JPH01193664A - 故障解析表示装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は９部品の搭載された基板のファンクションテ
ストを行い、ファンクションテストの結果フェイルした
場合、そのフェイル情報、テスト入カバターン等により
故障解析を行い表示を行う故障解析表示装置に関するも
のである。

〔従来の技術〕

従来９部品が搭載されている基板のファンクションテス
トでフェイルした時の故障解析は、基板テストのための
テストパターン作成時につくられる故障指摘リストと基
板の論理図面、フェイルしｔ時の入カバターン、その入
カバターンを印加した時の期待値等をもと忙して、基板
上のどこかに故障が存在するかを人手で解析を行ってい
た。

これをもう少し詳しく説明すると１部品の搭載されてい
る基板のファンクションテストは、基板の外部入力ピン
より入カバターン系列を印加してその結果を基板の外部
出力ピンより観測して期待値と比較することによって行
う。この時、実際のテスト結果と期待値が一致しない場
合は基板上に故障が存在し、基板上のどこに故障が存在
するかを解析、指摘を行い、故障部品の交換等の処理を
行う必要が生じる。

この故障の解析、指摘のために、ファンクションテスト
を行うための入カバターンの各パターンに対して、その
パターンで検出することのできる故障箇所を示す故障指
摘リストを参照し、その他基板の論理図面等を参照して
故障解析、故障指摘を行っていた。基板のファンクショ
ンテストの入カバターン系列は大＾いので、故障指摘リ
スト量は太き（、また、実際のテストでは、１パターン
だけでフェイルするのではなく、入カバターン系列の数
パターン、数１０パターンの複数パターンでフェイルす
るので解析が容易ではなかった。

し発明が解決しようとする課題〕 従来の基板のファンクションテストでフェイルした時の
故障解析は９以上のような方法であるため、容易に故障
の指摘をすることができず、故障解析を行うために故障
指摘リスト、図面等を必要とし、多大な時間、労力がか
かる等の問題点があった。

この発明は上記の様な問題点を解消するためになされた
もので、基板のファンクションテストでフェイルし々時
の入カバターン、フェイル情報をもとに自動的に故障解
析を行い、基板上の故障の可能性のある部品を図式的に
表示し、テスターのプローブピンで実際の基板上の上記
表示された部品のピンに接触させテストを行い、フェイ
ルしたパターンでのこの部品のピンの観測値をもとにし
て、上記表示された部品の中から実際に故障している部
品を指摘し、それを表示することのできる故障解析表示
装置を得ることを目的とするものである。

〔課題を解決するための手段〕

この発明に係る故障解析表示装置は、故障解析を行うの
に必要な情報を保持する記憶手段（４）と。

この記憶手段（４）に保持された情報忙基き上記フェイ
ルが起った時故障解析を行う故障解析手段ａ１を有する
中央処理手段１１）と、この中央処理手段＋１）による
故障解析による結果を図式的に表示する表示装Ｒ１３）
とを備えたことを特徴とするものである。

〔作用〕

ファンクションテストの結果フェイルした場合中央処理
手段に保持された情報に基づいて故障解析手段を作動さ
せることによって故障の可能性のある部品が表示装置に
図式的に表示される。つぎにこの表示された部品のピン
にプローブピンを接触すせ、７エイルし念パターンでの
その部品のピンの観測値をもとに故障解析手段により実
際に故障している部品を表示装置に図示的に表示する。

〔発明の実施例〕

坂下、この発明の一実施例について説明する。

第１図は、この発明の一実施例であるシステム構成を示
す図である。第１図において（１）は中央処理手段、（
２）は故障解析表示を指示するためのコンソール、（３
）は故障解析結果を表示する表示装置。

（４）は故障解析を行うために必要な情報を保持する記
憶手段１例えば磁気ディスク等、（５）は必要なリスト
を出力するためのプリンター、（６）は中央処理手段お
よび基板テスター本体とを接続するインターフェース部
、（８）はプローブピン、（９）はテストする基板を接
続させるアダプター、また第２図は基板のファンクショ
ンテストの入カバターン系列及び期待値をシミュレーシ
ョン等で作成するときに同時に作成する故障指摘のため
の情報の一例を示した同である。第２図においてａ９と
１１３は、入カバターン系列の各パターンで噴出できる
故障を表わすもので１例えば故障番号テーブル６９の先
頭の１−１−故障番号はパターン番号１の入カバターン
を印加して基板の出力ピン番号１のピンでフェイルした
時は、この故障番号の箇所が故障の可能性があるという
ことを示し、故障場所テーブルα２でこの故障番号に対
応する故障箇所９例えば基板上に搭載されている部品を
示す。第２図の期待信号値テーブル口３は、入カバター
ン系列の各パターンを印加した時の基板上の各部品の出
力ピンにおける期待信号値を示す。

第３図と第４図は実際の基板のファンクションテストで
フェイルした時の表示装置での表示例を示すもので、第
３図においては、実際の基板ファンクションテストでフ
ェイルした時のフェイル情報を基忙故障雫析手段の作動
後の表示装置上での表示例を示す。第３図の１′？１は
基板の表示、のと（至）と［有］は故障の可能性のある
基板上の部品を視覚的に表示させている。第４図は、第
３図の表示で故障の可能性があると指摘された部品に対
してプローブピンをあててテストを行い、各部品のピン
の観測値を基に故障解析プログラムを実行し、その結果
の表示を示す。第４図の（８）は基板上の部品のピンに
接触させ観測を行うプローブピン、のは基板上の部品、
（ハ）は部品のピン、ＱＤは部品が搭載されている基板
、（９）はテスターと基板を接続させるアダプター、（
７）はテスター本体を示し、ｃ！υは表示装置で表示さ
れる基板、のと（至）と０４は故障の可能性のあると指
摘された部品、＠はプローブピンで観測した観測値を基
に故障解析手段を作動させた結果、故障部品であると指
摘されたことを示す。

第４図の＠は視覚的に他の部品と異なる色で表示され、
＠はこの部品のこのピンの出力で故障があられれている
ことを示し、＠のピンも視覚的に他のピンと異なる色で
表示される。

以上のように構成された故障解析表示装置において、基
板のファンクションテストを行った結果フェイルした場
合には第１図の記憶手段（４）に記憶された９例えばフ
ェイルした時の情報であるフェイルしたパターン番号、
出力ピン番号と第２図とｉｎとα２で示されている故障
指摘情報をもとにして。

第１図の中央処理手段（１）は故障解析手段を作動し。

この実行に基づいて第１図の表示装置　（３）Ｆｉその
結果を表示する。第３図はその表示例を示すもので。

故障解析手段の作動で故障の可能性があると指摘された
基板上の部品だけを視覚的に表示し、この表示例では勾
とＧと１２４の３つの部品が指摘されている。次に、上
記表示された部品のピンにプローブピンを接触させてフ
ァンクションテストを行い。

フェイルパターンでの部品のピンの信号値を観測し、こ
の観測値と、第２図の０で示されている期待信号値テー
ブルの情報をもとにして故障解析プログラムを実行し、
このプログラムの実行に基づいて第１図の表示装置（３
）はその結果を表示する。

第４図は、この表示例を示すもので、［有］の部品と翰
のピンが視覚的に他の部品、他のピンと異なる色で表示
され、この１２４の部品に故障があることを表示し、基
板上のどの部品が実際に故障しているかを指摘する。

〔発明の効果〕

この発明は以上説明したように、故障解析を行うのに必
要な情報を保持する記憶手段と故障解析を行う故障解析
手段を有する中央処理手段と、この中央処理手段ｆよる
故障解析により、故障箇所を視覚的に表示する表示装置
を備えたので、故障解析のための時間、労力を大幅に減
らすことができ、実際の故障箇所を自動的に指摘するこ
とができるという効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の一実施例である故障解析表示装置
の構成図、第２図は故障指摘を行う情報の一例を示す図
、第３図は部品を表示する図、第４図は故障部品を表示
する図である。 ＋１）は中央処理手段、（３）は表示装置、（４）は記
憶手段、（７）はテスター本体、（８）はプローブピン
、（９）はアダプター、　０１は故障解析手段、Ｕは故
障番号テーブル、ｆｉｚは故障場所テーブル、０りは期
待信号値テーブルである。 なお９図中同一符号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 基板上部品の故障情報を知るための手段と、故障解析を
   行うのに必要な情報を保持する記憶手段と、上記故障情
   報の解析を行う故障解析手段を有する中央処理手段と、
   この中央処理手段の故障解析結果を図式的に表示する表
   示手段とを備えたことを特徴とする故障解析表示装置。