JP3223396B2 - Ｌｓｉテスタのプログラム変換装置 - Google Patents
Ｌｓｉテスタのプログラム変換装置Info
- Publication number
- JP3223396B2 JP3223396B2 JP13850893A JP13850893A JP3223396B2 JP 3223396 B2 JP3223396 B2 JP 3223396B2 JP 13850893 A JP13850893 A JP 13850893A JP 13850893 A JP13850893 A JP 13850893A JP 3223396 B2 JP3223396 B2 JP 3223396B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- conversion
- test program
- program
- storage unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＤＵＴ（被試験対象）
のテスト仕様であるテスト規格表とＬＳＩテスタの制御
を行うテストプログラムとを変換するＬＳＩテスタのプ
ログラム変換装置に関し、テスト規格表とテストプログ
ラムとの変換規則により変換が行えない部分を変換する
ことができるＬＳＩテスタのプログラム変換装置に関す
るものである。
のテスト仕様であるテスト規格表とＬＳＩテスタの制御
を行うテストプログラムとを変換するＬＳＩテスタのプ
ログラム変換装置に関し、テスト規格表とテストプログ
ラムとの変換規則により変換が行えない部分を変換する
ことができるＬＳＩテスタのプログラム変換装置に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】ＬＳＩテスタは、ＤＵＴ（被試験対象）
の入力端子にその性能等を測定するための信号を与え、
出力端子からの信号をチェックしてＤＵＴの良否を判断
する装置である。これらの一連の動作は、ＬＳＩテスタ
にダウンロードされるテストプログラムに基づいて行わ
れるようになっている。このテストプログラムは、ＤＵ
Ｔのテスト仕様であるテスト規格表により作成される。
テスト規格表の１テストは、規格値，測定条件，待ち時
間，判定演算式，設定演算式，ピン条件，リレー設定，
コメントから構成されている。また、テストプログラム
の主なるものは、以下のようなものから構成されてい
る。 設定演算式（テスト条件を指定するのに演算が必要な
場合） 測定モジュールの設定 待ち時間（テスタ及びＤＵＴのセットリングに必要な
時間） ＤＵＴ測定 判定演算式（測定結果から判定値を求めるのに演算が
必要な場合） 判定（パス／フェイルの判定）
の入力端子にその性能等を測定するための信号を与え、
出力端子からの信号をチェックしてＤＵＴの良否を判断
する装置である。これらの一連の動作は、ＬＳＩテスタ
にダウンロードされるテストプログラムに基づいて行わ
れるようになっている。このテストプログラムは、ＤＵ
Ｔのテスト仕様であるテスト規格表により作成される。
テスト規格表の１テストは、規格値，測定条件，待ち時
間，判定演算式，設定演算式，ピン条件，リレー設定，
コメントから構成されている。また、テストプログラム
の主なるものは、以下のようなものから構成されてい
る。 設定演算式（テスト条件を指定するのに演算が必要な
場合） 測定モジュールの設定 待ち時間（テスタ及びＤＵＴのセットリングに必要な
時間） ＤＵＴ測定 判定演算式（測定結果から判定値を求めるのに演算が
必要な場合） 判定（パス／フェイルの判定）
【０００３】そして、テスト規格表からテストプログラ
ムを自動的に生成するのが、自動生成装置である。この
自動生成装置は、例えば、特開平１−３１１２８９号公
報に開示されているような装置である。テストプログラ
ムからテスト規格表に逆変換する逆変換装置は、たとえ
ば、特開平４−３０５１７７号公報に開示されているよ
うな装置である。自動生成装置あるいは逆変換装置は、
テスト規格表とテストプログラムとを定められた変換規
則に従って、それぞれの変換を行っている。しかし、こ
の変換規則に定められているものは、変換を行うが、変
換規則に定められていないものは、変換を行わない。
ムを自動的に生成するのが、自動生成装置である。この
自動生成装置は、例えば、特開平１−３１１２８９号公
報に開示されているような装置である。テストプログラ
ムからテスト規格表に逆変換する逆変換装置は、たとえ
ば、特開平４−３０５１７７号公報に開示されているよ
うな装置である。自動生成装置あるいは逆変換装置は、
テスト規格表とテストプログラムとを定められた変換規
則に従って、それぞれの変換を行っている。しかし、こ
の変換規則に定められているものは、変換を行うが、変
換規則に定められていないものは、変換を行わない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】このような装置は、以
下のような問題点があった。 テスト規格表とテストプログラムとの変換において、
プログラム特有のＩＦ文，ＧＯＴＯ文などは、変換規則
ではテスト仕様であるテスト規格表に表すことができ
ず、変換が行えない。 新規に測定モジュールを開発した場合、その測定モジ
ュールに対する変換規則が定められて、変換を行うこと
ができない。
下のような問題点があった。 テスト規格表とテストプログラムとの変換において、
プログラム特有のＩＦ文，ＧＯＴＯ文などは、変換規則
ではテスト仕様であるテスト規格表に表すことができ
ず、変換が行えない。 新規に測定モジュールを開発した場合、その測定モジ
ュールに対する変換規則が定められて、変換を行うこと
ができない。
【０００５】本発明の目的は、変換規則に定められてい
ないテストプログラムをテスト規格表に表すことができ
るＬＳＩテスタのプログラム変換装置を実現することに
ある。
ないテストプログラムをテスト規格表に表すことができ
るＬＳＩテスタのプログラム変換装置を実現することに
ある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、テストプログ
ラムを記憶する第１の記憶部と、 テスト規格表を記憶す
る第２の記憶部と、 前記第１の記憶部のテストプログラ
ムを変換規則に従ってテスト規格表に変換し、第２の記
憶部に格納する第１の変換手段と、この第１の変換手段
が変換規則によりテスト規格表に変換を行えないテスト
プログラム文を、前記第２の記憶部のテスト規格表の所
定の欄に格納する第２の変換手段と、前記第２の記憶部
のテスト規格表を変換規則に従ってテストプログラムに
変換し、前記第１の記憶部に格納すると共に、第２の記
憶部のテスト規格表の所定の欄に格納するテストプログ
ラム文をテストプログラムにし、第１の記憶部に格納す
る自動生成手段と、を有することを特徴とするものであ
る。また、テストプログラムを記憶する第１の記憶部
と、 テスト規格表を記憶する第２の記憶部と、 前記第１
の記憶部のテストプログラムを変換規則に従ってテスト
規格表に変換し、前記第２の記憶部に格納する第１の変
換手段と、この第１の変換手段が変換規則によりテスト
規格表に変換を行えないテストプログラム文を、前記第
２の記憶部のテスト規格表の所定の欄に格納する第２の
変換手段と、前記第２の記憶部のテスト規格表を変換規
則に従ってテストプログラムに変換し、前記第１の記憶
部に格納する第３の変換手段と、この第３の変換手段が
変換したテストプログラムの中で、前記変換規則により
変換を行えないテストプログラム文からなる変換文を、
テストプログラムに変換し、第１の記憶部に格納する第
４の変換手段と、を有することを特徴とするものであ
る。
ラムを記憶する第１の記憶部と、 テスト規格表を記憶す
る第２の記憶部と、 前記第１の記憶部のテストプログラ
ムを変換規則に従ってテスト規格表に変換し、第２の記
憶部に格納する第１の変換手段と、この第１の変換手段
が変換規則によりテスト規格表に変換を行えないテスト
プログラム文を、前記第２の記憶部のテスト規格表の所
定の欄に格納する第２の変換手段と、前記第２の記憶部
のテスト規格表を変換規則に従ってテストプログラムに
変換し、前記第１の記憶部に格納すると共に、第２の記
憶部のテスト規格表の所定の欄に格納するテストプログ
ラム文をテストプログラムにし、第１の記憶部に格納す
る自動生成手段と、を有することを特徴とするものであ
る。また、テストプログラムを記憶する第１の記憶部
と、 テスト規格表を記憶する第２の記憶部と、 前記第１
の記憶部のテストプログラムを変換規則に従ってテスト
規格表に変換し、前記第２の記憶部に格納する第１の変
換手段と、この第１の変換手段が変換規則によりテスト
規格表に変換を行えないテストプログラム文を、前記第
２の記憶部のテスト規格表の所定の欄に格納する第２の
変換手段と、前記第２の記憶部のテスト規格表を変換規
則に従ってテストプログラムに変換し、前記第１の記憶
部に格納する第３の変換手段と、この第３の変換手段が
変換したテストプログラムの中で、前記変換規則により
変換を行えないテストプログラム文からなる変換文を、
テストプログラムに変換し、第１の記憶部に格納する第
４の変換手段と、を有することを特徴とするものであ
る。
【０００７】
【作用】このような本発明では、第１の変換手段が、変
換規則に従うテストプログラムをテスト規格表に変換を
行い、第２の変換手段が、第１の変換手段が変換を行え
ないテストプログラム文をテスト規格表の所定の欄に格
納する。そして、自動生成手段が、テスト規格表を変換
規則に従ってテストプログラムに変換し、テスト規格表
の所定の欄に格納するテストプログラム文をテストプロ
グラムにする。また、第１の変換手段が、変換規則に従
うテストプログラムをテスト規格表に変換を行い、第２
の変換手段が、第１の変換手段が変換を行えないテスト
プログラム文をテスト規格表の所定の欄に格納する。そ
して、第３の変換手段がテスト規格表を変換規則により
テストプログラムに変換し、第４の変換手段が、第３の
変換手段が変換したテストプログラムの中で、変換規則
により変換されないテストプログラム文からなる変換文
を、テストプログラムに変換する。
換規則に従うテストプログラムをテスト規格表に変換を
行い、第２の変換手段が、第１の変換手段が変換を行え
ないテストプログラム文をテスト規格表の所定の欄に格
納する。そして、自動生成手段が、テスト規格表を変換
規則に従ってテストプログラムに変換し、テスト規格表
の所定の欄に格納するテストプログラム文をテストプロ
グラムにする。また、第１の変換手段が、変換規則に従
うテストプログラムをテスト規格表に変換を行い、第２
の変換手段が、第１の変換手段が変換を行えないテスト
プログラム文をテスト規格表の所定の欄に格納する。そ
して、第３の変換手段がテスト規格表を変換規則により
テストプログラムに変換し、第４の変換手段が、第３の
変換手段が変換したテストプログラムの中で、変換規則
により変換されないテストプログラム文からなる変換文
を、テストプログラムに変換する。
【０００８】
【実施例】以下図面を用いて本発明を説明する。図１は
本発明の一実施例を示した構成図である。図において、
１，２は記憶部で、それぞれテストプログラム，テスト
規格表を記憶する。３は逆変換装置で、記憶部１のテス
トプログラムをテスト規格表に変換し、記憶部２に格納
する。４は自動生成装置で、記憶部２のテスト規格表を
テストプログラムに変換し、記憶部１に格納する。逆変
換装置３において、３１は判断手段で、テストプログラ
ム文を変換規則に定められたテストプログラム文かどう
か判断する。３２は第１の変換手段で、判断手段３１か
ら変換規則で変換できるテストプログラム文を受けて、
テストプログラム文を変換規則に従ってテスト規格表に
変換する。３３は第２の変換手段で、判断手段３１から
変換規則で変換できないテストプログラム文を受けて、
テスト規格表にコメント文としてテストプログラム文を
テスト規格表に変換する。自動生成装置４において、４
１は第３の変換手段で、テスト規格表を変換規則に従っ
てテストプログラムに変換する。４２は第４の変換手段
で、この第３の変換手段４１が変換したテストプログラ
ムの中で、第３の変換手段４１の変換規則により変換を
行えないテストプログラム文であるコメント文をテスト
プログラムに変換する。
本発明の一実施例を示した構成図である。図において、
１，２は記憶部で、それぞれテストプログラム，テスト
規格表を記憶する。３は逆変換装置で、記憶部１のテス
トプログラムをテスト規格表に変換し、記憶部２に格納
する。４は自動生成装置で、記憶部２のテスト規格表を
テストプログラムに変換し、記憶部１に格納する。逆変
換装置３において、３１は判断手段で、テストプログラ
ム文を変換規則に定められたテストプログラム文かどう
か判断する。３２は第１の変換手段で、判断手段３１か
ら変換規則で変換できるテストプログラム文を受けて、
テストプログラム文を変換規則に従ってテスト規格表に
変換する。３３は第２の変換手段で、判断手段３１から
変換規則で変換できないテストプログラム文を受けて、
テスト規格表にコメント文としてテストプログラム文を
テスト規格表に変換する。自動生成装置４において、４
１は第３の変換手段で、テスト規格表を変換規則に従っ
てテストプログラムに変換する。４２は第４の変換手段
で、この第３の変換手段４１が変換したテストプログラ
ムの中で、第３の変換手段４１の変換規則により変換を
行えないテストプログラム文であるコメント文をテスト
プログラムに変換する。
【０００９】このような装置の動作を以下で説明する。
図２，３は、図１の装置の変換過程を示した図である。
図２は＊ＴＮＯ文の直前に変換対象外がある場合、図３
は＊ＳＥＴ文の直前に変換対象外がある場合である。そ
して、ａはテストプログラム、ｂはテスト規格表、ｃは
テスト規格表から第３の変換手段４１を用いて変換した
テストプログラムを表す。図において、＊ＴＮＯ文は、
テスト番号，カテゴリ，テスト項目名が表される。＊Ｓ
ＥＴ文は、測定モジュールの設定を表す。＊ＭＥＡＳＵ
ＲＥ文は、ＤＵＴ測定を表す。＊ＪＵＤＧＥ文は、判定
（パス／フェイルの判定）を表す。”！＃ｃ”は、コメ
ント文を表す。変換対象外は、変換規則で変換を行えな
いテストプログラム文を示す。
図２，３は、図１の装置の変換過程を示した図である。
図２は＊ＴＮＯ文の直前に変換対象外がある場合、図３
は＊ＳＥＴ文の直前に変換対象外がある場合である。そ
して、ａはテストプログラム、ｂはテスト規格表、ｃは
テスト規格表から第３の変換手段４１を用いて変換した
テストプログラムを表す。図において、＊ＴＮＯ文は、
テスト番号，カテゴリ，テスト項目名が表される。＊Ｓ
ＥＴ文は、測定モジュールの設定を表す。＊ＭＥＡＳＵ
ＲＥ文は、ＤＵＴ測定を表す。＊ＪＵＤＧＥ文は、判定
（パス／フェイルの判定）を表す。”！＃ｃ”は、コメ
ント文を表す。変換対象外は、変換規則で変換を行えな
いテストプログラム文を示す。
【００１０】逆変換装置３の動作を以下に示す。図４
は、図１の逆変換装置３の動作を示したフローチャート
である。判断手段３１は記憶部１からテストプログラム
を取り出し、テストプログラム文が変換規則に従って変
換可能かどうか判断する。変換規則で変換が可能な場
合、第１の変換手段３２が変換規則に従ってテストプロ
グラムをテスト規格表に変換する。つまり、テスト規格
表の該当欄にテストプログラムを展開する。変換規則で
変換できない場合、テストプログラム文に”＃ｂｓ”を
付加してテスト規格表のコメント欄に格納する。上記の
動作をテストプログラム文の数だけ繰り返す。
は、図１の逆変換装置３の動作を示したフローチャート
である。判断手段３１は記憶部１からテストプログラム
を取り出し、テストプログラム文が変換規則に従って変
換可能かどうか判断する。変換規則で変換が可能な場
合、第１の変換手段３２が変換規則に従ってテストプロ
グラムをテスト規格表に変換する。つまり、テスト規格
表の該当欄にテストプログラムを展開する。変換規則で
変換できない場合、テストプログラム文に”＃ｂｓ”を
付加してテスト規格表のコメント欄に格納する。上記の
動作をテストプログラム文の数だけ繰り返す。
【００１１】次に、自動生成装置４の動作を以下に示
す。図５は、図１の第４の変換手段４２の動作を示した
フローチャートである。第３の変換装置４１は、第２の
記憶部のテスト規格表をテストプログラムに変換規則に
従って変換する。この第３の変換装置４１の変換は、変
換規則による変換であるので、従来どおりの変換であ
る。そして、第４の変換手段４２は、第３の変換手段４
１で変換されたテストプログラムを取り込む。テストプ
ログラム文が”！ ＃ｃ”文、つまり、コメント文であ
るかどうか判断し、コメント文でなかったら何も行わな
い。そして、コメント文ならば、”＃ｂｓ”が付加され
ているかどうかを調べ、付加されていなければ何も行わ
ない。”＃ｂｓ”が付加されていれば、”！ ＃ｃ”
と”＃ｂｓ”を削除する。上記の動作をテストプログラ
ム文の数だけ繰り返す。
す。図５は、図１の第４の変換手段４２の動作を示した
フローチャートである。第３の変換装置４１は、第２の
記憶部のテスト規格表をテストプログラムに変換規則に
従って変換する。この第３の変換装置４１の変換は、変
換規則による変換であるので、従来どおりの変換であ
る。そして、第４の変換手段４２は、第３の変換手段４
１で変換されたテストプログラムを取り込む。テストプ
ログラム文が”！ ＃ｃ”文、つまり、コメント文であ
るかどうか判断し、コメント文でなかったら何も行わな
い。そして、コメント文ならば、”＃ｂｓ”が付加され
ているかどうかを調べ、付加されていなければ何も行わ
ない。”＃ｂｓ”が付加されていれば、”！ ＃ｃ”
と”＃ｂｓ”を削除する。上記の動作をテストプログラ
ム文の数だけ繰り返す。
【００１２】次に具体例を図２により説明する。テスト
プログラムａの”変換対象外”は、第２の変換手段３３
により、テスト規格表ｂのコメント欄に”＃ｂｓ 変換
対象外”として変換される。そして、”＊ＴＮＯ １０
０，，，１，”は、第１の変換手段３１により、テスト
規格表の”変換対象外”が記述されたテスト規格表の次
の行に変換される。以下、変換規則によりテスト規格表
に変換される。テスト規格表ｂを第３の変換手段４１に
より変換を行い、テストプログラムｃにする。そのと
き、コメント欄に記述された”＃ｂｓ 変換対象外”は
コメント文として、”！ ＃ｃ”のあとに記述される。
そして、第４の変換手段４２は、コメント文（”！ ＃
ｃ”の文）の内容に、”＃ｂｓ”が付加されているテス
トプログラム文から”！ ＃ｃ”と”＃ｂｓ”とを削除
したテストプログラム文にする。そして、テストプログ
ラムａとする。同様に図３においても同じ変換が行われ
る。図２と図３の相違点は、テストプログラムａにおい
て、”変換対象外”が＊ＴＮＯ文の直前にあるか、＊Ｓ
ＥＴ文の直前にあるかの違いである。これにより、テス
ト規格表に”変換対象外”が表示される場所が相違す
る。このテスト規格表に表示される場所の相違は、変換
規則により決まる。
プログラムａの”変換対象外”は、第２の変換手段３３
により、テスト規格表ｂのコメント欄に”＃ｂｓ 変換
対象外”として変換される。そして、”＊ＴＮＯ １０
０，，，１，”は、第１の変換手段３１により、テスト
規格表の”変換対象外”が記述されたテスト規格表の次
の行に変換される。以下、変換規則によりテスト規格表
に変換される。テスト規格表ｂを第３の変換手段４１に
より変換を行い、テストプログラムｃにする。そのと
き、コメント欄に記述された”＃ｂｓ 変換対象外”は
コメント文として、”！ ＃ｃ”のあとに記述される。
そして、第４の変換手段４２は、コメント文（”！ ＃
ｃ”の文）の内容に、”＃ｂｓ”が付加されているテス
トプログラム文から”！ ＃ｃ”と”＃ｂｓ”とを削除
したテストプログラム文にする。そして、テストプログ
ラムａとする。同様に図３においても同じ変換が行われ
る。図２と図３の相違点は、テストプログラムａにおい
て、”変換対象外”が＊ＴＮＯ文の直前にあるか、＊Ｓ
ＥＴ文の直前にあるかの違いである。これにより、テス
ト規格表に”変換対象外”が表示される場所が相違す
る。このテスト規格表に表示される場所の相違は、変換
規則により決まる。
【００１３】以上のように、第２の変換手段３３が変換
対象外のテストプログラム文をコメント文としてテスト
規格表に変換するので、使用者がすべてのテストプログ
ラムの内容を、確認が容易なテスト規格表の形で確認で
きる。また、第４の変換手段４２により、変換対象外の
テストプログラム文であるコメント文をテストプログラ
ムとして変換するので、ユーザが内容を確認し易いテス
ト規格表からテストプログラムを自由に作成できる。そ
の結果、使用者は、テスト規格表でテスト内容を一元管
理ができる。
対象外のテストプログラム文をコメント文としてテスト
規格表に変換するので、使用者がすべてのテストプログ
ラムの内容を、確認が容易なテスト規格表の形で確認で
きる。また、第４の変換手段４２により、変換対象外の
テストプログラム文であるコメント文をテストプログラ
ムとして変換するので、ユーザが内容を確認し易いテス
ト規格表からテストプログラムを自由に作成できる。そ
の結果、使用者は、テスト規格表でテスト内容を一元管
理ができる。
【００１４】そして、あるテストプログラムを種類の異
なるテストプログラムに変換する場合、テストプログラ
ムをテスト規格表にしてから、テストプログラムに変換
することが考えられる。この場合、使用者が変換する前
のテストプログラムをテスト規格表で内容を確認でき
る。だが、従来はこのようにテスト規格表を介して異な
る種類のテストプログラムに変換すると、変換対象外が
変換できなかった。しかし、本装置は、変換対象外も変
換するので、テスト規格表を介して変換を行っても、あ
るテストプログラムから異なる種類のテストプログラム
への変換によるテストプログラムの内容の相違が表れな
い。そして、変換する前のテストプログラムの内容もテ
スト規格表により容易に確認できる。
なるテストプログラムに変換する場合、テストプログラ
ムをテスト規格表にしてから、テストプログラムに変換
することが考えられる。この場合、使用者が変換する前
のテストプログラムをテスト規格表で内容を確認でき
る。だが、従来はこのようにテスト規格表を介して異な
る種類のテストプログラムに変換すると、変換対象外が
変換できなかった。しかし、本装置は、変換対象外も変
換するので、テスト規格表を介して変換を行っても、あ
るテストプログラムから異なる種類のテストプログラム
への変換によるテストプログラムの内容の相違が表れな
い。そして、変換する前のテストプログラムの内容もテ
スト規格表により容易に確認できる。
【００１５】また、あるテストプログラムから複数の異
なる種類のテストプログラムに変換する場合、従来はあ
るテストプログラムから異なる種類のテストプログラム
に変換する複数の変換手段が必要であった。しかし、本
発明では、あるテストプログラムからテスト規格表に変
換する逆変換手段と、テスト規格表から異なる種類のテ
ストプログラムを生成する複数の自動生成手段とを作
る。このことにより、変換対象外も変換を行い、逆変換
手段が共通化できるので、あるテストプログラムから複
数の異なる種類のテストプログラムへの変換を行う変換
手段の作成が容易になる。
なる種類のテストプログラムに変換する場合、従来はあ
るテストプログラムから異なる種類のテストプログラム
に変換する複数の変換手段が必要であった。しかし、本
発明では、あるテストプログラムからテスト規格表に変
換する逆変換手段と、テスト規格表から異なる種類のテ
ストプログラムを生成する複数の自動生成手段とを作
る。このことにより、変換対象外も変換を行い、逆変換
手段が共通化できるので、あるテストプログラムから複
数の異なる種類のテストプログラムへの変換を行う変換
手段の作成が容易になる。
【００１６】同様に、複数の異なる種類のテストプログ
ラムからあるテストプログラムに変換する場合、異なる
種類のテストプログラムからテスト規格表に変換する複
数の逆変換手段と、テスト規格表からあるテストプログ
ラムを生成する自動生成手段とを作る。このことによ
り、変換対象外も変換を行い、自動生成手段が共通化で
きるので、複数の異なる種類のテストプログラムからあ
るテストプログラムへの変換を行う変換手段の作成が容
易になる。
ラムからあるテストプログラムに変換する場合、異なる
種類のテストプログラムからテスト規格表に変換する複
数の逆変換手段と、テスト規格表からあるテストプログ
ラムを生成する自動生成手段とを作る。このことによ
り、変換対象外も変換を行い、自動生成手段が共通化で
きるので、複数の異なる種類のテストプログラムからあ
るテストプログラムへの変換を行う変換手段の作成が容
易になる。
【００１７】なお、本発明は、変換規則により変換を行
えないテストプログラム文をテスト規格表のコメント欄
に変換する構成に限定されるものではない。他の欄に変
換する構成にしてもよい。その場合、例えば、テスト規
格表からテストプログラムに自動生成する場合、エラー
として以下のように表される。 ！ ＃ｅ ！ 変換対象外 ！ ＃ｅ エラーメッセージ そして、”！ ＃ｅ ！”と”！ ＃ｅ エラーメッセ
ージ”とを取り省いて、テストプログラムとして完成さ
れる構成にすればよい。また、逆変換装置３は、判断手
段３１がない構成にしてもよい。その場合、第１の変換
手段がテストプログラムを変換規則に従って変換できる
ものだけ変換を行う。そして、第２の変換手段が、変換
規則で変換できないものを変換できる構成にすればよ
い。
えないテストプログラム文をテスト規格表のコメント欄
に変換する構成に限定されるものではない。他の欄に変
換する構成にしてもよい。その場合、例えば、テスト規
格表からテストプログラムに自動生成する場合、エラー
として以下のように表される。 ！ ＃ｅ ！ 変換対象外 ！ ＃ｅ エラーメッセージ そして、”！ ＃ｅ ！”と”！ ＃ｅ エラーメッセ
ージ”とを取り省いて、テストプログラムとして完成さ
れる構成にすればよい。また、逆変換装置３は、判断手
段３１がない構成にしてもよい。その場合、第１の変換
手段がテストプログラムを変換規則に従って変換できる
ものだけ変換を行う。そして、第２の変換手段が、変換
規則で変換できないものを変換できる構成にすればよ
い。
【００１８】
【発明の効果】本発明によれば、以下のような効果があ
る。 第２の変換手段が、第１の変換手段が変換規則により
テスト規格表に変換を行えないテストプログラムの部分
を、テスト規格表の所定の場所に変換するので、使用者
がすべてのテストプログラムの内容を確認が容易なテス
ト規格表として確認できる。 第４の変換手段により、第３の変換手段の変換規則で
変換を行えないテストプログラムの部分である変換箇所
をテストプログラムに変換するので、使用者が内容を確
認し易いテスト規格表から変換対象外のテストプログラ
ムも自由に作成できる。 以上の２点より、使用者は、テスト規格表でテスト内
容を一元管理ができる。 本装置は、変換対象外も変換するので、テスト規格表
を介して変換を行っても、あるテストプログラムから異
なる種類のテストプログラムへの変換によるテストプロ
グラムの相違が表れない。そして、変換する前のテスト
プログラムの内容もテスト規格表により容易に確認でき
る。 あるテストプログラムからテスト規格表に変換する逆
変換手段と、テスト規格表から異なる種類のテストプロ
グラムを生成する複数の自動生成手段とを作る。このこ
とにより、変換対象外も変換を行い、逆変換手段が共通
化できるので、あるテストプログラムから複数の異なる
種類のテストプログラムへの変換を行う変換手段の作成
が容易になる。 異なる種類のテストプログラムからテスト規格表に変
換する複数の逆変換手段と、テスト規格表からあるテス
トプログラムを生成する自動生成手段とを作る。このこ
とにより、変換対象外も変換を行い、自動生成手段が共
通化できるので、複数の異なる種類のテストプログラム
からあるテストプログラムへの変換を行う変換手段の作
成が容易になる。
る。 第２の変換手段が、第１の変換手段が変換規則により
テスト規格表に変換を行えないテストプログラムの部分
を、テスト規格表の所定の場所に変換するので、使用者
がすべてのテストプログラムの内容を確認が容易なテス
ト規格表として確認できる。 第４の変換手段により、第３の変換手段の変換規則で
変換を行えないテストプログラムの部分である変換箇所
をテストプログラムに変換するので、使用者が内容を確
認し易いテスト規格表から変換対象外のテストプログラ
ムも自由に作成できる。 以上の２点より、使用者は、テスト規格表でテスト内
容を一元管理ができる。 本装置は、変換対象外も変換するので、テスト規格表
を介して変換を行っても、あるテストプログラムから異
なる種類のテストプログラムへの変換によるテストプロ
グラムの相違が表れない。そして、変換する前のテスト
プログラムの内容もテスト規格表により容易に確認でき
る。 あるテストプログラムからテスト規格表に変換する逆
変換手段と、テスト規格表から異なる種類のテストプロ
グラムを生成する複数の自動生成手段とを作る。このこ
とにより、変換対象外も変換を行い、逆変換手段が共通
化できるので、あるテストプログラムから複数の異なる
種類のテストプログラムへの変換を行う変換手段の作成
が容易になる。 異なる種類のテストプログラムからテスト規格表に変
換する複数の逆変換手段と、テスト規格表からあるテス
トプログラムを生成する自動生成手段とを作る。このこ
とにより、変換対象外も変換を行い、自動生成手段が共
通化できるので、複数の異なる種類のテストプログラム
からあるテストプログラムへの変換を行う変換手段の作
成が容易になる。
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】図１の装置の変換過程を示した図である。
【図３】図１の装置の変換過程を示した図である。
【図４】図１の逆変換装置３の動作を示したフローチャ
ートである。
ートである。
【図５】図１の第４の変換手段４２の動作を示したフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
３２ 第１の変換手段 ３３ 第２の変換手段 ４１ 第３の変換手段 ４２ 第４の変換手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/28
Claims (2)
- 【請求項１】 テストプログラムを記憶する第１の記憶
部と、 テスト規格表を記憶する第２の記憶部と、 前記第１の記憶部の テストプログラムを変換規則に従っ
てテスト規格表に変換し、第２の記憶部に格納する第１
の変換手段と、 この第１の変換手段が変換規則によりテスト規格表に変
換を行えないテストプログラム文を、前記第２の記憶部
のテスト規格表の所定の欄に格納する第２の変換手段
と、前記第２の記憶部の テスト規格表を変換規則に従ってテ
ストプログラムに変換し、前記第１の記憶部に格納する
と共に、第２の記憶部のテスト規格表の所定の欄に格納
するテストプログラム文をテストプログラムにし、第１
の記憶部に格納する自動生成手段と、 を有することを特徴とするＬＳＩテスタのプログラム変
換装置。 - 【請求項２】 テストプログラムを記憶する第１の記憶
部と、 テスト規格表を記憶する第２の記憶部と、 前記第１の記憶部の テストプログラムを変換規則に従っ
てテスト規格表に変換し、前記第２の記憶部に格納する
第１の変換手段と、 この第１の変換手段が変換規則によりテスト規格表に変
換を行えないテストプログラム文を、前記第２の記憶部
のテスト規格表の所定の欄に格納する第２の変換手段
と、前記第２の記憶部の テスト規格表を変換規則に従ってテ
ストプログラムに変換し、前記第１の記憶部に格納する
第３の変換手段と、 この第３の変換手段が変換したテストプログラムの中
で、前記変換規則により変換を行えないテストプログラ
ム文からなる変換文を、テストプログラムに変換し、第
１の記憶部に格納する第４の変換手段と、 を有することを特徴とするＬＳＩテスタのプログラム変
換装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13850893A JP3223396B2 (ja) | 1993-06-10 | 1993-06-10 | Ｌｓｉテスタのプログラム変換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13850893A JP3223396B2 (ja) | 1993-06-10 | 1993-06-10 | Ｌｓｉテスタのプログラム変換装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06347516A JPH06347516A (ja) | 1994-12-22 |
| JP3223396B2 true JP3223396B2 (ja) | 2001-10-29 |
Family
ID=15223782
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13850893A Expired - Fee Related JP3223396B2 (ja) | 1993-06-10 | 1993-06-10 | Ｌｓｉテスタのプログラム変換装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3223396B2 (ja) |
-
1993
- 1993-06-10 JP JP13850893A patent/JP3223396B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06347516A (ja) | 1994-12-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5668745A (en) | Method and apparatus for testing of semiconductor devices | |
| US6292765B1 (en) | Method for automatically searching for functional defects in a description of a circuit | |
| JPS62228177A (ja) | 半導体集積回路用許容入力電圧検査回路 | |
| US4977531A (en) | Apparatus for automatic preparation of measurement programs | |
| JP3223396B2 (ja) | Ｌｓｉテスタのプログラム変換装置 | |
| US5434805A (en) | Test timing program automatic generator | |
| KR20000011359A (ko) | 고속테스트패턴평가장치 | |
| JPH02189476A (ja) | 電子回路の測定方法 | |
| JP3097132B2 (ja) | テストプログラム・テスト規格表変換装置 | |
| JPS59111549A (ja) | プログラムのテスト方法 | |
| JP3228126B2 (ja) | 試験システム | |
| JP2612469B2 (ja) | 半導体試験装置 | |
| JPH01244545A (ja) | 不良診断方式 | |
| JPH082629Y2 (ja) | Ｌｓｉテスタ | |
| JPH07319950A (ja) | テストシステム | |
| JPH01195381A (ja) | 測定プログラム作成装置 | |
| JPS6116368A (ja) | 画像処理装置の検査装置 | |
| JPS59216069A (ja) | 論理回路診断装置 | |
| JPS6219937A (ja) | 引数の妥当性検査方式 | |
| JPH10104323A (ja) | Ｉｃ試験装置及び該装置におけるパターン測定方法 | |
| JPS60128540A (ja) | アナログ回路内蔵マイクロコンピユ−タの試験方法 | |
| JPH01114770A (ja) | 論理ｉｃの試験装置 | |
| JPS63103985A (ja) | 集積回路素子検査装置 | |
| JP2001266591A (ja) | Ｉｃテスタ、その制御方法、及び記憶媒体 | |
| JPH0588877A (ja) | マクロ言語のテスト方式 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070824 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080824 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080824 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090824 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100824 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100824 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110824 Year of fee payment: 10 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |