TWI766419B - 測試方法及裝置、電子裝置及電腦可讀存儲介質 - Google Patents
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Abstract
一種測試方法,所述測試方法包括:獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路之相關資訊;根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成測試名稱;調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述待測智慧財產權核之基本功能腳本;生成測試結果。本案還提供一種測試裝置、一種電子裝置及一種電腦可讀存儲介質,可提高SoC功能測試之完整性。
Description
本發明涉及測試技術領域,具體涉及一種測試方法及裝置、電子裝置及電腦可讀存儲介質。
目前,片上系統(System-on-chip,SoC)之功能越來越強大。所述SoC所需要使用之智慧財產權(Intellectual Property,IP)核之數量也越來越多。在對所述SoC進行測試時,往往需要投入大量之人力和物力來構建大量之測試腳本來對所述IP核進行測試。但是以人工之方式產生之測試腳本可能會有遺漏,如此將會導致所述SoC功能測試不完整。
鑒於此,有必要提供一種測試方法及裝置、電子裝置及電腦可讀存儲介質,可提高SoC功能測試之完整性。
本申請之第一方面提供一種測試方法,所述測試方法包括:獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路之相關資訊;根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成測試名稱;調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用待測智慧財產權核之基本功能腳本;生成測試結果。
較佳地,所述根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成測試名稱包括:根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成包括待測智慧財產權核之間關係之測試名稱;所述調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述待測智慧財產權核之基本功能腳本包括:調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述測試名稱中各待測智慧財產權核之基本功能腳本。
較佳地,所述獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路之相關資訊包括:獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路中資料傳遞路徑;所述根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成包括待測智慧財產權核之間關係之測試名稱包括:根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路中資料傳遞路徑生成包括待測智慧財產權核之間之資料傳遞關係之測試名稱。
較佳地,所述根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路中資料傳遞路徑生成包括待測智慧財產權核之間之資料傳遞關係之測試名稱包括:根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路中資料傳遞路徑生成測試名稱,所述測試名稱中包括執行寫入資料操作之待測智慧財產權核、執行讀出資料操作之待測智慧財產權核、待驗證之待測智慧財產權核及資料在所述待測智慧財產權核之間之搬移方式。
較佳地,所述待驗證之待測智慧財產權核包括記憶體。
較佳地,在所述根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成包括待測智慧財產權核之間關係之測試名稱之前,所述測試方法還包括:識別待測片上系統中各待測智慧財產權核之資訊;所述根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成包括待測智慧財產權核之間關係之測試名稱包括:根據所述智慧財產權核之基本功能資訊、所述片上網路之相關資訊、及所述待測智慧財產權核之資訊生成包括待測智慧財產權核之間關係之測試名稱。
較佳地,所述測試方法還包括:根據所述測試結果生成所述智慧財產權核之測試覆蓋率。
本申請之第二方面提供一種測試裝置,所述測試裝置包括:獲取模組,用於獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路之相關資訊;測試名稱生成模組,用於根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成測試名稱;運行模組,用於調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用待測智慧財產權核之基本功能腳本;測試結果生成模組,用於生成測試結果。
本申請之協力廠商面提供一種電子裝置,所述電子裝置包括一個或多個處理器及記憶體,所述處理器用於執行所述記憶體中存儲之至少一個指令時實現如上任意一項所述之測試方法。
本申請之第四方面提供一種電腦可讀存儲介質,所述電腦可讀存儲介質存儲有至少一個指令,所述至少一個指令被處理器執行以實現如上任意一項所述之測試方法。
本案藉由獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路之相關資訊,根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成測試名稱,調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述待測智慧財產權核之基本功能腳本,生成測試結果,可提高SoC功能測試之完整性。
10:測試裝置
101:獲取模組
102:測試名稱生成模組
103:運行模組
104:測試結果生成模組
S21:獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路之相關資訊
S22:根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成測試名稱
S23:調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述待測智慧財產權核之基本功能腳本
S24:生成測試結果
3:電子裝置
31:記憶體
32:處理器
33:電腦程式
圖1係本發明實施例一提供之測試裝置之方框圖。
圖2係本發明實施例二提供之測試方法之流程圖。
圖3係本發明實施例三提供之電子裝置之方框圖。
為了能夠更清楚地理解本發明之上述目的、特徵和優點,下面結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細描述。需要說明之是,在不衝突之情況下,本申請之實施例及實施例中之特徵可以相互組合。
在下面之描述中闡述了很多具體細節以便於充分理解本發明,所描述之實施例僅是本發明一部分實施例,而不是全部之實施例。基於本發明中之實施例,本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得之所有其他實施例,都屬於本發明保護之範圍。
除非另有定義,本文所使用之所有之技術和科學術語與屬於本發明之技術領域之技術人員通常理解之含義相同。本文中在本發明之說明書中所使用之術語只是為了描述具體之實施例之目的,不是旨在於限制本發明。
圖1是本發明實施例一提供之測試裝置之方框圖。所述測試裝置
10應用於電子裝置上。所述電子裝置可為智慧手機、桌上電腦、平板電腦等。所述測試裝置10包括獲取模組101、測試名稱生成模組102、運行模組103、及測試結果生成模組104。所述獲取模組101用於獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路之相關資訊。所述測試名稱生成模組102用於根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成測試名稱。所述運行模組103用於調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述待測智慧財產權核之基本功能腳本。所述測試結果生成模組104用於生成測試結果。以下將結合一種測試方法之流程圖來詳細描述模組101~104之具體功能。
圖2是本發明實施例二提供之測試方法之流程圖。所述測試方法可包括以下步驟:
S21:獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路之相關資訊。
所述智慧財產權核之基本功能資訊為所述智慧財產權核之功能。所述智慧財產權核之功能包括在所述片上系統之角色是控制角色、在所述片上系統之角色是被控制角色、支援CPU讀或寫之功能、支援直接記憶體訪問(Direct Memory Access,DMA)等。例如,安全數位輸入輸出卡(Secure Digital Input and Output Card,SDIO)在所述片上系統之角色是被控制角色,支援CPU讀/寫,及支援DMA讀/寫。
所述片上網路(Network on Chip,NoC)為處理所述片上系統中多個智慧財產權核之間資料傳輸之裝置。所述獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路之相關資訊包括:獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路中資料傳遞路徑。
S22:根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成測試名稱。
在本實施例中,所述根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成測試名稱包括:根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成包括待測智慧財產權核之間關係之測試名稱。
在本實施例中,在所述根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成包括待測智慧財產權核之間關係之測試名稱之前,所述測試方法還包括:識別待測片上系統中各待測智慧財產權核之資訊。
所述根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成包括待測智慧財產權核之間關係之測試名稱包括:根據所述智慧財產權核之基本功能資訊、所述片上網路之相關資訊、及所述待測智慧財產權核之資訊生成包括待測智慧財產權核之間關係之測試名稱。
在本實施例中,所述根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成包括待測智慧財產權核之間關係之測試名稱包括:根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路中資料傳遞路徑生成包括待測智慧財產權核之間之資料傳遞關係之測試名稱。
在本實施例中,所述根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路中資料傳遞路徑生成包括待測智慧財產權核之間之資料傳遞關係之測試名稱包括:根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路中資料傳遞路徑生成測試名稱,所述測試名稱中包括執行寫入資料操作之待測智慧財產權核、執行讀出資料操作之待測智慧財產權核、待驗證之待測智慧財產權核及所述資料在所述待測智慧財產權核之間之搬移方式。
其中,所述待驗證之待測智慧財產權核包括記憶體。所述測試名稱包括Test_待測智慧財產權核A_待驗證之待測智慧財產權核B_所述資料在所述待測智慧財產權核A到所述待測智慧財產權核B之間之搬移方式。
例如,根據所述智慧財產權核之基本功能資訊可知,SDIO在所述片上系統之角色是被控制角色,支援CPU讀/寫,及支持DMA讀/寫,根據所述片上網路中資料傳遞路徑可知,CPU可以直接存取SDIO和智慧財產權核隨機存取記憶體(Intellectual Property Core Random Access Memory,IPCRAM),SDIO也可以直接存取IPCRAM,則生成測試名稱:Test_SDIO_IPCRAM_CPURW及Test_SDIO_IPCRAM_DMARW。
S23:調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述待測智慧財產權核之基本功能腳本。
所述整體腳本為預先編寫之腳本。所述待測智慧財產權核之基本功能腳本為預先編寫之腳本。所述待測智慧財產權核包括至少一個基本功能,相應地,所述待測智慧財產權核包括至少一個待測智慧財產權核之基本功能腳本。
在本實施例中,所述調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述待測智慧財產權核之基本功能腳本包括:調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述測試名稱中各待測智慧財產權核之基本功能腳本。
所述調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述測試名稱中各待測智慧財產權核之基本功能腳本可為,例如測試名稱為Test_SDIO_IPCRAM_CPURW,則調用整體腳本構建運行環境來根據CPU、SDIO及IPCRAM去各待測智慧財產權核之一個或多個功能腳本中查找所述待測智慧財產權核之基本功能腳本,從而形成每個測試名稱對應之測試腳本。
在本實施例中,所述調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述待測智慧財產權核之基本功能腳本包括:調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述待測智慧財產權核之基本功能腳本及參數資訊。
所述參數資訊包括系統啟動流程、資料數量、智慧財產權核內部特殊測試方式、及參數值等。
S24:生成測試結果。
所述測試結果包括測試通過和測試失敗。每個測試名稱對應一個測試結果。
在本實施例中,所述測試方法還包括:當所述測試結果為測試失敗時,產生提示資訊以提示檢查整體腳本及所述待測智慧財產權核之基本功能腳本。
在本實施例中,所述測試方法還包括:根據所述測試結果生成所述待測智慧財產權核之測試覆蓋率。
所述根據所述測試結果生成所述待測智慧財產權核之測試覆蓋率包括:根據所述測試結果確定測試之所述待測智慧財產權核;根據測試之所述待測智慧財產權核與識別之所述待測智慧財產權核生成所述待測智慧財產權核之測試覆蓋率。
實施例二獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路之相關資訊,根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成測試名稱,調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述待測智慧財產權核之基本功能腳本,生成測試結果,從而,本案可提高SoC功能測試之完整性。
圖3是本發明實施例三提供之電子裝置之方框圖。所述電子裝置3包括:記憶體31、至少一個處理器32、及存儲在所述記憶體31中並可在所述至少一個處理器32上運行之電腦程式33。所述至少一個處理器32執行所述電腦程式33時實現上述方法實施例中之步驟。或者,所述至少一個處理器32執行所述電腦程式33時實現上述裝置實施例中之各模組之功能。
示例性之,所述電腦程式33可以被分割成一個或多個模組/單元,所述一個或者多個模組/單元被存儲在所述記憶體31中,並由所述至少一個處理器32執行,以完成本發明。所述一個或多個模組/單元可以是能夠完成特定功能之一系列電腦程式指令段,該指令段用於描述所述電腦程式33在所述電子裝置3中之執行過程。例如,所述電腦程式33可以被分割成圖1所示之模組,各模組具體功能參見實施例一。
所述電子裝置3可以為任何一種電子產品,例如,個人電腦、平板電腦、智慧手機、個人數位助理(Personal Digital Assistant,PDA)等。本領域技術人員可以理解,所述示意圖3僅是電子裝置3之示例,並不構成對電子裝置3之限定,可以包括比圖示更多或更少之部件,或者組合某些部件,或者不同之部件,例如所述電子裝置3還可以包括匯流排等。
所述至少一個處理器32可以是中央處理單元(Central Processing Unit,CPU),還可以是其他通用處理器、數位訊號處理器(Digital Signal Processor,DSP)、專用積體電路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、現成可程式設計閘陣列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可程式設計邏輯器件、分立門或者電晶體邏輯器件、分立硬體元件等。該處理器32可以是微處理器或者該處理器32也可以是任何常規之處理器等,所述處理器32是所述電子裝置3之控制中心,利用各種介面和線路連接整個電子裝置3之各個部分。
所述記憶體31可用於存儲所述電腦程式33和/或模組/單元,所述處理器32藉由運行或執行存儲在所述記憶體31內之電腦可讀指令和/或模組/單元,以及調用存儲在記憶體31內之資料,實現所述電子裝置3之各種功能。所述記憶體31可主要包括存儲程式區和存儲資料區,其中,存儲程式區可存儲作業系統、至少一個功能所需之應用程式(比如聲音播放功能、圖像播放功能等)等;存儲資料區可存儲根據電子裝置3之使用所創建之資料(比如音訊資料等)等。此外,記憶體31可以包括非易失性電腦可讀記憶體,例如硬碟、記憶體、插接式硬碟,智慧存儲卡(Smart Media Card,SMC),安全數位(Secure Digital,SD)卡,快閃記憶體卡(Flash Card)、至少一個磁碟記憶體件、快閃記憶體器件、或其他非易失性固態記憶體件。
所述電子裝置3集成之模組/單元如果以軟體功能單元之形式實現並作為獨立之產品銷售或使用時,可以存儲在一個電腦可讀存儲介質中。基於這樣之理解,本發明實現上述實施例方法中之全部或部分流程,也可以藉由電腦程式來指令相關之硬體來完成,所述之電腦程式可存儲於一電腦可讀存儲介質中,該電腦程式在被處理器執行時,可實現上述各個方法實施例之步驟。其中,所述電腦程式包括電腦程式代碼,所述電腦程式代碼可以為原始程式碼形式、物件代碼形式、可執行檔或某些中間形式等。所述電腦可讀介質可以包括:能夠攜帶所述電腦程式代碼之任何實體或裝置、記錄介質、U盤、移動硬碟、磁碟、光碟、電腦記憶體、唯讀記憶體(ROM,Read-Only Memory)等。
最後應說明之是,以上實施例僅用以說明本發明之技術方案而非限制,儘管參照較佳實施例對本發明進行了詳細說明,本領域具有通常技藝者應當理解,可以對本發明之技術方案進行修改或等同替換,而不脫離本發明技術方案之精神範圍。
S21:獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路之相關資訊
S22:根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成測試名稱
S23:調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述待測智慧財產權核之基本功能腳本
S24:生成測試結果
Claims (10)
- 一種測試方法,其中,所述測試方法包括:獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路之相關資訊;根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成測試名稱;調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用待測智慧財產權核之基本功能腳本而運行所述待測智慧財產權核來對所述待測智慧財產權核進行測試;生成測試結果。
- 如請求項1所述之測試方法,其中:所述根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成測試名稱包括:根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成包括所述待測智慧財產權核之間關係之所述測試名稱;所述調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述待測智慧財產權核之基本功能腳本包括:調用所述整體腳本構建所述運行環境來逐個根據所述測試名稱調用所述測試名稱中各待測智慧財產權核之基本功能腳本。
- 如請求項2所述之測試方法,其中:所述獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路之相關資訊包括:獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路中資料傳遞路徑;所述根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成包括所述待測智慧財產權核之間關係之所述測試名稱包括: 根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路中資料傳遞路徑生成包括所述待測智慧財產權核之間之資料傳遞關係之所述測試名稱。
- 如請求項3所述之測試方法,其中,所述根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路中資料傳遞路徑生成包括所述待測智慧財產權核之間之資料傳遞關係之所述測試名稱包括:根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路中資料傳遞路徑生成所述測試名稱,所述測試名稱中包括執行寫入資料操作之所述待測智慧財產權核、執行讀出資料操作之所述待測智慧財產權核、待驗證之所述待測智慧財產權核及資料在所述待測智慧財產權核之間之搬移方式。
- 如請求項4所述之測試方法,其中:所述待驗證之所述待測智慧財產權核包括記憶體。
- 如請求項2所述之測試方法,其中:在所述根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成包括所述待測智慧財產權核之間關係之所述測試名稱之前,所述測試方法還包括:識別待測片上系統中各待測智慧財產權核之資訊;所述根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成包括所述待測智慧財產權核之間關係之所述測試名稱包括:根據所述智慧財產權核之基本功能資訊、所述片上網路之相關資訊、及所述待測智慧財產權核之資訊生成包括所述待測智慧財產權核之間關係之所述測試名稱。
- 如請求項1所述之測試方法,其中,所述測試方法還包括:根據所述測試結果生成所述智慧財產權核之測試覆蓋率。
- 一種測試裝置,其中,所述測試裝置包括: 獲取模組,用於獲取智慧財產權核之基本功能資訊及片上網路之相關資訊;測試名稱生成模組,用於根據所述智慧財產權核之基本功能資訊及所述片上網路之相關資訊生成測試名稱;運行模組,用於調用整體腳本構建運行環境來逐個根據所述測試名稱調用待測智慧財產權核之基本功能腳本而運行所述待測智慧財產權核來對所述待測智慧財產權核進行測試;測試結果生成模組,用於生成測試結果。
- 一種電子裝置,其中,所述電子裝置包括一個或多個處理器及記憶體,所述處理器用於執行所述記憶體中存儲之至少一個指令時實現如請求項1至7中任意一項所述之測試方法。
- 一種電腦可讀存儲介質,其中,所述電腦可讀存儲介質存儲有至少一個指令,所述至少一個指令被處理器執行以實現如請求項1至7中任意一項所述之測試方法。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW202219771A TW202219771A (zh) | 2022-05-16 |
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TW109138497A TWI766419B (zh) | 2020-11-04 | 2020-11-04 | 測試方法及裝置、電子裝置及電腦可讀存儲介質 |
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Country | Link |
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2020
- 2020-11-04 TW TW109138497A patent/TWI766419B/zh active
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