JPH0412490B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0412490B2 JPH0412490B2 JP59042093A JP4209384A JPH0412490B2 JP H0412490 B2 JPH0412490 B2 JP H0412490B2 JP 59042093 A JP59042093 A JP 59042093A JP 4209384 A JP4209384 A JP 4209384A JP H0412490 B2 JPH0412490 B2 JP H0412490B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- defective
- system board
- microcomputer
- microcomputer system
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- Prior art date
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 49
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Microcomputers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
この発明は、自動不良部品解析装置に関するも
ので、例えば、ボード構成のマイクロコンピユー
タシステムにおける不良部品を識別するものに利
用して有効な技術に関するものである。
ので、例えば、ボード構成のマイクロコンピユー
タシステムにおける不良部品を識別するものに利
用して有効な技術に関するものである。
ユーザーにおいて、不良となつたボード構成の
マイクロコンピユータシステム等において、どの
部品が不良であるかを検出する場合、シンクロス
コープ等によつて各部品の信号を調べることによ
り不良箇所（部品）を検出する。このような手作
業の簡素化を図るために、剣山方式と呼ばれる検
査方法が考えられる。すなわち、この剣山方式に
あつては、各部品の所定の端子（電極）にプロー
ブを接続させるインサーキツトテスターを構成す
ることによつて、不良個所を自動的に検出するも
のである。しかしながら、この方式にあつては、
多数のプローブをボード上の各部品の電極又は配
線に接続させるため、おおがかりな装置となるば
かりでなく、そのためのテストプログラムを作成
しなければならないという問題がある。
マイクロコンピユータシステム等において、どの
部品が不良であるかを検出する場合、シンクロス
コープ等によつて各部品の信号を調べることによ
り不良箇所（部品）を検出する。このような手作
業の簡素化を図るために、剣山方式と呼ばれる検
査方法が考えられる。すなわち、この剣山方式に
あつては、各部品の所定の端子（電極）にプロー
ブを接続させるインサーキツトテスターを構成す
ることによつて、不良個所を自動的に検出するも
のである。しかしながら、この方式にあつては、
多数のプローブをボード上の各部品の電極又は配
線に接続させるため、おおがかりな装置となるば
かりでなく、そのためのテストプログラムを作成
しなければならないという問題がある。
この発明の目的は、簡単な構成と、簡単な操作
によつて、ボード上の不良部品を自動的に検出す
ることができる自動不良部品解析装置を提供する
ことにある。
によつて、ボード上の不良部品を自動的に検出す
ることができる自動不良部品解析装置を提供する
ことにある。
この発明の前記ならびにその他の目的と新規な
特徴は、この明細書の記述および添付図面から明
らかになるであろう。
特徴は、この明細書の記述および添付図面から明
らかになるであろう。
本願において開示される発明のうち代表的なも
のの概要を簡単に説明すれば、下記の通りであ
る。すなわち、マイクロコンピユータシステムボ
ードにおける共通バスのデータやアドレス並びに
個別信号線の情報をそのマシンサイクルに従つて
取り込む信号取り込み回路を用い、良品に対する
上記マイクロコンピユータシステムボードの情報
としての良品情報と意図的に発生させられた各部
品の不良状態の情報とをそれぞれフアイルしてお
いて、上記信号取り込み回路によつて取り込まれ
た被試験用マイクロコンピユータシステムボード
からの信号としこれに対応した上記良品情報フア
イルとを比較して不一致サイクルにおける上記不
良情報フアイルの情報を参照して不良部品情報を
出力させるものである。
のの概要を簡単に説明すれば、下記の通りであ
る。すなわち、マイクロコンピユータシステムボ
ードにおける共通バスのデータやアドレス並びに
個別信号線の情報をそのマシンサイクルに従つて
取り込む信号取り込み回路を用い、良品に対する
上記マイクロコンピユータシステムボードの情報
としての良品情報と意図的に発生させられた各部
品の不良状態の情報とをそれぞれフアイルしてお
いて、上記信号取り込み回路によつて取り込まれ
た被試験用マイクロコンピユータシステムボード
からの信号としこれに対応した上記良品情報フア
イルとを比較して不一致サイクルにおける上記不
良情報フアイルの情報を参照して不良部品情報を
出力させるものである。
図面には、この発明に係る自動不良部品解析装
置の一実施例のブロツク図が示されている。
置の一実施例のブロツク図が示されている。
信号取り込み回路INは、配線基板に半導体集
積回路化された複数個の回路部品が搭載されると
共に、それらが共通バス並びに個別配線で結合さ
れて成るマイクロコンピユータシステムボート
（以下単にボード構成のマイクロコンピユータと
も記す）μCOMがそのコネクタに差し込まれるこ
とによつて、共通バスに含まれるデータバス上の
信号やアドレス上の信号などそのマシンサイクル
毎に取り込むものである。また、上記ボード上の
任意の部品における電極に接続されるプローブに
よつてその信号をも取り込むものである。
積回路化された複数個の回路部品が搭載されると
共に、それらが共通バス並びに個別配線で結合さ
れて成るマイクロコンピユータシステムボート
（以下単にボード構成のマイクロコンピユータと
も記す）μCOMがそのコネクタに差し込まれるこ
とによつて、共通バスに含まれるデータバス上の
信号やアドレス上の信号などそのマシンサイクル
毎に取り込むものである。また、上記ボード上の
任意の部品における電極に接続されるプローブに
よつてその信号をも取り込むものである。
また、良品情報フアイルGFは、特に制限され
ないが、フロツピーディスク記憶装置により構成
され、良品のマイクロコンピユータμCOMを上記
信号取り込み回路INに差し込んで得られたデー
タバス上の信号とアドレス上の信号及び上記プロ
ーブにより検出した信号とを順次取り込むもので
ある。このような信号の取り込みのために、特に
制限されないが、マイクロコンピユータμCOMの
プラグラムは、モニタープログラムを実行させら
れるものである。すなわち、ボード上に構成され
たRAM（ランダム・アクセス・メモリ）の書込
み／読み出しテストプログラム、ROM（リー
ド・オンリー・メモリ）の参照テストプログラム
等各動作の基本的な動作をチエツクするためのプ
ログラムが利用される。
ないが、フロツピーディスク記憶装置により構成
され、良品のマイクロコンピユータμCOMを上記
信号取り込み回路INに差し込んで得られたデー
タバス上の信号とアドレス上の信号及び上記プロ
ーブにより検出した信号とを順次取り込むもので
ある。このような信号の取り込みのために、特に
制限されないが、マイクロコンピユータμCOMの
プラグラムは、モニタープログラムを実行させら
れるものである。すなわち、ボード上に構成され
たRAM（ランダム・アクセス・メモリ）の書込
み／読み出しテストプログラム、ROM（リー
ド・オンリー・メモリ）の参照テストプログラム
等各動作の基本的な動作をチエツクするためのプ
ログラムが利用される。
不良品情報フアイルNGFは、特に制限されな
いが、フロツピーデイスク記憶装置により構成さ
れ、上記良品のマイクロコンピユータμCOMを上
記信号取り込み回路INに差し込んだ状態で、各
部品の意図的な不良状態を形成する。例えば、あ
る部品の電極を強制的にハイレベル又はロウレベ
ルに固定し、あるいは配線を断線させるものであ
る。このような意図的な不良状態を形成しておい
て、上記モニタープログラムを実行させて、上記
各種信号の取り込みを行うものである。このよう
にして形成された不良品情報は、その不良個所情
報とともに、上記不良品情報フアイルNGFに書
込むものである。
いが、フロツピーデイスク記憶装置により構成さ
れ、上記良品のマイクロコンピユータμCOMを上
記信号取り込み回路INに差し込んだ状態で、各
部品の意図的な不良状態を形成する。例えば、あ
る部品の電極を強制的にハイレベル又はロウレベ
ルに固定し、あるいは配線を断線させるものであ
る。このような意図的な不良状態を形成しておい
て、上記モニタープログラムを実行させて、上記
各種信号の取り込みを行うものである。このよう
にして形成された不良品情報は、その不良個所情
報とともに、上記不良品情報フアイルNGFに書
込むものである。
マイクロプロセツサCPUは、上記信号取り込
み回路IN、良品情報フアイルGF及び不良品情報
フアイルNGFを制御して、上記良品情報、不良
品情報フアイルを形成する。
み回路IN、良品情報フアイルGF及び不良品情報
フアイルNGFを制御して、上記良品情報、不良
品情報フアイルを形成する。
そして、特に制限されないが、ユーザー等にお
いて不良となつたマイクロコンピユータシステム
μCOMを上記信号取り込み回路INに差し込むと
ともに、所定の個所にプローブを接続して、上記
同様のマシンサイクル毎のデータバス上の信号、
アドレスバス上の信号及びプローブからの信号を
順次取り込むものである。このようにして取り込
まれた信号は、マイクロプロセツサCPUによつ
て上記良品情報フアイルGFからの対応するマシ
ンサイクル毎の信号とを比較して、その不一致個
所を検出する。このようにして検出された不一致
個所のマシンサイクル及びその時の各信号情報か
ら、マイクロプロセツサCPUは、対応するマシ
ンサイクル中における不良情報フアイルNGFの
各種信号を参照することによつて、不良部品を識
別するものである。この不良部品の識別情報（不
良部品No.、不良ピンNo.等）は、特に制限されない
が、デイスプレイ装置CRTを介して表示させる
ものである。このように、上記マイクロプロセツ
サCPUは、キーボードKB、デイスプレイ装置
CRTのような入出力装置により、上記各種動作
モードを実行し、それに応じた情報を出力させ
る。
いて不良となつたマイクロコンピユータシステム
μCOMを上記信号取り込み回路INに差し込むと
ともに、所定の個所にプローブを接続して、上記
同様のマシンサイクル毎のデータバス上の信号、
アドレスバス上の信号及びプローブからの信号を
順次取り込むものである。このようにして取り込
まれた信号は、マイクロプロセツサCPUによつ
て上記良品情報フアイルGFからの対応するマシ
ンサイクル毎の信号とを比較して、その不一致個
所を検出する。このようにして検出された不一致
個所のマシンサイクル及びその時の各信号情報か
ら、マイクロプロセツサCPUは、対応するマシ
ンサイクル中における不良情報フアイルNGFの
各種信号を参照することによつて、不良部品を識
別するものである。この不良部品の識別情報（不
良部品No.、不良ピンNo.等）は、特に制限されない
が、デイスプレイ装置CRTを介して表示させる
ものである。このように、上記マイクロプロセツ
サCPUは、キーボードKB、デイスプレイ装置
CRTのような入出力装置により、上記各種動作
モードを実行し、それに応じた情報を出力させ
る。
(1) 良品情報フアイルと不良品情報フアイルと
は、実際に試験に供されるボード構成のマイク
ロコンピユータシステムと同種のものを利用し
て自動的に形成できるから特別なソフトウエア
の形成が不要になるという効果が得られる。
は、実際に試験に供されるボード構成のマイク
ロコンピユータシステムと同種のものを利用し
て自動的に形成できるから特別なソフトウエア
の形成が不要になるという効果が得られる。
(2) 上記(1)により形成した良品情報フアイルと不
良品情報フアイルとにより、被試験マイクロコ
ンピユータシステムの不良部品を自動的に識別
することができるという効果が得られる。
良品情報フアイルとにより、被試験マイクロコ
ンピユータシステムの不良部品を自動的に識別
することができるという効果が得られる。
(3) 信号取り込み回路の動作と、それを情報フア
イルに転送する動作と、被試験マイクロコンピ
ユータシステムからの信号と上記形成した良品
情報フアイルとを比較する等の基本的なソフト
ウエアを形成するだけで、品種の異なるボード
構成のマイクロコンピユータシステムに適用で
きるという効果が得られる。
イルに転送する動作と、被試験マイクロコンピ
ユータシステムからの信号と上記形成した良品
情報フアイルとを比較する等の基本的なソフト
ウエアを形成するだけで、品種の異なるボード
構成のマイクロコンピユータシステムに適用で
きるという効果が得られる。
(4) 上記ボード構成のマイクロコンピユータシス
テムの外部インタフエース部分をコネクタに差
し込むだけで同コンピユータシステムからの信
号の大半を取り込むことができるから、剣山方
式のような特別な専用の信号取り込み用の装置
が不要になるので、システムの簡素化を図るこ
とができるという効果が得られる。
テムの外部インタフエース部分をコネクタに差
し込むだけで同コンピユータシステムからの信
号の大半を取り込むことができるから、剣山方
式のような特別な専用の信号取り込み用の装置
が不要になるので、システムの簡素化を図るこ
とができるという効果が得られる。
(5) 上記(1)〜(4)により、極めて簡単なハードウエ
ア及びソフトウエアによつて、不良とされたボ
ード構成のマイクロコンピユータシステムにお
ける不良部品を抽出することができるという効
果が得られる。
ア及びソフトウエアによつて、不良とされたボ
ード構成のマイクロコンピユータシステムにお
ける不良部品を抽出することができるという効
果が得られる。
以上本発明者によつてなされた発明を実施例に
基づき具体的に説明したが、この発明は上記実施
例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱し
ない範囲で種々変更可能であることはいうまでも
ない。上記良品情報フアイル、不良品情報フアイ
ル及び被試験マイクロコンピユータからの信号を
取り込むためのプログラムは、そのモニタープロ
グラムの他、特別なテスト用プログラムを形成す
るものであつてもよい。また、各回路ブロツクの
具体的構成は、上記のような動作を行うものであ
れば何であつてもよい。
基づき具体的に説明したが、この発明は上記実施
例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱し
ない範囲で種々変更可能であることはいうまでも
ない。上記良品情報フアイル、不良品情報フアイ
ル及び被試験マイクロコンピユータからの信号を
取り込むためのプログラムは、そのモニタープロ
グラムの他、特別なテスト用プログラムを形成す
るものであつてもよい。また、各回路ブロツクの
具体的構成は、上記のような動作を行うものであ
れば何であつてもよい。
この発明は、ユーザー等において不良となつて
マイクロコンピユータシステムの不良解析の他、
メーカーにおける機能試験装置にも同様に適用で
きるものであり、不良部品解析装置として広く利
用できるものである。
マイクロコンピユータシステムの不良解析の他、
メーカーにおける機能試験装置にも同様に適用で
きるものであり、不良部品解析装置として広く利
用できるものである。
図面は、この発明の一実施例を示すブロツク図
である。 μCOM……マイクロコンピユータシステム、
IN……信号取り込み回路、GF……良品情報フア
イル、NGF……不良品情報フアイル、CPU……
マイクロプロセツサ、CRT……デイスプレイ装
置、KB……キーボード。
である。 μCOM……マイクロコンピユータシステム、
IN……信号取り込み回路、GF……良品情報フア
イル、NGF……不良品情報フアイル、CPU……
マイクロプロセツサ、CRT……デイスプレイ装
置、KB……キーボード。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 半導体集積回路化された複数個の回路部品と
してマイクロコンピユータ及びその周辺回路が配
線基板に搭載され、それらが共通バス並びに個別
信号線で結合されて成るマイクロコンピユータシ
ステムボードの不良回路部品を識別するための装
置であつて、 前記マイクロコンピユータシステムボードがそ
の外部インタフエース部分を介して着脱自在に接
続され、接続された同ボード搭載のマイクロコン
ピユータによる動作プログラムの実行に応じて共
通バス及び所望の個別信号線に現れる情報をマイ
クロコンピユータの動作サイクルに同期して取り
込み可能な信号取り込み回路と、 良品に係るマイクロコンピユータシステムボー
ドを前記動作プログラムに従つて動作させて前記
信号取り込み回路に取り込んだ情報を保持するた
めの良品情報フアイルと、 意図的に前記回路部品に不良を発生させたマイ
クロコンピユータシステムボードを前記動作プロ
グラムに従つて動作させて前記信号取り込み回路
に取り込んだ情報を当該不良に対応させて保持す
るための不良情報フアイルと、 前記信号取り込み回路によつて取り込まれた被
試験用マイクロコンピユータシステムボードから
の信号とこれに対応する上記良品情報フアイルの
情報とを比較し、その比較結果が不一致とされる
サイクルにおける上記不良情報フアイルの情報を
参照して不良回路部品情報を取得する情報処理装
置と、 を含んで成るものであることを特徴とする自動不
良部品解析装置。 ２ 前記情報処理装置は、信号取り込み回路、良
品情報フアイル、及び不良情報フアイルを制御す
るコンピユータシステムであることを特徴とする
特許請求の範囲第１項記載の自動不良部品解析装
置。 ３ 前記動作プログラムは、前記信号取り込み回
路に装着されて動作される被試験用マイクロコン
ピユータシステムボードを動作させてその内蔵回
路部品の動作状態を参照可能にするためのモニタ
プログラムであつて、マイクロコンピユータシス
テムボードそれ自体が保有するものであることを
特徴とする特許請求の範囲第１項又は第２項記載
の自動不良部品解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59042093A JPS60189039A (ja) | 1984-03-07 | 1984-03-07 | 自動不良部品解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59042093A JPS60189039A (ja) | 1984-03-07 | 1984-03-07 | 自動不良部品解析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60189039A JPS60189039A (ja) | 1985-09-26 |
| JPH0412490B2 true JPH0412490B2 (ja) | 1992-03-04 |
Family
ID=12626387
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59042093A Granted JPS60189039A (ja) | 1984-03-07 | 1984-03-07 | 自動不良部品解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60189039A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006226946A (ja) * | 2005-02-21 | 2006-08-31 | Fujitsu Ltd | 半導体装置および半導体試験装置の検証方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS573975A (en) * | 1980-06-05 | 1982-01-09 | Takenaka Komuten Co | Damper for preventing fire and smoke |
| JPS5917625A (ja) * | 1982-07-20 | 1984-01-28 | Nec Corp | シングルチツプマイクロコンピユ−タ |
-
1984
- 1984-03-07 JP JP59042093A patent/JPS60189039A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS573975A (en) * | 1980-06-05 | 1982-01-09 | Takenaka Komuten Co | Damper for preventing fire and smoke |
| JPS5917625A (ja) * | 1982-07-20 | 1984-01-28 | Nec Corp | シングルチツプマイクロコンピユ−タ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60189039A (ja) | 1985-09-26 |
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