TW400505B - Scan test apparatus - Google Patents
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Description
.經濟部中央標準局員工消費合作社印策 A7 B7 五、發明説明(1 ) 發明之背景 發明之範圈 本發明係有闢於一種掃描澜試裝置*可執行霣子元件的 掃描測試工作。 相W技蕤之說明 近來*由於元件的高功能或者高黏著密度(high-density o unting)之緣故,要執行元件黏著板或被黏著元件本身 的搡作澜試已經變得越形困雞。特別是,霣路内測試器 (in- circuit testers)^經昂貴到無法用來進行操作分 析的地步了。掃描测試系統已有被使用來掃描該些諸如依 據IEEE的1419.la標準之结構而設計的元件。此類系統, 利用建構一個掃描通路(scan pass)便可Μ檢査一捶特定 元件,或每一個元件的搡作·其係利用將元件上的掃描正 反器(scan flip- flop)與一掃描串列(scan chain)連接 起來,以便由連接器输出缺陷分析資科(此後稱之為「掃 描資科記錄 j (”scan data log”))。 在此類習知之掃描測試系統之中,一姐掃描資料記錄的 内容係為回懕於某一澜試模像(test pattern)所輪出的資 料,其可利用發生失效之處的位址而指出失效的位置。 上述的習知掃描測試系統僅能提供測試横像的資料 及失效發生的位址,其並有下列之問題: 由掃描測試中希望獲得的資料包括: (1) 發生失效之掃描串列,Μ及 (2) 發生失效之掃描正反器。此些資料片斷巳利用澜試 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210 X 297公釐) 4 I-------L_ * 裝------訂------^ 一 - » (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 A7 ___B7_ 五、發明説明(2 ) 棋像,顧示测試模像如何耱入的經歷性資科,Μ及失效發 生的位址而得Μ決定。不邊,此種搡作會需要大的工作量 ,並花費大量的時間。 元件的《路設計,包含了所要設計電路的動作之電臞棋 擬*製作出來元件的掃描測試,Μ及此兩種结果之間的比 較。 霣臛模擬通常顧示元件在時間_上的暫態情況。習知的 掃描测試系统則只提供失效發生的位址•如此一來便必須 要比對在不同參數*諸如「位址j與「時間j之上的資料 。其结果,要在某一時間上比較波形便舍相當困難,亦因 而使得失效分析更形困難。 發明之概要 本發明因此即在於解決此些問題。因此,本發明之目的 即在於提供一種掃描澜試裝置,其可Μ高速執行掃描測試 结果的失效分析工作。 依據本發明之一要點*提供一種掃描瀰試装置,可根據 一拥I試棋像而搡作一測試單元,其包含一記憶裝置,可保 留電路資科*其中掃描正反器之名稱係被寫入於對懕的位 址中;Μ及一控制裝置,當發生失效時可輸出位址資料, Μ及來自於該記憶裝置之中*對應於該位址資科的一掃描 正反器名稱,Μ作為測試輸出。 依據本發明之另一要點,提供一種描描测試装置•可根 據一测試撗像而搡作一澜試單元,其包含一記檐装置,可 保留霣路資料*其中掃描串列之名稱係被寫入於對應的位 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 5 --------- i------IT------浴 I* (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 經濟部中央標準局貝工消费合作社印裝 B7 五、發明説明(3 ) 1 1 I 址 中 i 以 及 — 控 制 裝 置 9 當 發 生 失 效 時 可 m 出 位 址 資 料 9 1 1 1 以 及 來 白 於 該 記 憶 裝 置 之 中 9 對 應 於 該 位 址 資 料 的 — 掃 描 1 I 串 列 名 稱 Μ 作 為 測 試 _ 出 Ο 請 先 聞 1 1 I 依 據 本 發 明 之 又 — 要 點 $ 提 供 一 種 掃 描 m 試 装 置 f 可 根 讀 背 面 1 1 據 •— 籣 試 棋 像 而 搡 作 測 試 單 元 9 其 包 含 — 記 植 装 置 9 可 之 注 1 I 保 意 留 位 址 資 料 的 一 個 位 址 區 域 * 以 便 當 發 生 失 效 時 加 幢 事 項 1 I 出 再 j • Μ 及 一 控 制 装 置 9 其 僅 输 出 镰 存 於 該 記 植 装 置 内 該 位 1 址 區 域 之 中 的 位 址 資 科 9 以 作 為 拥 試 _ 出 〇 寫 本 頁 % 1 I 依 據 本 發 明 之 再 一 要 點 9 提供 種掃描测試装置 9 可根 1 1 據 — 測 試 模 像 而 操 作 一 澜 試 單 元 • 其 包 含 一 記億装置 9 當 1 I 發生失效時可保 留 時 間 資 料 一 計 算 裝 置 » 可根據該_試 1 1 模 訂 像 的 種執行次序 該測試横像被執行的澜試速率 » Μ 1 及 位 址 資 料 而 計 算 由 該 時 間 資 料 開 始 的 一 個 時 間 段 落 9 1 並 將 該 時 間 段 落 與 該 位 址 資 料 *—· 起 雠 存 於 該 記 憶 裝 置 内 » 1 I K 及 一 控 制 裝 置 可 m 出 該 位 址 賁 料 f Μ 及 來 於 該 記 憧 1 * 線 裝 置 之 中 對 應 於 該 位 址 資 科 的 該 時 間 段 落 以 作 為 拥 試 1 L 1 输 出 0 依 據 本 發 明 之 掃 描 測 試 裝 置 會 將 掃 描 正 反 器 名 稱 * 描 描 1 1 卑 列 名 稱 或 失 效 發 生 的 時 間 9 與 位 址 資 料 一 起 予 Μ m 出〇 1 I 當 輸 出 位 址 画 域 有 所 限 定 時 掃 描 测 試 裝 置 畲 只 在 必 要 1 1 I 的 區 域 内 輸 出 測 試 的 结 果 * 因 而 增 進 了 分 析 進 行 的 效 率 Ο 1 1 圓 式 之 簡 要 說 明 1 I 圈1為依據本發明- -具體例之- -掃描拥試裝置之方塊晒; 1 1 _2顧示園1中的裝置之内賣料液動的情形 ♦ 參 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2l〇x297公釐) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(4 ) 圔3顯示圖1中所示一軟體模組101的架構; 圖4為一流程圃,其中顗示一测試横像資料擷取横組301 的操作情形: 晒5為一流程圖,其中顔示一饋送區域資料饋送模組302 的操作情形; 圏6為一流程圓•其中顧示掃描資料記錄-1產生模組303; 圔7為一流程圖,其中顯示掃描資料記錄-2產生横組3 04。 較佳具體例之詳细說明 鼷1之中,一個掃描澜試裝置包含有一個软體横組101, 其係由一控制段102與一處理段103,一測試!^104,一 _ 出單元105,一記憶單元106,一輸出單元107,Μ及一掃 描資料記錄108所構成。 软體模組101的控制段102為澜試單元104啟動一個澜試 程式與一測試模像,或者讀取失效資料Μ便控制澜試單元 104。處理段103回應於輸入單元105的内容,記憶單元106 之內容,測試單元104的操作结果,而製作一組掃描資料 記錄108,並將结果輪出至輸出單元107,諸如是一部顯示 器或一部列印機。 鬮2中顯示各個資料流,諸如對输入單元105的輸入資料 •耱出資料或掃描資料記錄108,Μ及記憶單元106的記憶 內容。 饋至輪入單元105的資料包含了給予測試單元104的一個 测試横像201,內有掃描正反器名稱寫入對應位址中的霣 路資料202,内有掃描串列名稱寫人於對應位址中的霣路 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 7 -------:---^ i------IT------^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 A7 __ B7_ 五、發明説明(5 ) 資料203,K及一個鎖送匾摞示204K指出掃描结果的一個 鎮送區域。記憶單元106的内容包含拥試棋像資料207與饌 送區資料208,其係分別為澜試横像201與饋送匾禰示204 的輸入内容。此些記憶内容係依據輪入内容而進行更新的 。依據測試單元10 4對各輸入資料的測試结果為基礎,掃 描資料記綠108係由一掃描資料記錄記錄-1 20 6-1與一時 間資料206-2 (圈3),Μ及一掃描資料記錄-2 205所構成 的*後者之中,新資料係被加日於掃描資料記錄-1之内。 软»棋組101將參考圔3予Μ說明。 軟«槙組101係由四個模姐所構成的:亦即,一個拥試 模像資料擷取棋組301,一個鎖送區域資料饑送横姐30 2, 一個掃描黄料記錄-1產生模姐303,Μ及一個掃描賁料記 錄-2產生横姐304。每一個横姐的動作將在後面予Μ說明。 澜試描像資料擷取棋組301 拥試横像資科擷取横姐301讀取有鼷於掃描串列的拥試 棋像201 (圈2>與霣路資料203 (圓2),Κ便產生測試横像 資料207。做為有《於掃描串列的霣路資料2 03,下列中之 一即被齲送進去。 (1) 依據本發明進行掃描分析,测試棋像進行澜試所必 要的,有闞於時間與元件端子,依據BSDLM及輔肋霣路資 訊(ancillary circu丨t information)為基礎所寫的 18路 資料; (2) 依據本發明進行掃描分析•测試棋像道行測試所必 要的,有酗於時間與元件蝙子之僅有鞴肋電路資料;以及 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 8 -----1---.---- ------1T------^ I - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(6 ) (3)依據本發明進行掃描分析*測試横像進行测試所必 要的,有W於時間與元件端子之霣路資料,其係僅由測試 模像所構成者,係被寫下作為掃描操作之備註。 測試横像資料207係由测試模像的位址資料,測試速率 切換時間賣料,模像計數資料,Μ及測試模像與掃描串列 的對應資料所構成。這褢所產生的測試模像資料是為其他 横組所必要的,並在其他程序之中供參考之使用。 嫌送區域資料臢送横組302 饋送區域資料鏔送横組302處理測試横像中一個給定區 域内的失效饋送標示。應注意到該標示係Μ掃描串列名稱 製作的。此外,在掃描串列内一個預定位置上進行檷示亦 是可能的。由於測試横像並不具有有W於掃描串列的資科 ,此種標示通常是不可能的。不遇,上述所產生的洒試横 像資料因具有對應於測試横像輿掃描串列的資料,故使得 此種標示便成可能。 此地所產生的鐄送區賣科20 8係為拥試横像的位址資料 ,其係轉換成為作為臢送區域檷示204 (圓2)而讀進的掃 描串列或位置資料者,Μ便在後面所將說明的一個掃描資 料記錄-1產生模組303之中增進拥試單元104 (圖1)之控制 效率。 掃描資料記錄-1產生横組303 掃描資料記錄-1產生横組303在嫌送區資料208所指示的 區域内控制澜試單元104執行测試程式,接收结果或失效 資料以便辨識掃描正反器*並產生掃描資料記錄-1 206-1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ 297公釐) 9 ;丨丨,·裝------訂------線 > _ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印$1 A7 B7 五、發明説明(7 ) 與時間資料206-2。因測試所獲得的失效霣料係Μ拥試撗 像的一個位址來表示。此資料係利用參考测試撗像資料 2 07的澜試棋像與掃描串列之對懕資料•而被使用來辨雄 掃描串列名稱與掃描正反器。 為了要嫌送所有的失效資科,測試單元供儲存失效資料 的一儷失效記憶之記憶内容,每一次當测試模像被執行時 ,即依序被轉送到另一個記憶單元中* Μ便失效賁料的鏔 送區域得以逐渐地移動。如此所獲得的所有失效資料即得 以被讀入Κ便辨識掃描正反器,因而產生掃描資科記錄-1。此掃描寅料記錄-1係在測試單元於控制下製作出最少 組的掃描資料記錄之情況下被產生出來的,以便避免獮佔 了測試單元之使用。掃描正反器的辨識係在此横组中進行 的,其係由測試單元中讀取失效寅科。在此同時,計算時 間資料所必要的時間之基本資科則亦被製作出來。 掃描賁料記錄-2產生横组304 掃描資料記錄-2產生棋組304是為其中有較多資料與掃 描資料記錄-1相醐的一個模組。相鼷實料包含測試模像的 位址資料,時問資料,Μ及掃描正反器與掃描胞埋輯的名 稱。此些資科係利用參考掃描資科記錄-1 206-1,時間資 料206-2,Μ及掃描正反器明單202而製作出來並互相闞_ 在一起的》時間霣料206-2包含测試横像執行次序與拥試 模像被執行時的測試速率。如此便可Κ計算由失效賣科被 產生出來之後開始的時間區段。 當在元件缺陷分析與«輯棋擬之間進行比較時·由於棋 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210Χ297公釐) _ 1 〇 _ ----------^ _裝------訂------線 - - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 B7 五、發明説明(8 ) 擬係K時間為基礎進行,而測試單元則只具有測試模像的 位址資料之故,兩種方法之間並無共通的參數。在此具體 例之中,加入了時間資科K便指出失效產生時的時間,因 而解決了此—問題。當一外部第三分析單元接收到此些名 稱時,播描正反器或胞名稱的加入則使得直接交換缺陷資 料變成可能•因而增進了缺陷分析的效率。 此些横組的操作情形將在後面予Μ說明。在_4-7中, 测試横像資料擷取横组301,饋送區域資料鎖送棋組302, 掃描資科記錄-1產生横组303,W及掃描資料記錄-2產生 棋组304的動作係以流程圓加Μ顯示。 首先,參考圓4說明測試模像資料擷取撗组301的動作情 形。 如同前述•鎖送至测試棋像資科擷取横組301的霣路資 料,係為依據BSDL,轜助霣路資訊,或作為掃描備註而寫 入拥試横像中的資料為基礎所寫下的霣路資料。 經濟部中央標準局貝工消費合作社印裝 當霣路資料係KBSDL或鞴肋資料的形式提供時,精助賁 料即被讀入並進行分析(步驟S 40 U。接著,瀾試横像即逐 步地被讀入。當電路資料係以掃描附註的形式提供時,即 在此地進行分析(步RS402)。測試棋像的位址資科•测試 速率切換時間資料,以及横像計數資料係被寫入作為澜試 横像資料207 (步驊S403)。 被寫入的测試横像即被進行分析,Μ便決定元件的目前 狀態。當BSDL被提供作為霣路資料時,拥試棋像即依據 TAP控制器的狀戆轉換画而進行追蹤(步驟S404)。接著, 11 --------—-—Γ -裝-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -丨年 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(2丨OX297公釐) 經濟部中央標準局貝工消费合作社印裝 A7 B7 五、發明説明(9 ) 位址資料與濡試模像的掃描串列之對應資料即被產生出來 ,並作為測試模像資科20 7而寫人。接著*在步驊S402-405檢査所有测試横像201是否皆已完成。若尚未完成,程 序便回到步驟S402去重覆各個動作(步驟S 406 )。 接著參考圈5說明饋送區域資料鎖送横組302的動作情形。 鎖送匾域禰示20 4痛要有下列的四種資料: (1) 所要執行程式的名稱; (2) 所要產生的掃描資料記錄-1的檑名; (3) 在一 Μ試程式内的澜試次數:以及 (4) 失效賁料的鯛送區域° 當鋇送區域資料饋送棋姐302被啟動時,即由鋇送匾域 檷示204中讀取一個指令(步驟S501),並檢査指令的形態( 步驟S502)。 當所謓取之指令是為一測試程式之名稱的播示時,所讀 取程式的名稱便被標示作為鎖送區域寅料208的測試程式 之名稱(步嫌S503 )。 當所讀取之指令是為一掃描資料記錄之名稱的禰示時, 所讚取掃描資科記錄的名稱便被標示作為饋送區域資料 208的掃描資料記錄之名稱(步嫌S504)。 當所謓取之指令是為澜試次数之禰示時·髄存於測試横 像資料207内對應於所纊取測試次数的测試棋像資料楢便 被讀出,並寫入饋送區域資料208内(步驟S505) ° 當所謓取之指令是為鎖送區域之標示時·鎖送内容或掃 描串列名稱,或掃描串列内之位置資料’即被轉換成為测 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210x297公釐) -12 - -------;--^------1Τ------Μ ·-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 示單會止 禰憧作為 送記動時 饋於此料 在存。資 落儲内效 否地錄失 是時記有 料暫料所 資之資的 效將描内 失便掃域 之,至區 取送送示 獲!iM擦 所行便送 定進 Μ _ 判要,得 著料内獲 接資1),到 若圆直
。 覆 6 ΠΒΠ rL A7 __________ B7 _ 五、發明説明(10) 試棋像的位址資料(步驟S506)。 接著’便檢査所有的_送區域指令204之搡作是否皆已 完成。若尚未完成,程序便回到步驟S501去重覆上述的動 作(步驟S507) 〇 接著參考圈6說明掃描霣料記錄-1產生横組303的動作情 形。 在動作之時,由鋇送區域資料2 08内讀取一個測試程式 Μ供執行。當澜試程試執行澜試功能時,便設定將控制移 到此棋姐上來(步RS601)。在控制被移轉到此橫姐上後, 便設定將目摞失效資科齡入湄試單元之内,並啟動澜試撗 像資料207之測試棋像(步驟S602)。 S603) 〇 接著,掃描正反器即在鋇送失效資料的位址資料基礎上 進行辨識,同時並考慮澜試横像資料(步驟S60 4)。接著· 有闞於辨識掃描正反器的資料即作為掃描霣料記錄-1 206-1而加Μ存楢(步驟S605)。接著,有關於時間的所有 資料•諸如測試棋像與測試速率,即被存播Μ產生時間資 料 206-2 (步明 S606 )。 接著*便檢査是否所有的失效賣料皆已鑛送。若尚未完 成,程序便回到步驟S602去重覆上述的動作(步蹶S607)。 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210Χ29:/公釐) -------— ά------IT------m. ·- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 13 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(11 ) 接著參考圈7說明掃描資料記錄-2產生模組304的動作情 形。 掃描資料記錄-2係利用將新資料加入掃描資料記錄-1內 而產生的。在動作時,其係由掃描資料記錄-1 206-1中謓 取一行(步驟S701)。接著,所讀取掃描資料記錄-1 206-1 中的失效資料位址賣料便K位址資料207加以更新。由於 所要執行的測試模像陳著測試單元104麥*故這是必要的 作法。 接著,依據時間資料206-2,失效資料位址資料Μ及測 試模像資科207而計算失效發生的時間*並將之加至測試 模像資料207之中作為時間資料(步驟S703 )。接著,經辨 識的正反器之埋輯名稱與掃描胞名稱,利用參考掃描正反 器名單202,便可Μ加入其中(步驟S704)。所加入的資料 接著即被存擋Κ便產生一個掃描資料記錄_2(步驟S705)。 接著*便檢査掃描資料記錄-1中的所有資料的上述動作 是否皆已完成。若尚未完成,程序便回到步驟S702去重覆 上述的動作(步驟S706)。 依據本發明之裝置可Μ產生下列的效果: 在發生失效的位址資料,Μ及儲存在記憶單元内對應於 位址資料處的掃描正反器名稱被輸出時,掃描正反器名稱 ,掃描串列名稱,Κ及失效發生的時間,皆與位址資料一 起被輸出,Κ便能夠加速測試分析的進行速度。 當儲存於記憶單元內只有位址資料被輸出作為測試结果 時,位址區域便得Μ受限,Μ便只在必要區域内_出结果 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) 14 --------— ί 夢------訂--------^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 五、發明説明(12 ) A7 B7 因而增加了測試與分析的效率 --------1_ —裝------訂------0--^ J - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 15
Claims (1)
- 8 5 1 1484 3 A8 B8 C8 D8 U ιΐ: 署止 m六、申請專利範圍 元,其 記憶 被寫入 控制 該記憶 ,以作 一测 列霣路 一饋 外部输 資科; 種掃描測 包含: 装置,可 於對懕的 装置,當 裝置之中 為澜試输 試模像資 資料產生 送區域資 入的掃描 試器,可根據一測試模像而操作一測試單 保留電路資料,其中掃描正反器之名稱係 位址中;興 發生失效時可输出位址資科,以及來自於 ,對應於該位址資料的一掃描正反器名稱 出,該控制装置包括一軟體横組,其包含 料擷取模組,用K從該測試模像及掃描串 澜試模像資料; 科饋送槙姐,用以從該測試模像資料及從 串列名稱和位置資料,產生測試模像位址 燦請委员明示,本袞/'X.:.後是否逆更原實質内容 (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) '裝· 經濟部中央橾率局β;工消費合作社印装 一第一掃描資料記錄產生 科及該測試模像位址資料, 式*接收失效資料以辨識並 存椹,K產生第一掃描資料 一第二掃描資料記錄產生 從該第一掃描資料記錄、該 算一時間,以產生時間資料 部输人的掃 稱,且 及掃描 2 . · 元,其 記憶 模組,用Μ回應該測試模像資 操作該測試單元Μ執行測試程 將描描串列名稱及掃描正反器 記錄及時間資料;與 模組,當該失效發生時,用以 測試模像資料及該時間資料計 ,並辨識正反器名稱及掃描名 描正反器名單,將正反器名稱 起存楢。 間,以產 參照從外 名稱與該時間資科 種掃描測試器*可根據一測試模像而操作一測試單 包含: 装置,可保留電路資料*其中掃描串列之名稱係被 本紙張尺度適用中國國家梂準(CNS ) Α4规格(210Χ297公釐) 1 8 5 1 1484 3 A8 B8 C8 D8 U ιΐ: 署止 m六、申請專利範圍 元,其 記憶 被寫入 控制 該記憶 ,以作 一测 列霣路 一饋 外部输 資科; 種掃描測 包含: 装置,可 於對懕的 装置,當 裝置之中 為澜試输 試模像資 資料產生 送區域資 入的掃描 試器,可根據一測試模像而操作一測試單 保留電路資料,其中掃描正反器之名稱係 位址中;興 發生失效時可输出位址資科,以及來自於 ,對應於該位址資料的一掃描正反器名稱 出,該控制装置包括一軟體横組,其包含 料擷取模組,用K從該測試模像及掃描串 澜試模像資料; 科饋送槙姐,用以從該測試模像資料及從 串列名稱和位置資料,產生測試模像位址 燦請委员明示,本袞/'X.:.後是否逆更原實質内容 (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) '裝· 經濟部中央橾率局β;工消費合作社印装 一第一掃描資料記錄產生 科及該測試模像位址資料, 式*接收失效資料以辨識並 存椹,K產生第一掃描資料 一第二掃描資料記錄產生 從該第一掃描資料記錄、該 算一時間,以產生時間資料 部输人的掃 稱,且 及掃描 2 . · 元,其 記憶 模組,用Μ回應該測試模像資 操作該測試單元Μ執行測試程 將描描串列名稱及掃描正反器 記錄及時間資料;與 模組,當該失效發生時,用以 測試模像資料及該時間資料計 ,並辨識正反器名稱及掃描名 描正反器名單,將正反器名稱 起存楢。 間,以產 參照從外 名稱與該時間資科 種掃描測試器*可根據一測試模像而操作一測試單 包含: 装置,可保留電路資料*其中掃描串列之名稱係被 本紙張尺度適用中國國家梂準(CNS ) Α4规格(210Χ297公釐) 1 蛵濟部中央標率局男工消费合作社印«. A8 B8 C8 -7----£!__ 六、申請專利範圍 寫入於對應的位址中;輿 控剌装置*當發生失效時可_出位址賁枓,Μ及來自於 該記植装置之中,對應於該位址資科的一掃描串列名稱, Μ作為瀾試輸出,該控制装置包括一軟髓棋姐,其包含: —«I試模像資料擷取横组,用以從該測試模像及掃描串 列I®路資料產生拥試棋像資料; —饋送匾域資料鎖送横組*用Κ從該測試棋像資料及從 #部_入的描描串列名稱和位置資料,產生测試横像位址 資科; —第一掃描資科記錄產生模組,用以回應該澜試棋像黄 #及該拥試棋像位址資科,操作該測試單元Μ執行拥試程 式’接收失效資料Μ辨識並將描描串列各稱及掃描正反器 存楢·Μ產生第一掃描資科記錄及時間資料;與 一第二掃描資料記錄產生棋组*當該失效發生時,用Κ 從該第一掃描資料記錄、該测試棋像資科及該時間資料計 算一時間,以產生時間資料*並辨識正反器名稱及掃描名 稱,且參照從外部輸入的掃描正反器名犟·將正反器名稱 及掃描名稱與該時間資料一起存播。 3.—種掃描澜試器,可根據一两試横像而操作一拥試單 元•其包含: 記憶装置*可保留位址資科的一個位址匾域,Μ便當發 生失效時加Μ輸出;與 控制裝置•其僅輪出髂存於該記植裝罝内該位址區域之 中的位址資料· Κ作為《試输出,該控制裝置包括一钦髓 本紙張尺度逋用中國國家梂準(CNS)A4規格( 210X297公釐) _ 9 _ --------_ί:^------訂------I j (請先W讀背面之注$項再填寫本頁) 六、申請專利範圍 横组*其包含: 一測試横像資科擷取模組,用Μ從該澜試模像及掃描串 列電路資料產生澜試模像資料; 一餵送區域資料鎖送模組,用Κ從該測試模像資料及從 外部输入的掃描串列名稱和位置資料,產生测試模像位址 資科: 一第一掃描資料記錄產生横組,用Μ回懕該測試模像資 料及該測試模像位址資料*搡作該測試單元Μ執行測試程 式,接收失效資料Μ辨識並將掃描串列各稱及掃描正反器 存椹* Μ產生第一掃描資科記錄及時間資科;與 一第二掃描資料記錄產生模組,當該失效發生時,用Μ 從該第一掃描資料記錄、該測試模像資料及該時間資料計 算一時間,Μ產生時間資料,並辨識正反器名稱及掃描名 稱*且參照從外部輪入的掃描正反器名單,將正反器名稱 及掃描名稱與該時間資料一起存楢。 4. 一種掃描测試器,可根據一測試模像而操作一測試單 元,其包含: 經濟部中央揉率局負工消費合作社印装 記憶装置,當發生失效時可保留時間資科; 控制裝置,可根據該测試模像的一種執行次序,該測試 模像被執行的測試速率,以及位址資料,而計算由該時間 資科開始的一涸時間段落,並將該時間段落與該位址資料 一起儲存於該記憶裝置内,及輸出該位址資料》Κ及來自 於該記憶裝置之中,對應於該位址資料的該時間段落,以 作為測試_出,該控制装置包括一软驩模組,其包含: 3 (請先閾讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) 申請專利範圍 一測試模像 列的電路資料 一鎖送區域 外部翰入的掃 資料; 一第一掃描 料及該 式,接 器 測試模 收失效 產生第 第二掃描 從該第一掃描 A8 B8 C8 D8 資科擷取横組,用以從該測試模像及掃描串 產生澜試横像資料; 資料饋送模組,用Μ從該測試模像資科及從 描串列名稱和位置資料,產生測試横像位址 資料記錄產生模組,用Μ回應該测試模像資 像位址資料,搡作該測試單元Μ執行測試程 資料Μ辨識及送出掃描串列各稱及掃描正反 一掃描資料記錄及時間資料;輿 資料記錄產生模組,當該失效發生時,用以 資料記錄、該測試模像資料及該時間資料計 產生時間資料*並辨識正反器名稱及掃描名 外部输入的掃描正反器名單,將正反器名稱 算一時間* Μ 稱,且參照從 及掃描名稱與該時間資科一起存播 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 本紙伕尺度適用中國國家梂準(CNS ) A4规格(210X297公釐) 4
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