JPH09159726A - スキャンテスト装置 - Google Patents
スキャンテスト装置Info
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- JPH09159726A JPH09159726A JP7316630A JP31663095A JPH09159726A JP H09159726 A JPH09159726 A JP H09159726A JP 7316630 A JP7316630 A JP 7316630A JP 31663095 A JP31663095 A JP 31663095A JP H09159726 A JPH09159726 A JP H09159726A
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- G01R31/317—Testing of digital circuits
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Abstract
速に行うことのできるスキャンテスト装置を実現するこ
と。 【解決手段】 テストパターンに基づいて試験装置を動
作させ、フェイルが発生したときの前記テストパターン
のアドレス情報をテスト結果として出力するスキャンテ
スト装置において、アドレスに対応するスキャンフリッ
プフロップ名が記述された回路情報を記憶する記憶手段
を具備し、テスト結果としてフェイルが発生したときの
アドレス情報とともに、該アドレス情報に対応して前記
記憶手段に記憶されているスキャンフリップフロップ名
を出力させる制御装置を有する。
Description
テストを行なうスキャンテスト装置に関する。
高密度化に伴って、デバイス実装ボードの動作試験や実
装されたデバイス単体のテストを行うことが困難となっ
ている。特に、動作解析においては高価なインサーキッ
トテスタを用いることは費用的な面からも困難となって
いる。スキャンテストシステムはスキャン設計されたデ
バイスおよびIEEE標準1149.1aのアーキテク
チャに従ってスキャン設計されたデバイスを対象に用い
られるもので、1つないしは2つ以上のデバイスに設け
られたスキャンフリップフロップをスキャンチェーンに
より結んだスキャンパスを形成することにより、特定の
デバイスもしくは各デバイスの動作をコネクタ出力より
出力される不良解析情報(以下、スキャンデータログと
称する)により確認することができる。
スキャンデータログの出力内容としては、テストパター
ンに対する応答結果としての出力データであり、不良発
生箇所に関する具体的なデータとしては不良発生アドレ
スで示される。
れているスキャンテストシステムは、テストパターンに
関するデータしか得ることができず、また、得られる情
報も不良発生アドレスとして示されるものであるため、
以下に記すような問題点がある。スキャンテストを行う
場合、実際に得たい情報としては、 (1)どこのスキャンチェーンで発生した不良か (2)どこのスキャンフリップフロップで発生した不良
か という、不良が実際に発生した箇所の情報である。従来
は上述したように不良発生アドレスとして表わされるた
め、不良発生箇所の特定は、テストパターンと、スキャ
ンテストシステムとは別情報として外部に設けられたテ
ストパターンをどのように入力したかを示す履歴情報
と、出力された不良発生アドレスから上記(1),
(2)を特定する作業を行う必要があり、この特定作業
に多大な工数と手間がかかり、時間がかかるという問題
点がある。
計した回路の動作をCADでシミュレーションし、また
実際に作製したデバイスの動作をスキャンテストにより
確認し、これらの動作が一致するかを確認することが行
われる。CADによりシミュレーションを行う場合、通
常、時間軸によりデバイスの遷移状態が表示される。従
来のスキャンテストシステムでは不良発生アドレスとし
てのみ出力されないため、「アドレス」と「時刻」とい
う異なるパラメータによるデータを比較しなければなら
ず、両者の同時刻における波形比較などが困難であり、
不良解析が困難であるという問題点がある。本発明は上
述したような従来の技術が有する問題点に鑑みてなされ
たものであって、スキャンテストを行ったときの不良解
析を迅速に行うことのできるスキャンテスト装置を実現
することを目的とする。
装置は、テストパターンに基づいて試験装置を動作さ
せ、フェイルが発生したときの前記テストパターンのア
ドレス情報をテスト結果として出力するスキャンテスト
装置において、アドレスに対応するスキャンフリップフ
ロップ名が記述された回路情報を記憶する記憶手段を具
備し、本発明の他の形態によるスキャンテスト装置は、
テスト結果としてフェイルが発生したときのアドレス情
報とともに、該アドレス情報に対応して前記記憶手段に
記憶されているスキャンフリップフロップ名を出力させ
る制御装置を有することを特徴とする。
させ、フェイルが発生したときの前記テストパターンの
アドレス情報をテスト結果として出力するスキャンテス
ト装置において、アドレスに対応するスキャンチェーン
名が記述された回路情報を記憶する記憶手段を具備し、
テスト結果としてフェイルが発生したときのアドレス情
報とともに、該アドレス情報に対応して前記記憶手段に
記憶されているスキャンチェーン名を出力させる制御装
置を有することを特徴とする。本発明のさらに他の形態
によるスキャンテスト装置は、テストパターンに基づい
て試験装置を動作させ、フェイルが発生したときの前記
テストパターンのアドレス情報をテスト結果として出力
するスキャンテスト装置において、フェイルが発生した
ときに出力されるアドレス情報の出力アドレス範囲を記
憶する記憶手段を具備し、フェイルが発生したときのア
ドレス情報のうち、前記記憶手段に記憶されているアド
レス範囲内のアドレス情報のみをテスト結果として出力
させる制御装置を有することを特徴とする。
スト装置は、テストパターンに基づいて試験装置を動作
させ、フェイルが発生したときの前記テストパターンの
アドレス情報をテスト結果として出力するスキャンテス
ト装置において、フェイルが発生したときの時刻データ
を記憶する記憶手段を具備し、テストパターンの実行順
序とテストパターンが実行されるテストレートおよびア
ドレス情報によりフェイルデータが発生したときの開始
からの時間を演算して前記記憶手段にアドレス情報とと
もに記憶させ、テスト結果としてフェイルが発生したと
きのアドレス情報とともに、該アドレス情報に対応して
前記記憶手段に記憶されている時間を出力させる制御装
置を有することを特徴とする。
テスト装置においては、スキャンテストの結果としてア
ドレス情報とともに、スキャンフリップフロップ名、ス
キャンチェーン名、フェイル発生時刻等が出力される。
また、出力するアドレス範囲を制限するものにおいて
は、必要な領域のみのテスト結果が出力されるので解析
を効率よく行うことができる。
面を参照して説明する。図1は本発明によるスキャンテ
スト装置の一実施例の構成を示す図である。本実施例は
制御部102および処理部103から構成される制御装
置としてのソフトウェアモジュール101、試験装置1
04、入力装置105、記憶装置106、出力装置10
7およびスキャンデータログ108より構成されてい
る。ソフトウェアモジュール101を構成する制御部1
02は試験装置104に対するテストプログラムの起
動、テストパターンのスタート、あるいはフェイルデー
タを読み込む等の試験装置104に対する制御を行い、
処理部103は入力装置105の入力内容、記憶装置1
06の記憶内容および試験装置104の動作結果に応じ
てスキャンデータログ108を作成し、その結果を表示
装置またはプリンタプリンタ等の出力装置107へ出力
する。
報の流れを示す図であり、入力装置105への入力情
報、スキャンデータログ108としての出力情報および
記憶装置106の記憶内容が示されている。入力装置1
05への入力情報としては、試験装置104のテストパ
ターン201、スキャンフリップフロップ名がアドレス
に対応して記述された回路情報202、スキャンチェー
ンがアドレスに対応して記述された回路情報203およ
びスキャン結果の取得範囲を示す取得範囲指定204が
ある。記憶装置106の記憶内容としてはテストパター
ン201および取得範囲指定204それぞれの入力内容
であるテストパターン情報207および取得範囲情報2
08があり、これらの記憶内容は入力内容に応じて書き
換えられる。また、各入力情報に応じて試験装置104
に対して行った試験結果に基づいて作成されるスキャン
データログ108としては、従来からの記述内容に沿っ
たスキャンデータログ1(206-1)および時刻デー
タ206-2(図3参照)と、これらの各データにさら
に情報が付加されたスキャンデータログ2(205)が
ある。
成を示す図であり、以下にソフトウェアモジュール10
1について図3を参照して説明する。ソフトウェアモジ
ュール101はテストパターン情報抽出モジュール30
1、取得範囲情報取得モジュール302、スキャンデー
タログ1生成モジュール303およびスキャンデータロ
グ2生成モジュール304の4つのモジュ―ルで構成さ
れる。以下に各モジュールの動作について説明する。テストパターン情報抽出モジュール301 テストパターン情報抽出モジュール301はテストパタ
ーン201(図2参照)とスキャンチェーンに関する回
路情報203(図2参照)を読み込み、テストパターン
情報207を作成する。スキャンチェーンに関する回路
情報203としては、 (1)BSDLに基づいて記述した回路情報およびBS
DLでは記述出来ないが本発明によるスキャン解析に必
要な、テストパターンによるテストに使用されるデバイ
スの端子に関する情報、時刻に関する情報等を記述した
付属回路情報から構成された回路情報。
キャン解析に必要な、テストパターンによるテストに使
用されるデバイスの端子に関する情報、時刻に関する情
報等をすべて記述した付属回路情報のみから構成される
回路情報。 (3)本発明によるスキャン解析に必要な、テストパタ
ーンによるテストに使用されるデバイスの端子に関する
情報、時刻に関する情報等がすべてテストパターン内に
スキャンコメントとして直接記述されたテストパターン
のみから構成される回路情報。のいずれかが入力され
る。テストパターン情報207は、テストパターンの各
種アドレス情報、テストレート切替えのタイミング情
報、パターンカウント情報、そしてテストパターンとス
キャンチェーンの対応情報などで構成される。ここで作
成されたテストパターン情報は他のモジュールにおいて
重要な意味を持ち、他の多くの処理におけるリファレン
スとなる。
における任意の範囲のフェイル取得指定を処理する。そ
の指定はスキャンチェーン名で行なえるところに特徴が
あり、更にそのスキャンチェーン内の所定の位置での指
定も可能となっている。テストパターンはスキャンチェ
ーンに関する情報を持たないために、通常このような指
定は出来ないのであるが、先に作成したテストパターン
情報にはテストパターンとスキャンチェーンの対応情報
を持たせているのでこのような方法を実現出来る。ここ
で作成する取得範囲情報208とは後述する、スキャン
データログ1作成モジュール303において試験装置1
04(図1参照)を制御する際の効率化を考慮し、取得
範囲指定204(図2参照)として入力されたスキャン
チェーン名や位置情報をテストパターンのアドレス情報
に変換したものである。
3 スキャンデータログ1作成モジュール303は、取得範
囲情報208に示される範囲にて試験装置104を制御
して実際にテストプログラムを実行し、その結果のフェ
イルデータを受けてスキャンフリップフロップの特定を
行ない、スキャンデータログ1(206-1)および時
刻データ206-2を作成する。試験により得られるフ
ェイルデータはテストパターンのアドレスでの表現でし
かない。このデータを使い、テストパターン情報207
のテストパターンとスキャンチェーンの対応情報を参照
して、スキャンチェーン名とスキャンフリップフロップ
の特定を行なう。また、すべてのフェイルデータを取得
出来るように、テストパターンを実行したときの試験装
置のフェイルデータを記憶するフェイルメモリの記憶内
容をテストパターンを実行する度に順次他の記憶装置に
転送し、何度も繰り返しテストパターンを実行してフェ
イルメモリが扱うフェイルデータの取得範囲を少しずつ
ずらしている。このようにして、取得したいすべてのフ
ェイルデータを読み込み、スキャンフリップフロップの
特定を行ないスキャンデータログ1を作成する。ここで
作成されるスキャンデータログ1は試験装置を制御しな
がらの作成になるので、試験装置の占有を避けるために
スキャンデータログとして作成出来る最小セットの形式
をとらせている。スキャンフリップフロップを特定する
ことは試験装置からフェイルデータを読み込む本モジュ
ールにおいて行われる。また、同時に、時刻情報の算出
のために必要な時刻の基本データの作成も行なう。
4 スキャンデータログ2作成モジュール304はスキャン
データログ1に付加情報を付けたものである。付加情報
としては、テストパターンのアドレス情報、時刻情報、
スキャンフリップフロップ名やスキャンセル論理名など
であり、これらは、スキャンデータログ1206-
1)、時刻データ206-2およびスキャンフリップフ
ロップリスト202を参照することにより作成され、付
加される。時刻データ206-2としては、テストパタ
ーンの実行順序とテストパターンが実行されるテストレ
ート等が上げられ、これにより、フェイルデータが発生
したときの開始からの時間を演算することが可能となっ
ている。従来、デバイスの不良解析に論理シミュレーシ
ョンとの比較を行なう際、シミュレーション側は時刻を
べ−スに考えるのに対し、試験装置側はテストパターン
のアドレス情報しか持たず、両者の対比を行なうのに基
本となる共通のパラメータがなく非常に手間がかかって
いたが、本実施例においては時刻情報が付加されること
によりの、フェイルデータの発生筒所を時刻で表すこと
によってこの問題が解決されている。また、スキャンフ
リップフロップ名やスキャンセル名の付加は、外部に設
けられた第3の解析装置がこれらの名称を入力情報とす
る場合に、不良情報の受渡しを直接行なうことが可能に
なり、不良解析の効率がよくなる。
動作について説明する。図4乃至図7のそれぞれは、テ
ストパターン情報抽出モジュール301、取得範囲情報
取得モジュール302、スキャンデータログ1生成モジ
ュール303およびスキャンデータログ2生成モジュー
ル304の動作を示すフローチャートである。まず、テ
ストパターン情報抽出モジュール301の動作について
図4を参照して説明する。上述したようにテストパター
ン情報抽出モジュール301に与えられる回路情報とし
ては、BSDLに基づいて記述した回路情報、付属回路
情報またはテストパターン内にスキャンコメントとして
記述されたものがある。回路情報がBSDLや付属情報
で与えられた場合には、付属情報を読み込んで解析する
(ステップS401)。次に、テストパターンを1パタ
ーンステップずつ読み込む。回路情報がスキャンコメン
トで与えられる場合にはここで解析される(ステップS
402)。与えられ、もしくは解析により得られた回路
情報に基づいたテストパターンを構成する情報として、
テストパターンの各種アドレス情報、テストレート切替
えのタイミングに関する情報、パターンカウント情報な
どを、テストパターン情報207として書き込む(ステ
ップS403)。
イスが現在どの状態にあるのかを決定する。回路情報と
してBSDLが与えられている場合には、TAPコント
ローラ状態遥移図に従いテストパターンを追跡する(ス
テップS404)。続いて、ステップS401もしくは
ステップS402にて読み込んだ回路情報を基に、テス
トパターンのアドレス情報とスキャンチェーンの対応情
報を作成し、テストパターン情報207として書き込む
(ステップS405)。この後、テストパターン201
の全パターンについてステップS402〜S405の処
理が終了したかを確認し、終了していなければステップ
S402に戻って上記の各動作を繰り返す(ステップS
406)。次に、図5を参照して取得範囲情報取得モジ
ュール302の動作について説明する。
下の4種類の情報が必要となる。 (1)実行するテストプログラム名 (2)作成するスキャンデータログ1のファイル名 (3)テストプログラム内のテスト番号 (4)フェイルデータの取得範囲 取得範囲情報取得モジュール302は動作が開始される
と、まず、取得範囲指定204を1命令読み込み(ステ
ップS501)、読み込んだ命令の種類を確認する(ス
テップS502)。読み込んだ命令がテストプログラム
名の指定であれば、読み込んだテストプログラム名をそ
のまま取得範囲情報208のテストプラグラム名として
指定する(ステップS503)。
指定であれば、読み込んだスキャンデータログ名をその
まま取得範囲情報208のスキャンデータログ名として
指定する(ステップS504)。読み込んだ命令がテス
ト番号の指定であれば、読み込んだテスト番号に対応し
てテストパターン情報207に記憶されているテストパ
ターン情報ファイルを読み込んで取得範囲情報208に
書き込む(ステップS505)。読み込んだ命令が取得
範囲の指定であれば、スキャンチェーン名やスキャンチ
ェーン内の位置情報で記述された取得内容をテストパタ
ーンのアドレス情報に変換する(ステップS506)。
この後、取得範囲指令204の全命令について作業を行
ったかを確認し、終了していなければステップS501
に戻って上記の各動作を繰り返す(ステップS50
7)。
1生成モジュール303の動作について説明する。動作
が開始されると、取得範囲情報208からテストプログ
ラムを読み込んで、実行する。なお、このときにテスト
プログラムによるファンクションテストが実行された場
合には本モジュールに制御が移るように設定しておく
(ステップS601)。本モジュールに制御が移った後
には、取得したいフェイルデータを試験装置に取り込む
ための各種設定を行い、テストパターン情報207によ
るテストパターンをスタートする(ステップS60
2)。テストの結果取得されたフェイルデータが取得指
定の範囲に入っているかを判断し、取得に必要なデータ
であればスキャンデータログに出力するために記憶装置
106(図1参照)に一時記憶する。この動作は取得範
囲として指定された範囲のすべてのフェイルデータを取
得するまで行う(ステップS603)。
ス情報を基に、テストパターン情報を参照してスキャン
フリップフロップを特定する(ステップS604)。続
いて、特定されたスキャンフリップフロップの情報をフ
ァイル化することによりスキャンデータログ1(206
-1)とする(ステップS605)。次に、時刻情報の
基準となるテストパターンおよびテストレート等の時刻
に関するデータのすべてをファイル化し、時刻データ2
06-2を作成する(ステップS606)。この後、全
フェイルデータの取得が終了したかを確認し、終了して
いなければステップS602に戻って上記の各動作を繰
り返す(ステップS607)。次に、図7を参照してス
キャンデータログ2生成モジュール304の動作につい
て説明する。
ログ1に新たな情報を付加することにより生成されるも
のであり、動作が開始されると、まず、スキャンデータ
ログ1(206-1)を1行読み込む(ステップS70
1)。次に、読み込んだスキャンデータログ1(206
-1)のフェイルデータアドレス情報をアドレス情報2
07により補正する。この補正は試験装置104によっ
ては実行されるテストパターンに変更が生じるためであ
る。次に、時刻データ206-2、フェイルデータのア
ドレス情報およびテストパターン情報207によりフェ
イルが発生した時刻を算出し、時刻情報としてテストパ
ターン情報207に付加する(ステップS703)。続
いてスキャンフリップフロップリスト202を参照し、
特定フリップフロップの論理名とスキャンセル名を付加
する(ステップS704)。次に、各情報が付加された
ファイル化することによりスキャンデータログ2とする
(ステップS705)。
について上記の作業が終了したかを確認し、終了してい
なければステップS702に戻って上記の各動作を繰り
返す(ステップS706)。
いるので、以下に記載するような効果を奏する。請求項
1、請求項2および請求項4に記載のものにおいては、
スキャンテストの結果として、従来テスト結果を解析す
ることにより特定されていたスキャンフリップフロップ
名、スキャンチェーン名、フェイル発生時刻等がアドレ
ス情報とともに出力されるためテスト解析を迅速に行う
ことができる効果がある。請求項3に記載のものにおい
ては、アドレス情報として出力されるアドレス範囲が制
限され、必要な領域のみのテスト結果が出力されるため
テストおよび解析を効率よく行うことができる効果があ
る。
構成を示す図である。
示す図である。
を示す図である。
作を示すフローチャートである。
すフローチャートである。
動作を示すフローチャートである。
動作を示すフローチャートである。
S607、S701〜S705 ステップ
Claims (4)
- 【請求項1】 テストパターンに基づいて試験装置を動
作させ、フェイルが発生したときの前記テストパターン
のアドレス情報をテスト結果として出力するスキャンテ
スト装置において、 アドレスに対応するスキャンフリップフロップ名が記述
された回路情報を記憶する記憶手段を具備し、 テスト結果としてフェイルが発生したときのアドレス情
報とともに、該アドレス情報に対応して前記記憶手段に
記憶されているスキャンフリップフロップ名を出力させ
る制御装置を有することを特徴とするスキャンテスト装
置。 - 【請求項2】 テストパターンに基づいて試験装置を動
作させ、フェイルが発生したときの前記テストパターン
のアドレス情報をテスト結果として出力するスキャンテ
スト装置において、 アドレスに対応するスキャンチェーン名が記述された回
路情報を記憶する記憶手段を具備し、 テスト結果としてフェイルが発生したときのアドレス情
報とともに、該アドレス情報に対応して前記記憶手段に
記憶されているスキャンチェーン名を出力させる制御装
置を有することを特徴とするスキャンテスト装置。 - 【請求項3】 テストパターンに基づいて試験装置を動
作させ、フェイルが発生したときの前記テストパターン
のアドレス情報をテスト結果として出力するスキャンテ
スト装置において、 フェイルが発生したときに出力されるアドレス情報の出
力アドレス範囲を記憶する記憶手段を具備し、 フェイルが発生したときのアドレス情報のうち、前記記
憶手段に記憶されているアドレス範囲内のアドレス情報
のみをテスト結果として出力させる制御装置を有するこ
とを特徴とするスキャンテスト装置。 - 【請求項4】 テストパターンに基づいて試験装置を動
作させ、フェイルが発生したときの前記テストパターン
のアドレス情報をテスト結果として出力するスキャンテ
スト装置において、 フェイルが発生したときの時刻データを記憶する記憶手
段を具備し、 テストパターンの実行順序とテストパターンが実行され
るテストレートおよびアドレス情報によりフェイルデー
タが発生したときの開始からの時間を演算して前記記憶
手段にアドレス情報とともに記憶させ、 テスト結果としてフェイルが発生したときのアドレス情
報とともに、該アドレス情報に対応して前記記憶手段に
記憶されている時間を出力させる制御装置を有すること
を特徴とするスキャンテスト装置。
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