JPS63173978A - プリント板検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、マイクロプロセッサを援用して、プリント板
の良否を判定するプリント板検査方法にｒｇＪする。

（従来の技術） 従来よりマイクロプロセッサを援用してプリント板の良
否を検査する試験装置はよく知られている。この種のａ
Ａ置では、対象プリント板（被試験プリント板）に対し
検査用の所定の信号（ステイミュラスという）を与えた
ときのリアクション（出力ベクタという）を読み、出力
ベクタが期待値と一致しているか否かを判定することに
より対象プリント板の良否（Ｇｏ／Ｎｏ　　Ｇｏ）を判
断している。

この場合、得られた出力ベクタに関して期待値と一致し
ているか否かは、 ■どの信号線に対して ■どのタイミングのデータ を比較するのかをプログラム上で記述する必要があり、
更に被試験プリント板の回路の非同期性や回路動作の特
性によるところの。

■出力ベクタパターンの時間的曖昧性 についてもプログラム上で種々の工夫を凝らしながら、
データの比較をする必要があった。

また、比較判定の対象となる信号線の抽出は、テストプ
ログラマが行うが、被試験プリント板上の思いがけない
パターン・ブリッジなどで引き起こされる予想外の出力
ベクタについては検出できず、したがって見逃し誤り率
を高めやすいという問題があった。

本発明の目的は、このような点に鑑みてなされたもので
、出力ベクタの曖昧性を容認した比較判定を行い、見逃
し誤り率を低く抑えることが可能なプリント板検査方法
を提供することにある。

（問題点を解決するための手段） このような目的を達成するために本発明では、良品プリ
ント板に対して所定のステイミュラスを与えてそれによ
り生ずる出力ベクタを検出する操作を複数回繰返し、統
計的処理により指定した正解出力ベクタを得るまでの時
間的範囲を求める工程と、 検査対象の被試験プリント板に対し、前記工程における
と同様のステイミュラスを与えてそれにより生ずる出力
ベクタを前記水められた時間的範囲において測定する工
程と、 前記被試験プリント板の出力ベクタと前記良品のプリン
ト板での正解出力ベクタとを比較し、プリント板の良否
を判定する工程と を具備したことを特徴とする。

（実施例） 以下図面を用いて本発明の詳細な説明する。第１図は本
発明に係る検査方法を実施するための試験装置の構成ブ
ロック図である。図において、１はホストコンピュータ
、ＣＲＴ表示装置およびキーボード等で構成される主処
理装置、２は４１ナーキツト・エミュレータ、３はパタ
ーンジェネレータ、４はタイミングアナライプ、５は被
試験プリント板である。

主処ｍ装Ｈ１は、インナーキット・エミュレータ２、パ
ターンジェネレータ３およびタイミングアナライプ４を
それぞれｖ制御する。インサーキット・エミュレータ２
は、被試験プリント板５のマイクロプロセッサをエミュ
レーションするためにｌＧｔられたエミュレータである
。

パターンジェネレータ３は、被試験プリント板５に与え
るステイミュラスを発生するものである。

そのステイミュラスはマイクロプロセッサ実行プログラ
ムとベクタ指定とからなり、被試験プリント板のマイク
ロプロセッサによりそれが解釈され実行される。

ベクタは各信号の状態（ＨＩＧＨまたはＬＯＷ）を表わ
す情報データであり、ベクタを指定してマイクロプロセ
ッサの実行プログラムを実行する（インサーキット・エ
ミュレータにより実行される）ことにより目的部分を指
定のベクタに基づいて動作させることができる。

タイミングアナライザ４は、出力ベクタを読み取る際の
期間を管理するもので、主処理装置により指定された期
間のみ出力ベクタの読取りを可能にする。

このような構成における試験装置の動作を次に説明する
。この装置では、次の３つの測定モードを経て良否判別
の検査が遂行される。

■第１のモード まず良品のプリント板にステイミュラスを与えそのとき
に得られた正確な出力ベクタ（同一タイミング上におけ
る各出力の状態）のチャートを参照して、判定用の出力
ベクタを予め決定しておく。

次に、良品のサンプルデータを採取するために、良品の
プリント板を検査対象としこれにパターンジェネレータ
３からステイミュラスを与え、それに応じて生ずる出力
ベクタをタイミングアナライザ４経出で主処理装ｒａ１
に吸い上げる。

例えば、第２図に示すように、プリント板５にステイミ
ュラスを与え、プリント板上のａ、ｂ。

Ｃ０ｙ等の注目点から第３図のＣＲＴ表示例に示ずよう
な信号を抽出する。タイミングアナライザ４はこのモー
ドでは特に取り込みのタイミングを特定しないで出力波
形をほぼ連続的に総べて取り込む。

この測定動作を複数回繰返して行い、データをロギング
しておく。主処理装置１では、複数回のデータから統計
的処理により指定の出力ベクタが得られるまでの時間関
係ＴｄとＴｓとを求める。

Ｔｄは、トリがｍｍの信号（第３因の波形ＴＲＧで、エ
ミュレータにおいて適宜の信号をトリが一信号とするこ
とができる。）が立ち上がってから正解出力ベクタを得
るまでの時刻Ｔｄ（タイミングｔｒｇＱからｔｒｇｌま
での時間、あるいはｔｒｇＱからｔｒｇ３までの時間）
である。

また、Ｔｓは前記タイミングｔｒａ１あるいはｔｒｇ２
の時間的なずれ幅である。タイミングｔｒＱ１あるいは
ｔｒｇ２は、非同期的なタイミングであり、必ずしも固
定的で一定なタイミング（ｔｒａｏの時間を基準とする
）ではなく各被試験プリント板ごとに相対的にばらつく
ものである。

なお、このずれ幅ＴＳをここでは信号タイミングの曖昧
性と称す。

■第２のモード 被試験プリント板のデータを採取するためのモードであ
る。被試験プリント板にパターンジェネレータ３から前
記第１の測定モードで指定したのと同一のステイミュラ
スを与え、これにより生ずる出力ベクタをタイミングア
ナライザ４経出で主処理装置１に取り込む。

このとき、タイミングアナライザ４は、前記第１の測定
モードにおいて求められた期間の間だけ、すなわちＴｄ
の最小値から最大値までの範囲内（その範囲はＴＳであ
る）においてのみ各注目点の出力信号（出力ベクトル）
をサンプルする。

■第３のモード 被試験プリント板の良否を判別するモードである。前記
被試験プリント板から得た全サンプルを対象として、そ
の出力ベクタと前記第１のモードにおいて求められた出
力ベクタとの比較を行い、同一ベクタが検出された場合
は良品、検出されなかった場合は不良品と判定する。

また、上記の検査では特定の着目信号線のみについて行
われる場合について示したが、これに限らず、着目信号
線以外の信号についても以下のような方式により検査を
行うようにすることができる。

■良品のプリント板に対象とする上記の検査において、
着目信号線以外の信号について常に同一ベクタが得られ
る信号を自動選別し、 ■被試験プリント板の出力ベクタの判定のときは、着目
信号線以外の信号についても同様に出力ベクタを読取り
、前記自動選別したベクタとの比較判定を行って良否判
別を行う。

（発明の効果） 以上説明したように、本発明によれば、次のような効果
がある。

（１）サンプリングした全シグナルを対象に良品との比
較判定が曖昧性を加味した上で自動判定できるため、誤
り見逃し率の大幅な低減が可能である。

（２）良品のプリント板で抽出したデータとの比較判定
を行うためのプログラム作成において、Ｔｄ。

Ｔｓの曖昧性を考慮した記述を省くことができるのでプ
ログラムの作成時間の大幅な短縮ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の方法を実施するための装置の位置実施
例を示す要部構成図、第２図および第３図は動作を説明
するための説明図である。 １・・・主処理装置、２・・・インサーキット・エミュ
レータ、３・・・パターンジェネレータ、４・・・タイ
ミングアナライザ、５・・・被試験プリント板。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 良品プリント板に対して所定のスティミュラスを与えて
   それにより生ずる出力ベクタを検出する操作を複数回繰
   返し、統計的処理により指定した正解出力ベクタを得る
   までの時間的範囲を求める工程と、 検査対象の被試験プリント板に対し、前記工程における
   と同様のスティミュラスを与えてそれにより生ずる出力
   ベクタを前記求められた時間的範囲において測定する工
   程と、 前記被試験プリント板の出力ベクタと前記良品のプリン
   ト板での正解出力ベクタとを比較し、プリント板の良否
   を判定する工程と からなるプリント板検査方法。