他方
の部品２０２の端子Ｂに隣接する端子Ｂ′の各々とす
る。これによりプローブ１ａ、１ｂが接近し過ぎてポイ
ントにアクセス出来ないことということがなくなる。
で、ショート検査の時の測定ポイントは図３で示した例
示のように選定される、即ち部品２０１の端子Ａと部品
２０２の端子Ｂとの間に配線がなされており、端子Ａと
隣接端子Ａ′とのショート検査を行う時は、一方の測定
ポイントを一方の部品２０１の配線された端子Ａとし、
他方の測定ポイントをこの配線の他端が配線された他方
の部品２０２の端子Ｂに隣接する端子Ｂ′の各々とす
る。これによりプローブ１ａ、１ｂが接近し過ぎてポイ
ントにアクセス出来ないことということがなくなる。
【００２８】以上動作説明は、特定部分２１を除く部分
を最初に行い、そして次に特定部分２１の検査を行うよ
うに説明したが、最初全体をやや粗く検査し、その後で
改造などにより実装密度が高くなった部分を特定部分と
して詳細に検査するようにしても良い。
を最初に行い、そして次に特定部分２１の検査を行うよ
うに説明したが、最初全体をやや粗く検査し、その後で
改造などにより実装密度が高くなった部分を特定部分と
して詳細に検査するようにしても良い。
【００２９】
【発明の効果】以上説明したように本発明のフィクスチ
ャレスインサーキットテスタは、座標データを入力して
検査を行う従来のテスタ機能に加えて、特に座標データ
の作成に人手と時間のかかる基板の部品実装密度の高い
部分に対しては、あらかじめ基板／部品情報を入力して
おき自動的に座標データを作成させるようにしたので、
この部分に対し余分にかかっていた人手と時間が省け、
かつ正確な座標データが得られるので、全体として検査
時間が短縮され、かつ検査精度が向上するという効果が
ある。
ャレスインサーキットテスタは、座標データを入力して
検査を行う従来のテスタ機能に加えて、特に座標データ
の作成に人手と時間のかかる基板の部品実装密度の高い
部分に対しては、あらかじめ基板／部品情報を入力して
おき自動的に座標データを作成させるようにしたので、
この部分に対し余分にかかっていた人手と時間が省け、
かつ正確な座標データが得られるので、全体として検査
時間が短縮され、かつ検査精度が向上するという効果が
ある。
【図１】本発明の実施の形態例を示す構成図である。
【図２】図１における特定部分座標データ作成部の動作
を説明するフローチャート。
を説明するフローチャート。
【図３】図１における座標データ演算部の動作を説明す
る基板２の部分実装図である。
る基板２の部分実装図である。
【図４】従来例を示す構成図である。
１ａ、１ｂ プローブ ２ 基板 ２１ 特定部分 ３ 載物台 ４ 抵抗検出部 ５ 制御スイッチ ７ 制御／演算部 ８ プローブ駆動部 ９ 表示器 １０ 外部記憶装置 １１ 外部情報入力部 １３ 座標データ演算部 １００ 特定部分座標データ作成部
Claims (7)
- 【請求項１】 あらかじめ図面上で求めた各測定ポイン
トを示す座標データを入力しこの座標データの指定する
それぞれの座標に移動する２本のプローブにより２つの
測定ポイント間の抵抗値を順次測定して行きその抵抗値
より配線の誤配線、断線あるいはショートを判定して表
示する基板用のフィクスチャレスインサーキットにおい
て、特に配線密度が高いなどの基板上の特定部分に関
し、この特定部分内に配置されている各部品の位置座標
などを示す基板情報とその各部品について端子の数、位
置などを示す部分情報とをあらかじめ入力して置き、前
記特定部分の測定条件を示す測定指示情報を入力をする
ことにより前記特定部分の座標データを自動的に計算し
出力する特定部分座標データ作成手段を備えることを特
徴とするフィクスチャレスインサーキットテスタ。 - 【請求項２】 前記特定部分座標データ作成手段は、前
記基板情報と前記部品情報とを記憶する記憶部と、前記
測定指示情報を入力した時に前記記憶部から前記基板情
報と前記部品情報とを読み出し、前記測定指示情報に特
定される測定ポイントの座標データを作成して出力する
データ処理部とを備えることを特徴とする請求項１記載
のフィクスチャレスインサーキットテスタ。 - 【請求項３】 前記基板情報は、基板上の前記特定部分
に配置された各部品の中心座標、寸法、実装方向、搭載
面を示す情報を含むことを特徴とする請求項１あるいは
２記載のフィクスチャレスインサーキットテスタ。 - 【請求項４】 前記部品情報は、基板上の前記特定部分
に配置された各部品の端子の数、位置、パット形状を示
す情報を含むことを特徴とする請求項１、２あるいは３
記載のフィクスインサーキットテスタ。 - 【請求項５】 前記測定指示情報は、所定の部品端子間
を接続する配線情報を含むことを特徴とする請求項１、
２、３あるいは４記載のフィクスチャレスインサーキッ
トテスタ。 - 【請求項６】 前記データ処理部は、前記部品情報の部
品が多端子である場合にこの部品の端子間（あるいは端
子パット間）の距離を計算しこの値が所定の基準値以下
の場合にのみ隣接端子間のショート検査を行うように指
示することを特徴とする請求項２、３、４あるいは５記
載のフィクスチャレスインターキットテスタ。 - 【請求項７】 前記部品の隣接端子間のショート検査を
行う場合に一方の測定ポイントを一方の部品の配線され
た端子とし、他方の測定ポイントをこの配線の他端が配
線された他方の部品の端子に隣接する端子の各々とする
ことを特徴とする請求項６記載のフィクスチャレスイン
サーキットテスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000329193A JP2002131364A (ja) | 2000-10-27 | 2000-10-27 | フィクスチャレスインサーキットテスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000329193A JP2002131364A (ja) | 2000-10-27 | 2000-10-27 | フィクスチャレスインサーキットテスタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002131364A true JP2002131364A (ja) | 2002-05-09 |
Family
ID=18805913
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000329193A Pending JP2002131364A (ja) | 2000-10-27 | 2000-10-27 | フィクスチャレスインサーキットテスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002131364A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017106845A (ja) * | 2015-12-11 | 2017-06-15 | 日置電機株式会社 | データ生成装置およびデータ生成方法 |
-
2000
- 2000-10-27 JP JP2000329193A patent/JP2002131364A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2017106845A (ja) * | 2015-12-11 | 2017-06-15 | 日置電機株式会社 | データ生成装置およびデータ生成方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030729 |