JPS60189039A - 自動不良部品解析装置 - Google Patents
自動不良部品解析装置Info
- Publication number
- JPS60189039A JPS60189039A JP59042093A JP4209384A JPS60189039A JP S60189039 A JPS60189039 A JP S60189039A JP 59042093 A JP59042093 A JP 59042093A JP 4209384 A JP4209384 A JP 4209384A JP S60189039 A JPS60189039 A JP S60189039A
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- JP
- Japan
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- defective
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- information file
- circuit
- signals
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Microcomputers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
この発明は、自動不良部品解析装置に関するもので、例
えば、ボード構成のマイクロコンピュータシステムにお
ける不良部品を識別するものに利用して有効な技術に閏
するものである。
えば、ボード構成のマイクロコンピュータシステムにお
ける不良部品を識別するものに利用して有効な技術に閏
するものである。
ユーザーにおいて、不良となったボード構成のマイクロ
コンピュータシステム等において、どの部品が不良であ
るかを検出する場合、ンンクロスコープ等によって各部
品の信号を調べることにより不良個所（部品）を検出す
る。このような手作業の簡素化を図るために、剣山方式
と呼ばれる検査方法が考えられる。ずわなち、この剣山
方式にあっては、各部品の所定の端子（電極）にプロー
ブを接続させるインザーキソトテスターを構成すること
によって、不良個所を自動的に検出するものである。し
かしながら、この方式にあっては、多数のプローブをボ
ード上の各部品の電極又は配線に接続させるため、おお
ががりな装置となるばかりでなく、そのためのテストプ
ログラムを作成しなければならないという問題がある。
コンピュータシステム等において、どの部品が不良であ
るかを検出する場合、ンンクロスコープ等によって各部
品の信号を調べることにより不良個所（部品）を検出す
る。このような手作業の簡素化を図るために、剣山方式
と呼ばれる検査方法が考えられる。ずわなち、この剣山
方式にあっては、各部品の所定の端子（電極）にプロー
ブを接続させるインザーキソトテスターを構成すること
によって、不良個所を自動的に検出するものである。し
かしながら、この方式にあっては、多数のプローブをボ
ード上の各部品の電極又は配線に接続させるため、おお
ががりな装置となるばかりでなく、そのためのテストプ
ログラムを作成しなければならないという問題がある。
この発明の目的は、簡単な構成と、簡単な操作によって
、ボード上の不良部品を自動的に検出することができる
自動不良部品解析装置を提供することにある。
、ボード上の不良部品を自動的に検出することができる
自動不良部品解析装置を提供することにある。
この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
この明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわち、ボード構成のマイクロコンピュータシステム
からのデータ及びアドレスバスからの信号と、所定の回
路部品からの信号をそのマシンサイクルに従って取り込
む信号取り込み回路を用い、良品に対する上記マイクロ
コンピュータシステムの情報を良品情報と意図的に発生
させられた各部品の不良状態の情報とをそれぞれファイ
ルしておいて、上記信号取り込み回路によって取り込ま
れた被試験装置からの信号とこれに対応した上記良品消
和ファイルとを比較して不一致ステップにおける上記不
良情報ファイルの情報を参照して不良部品情報を出力さ
せるものである。
からのデータ及びアドレスバスからの信号と、所定の回
路部品からの信号をそのマシンサイクルに従って取り込
む信号取り込み回路を用い、良品に対する上記マイクロ
コンピュータシステムの情報を良品情報と意図的に発生
させられた各部品の不良状態の情報とをそれぞれファイ
ルしておいて、上記信号取り込み回路によって取り込ま
れた被試験装置からの信号とこれに対応した上記良品消
和ファイルとを比較して不一致ステップにおける上記不
良情報ファイルの情報を参照して不良部品情報を出力さ
せるものである。
図面には、この発明に係る自動不良部品解析装置の一実
施例のブロック図が示されている。
施例のブロック図が示されている。
信号取り込み回路ＩＮは、ボード構成のマイクロコンピ
ュータμＣＯＭがそのコネクタに差し込まれることによ
って、データバス上の信号と、アドレスバス上の信号を
そのマシンサイクル毎に取り込むものである。また、上
記ボード上の任意の部品における電極に接続されるプロ
ーブによってその信号をも取り込むものである。
ュータμＣＯＭがそのコネクタに差し込まれることによ
って、データバス上の信号と、アドレスバス上の信号を
そのマシンサイクル毎に取り込むものである。また、上
記ボード上の任意の部品における電極に接続されるプロ
ーブによってその信号をも取り込むものである。
また、良品情報ファイルＣＦは、特に制限されないが、
フロッピーディスク記憶装置により構成され、良品のマ
イクロコンピュータμＣＯＭを上記信号取り込み回路Ｉ
Ｎに差し込んで得られたデータバス上の信号とアドレス
バス上の信号及び上記プローブにより検出した信号とを
順次取り込むものである。このような信号の取り込みの
ために、特に制限されないが、マイクロコンピュータμ
ＣＯＭのプログラムは、モニタープログラムを実行させ
られるものである。すなわち、ボード上に構成されたＲ
ＡＭ （ランダム・アクセス・メモリ）の書込み／読み
出しテストプログラム、ＲＯＭ （リード・オンリー・
メモリ）の参照テストプログラム等容動作の基本的な動
作をチェックするためのプログラムが利用される。
フロッピーディスク記憶装置により構成され、良品のマ
イクロコンピュータμＣＯＭを上記信号取り込み回路Ｉ
Ｎに差し込んで得られたデータバス上の信号とアドレス
バス上の信号及び上記プローブにより検出した信号とを
順次取り込むものである。このような信号の取り込みの
ために、特に制限されないが、マイクロコンピュータμ
ＣＯＭのプログラムは、モニタープログラムを実行させ
られるものである。すなわち、ボード上に構成されたＲ
ＡＭ （ランダム・アクセス・メモリ）の書込み／読み
出しテストプログラム、ＲＯＭ （リード・オンリー・
メモリ）の参照テストプログラム等容動作の基本的な動
作をチェックするためのプログラムが利用される。
不良品情報ファイルＮＧＦは、特に制限されないが、フ
ロッピーディスク記憶装置により構成され、上記良品の
マイクロコンピュータμＣＯＭを上記信号取り込み回路
ＩＮに差し込んだ状態で、各部品の意図的な不良状態を
形成する。例えば、ある部品の電極を強制的にハイレベ
ル又はロウレベルに固定し、あるいは配線を断線させる
ものである。このような意図的な不良状態を形成してお
いて、上記モニタープログラムを実行させて、上記各種
信号の取り込みを行うものである。このようにして形成
された不良品情報は、その不良個所情報とともに、上記
不良品情報ファイルＮ Ｇ Ｆに書込むものである。
ロッピーディスク記憶装置により構成され、上記良品の
マイクロコンピュータμＣＯＭを上記信号取り込み回路
ＩＮに差し込んだ状態で、各部品の意図的な不良状態を
形成する。例えば、ある部品の電極を強制的にハイレベ
ル又はロウレベルに固定し、あるいは配線を断線させる
ものである。このような意図的な不良状態を形成してお
いて、上記モニタープログラムを実行させて、上記各種
信号の取り込みを行うものである。このようにして形成
された不良品情報は、その不良個所情報とともに、上記
不良品情報ファイルＮ Ｇ Ｆに書込むものである。
マイクロプロセッサＣＰＵは、上記信号取り込み回路Ｉ
Ｎ、良品情報ファイルＧＦ及び不良品情報ファイルＮ
Ｇ Ｆを制御して、上記良品情報、不良品情報ファイル
を形成する。
Ｎ、良品情報ファイルＧＦ及び不良品情報ファイルＮ
Ｇ Ｆを制御して、上記良品情報、不良品情報ファイル
を形成する。
そして、特に制限されないが、ユーザー等において不良
となったマイクロコンピュータシステムμＣＯＭを上記
信号取り込み回路ＩＮに差し込むとともに、所定の個所
にプローブを接続して、上記同様にマシンサイクル毎の
データバス上の信号、アドレスバス上の信号及びプロー
ブからの信号を順次取り込むものである。このようにし
て取り込まれた信号は、マイクロプロセッサＣＰＵによ
って上記良品情報ファイルＧＦからの対応するマシンサ
イクル毎の信号とを比較して、その不一致個所を検出す
る。このようにして検出された不一致個所のマシンサイ
クル及びその時の各信号情報から、マイクロプロセッサ
ＣＰＵは、対応するマシンサイクル中における不良情報
ファイルＮ Ｇ Ｆ’の各種信号を参照することによっ
て、不良部品を識別するものである。この不良部品の識
別情報（不良部品階、不良ピン階等）は、特に制限され
ないが、ディスプレイ装置ＣＲＴを介して表示させるも
のである。このように、上記マイクロプロセッサＣＰＵ
は、キーボードＫＢ、ディスプレイ装置ＣＲＴのような
入出力装置により、上記各種動作モードを実行し、それ
に応じた情報を出力させる。
となったマイクロコンピュータシステムμＣＯＭを上記
信号取り込み回路ＩＮに差し込むとともに、所定の個所
にプローブを接続して、上記同様にマシンサイクル毎の
データバス上の信号、アドレスバス上の信号及びプロー
ブからの信号を順次取り込むものである。このようにし
て取り込まれた信号は、マイクロプロセッサＣＰＵによ
って上記良品情報ファイルＧＦからの対応するマシンサ
イクル毎の信号とを比較して、その不一致個所を検出す
る。このようにして検出された不一致個所のマシンサイ
クル及びその時の各信号情報から、マイクロプロセッサ
ＣＰＵは、対応するマシンサイクル中における不良情報
ファイルＮ Ｇ Ｆ’の各種信号を参照することによっ
て、不良部品を識別するものである。この不良部品の識
別情報（不良部品階、不良ピン階等）は、特に制限され
ないが、ディスプレイ装置ＣＲＴを介して表示させるも
のである。このように、上記マイクロプロセッサＣＰＵ
は、キーボードＫＢ、ディスプレイ装置ＣＲＴのような
入出力装置により、上記各種動作モードを実行し、それ
に応じた情報を出力させる。
１１）良品情報ファイルと不良品情報ファイルとは、ボ
ード構成のマイクロコンピュータシステムを利用して自
動的に形成できるから特別なソフトウェアの形成が不要
になるという効果が得られる。
ード構成のマイクロコンピュータシステムを利用して自
動的に形成できるから特別なソフトウェアの形成が不要
になるという効果が得られる。
（２）上記（１１により形成した良品情報ファイルと不
良品情報ファイルとにより、被試験マイクロコンピュー
タシステムの不良部品を自動的に識別することができる
という効果が得られる。
良品情報ファイルとにより、被試験マイクロコンピュー
タシステムの不良部品を自動的に識別することができる
という効果が得られる。
（３）信号取り込み回路の動作と、それを情報ファイル
に転送する動作と、被試験マイクロコンピュータシステ
ムからの信号と上記形成した良品情報ファイルとを比較
する等の基本的なソフトウェアを形成するだけで、品種
の異なるボード構成のマイクロコンピュータシステムに
適用できるという効果が得られる。
に転送する動作と、被試験マイクロコンピュータシステ
ムからの信号と上記形成した良品情報ファイルとを比較
する等の基本的なソフトウェアを形成するだけで、品種
の異なるボード構成のマイクロコンピュータシステムに
適用できるという効果が得られる。
（４）上記ボード構成のマイクロコンピュータシステム
からの信号の大半をコネクタに差し込むだけで取り込む
ことができるから、剣山方式のような特別な専用の信号
取り込み用の装置が不要になるので、システムの簡素化
を図ることができるという効果が得られる。
からの信号の大半をコネクタに差し込むだけで取り込む
ことができるから、剣山方式のような特別な専用の信号
取り込み用の装置が不要になるので、システムの簡素化
を図ることができるという効果が得られる。
（５）上記（１１〜（４）により、極めて簡単なハード
ウェア及びソフトウェアによって、不良とされたボード
構成のマイクロコンピュータシステムにおける不良部品
を抽出することができるという効果が得られる。
ウェア及びソフトウェアによって、不良とされたボード
構成のマイクロコンピュータシステムにおける不良部品
を抽出することができるという効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることばいうまでもない。上記良品情報ファイル
、不良品情報ファイル及び被試験マイクロコンピュータ
からの信号を取り込みためのプログラムは、そのモニタ
ープログラムの他、特別なテスト用プログラムを形成す
るものであってもよい。また、各回路ブロックの具体的
構成は、上記のような動作を行うものであれば何であっ
てもよい。
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることばいうまでもない。上記良品情報ファイル
、不良品情報ファイル及び被試験マイクロコンピュータ
からの信号を取り込みためのプログラムは、そのモニタ
ープログラムの他、特別なテスト用プログラムを形成す
るものであってもよい。また、各回路ブロックの具体的
構成は、上記のような動作を行うものであれば何であっ
てもよい。
この発明は、ユーザー等において不良となってマイクロ
コンピュータシステムの不良解析の他、メーカーにおけ
る機能試験装置にも同様に適用できるものであり、不良
部品解析装置として広く利用できるものである。
コンピュータシステムの不良解析の他、メーカーにおけ
る機能試験装置にも同様に適用できるものであり、不良
部品解析装置として広く利用できるものである。
図面は、この発明の一実施例を示すブロック図である。
μＣＯＭ・・マイクロコンピュータシステム、ＩＮ・・
信号取り込み回路、ＣＦ・・良品情報ファイル、ＮＧＦ
・・不良品情１１ファイル、ＣＰＵ・・マイクロプロセ
ッサ、ＣＲＴ・・ディスプレイ装置、ＫＢ・・キーボー
ド
信号取り込み回路、ＣＦ・・良品情報ファイル、ＮＧＦ
・・不良品情１１ファイル、ＣＰＵ・・マイクロプロセ
ッサ、ＣＲＴ・・ディスプレイ装置、ＫＢ・・キーボー
ド
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、ボード構成のマイクロコンピュータシステムからの
データ及びアドレスバスからの信号と、所定の回路部品
からの信号をそのシステムクロック信号に同期して取り
込む信号取り込み回路と、上記信号取り込み回路によっ
て取り込まれた良品の上記マイクロコンピュータシステ
ムの情報を保持する良品情報ファイルと、上記信号取り
込み回路によって取り込まれ、意図的に発生させられた
各部品の不良状態の情報を保持する不良情報ファイルと
、上記信号取り込み回路によって取り込まれた被試験装
置からの信号とこれに対応した上記良品情報ファイルと
を比較して不一致ステップにおける上記不良情報ファイ
ルの情報を参照して不良部品情報を出力させる情報処理
装置とを含むことを特徴とする自動不良部品解析装置。 ２、上記情報処理装置は、マイクロコンピュータシステ
ムであり、上記信号取り込み回路１．良品情報ファイル
及び不良情報ファイルの制御も行うものであることを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載の自動不良部品解析
装置。 ３、上記良品情報ファイル、不良情報ファイル及び被試
験マイクロコンピュータからの情報を取り込みためのプ
ログラムは、モニタープログラムであることを特徴とす
る特許請求の範囲第１又は第２項記載の自動不良部品）
Ｗ折装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59042093A JPS60189039A (ja) | 1984-03-07 | 1984-03-07 | 自動不良部品解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59042093A JPS60189039A (ja) | 1984-03-07 | 1984-03-07 | 自動不良部品解析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60189039A true JPS60189039A (ja) | 1985-09-26 |
| JPH0412490B2 JPH0412490B2 (ja) | 1992-03-04 |
Family
ID=12626387
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59042093A Granted JPS60189039A (ja) | 1984-03-07 | 1984-03-07 | 自動不良部品解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60189039A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006226946A (ja) * | 2005-02-21 | 2006-08-31 | Fujitsu Ltd | 半導体装置および半導体試験装置の検証方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS573975A (en) * | 1980-06-05 | 1982-01-09 | Takenaka Komuten Co | Damper for preventing fire and smoke |
| JPS5917625A (ja) * | 1982-07-20 | 1984-01-28 | Nec Corp | シングルチツプマイクロコンピユ−タ |
-
1984
- 1984-03-07 JP JP59042093A patent/JPS60189039A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS573975A (en) * | 1980-06-05 | 1982-01-09 | Takenaka Komuten Co | Damper for preventing fire and smoke |
| JPS5917625A (ja) * | 1982-07-20 | 1984-01-28 | Nec Corp | シングルチツプマイクロコンピユ−タ |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006226946A (ja) * | 2005-02-21 | 2006-08-31 | Fujitsu Ltd | 半導体装置および半導体試験装置の検証方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0412490B2 (ja) | 1992-03-04 |
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