JP2003004791A - ポジションデータの生成方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ポジションデータを短時間で生成する。 【解決手段】 回路基板の基板面領域を分割した複数の
エリア毎に各エリア内の複数の検査ポイントについての
所定情報を表示するために、予め得られた各検査ポイン
トについての検査ポイント位置情報および各エリアにつ
いてのエリア位置情報に基づいて、各検査ポイントがい
ずれのエリアに属するかを示すポジションデータを生成
するポジションデータの生成方法であって、同一のエリ
アに属する各検査ポイントのそれぞれについての検査ポ
イント位置情報に基づいて各検査ポイントを代表する代
表ポイントの位置情報を求め（ステップ２４）、求めた
代表ポイントの位置情報とエリア位置情報とに基づいて
代表ポイントが属するエリアを特定し（ステップ２
５）、特定したエリアを代表ポイントに代表される各検
査ポイントが属するエリアとしてポジションデータを生
成する（ステップ２６）。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、検査対象の回路基
板における基板面領域を分割した複数のエリア毎に、そ
の各エリア内の複数の検査ポイントについての検査結果
や検査完了の有無などの所定情報を表示するためのポジ
ションデータの生成方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】この種のポジションデータを利用して検
査結果を表示する回路基板検査装置として、図２に示す
回路基板検査装置３１が従来から知られている。この回
路基板検査装置３１では、基板検査部２が、検査対象の
基板Ｐについて予め設定された複数の検査ポイントに対
してプロービングを行い、所定の電気的検査を実行する
と共に、制御部３５が、その検査結果を表示部４に表示
させる。この場合、図３に示すように、検査対象の基板
Ｐは、いわゆる割り基板または多数枚取り基板と呼称さ
れるプリント基板であって、モジュールＭA1〜ＭD4（以
下、区別しないときには「モジュールＭ」ともいう）が
横方向に４枚（Ａ〜Ｄ）、縦方向に４枚（１〜４）連結
されている。この場合、各モジュールＭは、回路基板検
査装置３１による検査が完了した後に、基板Ｐにおける
同図に示す破線部位で分割されて最終製品として製造さ
れる。したがって、図４に示すように、回路基板検査装
置３１では、各検査ポイントについての検査結果に応じ
て、後述するように、最終製品としてのモジュールＭA1
〜ＭD4のそれぞれに対応するエリアＡA1〜ＡD4（以下、
区別しないときには「エリアＡ」ともいう））を色分け
表示することにより、個々のモジュールＭについての良
否を表示部４に表示する。

【０００３】この回路基板検査装置３１による基板Ｐの
検査に際しては、まず、各検査ポイントのプロービング
座標を示すプロービングデータＤｐを、例えば図外のパ
ーソナルコンピュータを用いて生成する。このプロービ
ングデータＤｐは、図５に示すように、基板検査部２に
よるプロービング（検査ステップ）の順序を示したステ
ップ番号（Ｓ Ｎｏ．）、その検査ステップのステップ
名、その検査ステップがいずれのエリアＡ（モジュール
Ｍ）についての検査ステップであるかを示すポジション
データ（ＰＳ）、その検査ステップにおいてプロービン
グすべきモジュールＭ上のプロービング座標、および基
板Ｐにおける各モジュールＭの配置情報（そのモジュー
ルＭの例えば左上隅位置の基板Ｐ上の基準座標からのず
れ量、すなわちオフセット値）などが記録される。この
場合、パーソナルコンピュータ上でプロービングデータ
Ｄｐを生成する際には、基板Ｐ全体を通して検査すべき
ポイントをリストアップして各検査ステップを順に記述
するため、この際には、各検査ステップがいずれのモジ
ュールＭに属するかは記録されない。したがって、図６
に示すように、生成されたプロービングデータＤｐで
は、ポジションデータ（ＰＳ）が未記録となっている。
なお、この際には、同図におけるステップ番号１〜１０
０についてもポジションデータ（ＰＳ）が未記録となっ
ている。

【０００４】次に、プロービングデータＤｐをパーソナ
ルコンピュータから回路基板検査装置３１に転送した
後、未記録となっている各検査ステップ毎のポジション
データ（ＰＳ）が回路基板検査装置３１によって記録さ
れる。以下、このポジションデータの記録処理を「オー
トロケーション処理」ともいう。このオートロケーショ
ン処理に際しては、まず、制御部３５が、基板Ｐの設計
段階において生成されたＣＡＤデータなどに基づいて、
基板Ｐの外形サイズを取得する。次に、制御部３５は、
取得した基板Ｐの外形サイズと、基板Ｐの分割数（この
場合、横方向に４枚、縦方向に４枚）とに基づいて各モ
ジュールＭ毎の外形サイズを演算する。この場合、図３
に示すように、一例として、基板Ｐの左上を原点（Ｘ
０，Ｙ０）とし、各モジュールＭの横方向（Ｘ方向）お
よび縦方向（Ｙ）方向の長さをそれぞれ値１００とす
る。次いで、制御部３５は、基板Ｐの外形サイズと各モ
ジュールＭ毎の外形サイズとに基づいて、各モジュール
Ｍの基板Ｐ上の位置を特定する。

【０００５】続いて、制御部３５は、各検査ステップ毎
のプロービング座標がいずれのエリアＡに属するかを判
別し、その判別結果をプロービングデータＤｐのポジシ
ョンデータとして記録する。具体的には、図６に示すよ
うに、例えば検査ステップ１は、プロービング座標が
（Ｘ２１，Ｙ２２）でＸ方向およびＹ方向のオフセット
値が共に「０」であるため、制御部３５は、エリアＡA1
内（この場合、（Ｘ０，Ｙ０）〜（Ｘ１００，Ｙ１０
０）の範囲）に属するものとして、検査ステップ１のポ
ジションデータをＡ１と記録する。この処理をすべての
検査ステップに対して順に実行することにより、図５に
示すように、プロービングデータＤｐにおけるポジショ
ンデータの部位に各検査ステップの属するエリアが記録
され、オートロケーション処理が終了する。この後、基
板検査部２が、生成されたプロービングデータＤｐにお
ける各検査ステップ毎のプロービング座標（検査ポイン
ト）に対してプロービングを順次実行し、基板Ｐの各モ
ジュールＭについての電気的検査を実行する。

【０００６】次に、制御部３５は、基板検査部２による
基板Ｐに対する電気的検査が完了した後、図４に示すよ
うに、検査結果表示用画面１１を表示部４に表示させ
る。この検査結果表示用画面１１では、実際の基板Ｐに
おける基板面領域のすべてのモジュールＭA1〜ＭD4につ
いての検査結果が、表示部４に表示させた基板Ｐ上の対
応するエリアＡA1〜ＡD4にそれぞれ表示される。例えば
検査結果表示用画面１１上のエリアＡA1には、基板Ｐ上
の対応するモジュールＭA1についての検査ステップの検
査結果が表示される。具体的には、そのモジュールＭに
ついてのすべての検査ステップにおいて絶縁不良や導通
不良など（以下、単に「不良」ともいう）の発生が認め
られなかったときには、そのモジュールＭに対応する検
査結果表示用画面１１上のエリアＡを例えば白色で表示
する。一方、そのモジュールＭについての検査ステップ
のいずれかにおいて不良の発生が認められたときには、
そのモジュールＭに対応する検査結果表示用画面１１上
のエリアＡを例えば赤色（同図では「斜線」で示す）で
表示する。これにより、オペレータは、表示部４に表示
された検査結果表示用画面１１を参照するだけで、検査
対象の基板Ｐにおける不良の有無、および不良が存在す
るモジュールＭを直感的に特定することができる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の回路
基板検査装置３１には、以下の問題点がある。すなわ
ち、従来の回路基板検査装置３１では、各モジュールＭ
毎の検査結果を検査結果表示用画面１１上に表示させる
ためには、まず、各検査ステップのプロービング座標や
オフセット値に基づいてポジションデータをそれぞれ特
定する必要がある。一方、基板Ｐの各モジュールＭに
は、２００００以上の検査ポイントが存在することもあ
る。このため、各検査ステップ毎に、その検査ポイント
がいずれのエリアＡ（モジュールＭ）に属するかを判別
している従来の回路基板検査装置３１には、ポジション
データの生成に膨大な時間を要するという問題点があ
る。

【０００８】また、従来の回路基板検査装置３１では、
各検査ステップ毎のプロービング座標やオフセット値、
およびモジュールＭの外形サイズと基板Ｐ上での位置と
に基づいて、その検査ステップがいずれのエリアＡ（モ
ジュールＭ）についての検査ステップであるかを判別す
る必要がある。しかし、各種サイズおよび形状が異なる
異種のモジュールが連結された基板Ｐについては、基板
Ｐの外形サイズとモジュールＭの分割数とに基づいて各
モジュールＭ毎の外形サイズを特定するのが困難とな
る。このため、このような基板Ｐについては、例えばＣ
ＡＤデータから各モジュールＭ毎のサイズ情報を取得
し、取得したサイズ情報に基づいて外形サイズを特定す
る必要がある。しかし、この方法には、取得したサイズ
情報と、実際の基板ＰにおけるモジュールＭ毎のサイズ
との間に若干の誤差が生じることがあるため、例えば隣
り合うモジュールＭ，Ｍの境界部近傍にプロービングす
る検査ステップについて、本来属するべきモジュールＭ
の隣のモジュールＭについての検査ステップと誤って判
別することがある。したがって、誤って判別された検査
ステップにおいて不良が生じていると判別した際には、
不良が存在するモジュールＭの隣のモジュールＭに対応
するエリアＡが赤色に誤表示されるという問題がある。

【０００９】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
ものであり、ポジションデータを短時間で生成可能なポ
ジションデータの生成方法を提供することを主目的とす
る。また、正確なポジションデータを生成可能なポジシ
ョンデータの生成方法を提供することを他の目的とす
る。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく請
求項１記載のポジションデータの生成方法は、検査対象
の回路基板における基板面領域を分割した複数のエリア
毎に当該各エリア内の複数の検査ポイントについての所
定情報を表示するために、予め得られた前記各検査ポイ
ントについての検査ポイント位置情報および前記各エリ
アについてのエリア位置情報に基づいて、前記各検査ポ
イントがいずれのエリアに属するかを示すポジションデ
ータを生成するポジションデータの生成方法であって、
同一の前記エリアに属する各検査ポイントのそれぞれに
ついての前記検査ポイント位置情報に基づいて当該各検
査ポイントを代表する代表ポイントの位置情報を求め、
当該求めた代表ポイントの位置情報と前記エリア位置情
報とに基づいて当該代表ポイントが属する前記エリアを
特定し、当該特定したエリアを前記代表ポイントに代表
される前記各検査ポイントが属するエリアとして前記ポ
ジションデータを生成することを特徴とする。

【００１１】請求項２記載のポジションデータの生成方
法は、請求項１記載のポジションデータの生成方法にお
いて、前記同一のエリアに属する前記各検査ポイントの
それぞれについての前記検査ポイント位置情報としての
座標データにおけるＸ軸成分の総和およびＹ軸成分の総
和を当該各検査ポイントの数でそれぞれ除することによ
って当該各検査ポイントの中心部に位置する中心座標を
求め、当該求めた中心座標を前記代表ポイントとして用
いることを特徴とする。

【００１２】請求項３記載のポジションデータの生成方
法は、請求項１または２記載のポジションデータの生成
方法において、前記同一のエリアに属する各検査ポイン
トのいずれかに不良が存在するときに当該エリアに不良
が存在する旨の検査結果を前記所定情報として表示する
ための前記ポジションデータを生成することを特徴とす
る。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明に係るポジションデータの生成方法の好適な実施の形
態について説明する。

【００１４】最初に、本発明に係るポジションデータの
生成方法に従ってプロービングデータＤｐを生成する回
路基板検査装置１の構成について、図面を参照して説明
する。なお、従来の回路基板検査装置３１と同一の構成
要素については、同一の符号を付して重複した説明を省
略する。

【００１５】回路基板検査装置１は、いわゆるフライン
グテスタであって、図２に示すように、基板検査部２、
操作部３、表示部４、制御部５、ＲＡＭ６およびＲＯＭ
７を備えている。基板検査部２は、基板Ｐに接触して電
気的検査を実行するための一対の接触型のプローブ２
ａ，２ａと、制御部５の制御下で両プローブ２ａ，２ａ
を任意のＸ−Ｙ−Ｚ方向に移動させるＸ−Ｙ−Ｚ移動機
構（図示せず）とを備え、基板Ｐの各検査ポイントにつ
いての断線や短絡などの不良の有無を電気的に検査す
る。操作部３は、回路基板検査装置１の動作条件を設定
するための各種キーを備えている。表示部４は、特に限
定されないが、例えばカラー表示可能なＬＣＤパネルで
構成されている。この表示部４は、制御部５の制御下
で、図４に示す検査結果表示用画面１１などを表示す
る。制御部５は、基板検査部２の動作制御や表示部４の
表示制御を実行する。ＲＡＭ６は、基板Ｐについての検
査手順が記録されたプロービングデータＤｐや制御部５
の演算結果などを一時的に記憶し、ＲＯＭ７は、制御部
５の動作プログラムを記憶する。なお、検査対象の基板
Ｐについては、回路基板検査装置３１の検査対象と同一
であるものとし、同一の符号を付して重複した説明を省
略する。

【００１６】次に、回路基板検査装置１による基板Ｐの
検査方法について、図面を参照して説明する。

【００１７】基板Ｐの検査に際しては、まず、各検査ポ
イントのプロービング座標を示すプロービングデータＤ
ｐを例えば図外のパーソナルコンピュータ上で生成す
る。このプロービングデータＤｐ（図５参照）は、前述
したように、ステップ番号、ステップ名、ポジションデ
ータ、モジュールＭ上のプロービング座標、および各モ
ジュールＭのオフセット値などで構成され、同一のモジ
ュールＭに関する検査ステップが１００ステップずつ連
続して記録される。この場合、プロービング座標および
オフセット値で本発明における予め得られた検査ポイン
ト位置情報が構成される。なお、生成直後のプロービン
グデータＤｐでは、前述したようにポジションデータが
未記録となっている。また、例えば検査ステップ１〜１
００までの１００ステップについては、同一のモジュー
ルＭに関する検査ステップであることは特定できるもの
の、ポジションデータが未記録の状態では、これら１０
０ステップずつの検査ステップがいずれのモジュールＭ
に関する検査ステップであるかは特定不能となってい
る。

【００１８】次に、プロービングデータＤｐをパーソナ
ルコンピュータから回路基板検査装置１に転送する。次
いで、制御部５が、プロービングデータＤｐにおける未
記録のポジションデータ（ＰＳ）を記録するために、図
１に示すオートロケーション処理２０を実行する。この
処理では、まず、制御部５が、例えば基板Ｐの設計段階
で既に生成されているＣＡＤデータに基づいて、基板Ｐ
の外形サイズと基板Ｐの分割数（モジュールＭの配列
数）とを取得する（ステップ２１）。次に、制御部５
は、取得した基板Ｐの外形サイズと、基板Ｐの分割数
（この場合、横方向に４枚、縦方向に４枚）とに基づい
て各モジュールＭ毎の外形サイズを演算する（ステップ
２２）。次いで、制御部５は、基板Ｐの外形サイズと、
各モジュールＭ毎の外形サイズと、各モジュールＭの基
板Ｐ上における原点（Ｘ０，Ｙ０）からのオフセット値
とに基づいて、各モジュールＭの基板Ｐ上での位置を特
定する（ステップ２３）。この際には、例えばモジュー
ルＭA1の基板Ｐ上における座標が（Ｘ０，Ｙ０）〜（Ｘ
１００，Ｙ１００）の範囲で、モジュールＭD4の基板Ｐ
上における座標が（Ｘ３００，Ｙ３００）〜（Ｘ４０
０，Ｙ４００）の範囲であることを示す範囲情報（本発
明における予め得られたエリア位置情報に相当する）が
作成される。

【００１９】続いて、制御部５は、１つのモジュールＭ
に関するすべての検査ステップ、すなわち検査ステップ
１〜１００，１０１〜２００・・１５０１〜１６００の
各１００ステップ毎の代表座標を決定する（ステップ２
４）。具体的には、制御部５は、例えば検査ステップ１
〜１００のそれぞれのプロービング座標（座標とオフセ
ット値との合計値）に基づいて、各検査ステップで実行
するプロービング座標の中心座標を演算する。この際
に、例えば、各検査ステップにおけるプロービング座標
のＸ軸成分（座標のＸ軸成分の値とオフセット値のＸ軸
成分の値との合計値）を合計して検査ステップ数（この
場合、１００）で除すことにより、中心座標のＸ軸成分
を演算する。同様にして、各検査ステップにおけるプロ
ービング座標のＹ軸成分（座標のＹ軸成分の値とオフセ
ット値のＹ軸成分の値との合計値）を合計して検査ステ
ップ数で除すことにより、中心座標のＹ軸成分を演算す
る。これにより、同一のモジュールＭに対する１００ス
テップについての中心座標Ｚ（図３参照）が求められ
る。この場合、各検査ステップ毎のプロービング座標が
モジュールＭA1の全域に散りばめられて規定されている
ため、これらのプロービング座標から演算した中心座標
Ｚは、同図に示すように、モジュールＭA1の中心部また
はほぼ中心部の座標と等しくなる。この後、この中心座
標Ｚを代表座標（本発明における代表ポイントに相当す
る）として以下のステップを順に実行する。

【００２０】次に、制御部５は、決定した代表座標と、
ステップ２３で作成した各モジュールＭの範囲情報とに
基づいて、その代表座標がいずれのモジュールＭに属す
るかを判別する。次いで、制御部５は、判別したモジュ
ールＭに対応するエリアＡを、ステップ２４で代表座標
を決定した１００ステップ分のすべての検査ステップが
属すべきエリアＡとして決定する（ステップ２５）。続
いて、図６に示すように、制御部５は、決定したエリア
Ａに関する情報をプロービングデータＤｐにおけるステ
ップ１〜１００の検査ステップについてのポジションデ
ータとして一括記録する（ステップ２６）。この後、制
御部５は、検査ステップ１０１〜２００，２０１〜３０
０・・１５０１〜１６００についてもステップ２４〜２
６を実行する。これにより、図５に示すように、プロー
ビングデータＤｐにおけるすべての検査ステップについ
てのポジションデータが記録され、オートロケーション
処理２０が完了する。

【００２１】次に、基板検査部２が、制御部５の制御下
で、プロービングデータＤｐに基づく基板Ｐについての
電気的検査を実行する。この際に、基板検査部２は、基
板Ｐ上の所定の一対のプロービング座標にそれぞれ対応
する一対の検査ポイントにプローブ２ａ，２ａを接触さ
せ、一方のプローブ２ａから検査信号を出力しつつ他方
のプローブ２ａを介して検査信号を入力する。次に、一
対の検査ポイント間の例えば抵抗値を測定し、その抵抗
値に基づいて、両検査ポイント間の短絡または絶縁を検
査し、その検査結果を制御部５に出力する。これに応じ
て、制御部５は、入力した検査結果をＲＡＭ６に記憶さ
せる。このようにして基板検査部２による各検査ポイン
トについての電気的検査、および制御部５によるＲＡＭ
６への各検査結果の記憶処理を順次実行することによ
り、基板Ｐ上のすべての検査ポイントについての検査結
果がＲＡＭ６に記憶される。

【００２２】次に、すべての検査ポイントについての電
気的検査が完了した後に、制御部５は、その検査結果を
表示部４に表示させる。この場合、図４に示すように、
制御部５は、基板Ｐを構成する１６枚のモジュールＭA1
〜ＭD4のそれぞれに対応する１６区画のエリアＡA1〜Ａ
D4の各々を検査結果表示単位として検査結果表示用画面
１１を表示部４に表示させ、各エリアＡ（モジュール
Ｍ）に属する検査ポイントについての検査結果を例えば
白赤の表示色で色分け表示する。具体的には、制御部５
は、ＲＡＭ６に記憶されている検査結果に基づいて、各
エリアＡに属する検査ポイントのいずれかに不良が発生
しているときには、対応するエリアＡを赤色で表示す
る。また、各エリアＡに属する検査ポイントに不良が発
生していないときには、対応するエリアＡを白色で表示
する。これにより、例えば、すべての検査ポイントに不
良が発生していないモジュールＭA1，ＭB1，ＭD4などに
ついては、検査結果表示用画面１１上の対応するエリア
ＡA1，ＡB1，ＡD4が白色で表示され、いずれかの検査ポ
イントに不良が発生しているモジュールＭC1について
は、対応するエリアＡC1が赤色で表示される。これによ
り、オペレータは、検査結果表示用画面１１を参照する
ことで、基板Ｐについての不良の有無、および基板Ｐ上
で不良が発生しているモジュールＭA1〜ＭD4の位置を正
確かつ直感的に特定することができる。

【００２３】このように、この回路基板検査装置１によ
れば、同一のモジュールＭについての１００ステップ分
の検査ステップについて求めた代表座標に基づいて、各
検査ステップが属するエリアＡを特定してポジションデ
ータとして一括して記録することにより、各検査ステッ
プ毎に該当するエリアＡを個別的に特定する従来のポジ
ションデータの生成方法と比較して、オートロケーショ
ン処理に要する時間を大幅に短縮することができる。こ
の場合、本発明の実施の形態では、本発明についての理
解を容易とするために、１つのモジュールＭ当り１００
ステップのプロービングを実行する例を説明したが、実
際に基板Ｐを検査する際には、１つのモジュールＭ当り
２００００ステップ以上のプロービングを実行する。こ
のため、従来のポジションデータの生成方法と比較した
場合、オートロケーション処理に要する時間をほぼ１／
２００００に短縮することができる。

【００２４】また、この回路基板検査装置１によれば、
同一のモジュールＭに関する１００ステップについての
中心座標Ｚを代表座標として用いることにより、前述し
たように、この中心座標がモジュールＭの中心部近傍に
位置するため、例えば隣接する他のエリアＡに近い座標
に基づく該当エリアの判別方法とは異なり、本来属すべ
きエリアＡを正確に特定することができる。これによ
り、正確なポジションデータを生成することができると
共に、各モジュールＭについての検査結果を、その検査
ポイントが属すべきエリアＡに正確に表示することがで
きる。

【００２５】なお、本発明は、上記した本発明の実施の
形態に限定されず、適宜変更が可能である。例えば、本
発明の実施の形態では、本発明における代表座標として
中心座標を用いた例を説明したが、本発明における代表
座標はこれに限定されず、同一モジュールＭに対する複
数の検査ステップから任意に選択した検査ステップのプ
ロビーング座標を代表座標としてもよい。また、本発明
の実施の形態では、検査に際して接触型のプローブ２ａ
を所定の検査ポイントに接触させるためプロービング座
標を用いて代表座標を求めた例を説明したが、非接触型
のプローブを使用する回路基板検査装置では、検査時に
非接触型のプローブを配置すべき検査座標を用いて代表
座標を求めることができる。

【００２６】また、本発明の実施の形態では、本発明に
おける所定情報として各モジュールＭ毎の検査結果を表
示させる例を説明したが、本発明はこれに限定されず、
例えば、各検査時点における検査ポイントが属するモジ
ュールＭに対応するエリアＡを表示させたり、検査を完
了したモジュールＭに対応するエリアＡを表示させるこ
ともできる。この場合、表示方法についても本発明の実
施の形態に例示した色分け表示に限定されず、例えば不
良が存在するエリアＡを特定可能な文字情報を表示させ
てもよい。さらに、本発明の実施の形態では、最終製品
としてのモジュールＭA1〜ＭD4が連結された基板Ｐ（割
り基板）を検査対象とした例を説明したが、本発明にお
ける回路基板はこれに限定されない。例えば、１枚の回
路基板を複数の基板面領域に分割して、各基板面領域毎
の検査結果を表示させる際にも、本発明におけるポジシ
ョンデータの生成方法を有効に適用することができる。

【００２７】

【発明の効果】以上のように、請求項１記載のポジショ
ンデータの生成方法によれば、同一のエリアに属する各
検査ポイントを代表する代表ポイントの位置情報を求
め、その代表ポイントの位置情報とエリア位置情報とに
基づいて代表ポイントが属するエリアを特定して、その
エリアを代表ポイントに代表される各検査ポイントが属
するエリアとしてポジションデータを生成することによ
り、各検査ポイント毎にその検査ポイントが属するエリ
アを特定してポジションデータを生成する従来方法と比
較して、同一のエリアに属する各検査ポイントについて
のポジションデータを一括して生成できるため、短時間
でポジションデータを生成することができる。

【００２８】また、請求項２記載のポジションデータの
生成方法によれば、同一のエリアに属する各検査ポイン
トのそれぞれについての検査ポイント位置情報としての
座標データにおけるＸ軸成分の総和およびＹ軸成分の総
和を各検査ポイントの数でそれぞれ除することによって
求めた中心座標を代表ポイントとして用いることによ
り、中心座標が各エリアの中心部に位置するため、隣接
する他のエリアに属するといった誤った特定を防止でき
る結果、各検査ポイントが属するエリアを正確に特定し
てポジションデータを生成することができる。

【００２９】さらに、請求項３記載のポジションデータ
の生成方法によれば、生成したポジションデータに基づ
いて検査結果を表示する際に、不良が存在するエリアお
よび正常なエリアを正確に表示させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】回路基板検査装置１によって実行されるオート
ロケーション処理２０のフローチャートである。

【図２】本発明の実施の形態に係る回路基板検査装置１
および従来の回路基板検査装置３１のそれぞれの構成を
示すブロック図である。

【図３】回路基板検査装置１，３１の検査対象である基
板Ｐの基板面領域におけるモジュールＭA1〜ＭD4の概念
を説明する説明図である。

【図４】基板Ｐについての検査結果を一覧表示する検査
結果表示用画面１１の表示画面図である。

【図５】基板Ｐについての検査手順を示すプロービング
データＤｐの内容を説明するための説明図である。

【図６】検査ステップ１〜１００にポジションデータを
記録した状態のプロービングデータＤｐの内容を説明す
るための説明図である。

【符号の説明】

１ 回路基板検査装置 ２ 基板検査部 ３ 操作部 ４ 表示部 ５ 制御部 ６ ＲＡＭ ７ ＲＯＭ １１ 検査結果表示用画面 ２０ オートロケーション処理 ＡA1〜ＡD4 エリア Ｄｐ プロービングデータ ＭA1〜ＭD4 モジュール Ｐ 基板

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 検査対象の回路基板における基板面領域
   を分割した複数のエリア毎に当該各エリア内の複数の検
   査ポイントについての所定情報を表示するために、予め
   得られた前記各検査ポイントについての検査ポイント位
   置情報および前記各エリアについてのエリア位置情報に
   基づいて、前記各検査ポイントがいずれのエリアに属す
   るかを示すポジションデータを生成するポジションデー
   タの生成方法であって、 同一の前記エリアに属する各検査ポイントのそれぞれに
   ついての前記検査ポイント位置情報に基づいて当該各検
   査ポイントを代表する代表ポイントの位置情報を求め、
   当該求めた代表ポイントの位置情報と前記エリア位置情
   報とに基づいて当該代表ポイントが属する前記エリアを
   特定し、当該特定したエリアを前記代表ポイントに代表
   される前記各検査ポイントが属するエリアとして前記ポ
   ジションデータを生成することを特徴とするポジション
   データの生成方法。
2. 【請求項２】 前記同一のエリアに属する前記各検査ポ
   イントのそれぞれについての前記検査ポイント位置情報
   としての座標データにおけるＸ軸成分の総和およびＹ軸
   成分の総和を当該各検査ポイントの数でそれぞれ除する
   ことによって当該各検査ポイントの中心部に位置する中
   心座標を求め、当該求めた中心座標を前記代表ポイント
   として用いることを特徴とする請求項１記載のポジショ
   ンデータの生成方法。
3. 【請求項３】 前記同一のエリアに属する各検査ポイン
   トのいずれかに不良が存在するときに当該エリアに不良
   が存在する旨の検査結果を前記所定情報として表示する
   ための前記ポジションデータを生成することを特徴とす
   る請求項１または２記載のポジションデータの生成方
   法。