JP2614362B2 - 電子部品試験方式 - Google Patents
電子部品試験方式Info
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- JP2614362B2 JP2614362B2 JP2401159A JP40115990A JP2614362B2 JP 2614362 B2 JP2614362 B2 JP 2614362B2 JP 2401159 A JP2401159 A JP 2401159A JP 40115990 A JP40115990 A JP 40115990A JP 2614362 B2 JP2614362 B2 JP 2614362B2
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、集積回路や大規模集積
回路などの電子部品の試験を行う電子部品試験方式に関
する。
回路などの電子部品の試験を行う電子部品試験方式に関
する。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣやＬＳＩなどの電子部品に対して
は、高い信頼性が要求されており、これに応じて、電子
部品が正常に動作するか否かを判定する試験装置が実現
されている。この試験装置は、電子部品の入力端子それ
ぞれに所定のデータを入力し、この入力データに対応す
る出力が出力端子を介して得られるか否かを調べること
により、電子部品の良否を判定するものである。このよ
うな試験装置を用いて電子部品を試験するためには、電
子部品の電源端子に電源電圧を供給し、この電子部品を
通常の動作状態とする必要がある。
は、高い信頼性が要求されており、これに応じて、電子
部品が正常に動作するか否かを判定する試験装置が実現
されている。この試験装置は、電子部品の入力端子それ
ぞれに所定のデータを入力し、この入力データに対応す
る出力が出力端子を介して得られるか否かを調べること
により、電子部品の良否を判定するものである。このよ
うな試験装置を用いて電子部品を試験するためには、電
子部品の電源端子に電源電圧を供給し、この電子部品を
通常の動作状態とする必要がある。
【０００３】ここで、通常、試験装置は電子部品を挿入
するためのソケットを備えており、電源電圧の供給，デ
ータの入力および出力データの読み込みのための配線
は、このソケットの各端子に予め接続されている。一
方、通常の電子部品は左右対称な形状を有しており、電
子部品のパッケージに付されたマークあるいは切り欠き
などにより、電子部品の第１端子の位置が示されてい
る。
するためのソケットを備えており、電源電圧の供給，デ
ータの入力および出力データの読み込みのための配線
は、このソケットの各端子に予め接続されている。一
方、通常の電子部品は左右対称な形状を有しており、電
子部品のパッケージに付されたマークあるいは切り欠き
などにより、電子部品の第１端子の位置が示されてい
る。
【０００４】従来は、試験装置の利用者が、目視によっ
て電子部品の第１端子の位置を判別し、上述したソケッ
トに所定の向きとなるように挿入して試験を行ってい
た。
て電子部品の第１端子の位置を判別し、上述したソケッ
トに所定の向きとなるように挿入して試験を行ってい
た。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の試験方式においては、ソケットへの電子部品の挿入
は、利用者に任されており、ソケットに正しい向きで電
子部品が挿入されたか否かを確認する機能は、試験装置
に備えられていなかった。このため、電子部品が誤った
向きでソケットに挿入された状態で試験を行ってしまう
可能性があった。例えば、電子部品を正しい向きから１
８０度回転させてソケットに挿入した状態で試験を行う
と、本来は接地されるべき端子に電源電圧が印加される
場合がある。この場合は、正常な試験動作を行うことが
できないばかりか、電子部品自体を破壊してしまう可能
性がある。
来の試験方式においては、ソケットへの電子部品の挿入
は、利用者に任されており、ソケットに正しい向きで電
子部品が挿入されたか否かを確認する機能は、試験装置
に備えられていなかった。このため、電子部品が誤った
向きでソケットに挿入された状態で試験を行ってしまう
可能性があった。例えば、電子部品を正しい向きから１
８０度回転させてソケットに挿入した状態で試験を行う
と、本来は接地されるべき端子に電源電圧が印加される
場合がある。この場合は、正常な試験動作を行うことが
できないばかりか、電子部品自体を破壊してしまう可能
性がある。
【０００６】このため、試験を行う前に、電子部品のソ
ケットへの挿入状態を識別し、誤った挿入状態を検出す
る方式が要望されている。本発明は、電子部品の挿入状
態を識別して表示する電子部品試験方式を提供すること
を目的とする。
ケットへの挿入状態を識別し、誤った挿入状態を検出す
る方式が要望されている。本発明は、電子部品の挿入状
態を識別して表示する電子部品試験方式を提供すること
を目的とする。
【０００７】図１は、本発明の原理ブロック図である。
本発明は、図１に示すように、ソケット１０１に、それ
ぞれ複数の端子１１１を両側に有する電子部品１１２を
所定の向きで挿入し、正常に動作するか否かを調べる電
子部品試験方式において、前記電子部品の一端子に前記
ソケットを介して接続され、該端子における電圧対電流
特性を測定する第１測定手段１２１と、前記端子と回転
対称の位置にある端子１１１に前記ソケット１０１を介
して接続され、該端子１１１における電圧対電流特性を
測定する第２測定手段１２２と、前記第１測定手段１２
１および前記第２測定手段１２２によってそれぞれ得ら
れた測定結果に基づいて、前記少なくとも１対の端子１
１１の位置関係を識別する識別手段１３１と、前記識別
手段１３１による識別結果に応じて、前記電子部品１１
２がソケット１０１に前記所定の向きで挿入されている
か否かを表示する表示手段１４１とを備えたことを特徴
する。
本発明は、図１に示すように、ソケット１０１に、それ
ぞれ複数の端子１１１を両側に有する電子部品１１２を
所定の向きで挿入し、正常に動作するか否かを調べる電
子部品試験方式において、前記電子部品の一端子に前記
ソケットを介して接続され、該端子における電圧対電流
特性を測定する第１測定手段１２１と、前記端子と回転
対称の位置にある端子１１１に前記ソケット１０１を介
して接続され、該端子１１１における電圧対電流特性を
測定する第２測定手段１２２と、前記第１測定手段１２
１および前記第２測定手段１２２によってそれぞれ得ら
れた測定結果に基づいて、前記少なくとも１対の端子１
１１の位置関係を識別する識別手段１３１と、前記識別
手段１３１による識別結果に応じて、前記電子部品１１
２がソケット１０１に前記所定の向きで挿入されている
か否かを表示する表示手段１４１とを備えたことを特徴
する。
【０００８】
【作用】本発明は、第１測定手段１２１と第２測定手段
１２２とによって、互いに回転対称の位置にある端子１
１１における電圧対電流特性を測定し、識別手段１３１
により、これらの端子１１１における電圧対電流特性の
違いに基づいて、該当する端子１１１の対の位置関係を
識別する。この識別結果は、電子部品１１２がソケット
１０１に挿入されている向きを示しているので、表示手
段１４１は、この識別結果に応じて、電子部品１１２が
所定の向きでソケット１０１に挿入されているか否かを
表示することができる。
１２２とによって、互いに回転対称の位置にある端子１
１１における電圧対電流特性を測定し、識別手段１３１
により、これらの端子１１１における電圧対電流特性の
違いに基づいて、該当する端子１１１の対の位置関係を
識別する。この識別結果は、電子部品１１２がソケット
１０１に挿入されている向きを示しているので、表示手
段１４１は、この識別結果に応じて、電子部品１１２が
所定の向きでソケット１０１に挿入されているか否かを
表示することができる。
【０００９】
【実施例】図２は、本発明の電子部品試験方式を適用し
た電子部品試験装置の実施例構成を示す。図において、
電子部品試験装置は、ソケット２１１に挿入された電子
部品２０１の試験を行う構成となっている。
た電子部品試験装置の実施例構成を示す。図において、
電子部品試験装置は、ソケット２１１に挿入された電子
部品２０１の試験を行う構成となっている。
【００１０】この電子部品２０１は、図２に示すよう
に、パッケージの両側にそれぞれｎ個ずつ合計２ｎ個の
端子Ｔ1 〜Ｔ2nを備えており、これらの端子Ｔ1 〜Ｔ2n
には、反時計回りの順番で番号が付されている。また、
この電子部品２０１において、ｉ番目の端子Ｔi は入力
端子であり、（ｎ＋ｉ−１）番目の端子（以下、ｊ番目
の端子Ｔj と称する）は出力端子であるものとする。こ
のｊ番目の端子Ｔj の位置は、上述したｉ番目の端子Ｔ
i とパッケージの中心に対して回転対称な位置である。
に、パッケージの両側にそれぞれｎ個ずつ合計２ｎ個の
端子Ｔ1 〜Ｔ2nを備えており、これらの端子Ｔ1 〜Ｔ2n
には、反時計回りの順番で番号が付されている。また、
この電子部品２０１において、ｉ番目の端子Ｔi は入力
端子であり、（ｎ＋ｉ−１）番目の端子（以下、ｊ番目
の端子Ｔj と称する）は出力端子であるものとする。こ
のｊ番目の端子Ｔj の位置は、上述したｉ番目の端子Ｔ
i とパッケージの中心に対して回転対称な位置である。
【００１１】上述したソケット２１１は、この電子部品
２０１の各端子Ｔ1〜Ｔ2nに対応する２ｎ個の端子Ｓ1
〜Ｓ2nを備えた構成となっており、これらの端子Ｓ1 〜
Ｓ2nにも、同様に番号が付されている。また、これらの
端子Ｓ1 〜Ｓ2nは、ソケット２１１の内部において、上
述した電子部品２０１の端子Ｔ1 〜Ｔ2nにそれぞれ接続
されている。
２０１の各端子Ｔ1〜Ｔ2nに対応する２ｎ個の端子Ｓ1
〜Ｓ2nを備えた構成となっており、これらの端子Ｓ1 〜
Ｓ2nにも、同様に番号が付されている。また、これらの
端子Ｓ1 〜Ｓ2nは、ソケット２１１の内部において、上
述した電子部品２０１の端子Ｔ1 〜Ｔ2nにそれぞれ接続
されている。
【００１２】以下、上述したソケット２１１の各端子に
電子部品２０１の対応する番号の端子が接続されている
場合が、ソケット２１１に電子部品２０１が正常な向き
で挿入されている状態であるものとする。図２におい
て、定電流回路２２１と電圧測定回路２２２とは、第１
測定手段１２１を構成している。また、定電流回路２３
１と電圧測定回路２３２とは、第２測定手段１２２を構
成している。
電子部品２０１の対応する番号の端子が接続されている
場合が、ソケット２１１に電子部品２０１が正常な向き
で挿入されている状態であるものとする。図２におい
て、定電流回路２２１と電圧測定回路２２２とは、第１
測定手段１２１を構成している。また、定電流回路２３
１と電圧測定回路２３２とは、第２測定手段１２２を構
成している。
【００１３】上述した定電流回路２２１は、ソケット２
１１のｉ番目の端子Ｓi に、所定の電流Ｄ（数１０μＡ
程度）を印加する構成となっている。また、電圧測定回
路２２２は、上述した定電流回路２２１が上述した電流
Ｄを印加している状態で、ソケット２１１のｉ番目の端
子Ｓi の電位Ｖ1 を測定する構成となっている。このよ
うにして、第１測定手段１２１は、上述したソケット２
１１のｉ番目の端子Ｓi に接続されている電子部品２０
１の端子について、電圧対電流特性の測定を行う構成と
なっている。
１１のｉ番目の端子Ｓi に、所定の電流Ｄ（数１０μＡ
程度）を印加する構成となっている。また、電圧測定回
路２２２は、上述した定電流回路２２１が上述した電流
Ｄを印加している状態で、ソケット２１１のｉ番目の端
子Ｓi の電位Ｖ1 を測定する構成となっている。このよ
うにして、第１測定手段１２１は、上述したソケット２
１１のｉ番目の端子Ｓi に接続されている電子部品２０
１の端子について、電圧対電流特性の測定を行う構成と
なっている。
【００１４】また、定電流回路２３１および電圧測定回
路２３２は、上述した定電流回路２２１および電圧測定
回路２２２と同様に構成されており、この第２測定手段
１２２は、上述したソケット２１１のｊ番目の端子Ｓj
に接続されている電子部品２０１の端子について、電流
Ｄの印加に対応して生じる電位Ｖ2 を測定する構成とな
っている。
路２３２は、上述した定電流回路２２１および電圧測定
回路２２２と同様に構成されており、この第２測定手段
１２２は、上述したソケット２１１のｊ番目の端子Ｓj
に接続されている電子部品２０１の端子について、電流
Ｄの印加に対応して生じる電位Ｖ2 を測定する構成とな
っている。
【００１５】また、図２に示すように、上述した端子Ｓ
i ，Ｓj以外のソケット２１１の各端子は接地されてい
る。図２において、減算回路２４１と符号判別回路２４
２とは、識別手段１３１を構成している。この減算回路
２４１は、上述した電圧測定回路２２２，２３２によっ
て得られた電位Ｖ1 ，Ｖ2 が入力され、電位Ｖ2 から電
位Ｖ1 を減算する構成となっている。また、符号判別回
路２４２は、この減算結果の符号が『正』であるか
『負』であるかを判別し、『負』である場合に論理
“１”を出力する構成となっている。
i ，Ｓj以外のソケット２１１の各端子は接地されてい
る。図２において、減算回路２４１と符号判別回路２４
２とは、識別手段１３１を構成している。この減算回路
２４１は、上述した電圧測定回路２２２，２３２によっ
て得られた電位Ｖ1 ，Ｖ2 が入力され、電位Ｖ2 から電
位Ｖ1 を減算する構成となっている。また、符号判別回
路２４２は、この減算結果の符号が『正』であるか
『負』であるかを判別し、『負』である場合に論理
“１”を出力する構成となっている。
【００１６】また、発光ダイオード２５１は、順方向接
続で接地されており、上述した符号判別回路２４２の出
力に応じて点灯する構成となっている。以下、上述した
第１測定手段１２１および第２測定手段１２２による測
定結果に基づいて、電子部品２０１が正常に挿入されて
いるか否かを識別する方法について説明する。
続で接地されており、上述した符号判別回路２４２の出
力に応じて点灯する構成となっている。以下、上述した
第１測定手段１２１および第２測定手段１２２による測
定結果に基づいて、電子部品２０１が正常に挿入されて
いるか否かを識別する方法について説明する。
【００１７】ここで、ＩＣやＬＳＩなどの電子部品にお
いては、入力側と出力側とで、それぞれ電圧対電流特性
の異なる半導体素子が用いられているので、入力端子に
おける電圧対電流特性と出力端子における電圧対電流特
性とは異なっている。図３に、電子部品の電源端子およ
び接地端子をともに接地した状態において、入力端子お
よび出力端子について、それぞれ電圧対電流特性を測定
した結果の概略を示す。図３において、実線は入力端子
の電圧対電流特性を示し、点線は出力端子の電圧対電流
特性を示す。図３に示したように、入力端子と出力端子
とにそれぞれ同一の電流Ｄを印加した状態では、入力端
子における電位ＶI の値は、出力端子における電位ＶO
の値よりも小さい値となる。
いては、入力側と出力側とで、それぞれ電圧対電流特性
の異なる半導体素子が用いられているので、入力端子に
おける電圧対電流特性と出力端子における電圧対電流特
性とは異なっている。図３に、電子部品の電源端子およ
び接地端子をともに接地した状態において、入力端子お
よび出力端子について、それぞれ電圧対電流特性を測定
した結果の概略を示す。図３において、実線は入力端子
の電圧対電流特性を示し、点線は出力端子の電圧対電流
特性を示す。図３に示したように、入力端子と出力端子
とにそれぞれ同一の電流Ｄを印加した状態では、入力端
子における電位ＶI の値は、出力端子における電位ＶO
の値よりも小さい値となる。
【００１８】また、上述したように、電子部品２０１が
正常に挿入されている場合は、ソケット２１１のｉ番目
の端子Ｓi とｊ番目の端子Ｓj とは、電子部品２０１の
入力端子と出力端子とにそれぞれ接続される。一方、電
子部品２０１か逆向きに挿入されている場合は、ソケッ
ト２１１のｉ番目の端子Ｓi には電子部品２０１の出力
端子が接続され、ｊ番目の端子Ｓj には入力端子が接続
される。
正常に挿入されている場合は、ソケット２１１のｉ番目
の端子Ｓi とｊ番目の端子Ｓj とは、電子部品２０１の
入力端子と出力端子とにそれぞれ接続される。一方、電
子部品２０１か逆向きに挿入されている場合は、ソケッ
ト２１１のｉ番目の端子Ｓi には電子部品２０１の出力
端子が接続され、ｊ番目の端子Ｓj には入力端子が接続
される。
【００１９】従って、電圧測定回路２２２によって得ら
れる電位Ｖ1 の値が、電圧測定回路２３２によって得ら
れる電位Ｖ2 の値よりも小さい値となった場合、即ち、
上述した符号判別回路２４２により、減算回路２４１に
よる減算結果の符号が『正』であるとされた場合に、識
別手段１３１は、上述した１対の端子Ｔi ，Ｔj が、正
常な向きにおける位置関係にあると判断すればよい。
れる電位Ｖ1 の値が、電圧測定回路２３２によって得ら
れる電位Ｖ2 の値よりも小さい値となった場合、即ち、
上述した符号判別回路２４２により、減算回路２４１に
よる減算結果の符号が『正』であるとされた場合に、識
別手段１３１は、上述した１対の端子Ｔi ，Ｔj が、正
常な向きにおける位置関係にあると判断すればよい。
【００２０】また、この場合に、符号判別回路２４２の
出力に応じて、電子部品試験装置の試験制御部２６１
は、電子部品２０１が正常に挿入されていると判断し、
通常の試験処理を実行すればよい。一方、減算結果が
『負』となった場合は、符号判別回路２４２によって、
判別結果として論理“１”が出力され、これに応じて、
試験制御部２６１は、試験処理を中止する。また、この
符号判別回路２４２の出力に応じて発光ダイオード２５
１が点灯し、電子部品２０１が誤った状態でソケット２
１１に挿入されている旨が表示される。
出力に応じて、電子部品試験装置の試験制御部２６１
は、電子部品２０１が正常に挿入されていると判断し、
通常の試験処理を実行すればよい。一方、減算結果が
『負』となった場合は、符号判別回路２４２によって、
判別結果として論理“１”が出力され、これに応じて、
試験制御部２６１は、試験処理を中止する。また、この
符号判別回路２４２の出力に応じて発光ダイオード２５
１が点灯し、電子部品２０１が誤った状態でソケット２
１１に挿入されている旨が表示される。
【００２１】このようにして、通常の試験処理に先立っ
て、電子部品２０１がソケット２１１に正常な位置関係
で挿入されているか否かを判別し、誤った状態で挿入さ
れている場合に、発光ダイオード２５１によりその旨を
表示することができる。これにより、利用者に対して、
電子部品２０１の再挿入を促し、正しい状態で試験処理
を行うことが可能となり、誤った状態で試験処理を実行
して電子部品を破損することを防ぐことができる。
て、電子部品２０１がソケット２１１に正常な位置関係
で挿入されているか否かを判別し、誤った状態で挿入さ
れている場合に、発光ダイオード２５１によりその旨を
表示することができる。これにより、利用者に対して、
電子部品２０１の再挿入を促し、正しい状態で試験処理
を行うことが可能となり、誤った状態で試験処理を実行
して電子部品を破損することを防ぐことができる。
【００２２】また、上述した定電流回路２２１，２３１
によって、電子部品２０１の該当する端子に印加される
電流Ｄは微小電流であるので、この電流Ｄを印加したこ
とにより、電子部品２０１が破壊されることはない。な
お、電子部品２０１が、互いに回転対称な位置にある入
力端子と出力端子との組を複数備えている場合に、第１
測定手段１２１を正常な位置関係において電子部品２０
１の入力端子に対応するソケット２１１の複数の端子に
接続し、第２測定手段１２２を出力端子に対応するソケ
ット２１１の複数の端子に接続して、これらの端子につ
いての測定結果に基づいて、識別手段１３１が電子部品
２０１の入力端子と出力端子との位置関係を識別する構
成としてもよい。
によって、電子部品２０１の該当する端子に印加される
電流Ｄは微小電流であるので、この電流Ｄを印加したこ
とにより、電子部品２０１が破壊されることはない。な
お、電子部品２０１が、互いに回転対称な位置にある入
力端子と出力端子との組を複数備えている場合に、第１
測定手段１２１を正常な位置関係において電子部品２０
１の入力端子に対応するソケット２１１の複数の端子に
接続し、第２測定手段１２２を出力端子に対応するソケ
ット２１１の複数の端子に接続して、これらの端子につ
いての測定結果に基づいて、識別手段１３１が電子部品
２０１の入力端子と出力端子との位置関係を識別する構
成としてもよい。
【００２３】この場合は、定電流回路２２１，２３１
が、ソケット２１１の該当する端子にそれぞれ所定の電
流Ｄを印加し、電圧測定回路２２２，２３２が、該当す
る端子における電位をそれぞれ測定し、電圧測定回路２
２２，２３２による測定結果をそれぞれ平均して、得ら
れた値をそれぞれ電位Ｖ1 ，Ｖ2 として、減算回路２４
１に入力すればよい。
が、ソケット２１１の該当する端子にそれぞれ所定の電
流Ｄを印加し、電圧測定回路２２２，２３２が、該当す
る端子における電位をそれぞれ測定し、電圧測定回路２
２２，２３２による測定結果をそれぞれ平均して、得ら
れた値をそれぞれ電位Ｖ1 ，Ｖ2 として、減算回路２４
１に入力すればよい。
【００２４】このようにして、電子部品２０１の各端子
の電圧対電流特性にばらつきを考慮して、入力端子と出
力端子との位置関係を高い精度で識別することができ
る。
の電圧対電流特性にばらつきを考慮して、入力端子と出
力端子との位置関係を高い精度で識別することができ
る。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、回転対称
な位置にある少なくとも１対の端子の位置関係を識別
し、電子部品が誤った向きでソケットに挿入されている
場合にその旨を表示して、利用者に対して、電子部品の
位置の変更を促し、電子部品を正常な状態で試験するこ
とが可能となるので、誤った状態で試験処理を行って電
子部品を破損することを防ぐことができる。
な位置にある少なくとも１対の端子の位置関係を識別
し、電子部品が誤った向きでソケットに挿入されている
場合にその旨を表示して、利用者に対して、電子部品の
位置の変更を促し、電子部品を正常な状態で試験するこ
とが可能となるので、誤った状態で試験処理を行って電
子部品を破損することを防ぐことができる。
【図１】本発明の原理ブロック図である。
【図２】本発明を適用した電子部品試験装置の実施例構
成図である。
成図である。
【図３】入力端子および出力端子の電圧対電流特性を示
す図である。
す図である。
１０１ ソケット １１１ 端子 １１２ 電子部品 １２１ 第１測定手段 １２２ 第２測定手段 １３１ 識別手段 １４１ 表示手段 ２０１ 電子部品 ２１１ ソケット ２２１，２３１ 定電流回路 ２２２，２３２ 電圧測定回路 ２４１ 減算回路 ２４２ 符号判別回路 ２５１ 発光ダイオード ２６１ 試験制御部
Claims (1)
- 【請求項１】 ソケットに、それぞれ複数の端子を両側
に有する電子部品を所定の向きで挿入し、正常に動作す
るか否かを調べる電子部品試験方式において、前記電子部品の一端子に前記ソケットを介して接続さ
れ、該端子における電圧対電流特性を測定する第１測定
手段と、 前記端子と回転対称の位置にある端子に前記ソケットを
介して接続され、該端子における電圧対電流特性を測定
する 第２測定手段と、 前記第１測定手段および前記第２測定手段によってそれ
ぞれ得られた測定結果に基づいて、前記少なくとも１対
の端子の位置関係を識別する識別手段と、 前記識別手段による識別結果に応じて、前記電子部品が
ソケットに前記所定の向きで挿入されているか否かを表
示する表示手段とを備えたことを特徴とする電子部品試
験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2401159A JP2614362B2 (ja) | 1990-12-10 | 1990-12-10 | 電子部品試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2401159A JP2614362B2 (ja) | 1990-12-10 | 1990-12-10 | 電子部品試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04213075A JPH04213075A (ja) | 1992-08-04 |
| JP2614362B2 true JP2614362B2 (ja) | 1997-05-28 |
Family
ID=18511013
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2401159A Expired - Fee Related JP2614362B2 (ja) | 1990-12-10 | 1990-12-10 | 電子部品試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2614362B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5483381A (en) * | 1977-12-16 | 1979-07-03 | Hitachi Ltd | Detection method of integrated circuit insertion direction |
-
1990
- 1990-12-10 JP JP2401159A patent/JP2614362B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04213075A (ja) | 1992-08-04 |
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