JPS61234370A - 布線検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、配線物（例えばプリント配線板）の自動布線
検査に関し、特に、未使用端子に関する余配線の検出に
関する。

〔発明の背景〕

一般に、プリント配線板等の配線物の自動布線検査を行
なうための布線検査システムは、第１図に示されるよう
に、入力装置１、処理装置２、テスタ３、出力装置４か
らなる。テスタ３には被検査物５がセットされ、被検査
物５の各端子孔にテスタ３の各ピンが挿通せしめられる
。被検査物５の正規配線情報Ｃマスタネットデータ）が
入力装置１から処理装置２に与えられ、処理装置２は、
マスタネットデータに基づき、テスタ３のピン群に対応
するスイッチ群を開閉して、順次所定のピンに電圧を印
加するとともに、他のピンに生じる電圧を検出すること
により、ピン間接続関係を表わすテストネットデータを
得て、これとマスタネットデータを比較して、誤配線の
有無を調べ、結果を出力装置４に送る。誤配線の一種に
、本来は存在すべきでない接続が存在する場合があシ、
これは余配線と呼ばれる。

プリント配線板又はそれに類似の配線板は、汎用件を持
つように設計され、大量生産手段によって製造されるた
め、個々の特定の用途に供せられる製品は、多くの未使
用端子を含むのが普通であり、その数は、往々にして使
用端子数よりも多く、実装密度の高い大型配線板では、
莫大な数（万のオーダー）に達する。未使用端子と正規
配線の間の金配線といえども、正規配線のインピーダン
スに悪影響を及ぼして、高速回路における誤動作の原因
となるため、やはシ誤配線として扱われなければならな
い。従来の自動布線検査方法では、正規配線のすべてと
全未使用端子の間に可能なあらゆる金配線を、残らず検
出することが容易ではなかった。

第２図（ａ）〜（Ｃ）は、従来の自動布線検査における
、配線ネツ）（相互接続された一群の端子）と孤立端子
Ｃ使用されるが他の端子への接続がない端子）の間の金
配線を検出する方法を、３種顕示す。これらの図におい
て、符号７は孤立端子孔に挿通されたテスタピンＣ以後
孤立ピンという）であり、符号８〜１０は配線ネット６
に含まれる端子孔に挿通されたテスタピン（以後構成ピ
ンという）であり、符号１２は被検査配線板である。各
ピンの位置は、左上隅のピン位置を原点（１，１）とし
て、Ｘは右方向て増加し、Ｙは下方向に増加する、Ｘ−
Ｙアドレスで表わされる。

第２図（ａ）においては、孤立ピン７に電圧が印加され
、この孤立ピン７エりも下位のアドレスのピン群１３か
らのセンス出力が調べられ、その結果、構成ピン８から
のセンス出力として、孤立ピン７と配線ネット６の間の
金配線ｅが検出される。

第２図（ｂ）においては、配線ネット６の構成ピンの適
当な一つ（通常は最下位アドレスを持つ構成ピンが選ば
れる］８を基準ピンとして、これに電圧が印加され、基
準ピン８よ如上位のアドレスのピン群１４からのセンス
出力が調べられる。その結果、構成ピン９．１０と孤立
ピン７とが基準ピン８に接続のあるものとして検出され
、処理装置２が、マスタネットデータに基づいて、これ
らの検出されたピンから構成ピン９及び１０を除去する
ことにより、金配線ｅが決定される。

第２図（Ｃ）においては、構成ピン９及び１０がセンス
されるのを阻止するためのマスクデータが、マスタネッ
トデータとは別に、テスタ３に与えられ、しかる後に、
基準ピン８に電圧を印加して、基準ピン８よりも上位の
アドレスのピン群１４からのセンス出力が調べられる。

その結果、孤立ピン７からのセンス出力のみが得られ、
これにより余配線ｅが検出される。なお、これらの検査
において、下位又は上位アドレス部分のみがセンスの対
象とされるのは、全体の検査が終了したときにデータが
重複す、るのを防いで、検査の能率を上げるためである
。

これらの検査方法では、使用される端子（配線ネット構
成端子と孤立端子）の間の接続の検査に重点が置かれ、
未使用端子への金配線の検査は基本的には度外視されて
いて、そのままでは、すべての未使用端子とすべての配
線ネットの間の金配線を漏れなく検査することはできな
い。まだ、これらの方法にならって未使用端子への金配
線の検査を行なうには、次のような問題がある。第２図
（ａ）の方法によるには、未使用端子に挿通されたピン
（以下未使用ピンという）に電圧を印加しなければなら
ず、そのため、マスタネットデータの他に、全未使用ピ
ンのデータが必要である。しかも、全未使用ピンに対し
て電圧印加とセンスとを繰返さねばならないから、その
分だけ検査時間の増大を招く。第２図（ｂ）の方法では
、金配線を持つ未使用ピンからの出力に加えて、配線ネ
ットの構成ピンからの出力が常に存在する。したがって
、これらのピンのアドレスをすべて突止め、それから構
成ピンを除去するという処理が必要であり、その結果、
検査時間がやはり長くなる。また、第２図（Ｃ）の方法
では、マスタネットデータの他に、マスクデータを作成
して、テスタに与える必要がある。

未使用ピンに関する誤配線の自動検査方法の一つが、特
開昭５６−１５１００号公報に記載されている。しかし
、これは、未使用ピンを含む全ピンについて、検査が終
了したか否かをピンごとに表示するテーブルを用意し、
検査の進行につれて検査されたピンの前記表示を更新し
て、全マスタネツトデータについての検査が終った後で
、前記テーブルから検査未了ビンを検出し、これらの検
査未了ピンの位置データをマスタネットデータと同様に
テスタに与えて、それに基づく追加の布線検査を行なう
ものである。したがって、そのための検査時間の増大は
、第２図（ａ）の場合とほとんど変らない。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、自動布線検査において、未使用端子と
正規配線ネットの間の金配線の検査を、所要データ量の
増大なしに、かつ、なるべく短時間で行なうことにある
。

〔発明の概要〕

本発明の特徴は、未使用ビンデータや特別なマスクデー
タをテスタに与えることをせずに、マスタネットデータ
のみに基づいて、配線ネットの基準ビンの選定のみなら
ず、配線ネット構成ビンをセンス対象から除外するため
のスイッチ群の制御を行ない、それから、除外された構
成ピンを除く全ピンのセンスを行なう点にある。

〔発明の実施例〕

第３図は、本発明に用いられるテスタ３のスイッチ群の
構造の一例を模式的に示す。１枚のスイッチングカード
１９に、ＩＹ列上の全ピンＰ１〜Ｐ、（ＸアドレスＸ１
〜Ｘ、）のための選択的ドライブ／センス回路が搭載さ
れる。したがって、全Ｘ座標Ｙ　ｌ＝Ｙ、に対応してｍ
枚のスイッチングカード１９が存在する。各スイッチン
グカード１９は、対応するＹ座標が選択されたことによ
ってセットされるＹレジスタ１５と、全Ｘ座標に対応す
るＸレジスタ（ＸＩ−Ｘ、）１６を備える。

Ｙレジスタ１５の出力はＡＮＤゲート２０の一方の入力
に共通に接続され、Ｘレジスタ１６のそれぞれの出力は
対応するＡＮＤゲート２０の他方の入力に接続される。

各ＡＮＤゲート２０の出力は各ビン（Ｐ　ｓ〜Ｐ、）の
ためのドライブ／センススイッチ１７の選択入力となる
。ドライブ／センススイッチ１７への共通印加電圧Ｖは
、図示されていないスイッチを介して、処理装置により
選択された特定のＣつまシ、基準ピンのＹ座標に対応す
る）スイッチングカードにのみ供給され、そして、各ス
イッチングカード上のドライブ／センススイッチ１７か
らのセンス出力は、共通に検出器１８に接続される。ド
ライブ／センススイッチ１７は、ＡＮＤゲート２０から
の選択信号ａ１”を受けると、印加電圧Ｖとは無関係に
センサとして機能し、選択信号°゛０”を受けると、印
加電圧をそのままビンに供給する。したがって、電圧Ｖ
が印加されている状態でＡＮＤゲート２０からの選択信
号が°０″であれば、ドライブ／センススイッチ１７は
電圧■をビンに印加するドライバとして機能する。

第４図は、テスタにセットされた被検査配線板１２を模
式的に示す。正規配線ネット６に含まれる諸端子孔に挿
通されたネット構成ビン８〜１１の内で、最下位アドレ
゛スを持つビン８が試験電圧Ｖの印加される基準ピンと
して使用され、ビン７が挿通された未使用端子孔と配線
ネット６の間に金配線ｅが存在するものとする。処理装
置２は、入力装置１からマスタネットデータの一部とじ
て正規配線ネット６の構成ビン８〜１１のアドレス　・
データを受取ると、最下位アドレスを持つ構成ピン８の
アドレス（Ｘ１２　＋　Ｙｌｌ）　　に基づいて、Ｙｔ
ｔに対応するスイッチングカード１９を選択し、それに
電圧Ｖを印加するとともに、そのＹレジスタ１５（Ｙｌ
ｉ）　　をセットし、次に、全スイッチングカード上の
全Ｘレジスタ１６をセットする。

次いで、マスタネットデータ中の配線ネット６に含まれ
る端子のアドレスに基づいて、Ｙ１１スイッチングカー
ド上のＸ１２レジスタと、Ｙ１２スイッチングカード上
のＸ１２レジスタと、Ｙ１３スイッチングカード上のＸ
１２レジスタ及びＸ１３レジスタがリセットされる。こ
れらの結果、アドレス（Ｘ１２゜Ｙｌ”１’　＋１！の
基準ピン８に接続されたドライブ／センススイッチ１７
は、選択信号″′０”と電圧Ｖを受けて、ドライバとし
て機能して、基準ピン８に電圧Ｖを印加し、そして、ア
ドレス（Ｘ１２　、　Ｙｌ２　）　。

（Ｘ１２　、　Ｙｓ３’Ｊ及び（Ｘ１３．　Ｙｌ３　）
の構成ピン９゜１０及び１１に接続されたドライブ／セ
ンススイッチ１７は、選択信号（ｔ　ＯＰＩと電圧０を
受けて、センサとしての機能を喪失する。

しかる後、Ｙｌ　レジスタから始めて％Ｙｌｌルジスタ
まで、相次ぐスイッチングカードのＸレジスタ１５が順
次セットされ、かつ、その検出器１８の出力が調べられ
る。ただし、ＹｌｌスイッチングカードのＹレジスタは
常時セットされており、したがって、このスイッチング
カードについては、検出器出力のサンプリングのみが行
なわれる。その結果、配線ネット６の構成ピン８〜１１
の電圧は出力されることなく、他のすべてのピン（すな
わち未使用端子ピン）の電圧が、各Ｙ座標ごとに共通に
センスされる。その過程において、Ｙ１２スイッチング
カードからのセンス出力は、金配線ｅに起因して、高電
圧を示し、座標ＹｌＺ上の未使用端子と正規配線ネット
の間に金配線のあることを告げる。更に、他の正規の配
線ネットや孤立ピンへの金配線があれば、それも同時に
検出される。

そこで、このＹ１２スイッチングカードにおいて、金配
線を持つ未使用ピンのアドレス探索が行なわれる。すな
わち、Ｙ１２スイッチングカード上の全Ｘレジスタを一
旦リセットし、それから、Ｘｌから順にＸ、まで、構成
ピン９に対応するＸ１２を除いて、Ｘレジスタ１６を順
次セットしながら検出器１８の出力を監視する。その結
果、ピン７に対応スるＸｌｌレジスタがセットされ時に
検出器１８の出力が高電圧を示し、かくて、ピン７が挿
通された未使用端子と配線ネット６０間に金配線ｅのあ
ることが突止められる。

以上の動作を全部のマスタネットデータについて行なう
ことにより、すべての金配線の検査が完了する。

〔発明の効果〕

本発明によれば、１回の金配線検査で１個の配線ネット
に関するすべての金配線が検査できるから、第２図（ａ
）の場合と比較すれば、未使用ピンを電圧印加ピンとす
る布線検査がすべて不要となり、その分だけ検査時間が
短縮され、かつ、未使用ピンデータが必要ないから、そ
の作成や転送などに要する時間と、それを保持するため
のハードウェアも節約できる。また、第２図（ｂ）の場
合と比較しても、配線ネットの構成ピンを除くための処
理が不要となシ、更に、第２図（Ｃ）の場合と比較して
も、特別なマスクデータの作成９．転送、保持等が不要
となるから、本発明は断熱有利である。

【図面の簡単な説明】

第１図は布線検査システムのブロックダイヤグラム、第
２図は従来の検査方法の模式図、第３図は本発明の実施
例に用いられるテスタのスイッチ群のブロックダイヤグ
ラム、第４図は検査対象となる配線板の一例の模式図で
ある。 １・・・入力装置、２・・・処理装置、３・・・テスタ
、４・・・出力装置、５・・・被検査配線物、６・・・
配線ネット、７・・・孤立ピン又は未使用ピン、８・・
・基準ピン、９〜１１・・・配線ネット構成ピン、ｅ・
・・金配線。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、マスタネットデータに基づいて被検査配線物の端子
   間の接続関係を検査するテスタと、前記テスタに前記マ
   スタネットデータを含む制御情報を与えるとともに前記
   マスタネットデータと前記テスタの検査結果を比較照合
   する処理装置とを有する布線検査装置により行なわれる
   自動布線検査において、前記マスタネットデータに基づ
   いてある配線ネットに含まれる端子の一つを選択する過
   程と、前記マスタネットデータに基づいて前記配線ネッ
   トに含まれる他の全端子を検出対象から除外する過程と
   、前記除外されたもの以外の全端子と前記選択された端
   子の間の接続関係を検査する過程とを含む布線検査方法
   。