JPS63211441A - プリント板検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ 本発明は、マイクロプロセッサを援用してプリント板の
良否を判定するプリント板検査方法に関する。

［従来の技術］ 従来より、マイクロプロセッサを搭載して動作するプリ
ント板の不良箇所をマイクロプロセッサを援用して追求
する解析装置があるが、この追求手順のプログラミング
は検査対象となっているプリント板の動作を熟知した人
が様々な故障パターンを推定しながら作成する必要があ
った。

［発明が解決しようとする問題点コ このため、テストプログラム作成に費やす工数が多大と
なる上に、想定外の故障パターンについてはフォールト
ロケーシミンしかしていできない等という不都合があっ
た。

本発明は、このような点に鑑みてなされたもので、解析
プログラムを全く必要とすることなく、また誤判定の起
因しない解析方法を実現したプリント板検査方法を提供
することにある。

［問題点を解決するための手段］ このような目的を達成するために、本発明は、プリント
板に搭載されたマイクロプロセッサを対象としてエミュ
レーションを行うインサーキット・エミュレータと、対
象プリント板に与えるステイミュラスを発生するパター
ンジェネレータと、特定のタイミングで対象プリント板
からの出力ベクタを検出するタイミングアナライザとか
らなる同一構成の第１および第２の検査手段と、この第
１およびｍ２の検査手段を適宜に駆動すると共に、得ら
れた出力ベクタの比較を行いプリント板の良否を判定す
る機能と、ステイミュラスを与えたときの出力ベクタ出
現時間幅を特定することのできる機能を有した主処理装
置とを備え、第１および第２の検査手段に良品プリント
板および被試験プリント板をそれぞれ接続して、同一の
ステイミュラスに対する回路端末からの出力ベクタをグ
ループごとに測定する工程と、測定された両プリント板
からの信号を比較する工程と、 前記比較において一致した場合は被試験プリント板が良
品であると判定し、一致しない場合は新たに良品プリン
ト板に対してステイミュラスを与えてその出力ベクタを
測定する操作を複数回繰り返し、得られた出力ベクタか
ら意味のある信号の出現タイミングを統計的手法により
求め、前記被試股プリント板に対し同一のステイミュラ
スを与えて前記求めたタイミングに出現する回路端末の
出力ベクタを測定し、良品プリント板からの出力ベクタ
と同一か否かを比較し、良品または不良品の判定を行う
工程と からなることを特徴とする。

［作用］ 本発明では、同一構成の検査手段により良品プリント板
と被試験プリント板に同一のステイミュラスを与えて、
それにより出力される出力ベクタを双方で比較し、一致
した場合は被試験プリント板が良品であると判定し、一
致しない場合は、良品プリント板に対して複数回同一の
検査を繰り返して意味のある出力ベクタの出現タイミン
グをあいまい性を加味して（適宜の時間幅を持たせて）
特定し、被試験プリント板からの出力ベクタがそのあい
まい性を認めるタイミングで出現した場合には良品と判
定する。

［実施例コ 以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。

第１図は本発明に係る検査方法を実施するための試験装
置の構成ブロック図である。図において、１はホストコ
ンピュータ、ＣＡＲＴ表示装置およびキーボード等で構
成される主処理装置、２はテスト・アクセラレータであ
る。

１０は良品のプリント板を接続して検査する第１の検査
手段、２０は被試験プリント板（ここでは不良品のプリ
ント板ともいう）を接続して検査する第２の検査手段で
ある。Ｗｌｌの検査手段と第２の検査手段とは同一の構
成であり、テスト・アクセラレータ２により高速に切り
換えられて主処理装置により制御されるようになってい
る。

第１の検査手段１０において、１１はインサーキット・
エミュレータ、１２はパターンジェネレータ、１３はタ
イミングアナライザ、１４はマイクロプロセッサ搭載の
良品被試験プリント板である。

インサーキット・エミュレータ１１、パターンジェネレ
ータ１２およびタイミングアナライザ１３は主処理装置
１により制御される。インサーキット・エミュレータ１
１は、被試験プリント板１４のマイクロプロセッサをエ
ミュレーションするために設けられたエミュレータであ
る。

パターンジェネレータ１２は、被試験プリント板１４に
与えるステイミュラス（検査用の所定の信号）を発生す
るものである。そのステイミュラスは、マイクロプロセ
ッサ実行プログラムとベクタ指定とからなり、被試験プ
リント板のマイクロプロセッサによりそれが解釈され実
行される。ベクタは各信号の状７１！（ＨＩＧＨまたは
ＬＯＷの信号）を表わす情報データであり、ベクタを指
定してマイクロプロセッサの実行プログラムを実行する
（インサーキット・エミュレータにより実行される）こ
とにより目的部分を指定のベクタに基づいて動作させる
ことができる。

タイミングアナライザ１３は、出力ベクタを読取る際の
期間を管理するもので、主処理袋［１により指定された
期間のみ出力ベクタの読取りを可能にする。

第２の検査手段２０は、被試験プリント板２４が接続さ
れるが、その他の構成については第１の検査手段１０と
同等である。

このような構成における動作を次に説明する。

被試験プリント板２４の良否判定は、プリント板の末端
回路の出力ベクタの比較により行う。

すなわち、主処理装置１が不良枝端末信号を認識すると
、そのテストベクタすなおちステイミュラスを繰り返し
入力しながら良品プリント板と不良品プリント板との全
端末信号について−１１，’Ｍ定を行う。

一致判定は、多数の端末を小グループに分割し。

グループ単位で時分割に出力データ（出力ベクタ）を取
り込みつつ、良品プリント板と不良品プリント板との端
末信号を全点比較する。そして良品プリント板との不一
致点を検出し、不具合点のポイントアウトを行う。

この場合主処理装置１は、テスト・アクセラレータ２を
適宜切り換えて第１および第２の検査手段を駆動して、
同一動作を行わせる。

なお、回路の一部には、与えているステイミュラスに対
して不一致信号（良品プリント板と異なる出力ベクタ）
を出力しているにも拘らず良品である場合があり得る。

そのような場合には、その回路信号点については、良品
プリント板１４に対して繰り返し検査を行いその出力ベ
クタを繰り返し判定することにより、当該信号がステイ
ミュラスに対して意味のある信号となっているか否かの
判定を行う。更に詳しく説明すれば次の通りである。

第２図に示すように、良品プリント板１４にステイミュ
ラスを与え回路端末ａｙ　ｂ＊　Ｑｐ　ｙ等から第３図
のＣＲＴ表示例に示すような信号を抽出する。タイミン
グアナライザ１３は、この際には特に取り込みのタイミ
ングを特定しないで出力波形をほぼ連続的に総べて取り
込む。

このような測定動作を複数回繰り返して行い、データを
主処理装置１にロギングしておく、主処理装置１では、
複数回のデータから統計的処理により指定の出力ベクタ
が得られるまでの時間関係ＴｄとＴｓとを求める。

Ｔｄは、トリガー用の信号（第３図の波形ＴＲＧで、エ
ミュレータにおいて適宜の信号をトリガー信号とするこ
とができる。）が立ち上がってから正解出力ベクタを得
るまでの時点（タイミングｔｒｇＱからｔｒｇｌまでの
時間、あるいはｔｒｇＱからｔ　ｒｇ３までの時間）を
表わす。

また、Ｔｓは、前記タイミングｔ’　ｒ　ｇ　１あるい
はｔｒｇ２のずれ幅である。タイミングｔｒｇｌあるい
はｔ　ｒｇ２は、非同期的なタイミングであり、必ずし
も固定的で一定なタイミング（ｔｒｇｏの時間を基準と
したタイミング）ではなく、各被試験プリント板ごとに
相対的にばらつくものである。なお、°このずれ＠Ｔｓ
をここでは信号タイミングのあいまい性という。

次に第２の検査手段２ｏを起動して、前記と同一のステ
イミュラスを不良品プリント板に与え、出力ベクタを測
定する。このときタイミングアナライザ２３は、前記時
点Ｔｄの最小値から最大値までの範囲内すなわちＴｓの
時間幅内においてのみ出力ベクタをサンプルする。

このようにして得た両プリント板からの出力ベクタを比
斂し、同一ベクタである場合は良品、一致しないベクタ
である場合は不良品と判定する。

［発明の効果］ 以上詳細に説明したように１本発明によれば、解析プロ
グラムシーケンスの記述を要することなく、また誤判断
の起きないプリント板検査が実現できる。

また１、良品プリント板用の検査手段も不良品プリント
板検査手段と同一の構成となっているため、常時は不良
品プリント板用として２系統を並列運転して検査を行う
ことができる副次的な利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の方法を実施するための装置の一実施例
を示す要部構成図、第２図および！３図は動作を説明す
るための説明図である。 １・・・主処理装置、２・・・テストアクセラレータ、
１ｏ・・・第１の検査手段、２０・・・第２の検査手段
、１１、・・・インサーキット・エミュレータ、１２゜
２２・・・パターンジェネレータ、１３．２３・・・タ
イミングアナライザ、１４・・・良品プリント板、２４
・・・被試験プリント板。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 プリント板に搭載されたマイクロプロセッサを対象とし
   てエミュレーションを行うインサーキット・エミュレー
   タと、対象プリント板に与えるスティミュラスを発生す
   るパターンジェネレータと、特定のタイミングで対象プ
   リント板からの出力ベクタを検出するタイミングアナラ
   イザとからなる同一構成の第１および第２の検査手段と
   、 この第１および第２の検査手段を適宜に駆動すると共に
   、得られた出力ベクタの比較を行いプリント板の良否を
   判定する機能と、スティミュラスを与えたときの出力ベ
   クタ出現時間幅を特定することのできる機能を有した主
   処理装置とを備え、第１および第２の検査手段に良品プ
   リント板および被試験プリント板をそれぞれ接続して、
   同一のスティミュラスに対する回路端末からの出力ベク
   タをグループごとに測定する工程と、 測定された両プリント板からの信号を比較する工程と、 前記比較において一致した場合は被試験プリント板が良
   品であると判定し、一致しない場合は新たに良品プリン
   ト板に対してスティミュラスを与えてその出力ベクタを
   測定する操作を複数回繰り返し、得られた出力ベクタか
   ら意味のある信号の出現タイミングを統計的手法により
   求め、前記被試験プリント板に対し同一のスティミュラ
   スを与えて前記求めたタイミングに出現する回路端末の
   出力ベクタを測定し、良品プリント板からの出力ベクタ
   と同一か否かを比較し、良品または不良品の判定を行う
   工程と からなることを特徴とするプリント板検査方法。